一种连接器测试装置的制作方法

文档序号:37679745发布日期:2024-04-18 20:52阅读:13来源:国知局
一种连接器测试装置的制作方法

【】本发明涉及电连接器领域,尤其涉及一种连接器测试装置。

背景技术

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背景技术:

1、电子连接器也常被称为电路连接器,电连接器,将一个回路上的两个导体桥接起来,使得电流或者讯号可以从一个导体流向另一个导体的导体设备。

2、连接器在与导线焊接前,通常需要进行测试,以检测是否全部焊接的端子均能够接电。而现有对于连接器的检测,一次仅能对单个连接器连接器进行测试,如专利申请号:cn202122615309.x公开了一种连接器测试装置,通过把连接器固定在测试座上,经升降机构控制接电抵触件下降至与连接器抵触而通电,从而测试连接器是否合格,并且专利申请号:cn202122040852.1也公开了一种连接器的测试装置,首先将连接器的一端与连接插座进行连接,然后通过连接件对左保护盒和右保护盒进行拉伸,使得连接器的另一端卡进延伸槽的内部并延伸出去,对连接器进行检测,但是此类装置一次仅能对单个连接器进行检测,检测效率低下。

3、本发明即是针对现有技术的不足而研究提出的。


技术实现思路

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技术实现要素:

1、本发明的目的是克服上述现有技术的缺点,提供了一种连接器测试装置。

2、本发明可以通过以下技术方案来实现:

3、本发明公开了一种连接器测试装置,包含底板,所述底板上方设置有多根滑杆和丝杆,所述丝杆由电机驱动转动,所述底板上方还设置有滑台,所述滑杆穿过滑台并与滑台滑动连接,所述丝杆穿过滑台并与滑台螺纹连接,所述滑台上均匀固定有安装座,所述滑台一侧还固定有滑块,所述滑块上均匀固定有连接座,所述连接座与对应位置的安装座电性连接,所述滑台上方还设置有滑板,所述滑板底部与安装座对应位置固定有测试座,所述滑板上与连接座对应位置固定有对接座,所述滑板上方的支架上固定有气缸,所述气缸的活塞杆末端与滑板固定。将各个连接器插入到各个安装座内,连接器下端pin脚与安装座上测试针接触,连接器测试时,通过电机驱动丝杆转动,由于丝杆与滑台螺纹连接,丝杆转动时,滑台移动,滑台上第一排连接器到达滑板正下方,气缸启动,滑板下降,测试座下降,测试座上测试针与连接器上端pin脚接触,并且滑板上的对接座与对应位置的连接座对接,插针插入对应位置的插孔内后对各个连接器进行测试,电流通过测试座上测试针后经过对应的连接器,最后通过连接座与对接座回到测试机台,测试机台感应到对应的电流后,连接器合格,测试机台没有感应到对应的电流,则连接器不合格,一排连接器测试完成后,气缸启动,气缸上活塞杆上升,滑板上升,测试座与第一排的连接器分离,并且对接座与第一排的连接座分离,电机驱动丝杆转动,下一排的连接器再次到达滑板正下方,再次对连接器进行测试,循环作业,通过本装置可以实现一次性对多个连接器进行测试,极大的提高了连接器的测试效率。

4、优选的,所述对接座上均匀固定有插针,所述连接座上与插针对应位置均设置有插孔。

5、优选的,所述底板上还固定有多根支撑杆,所述支撑杆穿过滑板并与滑板滑动连接。

6、本发明与现有的技术相比有如下优点:

7、通过本装置可以实现一次性对多个连接器进行测试,极大的提高了连接器的测试效率。



技术特征:

1.一种连接器测试装置,包含底板,其特征在于:所述底板上方设置有多根滑杆和丝杆,所述丝杆由电机驱动转动,所述底板上方还设置有滑台,所述滑杆穿过滑台并与滑台滑动连接,所述丝杆穿过滑台并与滑台螺纹连接,所述滑台上均匀固定有安装座,所述滑台一侧还固定有滑块,所述滑块上均匀固定有连接座,所述连接座与对应位置的安装座电性连接,所述滑台上方还设置有滑板,所述滑板底部与安装座对应位置固定有测试座,所述滑板上与连接座对应位置固定有对接座,所述滑板上方的支架上固定有气缸,所述气缸的活塞杆末端与滑板固定。

2.根据权利要求1所述的连接器测试装置,其特征在于:所述对接座上均匀固定有插针,所述连接座上与插针对应位置均设置有插孔。

3.根据权利要求1所述的连接器测试装置,其特征在于:所述底板上还固定有多根支撑杆,所述支撑杆穿过滑板并与滑板滑动连接。


技术总结
本发明涉及电连接器领域,尤其涉及一种连接器测试装置,包含底板,所述底板上方设置有多根滑杆和丝杆,所述丝杆由电机驱动转动,所述底板上方还设置有滑台,所述滑杆穿过滑台并与滑台滑动连接,所述丝杆穿过滑台并与滑台螺纹连接,所述滑台上均匀固定有安装座,所述滑台一侧还固定有滑块,所述滑块上均匀固定有连接座,所述连接座与对应位置的安装座电性连接,所述滑台上方还设置有滑板,所述滑板底部与安装座对应位置固定有测试座,所述滑板上与连接座对应位置固定有对接座,所述滑板上方的支架上固定有气缸,所述气缸的活塞杆末端与滑板固定。通过本装置可以实现一次性对多个连接器进行测试,极大的提高了连接器的测试效率。

技术研发人员:赖长鼎
受保护的技术使用者:江西世创电子有限公司
技术研发日:20230814
技术公布日:2024/4/17
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