一种芯片检测用测试探针的制作方法

本技术具体涉及测试探针领域，具体涉及一种芯片检测用测试探针。

背景技术：

1、在电子电路研发和生产的过程中，经常需要对信号的通断以及质量进行测试分析，这个时候就需要使用精密测试探针将信号无损的接取出来提供给相应的i ct或者测试系统进行整合分析，测试探针质量的好坏，很大程度影响了测试的准确性以及可重复性。

2、现有的测试探针在停摆时，由于没有防护结构，测试探针始终与外界接触，容易沾染灰尘，腐蚀探针外侧结构，久而久之，就会降低探针的检测精度，减少了探针的使用寿命。

3、为此，我们提出来一种芯片检测用测试探针解决上述问题。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了解决现有技术中探针停摆没有防护结构，降低其检测精度和使用寿命的问题，而提出的一种芯片检测用测试探针。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

3、一种芯片检测用测试探针，包括底板，所述底板上下滑动贯穿设有两根探针本体，两根所述探针本体外均固定套设有固定环，所述底板上设有用于对两根固定环进升降的升降机构，两根所述探针本体外均设置有两个防护罩，所述防护罩的上端与底板转动连接，所述底板上设有用于对四个防护罩进行转动的转动机构。

4、优选地，所述升降机构包括设置在底板上端的四个凹槽，四个所述凹槽内均转动连接有第一螺纹杆，四根所述第一螺纹杆外均螺纹套设有螺纹块，四块所述螺纹块分别与四个凹槽内侧壁滑动连接，四块所述螺纹块的上端均转动连接有偏转板，四块所述偏转板的上端分别与两块固定环转动连接，四根所述第一螺纹杆远离探针本体的一端均转动贯穿底板设置，所述底板转动贯穿设有转轴，位于同侧的所述转轴与第一螺纹杆之间通过第一传动机构传动连接，所述底板的侧壁固定连接有安装板，所述安装板的上端固定连接有电机，所述电机的驱动轴与转轴同轴固定连接。

5、优选地，所述第一传动机构包括第一皮带轮和两个第二皮带轮，所述第一皮带轮与转轴同轴固定连接，两个所述第二皮带轮分别与两根第一螺纹杆同轴固定连接，所述第一皮带轮与两个第二皮带轮之间通过皮带传动连接。

6、优选地，位于所述探针本体两侧的两根第一螺纹杆的外螺纹旋向相反，位于所述探针本体同侧的两根第一螺纹杆的外螺纹旋向相同。

7、优选地，所述转动机构包括四个设置在底板下端的转动槽，四个所述转动槽内均转动连接有第二螺纹杆，四根所述第二螺纹杆远离探针本体的一端均转动贯穿底板设置，位于同侧的所述转轴与两根第二螺纹杆之间通过第二传动机构传动连接，四根所述第二螺纹杆外均螺纹套设有转动块，四块所述转动块分别与四个转动槽滑动连接，四块所述转动块的下端均转动连接有转动杆，四根所述转动杆的下端分别与四个防护罩转动连接。

8、优选地，所述第二传动机构包括第三皮带轮和两个第四皮带轮，所述第三皮带轮与转轴同轴固定连接，两个所述第四皮带轮分别与两根第二螺纹杆同轴固定连接，所述第三皮带轮与两个第四皮带轮之间通过皮带传动连接。

9、优选地，所述防护罩呈方形设置。

10、与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

11、通过设置升降机构和转动机构，通过电机带动转轴转动，转轴带动多根第一螺纹杆和第二螺纹杆转动，第一螺纹杆带动多块螺纹块相对移动，多块螺纹块通过多块偏转板带动两个固定环升降，两个固定环带动两根探针本体升降，直至合适位置，第二螺纹杆带动多块转动块相对移动，多块转动块通过看多根转动杆带动多个防护罩转动，直至合适位置，即当探针本体上升时，防护罩闭合，对探针本体进行防护，当探针本体下降时，防护罩打开，在探针停摆时，即可对其进行防护，避免出现落灰降低其使用寿命和影响其检测精度。

12、本实用新型在探针停摆时，可以对其进行防护，提高其使用寿命，维持其检测精度。

技术特征：

1.一种芯片检测用测试探针，其特征在于：包括底板(1)，所述底板(1)上下滑动贯穿设有两根探针本体(2)，两根所述探针本体(2)外均固定套设有固定环(3)，所述底板(1)上设有用于对两根固定环(3)进升降的升降机构(4)，两根所述探针本体(2)外均设置有两个防护罩(5)，所述防护罩(5)的上端与底板(1)转动连接，所述底板(1)上设有用于对四个防护罩(5)进行转动的转动机构(6)。

2.如权利要求1所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述升降机构(4)包括设置在底板(1)上端的四个凹槽(7)，四个所述凹槽(7)内均转动连接有第一螺纹杆(8)，四根所述第一螺纹杆(8)外均螺纹套设有螺纹块(9)，四块所述螺纹块(9)分别与四个凹槽(7)内侧壁滑动连接，四块所述螺纹块(9)的上端均转动连接有偏转板(10)，四块所述偏转板(10)的上端分别与两块固定环(3)转动连接，四根所述第一螺纹杆(8)远离探针本体(2)的一端均转动贯穿底板(1)设置，所述底板(1)转动贯穿设有转轴(11)，位于同侧的所述转轴(11)与第一螺纹杆(8)之间通过第一传动机构(12)传动连接，所述底板(1)的侧壁固定连接有安装板(13)，所述安装板(13)的上端固定连接有电机(14)，所述电机(14)的驱动轴与转轴(11)同轴固定连接。

3.如权利要求2所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述第一传动机构(12)包括第一皮带轮(15)和两个第二皮带轮(16)，所述第一皮带轮(15)与转轴(11)同轴固定连接，两个所述第二皮带轮(16)分别与两根第一螺纹杆(8)同轴固定连接，所述第一皮带轮(15)与两个第二皮带轮(16)之间通过皮带传动连接。

4.如权利要求2所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：位于所述探针本体(2)两侧的两根第一螺纹杆(8)的外螺纹旋向相反，位于所述探针本体(2)同侧的两根第一螺纹杆(8)的外螺纹旋向相同。

5.如权利要求2所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述转动机构(6)包括四个设置在底板(1)下端的转动槽(17)，四个所述转动槽(17)内均转动连接有第二螺纹杆(18)，四根所述第二螺纹杆(18)远离探针本体(2)的一端均转动贯穿底板(1)设置，位于同侧的所述转轴(11)与两根第二螺纹杆(18)之间通过第二传动机构(19)传动连接，四根所述第二螺纹杆(18)外均螺纹套设有转动块(20)，四块所述转动块(20)分别与四个转动槽(17)滑动连接，四块所述转动块(20)的下端均转动连接有转动杆(21)，四根所述转动杆(21)的下端分别与四个防护罩(5)转动连接。

6.如权利要求5所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述第二传动机构(19)包括第三皮带轮(22)和两个第四皮带轮(23)，所述第三皮带轮(22)与转轴(11)同轴固定连接，两个所述第四皮带轮(23)分别与两根第二螺纹杆(18)同轴固定连接，所述第三皮带轮(22)与两个第四皮带轮(23)之间通过皮带传动连接。

7.如权利要求1所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述防护罩(5)呈方形设置。

技术总结
本技术公开了一种芯片检测用测试探针，包括底板，所述底板上下滑动贯穿设有两根探针本体，两根所述探针本体外均固定套设有固定环，所述底板上设有用于对两根固定环进升降的升降机构，两根所述探针本体外均设置有两个防护罩，所述防护罩的上端与底板转动连接，所述底板上设有用于对四个防护罩进行转动的转动机构。本技术在探针停摆时，可以对其进行防护，提高其使用寿命，维持其检测精度。

技术研发人员：顾培东,潘胜琪
受保护的技术使用者：江苏捷策创电子科技有限公司
技术研发日：20230904
技术公布日：2024/4/24