一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置的制作方法

本技术涉及密封圈生产，具体是一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置。

背景技术：

1、密封圈材料的选择对其密封性能和使用寿命有着重要意义。材料的性能直接影响密封圈的使用性能，密封圈在生产加工的过程中需要进行耐低温密封性测试。

2、中国专利号为cn211826358u一种集成电路低温测试腔体，包括安装板、测试腔、测试头，所述测试腔固定于所述安装板上，所述安装板可动连接于所述测试腔的上方，所述测试腔的外侧设有外衬板，所述测试腔与所述外衬板间隔设置，所述测试腔上还设有低温循环管道，所述低温循环管道与所述测试腔连通设置。现有技术在使用时通过低温循环管道进行降温，降温速度较为缓慢，且温度降低有限，影响物料的低温检测的效率。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置，以解决现有技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置，包括检测台；所述检测台上端一侧安装有密封罐，所述密封罐上端位置安装有气压表，所述密封罐上端一侧安装有第一连接管，所述检测台上端通过螺栓固定安装有低温箱，所述低温箱底端安装有散热机构，所述低温箱内部底端位置安装有半导体制冷片，所述低温箱上端安装有盖板，所述第一连接管一端伸入低温箱内部，所述低温箱的内部另一侧成安装有第二连接管，所述第一连接管和第二连接管靠近位置均安装有安装板，所述安装板之间安装有密封垫，所述第二连接管另一端伸出低温箱外侧安装有伸缩管，所述伸缩管一端安装在气泵上侧，所述气泵通过螺栓固定安装在检测台一侧，所述第二连接管上端安装有控制阀。

3、优选的，所述检测台一侧位置设置有备用电源，所述备用电源通过螺栓固定安装在检测台一侧。

4、优选的，所述散热机构由风道、风机和过滤网组成，所述风道安装在低温箱底端位置，所述风机安装在风道出风口位置，所述过滤网安装在风道进风口位置。

5、优选的，所述风道上端对应半导体制冷片制热端位置设置有多个导热板，所述导热板焊接在风道内部上端。

6、优选的，所述检测台底端四周设置有移动轮，所述移动轮上端通过螺栓固定安装在检测台底端，所述移动轮一侧旋转安装有固定夹。

7、优选的，所述低温箱上端一侧设置有温度检测仪，所述温度检测仪通过螺栓固定安装在低温箱一侧位置。

8、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

9、1、通过开关开启半导体制冷片对低温箱内部进行降温，在低温情况下对密封垫进行检测，通过气压表的压力变化可以对密封罐内部的气压进行检测，根据密封罐内部的气压变化对密封垫的性能进行检测，通过半导体制冷片进行降温，能够快速的对低温箱内部进行降温，且降温数值较低，便于进行低温检测；

10、2、备用电源的设置能够在无法正常供电时，对检测台进行供电，保证检测台的正常使用时，同时备用电源上侧安装有电量指示灯和充电口，便于对备用电源内部逇电量进行显示以及便于对备用电源内部进行充电；

11、3、散热机构在使用时，通过开关开启风机，风机将会带动气流进行流动，温度降低的空气将会通过进风口进入风道，对风道内部的热量进行吸收，在通过风道另一端进行导出，便于对半导体制冷片进行降温，保证半导体制冷片的正常使用；

12、4、温度检测仪的设置能够对低温箱内部的温度进行检测，方便工作人员对低温箱内部的温度进行检测。

技术特征：

1.一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置，包括检测台(1)；其特征在于：

2.根据权利要求1所述的一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置，其特征在于：所述检测台(1)一侧位置设置有备用电源(2)，所述备用电源(2)通过螺栓固定安装在检测台(1)一侧。

3.根据权利要求1所述的一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置，其特征在于：所述散热机构(15)由风道(14)、风机(12)和过滤网(16)组成，所述风道(14)安装在低温箱(7)底端位置，所述风机(12)安装在风道(14)出风口位置，所述过滤网(16)安装在风道(14)进风口位置。

4.根据权利要求3所述的一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置，其特征在于：所述风道(14)上端对应半导体制冷片(17)制热端位置设置有多个导热板(13)，所述导热板(13)焊接在所述风道(14)内部上端。

5.根据权利要求1所述的一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置，其特征在于：所述检测台(1)底端四周设置有移动轮(3)，所述移动轮(3)上端通过螺栓固定安装在检测台(1)底端，所述移动轮(3)一侧旋转安装有固定夹。

6.根据权利要求1所述的一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置，其特征在于：所述低温箱(7)上端一侧设置有温度检测仪(18)，所述温度检测仪(18)通过螺栓固定安装在低温箱(7)一侧位置。

技术总结
本技术公开了一种橡胶密封圈耐低温性能测试装置，包括检测台；所述检测台上端一侧安装有密封罐，所述密封罐上端位置安装有气压表，所述密封罐上端一侧安装有第一连接管，所述检测台上端通过螺栓固定安装有低温箱，所述低温箱内部底端位置安装有半导体制冷片，所述低温箱上端安装有盖板，所述第一连接管一端伸入低温箱内部。本技术通过开关开启半导体制冷片对低温箱内部进行降温，在低温情况下对密封垫进行检测，通过气压表的压力变化可以对密封罐内部的气压进行检测，根据密封罐内部的气压变化对密封垫的性能进行检测，通过半导体制冷片进行降温，能够快速的对低温箱内部进行降温，且降温数值较低，便于进行低温检测。

技术研发人员：吕春英
受保护的技术使用者：昆山依森琳川密封科技有限公司
技术研发日：20230914
技术公布日：2024/5/27