本技术属于芯片检测相关,具体涉及一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪。
背景技术:
1、ic芯片检测仪是一种芯片缺陷检测装置,缺陷检测装置是利用光学显微镜、扫描电子显微镜等设备对芯片表面进行观察和分析,以发现其中的缺陷,这种方法可以检测到芯片表面的各种缺陷,如氧化层、划痕、裂纹、污染等,现有的ic芯片检测仪是由检测装置本体、放置板、控制按钮、液晶显示屏、检测头、等部件组合而成的,现有的ic芯片检测仪在使用时由于杂质和灰尘附着在芯片表面从而会影响ic芯片检测仪对芯片表面的检测,所以涉及一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪必不可少。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于提供一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,以解决上述背景技术中提出现有的ic芯片检测仪在使用时由于杂质和灰尘附着在芯片表面从而会影响ic芯片检测仪对芯片表面的检测的问题。
2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,包括
3、检测装置本体以及设置在所述检测装置本体上端偏左侧位置处的检测头;
4、所述检测装置本体的上端且位于检测头的下方位置处安装有放置板;
5、所述检测装置本体的前部偏左侧位置处设置有液晶显示屏,所述检测装置本体的前部且位于液晶显示屏的右侧位置处设置有控制按钮;
6、所述检测装置本体的后侧位置处安装有喷气装置本体,所述喷气装置本体的左右两侧位置处分别设置有出气管和进气孔,所述出气管的外部且位于喷气装置本体的左侧位置处安装有蛇形喷管,所述喷气装置本体的位置处安装有电机,所述电机和检测装置本体与外部电源电性连接,通过所述喷气装置本体和蛇形喷管的设置可以将芯片外表的杂质和灰尘吹除。
7、优选的,所述检测装置本体的后侧且位于喷气装置本体的前侧位置处设置有安装板,所述安装板与喷气装置本体为一体式结构。
8、优选的,所述安装板的内部设置通孔,所述检测装置本体的内部且与通孔对应位置处设置有连接孔。
9、优选的,所述通孔和连接孔的内壁位置处设置有内螺纹,所述通孔和连接孔的直径大小是相同的。
10、优选的,所述通孔和连接孔的内部且位于安装板的后侧位置处设置有紧固螺母,所述紧固螺母的外壁位置处设置有外螺纹。
11、优选的,所述紧固螺母通过外壁的外螺纹与通孔和连接孔内壁的内螺纹进行连接从而将安装板固定在检测装置本体的后侧进而将喷气装置本体固定在检测装置本体的后侧。
12、优选的,所述喷气装置本体的内部且位于电机的左侧位置处设置有输出轴,所述输出轴的左侧位置处设置有叶片。
13、优选的,所述喷气装置本体的内部且位于电机的右侧位置处设置有细过滤层,所述细过滤层的右侧位置处设置有粗过滤层,所述粗过滤层内部的网孔大于细过滤层内部的网孔,通过所述粗过滤层和细过滤层的设置可以对进入喷气装置本体内部的杂质进行拦截。
14、与现有技术相比,本实用新型提供了一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,具备以下有益效果:
15、在该ic芯片检测仪中,在使用ic芯片检测仪时,先将检测装置本体和电机与外部电源进行连接,然后按下电机开关,电机工作会将气体通过进气孔吸入,再通过蛇形喷管喷出,这时蛇形喷管通过喷出的气体对芯片的外表进行喷气,喷气结束后再将芯片放置在放置板上,接着按下控制按钮,使得检测头下方的显微镜对芯片的表面进行检测,芯片检测的图像会通过液晶显示屏实时的呈现出来,通过喷气装置本体和蛇形喷管的设置,可以对芯片表面的杂质和灰尘进行吹除,避免杂质和灰尘附着在芯片表面影响ic芯片检测仪对芯片表面的检测,从而使得ic芯片检测仪可以更好的对芯片进行检测。
1.一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,包括
2.根据权利要求1所述的一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,其特征在于:所述检测装置本体(1)的后侧且位于喷气装置本体(7)的前侧位置处设置有安装板(17),所述安装板(17)与喷气装置本体(7)为一体式结构。
3.根据权利要求2所述的一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,其特征在于:所述安装板(17)的内部设置设置通孔(16),所述检测装置本体(1)的内部且与通孔(16)对应位置处设置有连接孔(19)。
4.根据权利要求3所述的一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,其特征在于:所述通孔(16)和连接孔(19)的内壁位置处设置有内螺纹(20),所述通孔(16)和连接孔(19)的直径大小是相同的。
5.根据权利要求4所述的一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,其特征在于:所述通孔(16)和连接孔(19)的内部且位于安装板(17)的后侧位置处设置有紧固螺母(15),所述紧固螺母(15)的外壁位置处设置有外螺纹(18)。
6.根据权利要求5所述的一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,其特征在于:所述紧固螺母(15)通过外壁的外螺纹(18)与通孔(16)和连接孔(19)内壁的内螺纹(20)进行连接从而将安装板(17)固定在检测装置本体(1)的后侧进而将喷气装置本体(7)固定在检测装置本体(1)的后侧。
7.根据权利要求6所述的一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,其特征在于:所述喷气装置本体(7)的内部且位于电机(11)的左侧位置处设置有输出轴(14),所述输出轴(14)的左侧位置处设置有叶片(10)。
8.根据权利要求7所述的一种带有吹扫机构的ic芯片检测仪,其特征在于:所述喷气装置本体(7)的内部且位于电机(11)的右侧位置处设置有细过滤层(13),所述细过滤层(13)的右侧位置处设置有粗过滤层(12),所述粗过滤层(12)内部的网孔大于细过滤层(13)内部的网孔,通过所述粗过滤层(12)和细过滤层(13)的设置可以对进入喷气装置本体(7)内部的杂质进行拦截。