一种半导体的性能检测仪器的制作方法

本技术涉及性能检测仪器，具体为一种半导体的性能检测仪器。

背景技术：

1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种，因此需要性能检测仪器对半导体进行检测，能够自动完成多路硅微条探测器中多条探测单元的i-v特性、c-v特性、击穿特性等参数测量，无需人工一点一点的测量。其主要任务是快速高效地甄别多路硅微条探测性能，从而优化工艺，提高探测器性能，更好的服务于核物理实验，而在检测完毕后会将检测数据传输至显示器内，但是目前性能检测仪器使用的显示器都是在固定安装在一定高度，并不具备调节的结构，在不同身高的操作工进行观察时会出现显示器较高或较低的情况，不便于操作工观察显示器，进而具备一定的局限性。

技术实现思路

1、为解决上述背景技术中提出的问题，本实用新型的目的在于提供一种半导体的性能检测仪器，具备了调节的优点，解决了目前性能检测仪器使用的显示器都是在固定安装在一定高度，并不具备调节的结构，在不同身高的操作工进行观察时会出现显示器较高或较低的情况，不便于操作工观察显示器，进而具备一定局限性的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体的性能检测仪器，包括性能检测仪器本体、工作台和显示器，所述工作台固定连接在性能检测仪器本体的正面，所述显示器设置在性能检测仪器本体的右侧，所述性能检测仪器本体内部的右侧固定连接有调节板，所述调节板的内部开设有调节槽，所述调节槽的内部滑动连接有调节架，所述调节架的另一端与显示器的左侧固定连接，所述调节架的左侧固定连接有辅助调节机构，所述性能检测仪器本体正面的右侧开设有限位机构。

3、作为本实用新型优选的，所述辅助调节机构包括辅助条，所述辅助条固定连接在调节架的左侧，所述辅助条正面和背面的两侧均固定连接有滑动架，所述滑动架的右侧固定连接有滑轮组，所述调节板左侧的两侧均开设有配合滑轮组使用的滑轮槽。

4、作为本实用新型优选的，所述限位机构包括限位槽，所述限位槽开设在性能检测仪器本体内部的右侧，所述限位槽的内部滑动连接有限位块，所述限位块滑动连接在限位槽的内部，所述限位槽的内部和限位块的正面均开设有螺孔，所述螺孔的内部螺纹连接有螺杆。

5、作为本实用新型优选的，所述限位块顶部的两侧均固定连接有限位架，所述调节架位于限位架的内侧。

6、作为本实用新型优选的，所述辅助条左侧的两侧均固定连接有推架，所述推架的表面套设有防滑套。

7、作为本实用新型优选的，所述调节架右侧的后侧固定连接有稳定块，所述调节板的内侧开设有配合稳定块使用的稳定槽。

8、作为本实用新型优选的，所述螺杆的表面固定连接有旋钮器。

9、与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

10、1、本实用新型通过设置调节板和调节架，便于使用者使调节架通过调节槽和调节板带动显示器进行调节，进而达到了调节的效果，解决了目前性能检测仪器使用的显示器都是在固定安装在一定高度，并不具备调节的结构，在不同身高的操作工进行观察时会出现显示器较高或较低的情况，不便于操作工观察显示器，进而具备一定局限性的问题，达到了调节的效果。

11、2、本实用新型通过设置辅助调节机构，使辅助条和调节架进行固定，再使滑动架和辅助条进行固定，然后使滑动架通过滑轮组和滑轮槽进行滑动连接，便于使用者通过拉动辅助条，使辅助条带动调节架进行移动调节，且移动时滑动架和滑轮组能够通过滑轮槽对辅助条起到辅助调节效果，保证了调节的流畅性。

12、3、本实用新型通过设置限位机构，使限位槽对限位块进行限位，使限位块能够在限位槽内跟随调节位置进行滑动，调节完毕后可通过旋转螺杆，使螺杆贯穿限位块内部的螺孔与限位槽内部的螺孔进行螺纹锁死，使限位块对调节架进行限位，保证了调节架对显示器调节的稳定性。

技术特征：

1.一种半导体的性能检测仪器，包括性能检测仪器本体(1)、工作台(2)和显示器(3)，其特征在于：所述工作台(2)固定连接在性能检测仪器本体(1)的正面，所述显示器(3)设置在性能检测仪器本体(1)的右侧，所述性能检测仪器本体(1)内部的右侧固定连接有调节板(4)，所述调节板(4)的内部开设有调节槽(5)，所述调节槽(5)的内部滑动连接有调节架(6)，所述调节架(6)的另一端与显示器(3)的左侧固定连接，所述调节架(6)的左侧固定连接有辅助调节机构(7)，所述性能检测仪器本体(1)正面的右侧开设有限位机构(8)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体的性能检测仪器，其特征在于：所述辅助调节机构(7)包括辅助条(701)，所述辅助条(701)固定连接在调节架(6)的左侧，所述辅助条(701)正面和背面的两侧均固定连接有滑动架(702)，所述滑动架(702)的右侧固定连接有滑轮组(703)，所述调节板(4)左侧的两侧均开设有配合滑轮组(703)使用的滑轮槽(704)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体的性能检测仪器，其特征在于：所述限位机构(8)包括限位槽(801)，所述限位槽(801)开设在性能检测仪器本体(1)内部的右侧，所述限位槽(801)的内部滑动连接有限位块(802)，所述限位块(802)滑动连接在限位槽(801)的内部，所述限位槽(801)的内部和限位块(802)的正面均开设有螺孔(803)，所述螺孔(803)的内部螺纹连接有螺杆(804)。

4.根据权利要求3所述的一种半导体的性能检测仪器，其特征在于：所述限位块(802)顶部的两侧均固定连接有限位架(9)，所述调节架(6)位于限位架(9)的内侧。

5.根据权利要求2所述的一种半导体的性能检测仪器，其特征在于：所述辅助条(701)左侧的两侧均固定连接有推架(10)，所述推架(10)的表面套设有防滑套(11)。

6.根据权利要求1所述的一种半导体的性能检测仪器，其特征在于：所述调节架(6)右侧的后侧固定连接有稳定块(12)，所述调节板(4)的内侧开设有配合稳定块(12)使用的稳定槽(13)。

7.根据权利要求3所述的一种半导体的性能检测仪器，其特征在于：所述螺杆(804)的表面固定连接有旋钮器(14)。

技术总结
本技术公开了一种半导体的性能检测仪器，包括性能检测仪器本体、工作台和显示器，所述工作台固定连接在性能检测仪器本体的正面，所述显示器设置在性能检测仪器本体的右侧，所述性能检测仪器本体内部的右侧固定连接有调节板，所述调节板的内部开设有调节槽。本技术通过设置调节板和调节架，便于使用者使调节架通过调节槽和调节板带动显示器进行调节，进而达到了调节的效果，解决了目前性能检测仪器使用的显示器都是在固定安装在一定高度，并不具备调节的结构，在不同身高的操作工进行观察时会出现显示器较高或较低的情况，不便于操作工观察显示器，进而具备一定局限性的问题。

技术研发人员：孙效中
受保护的技术使用者：常州旺童半导体科技有限公司
技术研发日：20230925
技术公布日：2024/5/19