一种集成电路测试装置的制作方法

本技术涉及集成电路，尤其涉及一种集成电路测试装置。

背景技术：

1、集成电路是一种电子元器件，由所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块电子半导体晶片或介质基片上，集成电路在出厂使用前需使用测试仪进行测试，以保证集成电路能够稳定的运行。

2、针对上述及现有的相关技术，发明人认为往往存在以下缺陷：在使用测试装置对集成电路进行测试时，需使用多根传输线将测试仪与集成电路进行连接时，在连接时需按压集成电路进行连接，因此在按压集成电路进行连接时容易误触，导致集成电路上的电子元器件发生脱落，从而导致集成电路发生损坏。

3、因此，本实用新型提供一种集成电路测试装置。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在按压集成电路进行连接时容易误触，导致集成电路上的电子元器件发生脱落的缺点，而提出的一种集成电路测试装置。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括测试仪，所述测试仪为hn2600mx/c型号，所述测试仪的表面开设有若干个传输口，所述测试仪的表面设有限位结构，所述限位结构包括框架，所述框架与测试仪的表面固定连接，所述框架的表面开设有凹槽，所述框架远离测试仪的一侧固定连接有两个u形架，所述u形架的表面转动连接有支撑臂，所述u形架的表面滑动贯穿有插销，所述支撑臂的表面开设有两个圆槽，所述圆槽的尺寸与插销的尺寸相适配，所述支撑臂的表面固定连接有挡板。

3、上述部件所达到的效果为：通过设置限位结构，达到便于对集成电路进行限位，从而便于将传输线连接在集成电路的表面，避免在将传输线与集成电路连接时需按压集成电路，导致误碰集成电路表面的电子元件，导致电子元件从集成电路的表面脱落，造成集成电路发生损坏的作用。

4、优选的，所述插销的圆弧面套有弹簧，所述弹簧的两端分别与插销和u形架固定连接。

5、上述部件所达到的效果为：插销借助弹簧收缩的力滑入圆槽内，弹簧达到限位插销移动路径的作用。

6、优选的，所述框架的表面固定连接有若干个圆杆，所述圆杆的套有若干个圆筒。

7、上述部件所达到的效果为：集成电路在移动时会沿圆筒的表面滑动，圆筒达到便于移动集成电路，减小集成电路与凹槽内壁摩擦力的作用。

8、优选的，所述框架的表面螺纹贯穿有驱动杆，所述驱动杆的一端转动连接有矩形板。

9、上述部件所达到的效果为：动杆在移动时会带动矩形板移动，矩形板达到限制凹槽的内壁空间，从而避免较小的集成电路插入框架内发生晃动的作用。

10、优选的，所述测试仪的表面设有防护结构，所述防护结构包括矩形框，所述矩形框与测试仪的表面固定连接，所述矩形框的表面固定连接有橡胶垫，所述橡胶垫的表面开设有三个矩形孔。

11、上述部件所达到的效果为：通过设置防护结构，达到便于对传输口进行防护，避免传输口内进入杂质，造成传输口接触不良，影响检测集成电路测试结果准确率的作用。

12、优选的，所述测试仪的表面固定连接有若干个限位板，若干个所述限位板两两一组。

13、上述部件所达到的效果为：传输线的端口在移动到适宜的位置后会沿限位板的表面滑动，限位板达到限位传输线端口的移动路径，从而便于将传输线与传输口进行连接。

14、优选的，所述矩形孔的内壁固定连接有矩形垫，所述矩形垫的表面固定连接有弹力绳。

15、上述部件所达到的效果为：矩形孔在受挤压时会带动橡胶垫移动，橡胶垫在移动时会使弹力绳进行拉伸，矩形垫与弹力绳达到增大矩形孔的闭合紧密度的作用，进而提高对传输口防护的作用。

16、综上所述：

17、1.本实用新型中，通过设置限位结构，达到将集成电路沿凹槽的内壁滑动，当集成电路移动到适宜的位置后，向相反的方向转动挡板，当挡板与框架的表面接触后，从而将电路板限位在框架内，避免在将传输线与集成电路进行连接时，集成电路发生移动需操作人员按压集成电路的作用，从而避免集成电路在按压时发生损坏的作用。

18、2.本实用新型中，通过设置防护结构，达到便于对测试仪表面的传输口进行限位，从而避免传输口在未使用时内部落入灰尘等杂质，附着在传输口的内壁，使传输口与传输线连接进行使用时出现接触不良，影响集成电路检测数据的作用。

技术特征：

1.一种集成电路测试装置，包括测试仪(1)，其特征在于：所述测试仪(1)的表面开设有若干个传输口(2)，所述测试仪(1)的表面设有限位结构(3)，所述限位结构(3)包括框架(301)，所述框架(301)与测试仪(1)的表面固定连接，所述框架(301)的表面开设有凹槽(302)，所述框架(301)远离测试仪(1)的一侧固定连接有两个u形架(303)，所述u形架(303)的表面转动连接有支撑臂(304)，所述u形架(303)的表面滑动贯穿有插销(305)，所述支撑臂(304)的表面开设有两个圆槽(306)，所述圆槽(306)的尺寸与插销(305)的尺寸相适配，所述支撑臂(304)的表面固定连接有挡板(307)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述插销(305)的圆弧面套有弹簧(308)，所述弹簧(308)的两端分别与插销(305)和u形架(303)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述框架(301)的表面固定连接有若干个圆杆(309)，所述圆杆(309)的套有若干个圆筒(310)。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述框架(301)的表面螺纹贯穿有驱动杆(311)，所述驱动杆(311)的一端转动连接有矩形板(312)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述测试仪(1)的表面设有防护结构(4)，所述防护结构(4)包括矩形框(41)，所述矩形框(41)与测试仪(1)的表面固定连接，所述矩形框(41)的表面固定连接有橡胶垫(42)，所述橡胶垫(42)的表面开设有三个矩形孔(43)。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述测试仪(1)的表面固定连接有若干个限位板(44)，若干个所述限位板(44)两两一组。

7.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述矩形孔(43)的内壁固定连接有矩形垫(45)，所述矩形垫(45)的表面固定连接有弹力绳(46)。

技术总结
本技术涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路测试装置，包括测试仪，所述测试仪为HN2600MX/C型号，所述测试仪的表面开设有若干个传输口，所述测试仪的表面设有限位结构，所述限位结构包括框架，所述框架与测试仪的表面固定连接，所述框架的表面开设有凹槽，所述框架远离测试仪的一侧固定连接有两个U形架，所述U形架的表面转动连接有支撑臂，所述U形架的表面滑动贯穿有插销，所述支撑臂的表面开设有两个圆槽，所述圆槽的尺寸与插销的尺寸相适配，所述支撑臂的表面固定连接有挡板。本技术，解决了按压集成电路进行连接时容易误触，导致集成电路上的电子元器件发生脱落的问题。

技术研发人员：何旭颍,杨全
受保护的技术使用者：何旭颍
技术研发日：20231025
技术公布日：2024/8/1