一种铁芯片半自动检测设备的制作方法

本技术涉及铁芯片检测领域，具体是一种铁芯片半自动检测设备。

背景技术：

1、铁芯片在加工时会进行一系列的检查，从而检测出一些缺陷。对缺陷进行处理，可以避免材料的浪费，以及废品的产生。现有的铁芯片检测方法采用人工筛选，操作人员将铁芯片载板从弹夹中取出，利用显微镜对每个铁芯片进行观察，对缺陷进行逐一检测，将符合要求的产品留下，将不符合要求的产品返回到相应的工位进行重新加工。由于人工检测的随机性与不确定性，没有办法确保把所有的缺陷都检测出来，并且，人工无法确保所有的铁芯片保质保量的进行检测，容易出现漏检或未检的情况发生。

2、在中国专利中，公开了一种半自动的芯片检测设备，其专利号为cn209784491u，在该专利一种半自动的芯片检测设备中，包括有支架以及设置在支架上方的检测组件，所述支架上设置能够插接卡片的导槽，卡片能够沿导槽滑动至检测组件的下方，所述检测组件包括有朝下设置的检测头以及驱动检测头沿竖向运动的驱动组件，一种半自动的芯片检测设备的检测组件包括有检测头以及能够驱动检测头沿竖向运动的驱动组件，卡片沿导槽滑动至检测头的下方，检测头朝下运动接触卡片上的芯片以实现检测头与芯片接触导通，避免检测头与芯片产生摩擦而划伤芯片或损伤检测头，增加检测头的使用寿命。

3、上述已公开专利具有以下缺点：

4、(1)现有技术中对芯片进行检测需要对对芯片表面以及内部的质量问题进行检测，而固定的检测头无法保证芯片的每个角落都能够被检测到，从而导致一些角落的质量问题没有被检测出，影响后续成品的使用。

5、(2)现有技术中芯片的检测需要人工放置芯片，导致芯片的放置位置与检测位置之间出现偏差，对芯片检测的结果造成影响。

6、(3)现有技术中，在设备对芯片进行检测时，需要浪费人力放置拿取芯片，浪费时间的同时也会导致芯片检测的效率降低，影响芯片的后续使用。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题就是克服以上的技术缺陷，提供一种铁芯片半自动检测设备。

2、为了解决上述问题，本实用新型提出如下技术方案：

3、一种铁芯片半自动检测设备,包括：底板、支撑腿、固定架、传输组件、固定组件、移动组件、电推杆；

4、所述底板底面固定连接支撑腿，所述底板内侧固定连接固定架，所述固定架内侧连接传输组件，所述传输组件包括传输带，所述传输带表面固定连接固定组件，所述固定组件有多个，多个所述固定组件包括放置盒，所述放置盒内侧螺纹连接有螺杆，所述螺杆一侧固定连接有弹簧一，所述弹簧一一端旋转连接有夹持块，所述移动组件固定连接在固定架表面，所述移动组件包括驱动电机二，所述驱动电机二底面固定连接有转杆，所述转杆底面固定连接有转盘，所述转盘表面固定连接固定杆一，所述固定杆一表面旋转连接有联动杆，所述联动杆另一端设有固定杆二，所述固定杆二底部固定连接电推杆，所述电推杆底面固定连接有检测头。

5、进一步，所述传输组件包括驱动电机一，所述驱动电机一固定连接在底板侧面，所述驱动电机一一侧固定连接有驱动杆，所述驱动杆旋转连接在固定架内侧，所述驱动杆表面固定连接有联动辊，所述联动辊有两个，两个所述联动辊表面连接传输带。

6、进一步，所述夹持块一侧固定连接有移杆，所述移杆一侧固定连接有挡块，所述移杆表面设有弹簧二，所述移杆外侧设有限位框，所述限位框固定连接在放置盒内侧，所述挡块滑动连接在限位框内侧，所述夹持块表面设有固定环，所述螺杆旋转连接在固定环内侧。

7、进一步，所述转盘旋转连接在固定架内侧上表面，所述固定杆一偏心连接在转盘表面，所述固定杆一底面固定连接有挡板。

8、进一步，所述固定杆二上表面固定连接有滑块，所述滑块内侧滑动连接有滑条，所述滑条固定连接在固定架内侧上表面。

9、与现有技术相比，本使用新型所达到的有益效果是：

10、(1)本实用新型固定架表面的移动组件通过驱动电机二驱动，使转盘能够转动，从而令转盘表面偏心连接的固定杆一能够带动联动杆围绕其移动，从而令联动杆另一端的固定杆二在滑块的限位下带动电推杆移动，令电推杆底部的检测头能够移动，扫描到铁芯片的每个角落。

11、(2)本实用新型设置放置盒放置铁芯片，在螺杆的调节下，使夹持块能够固定不同的铁芯片，从而保证铁芯片能够精确的通过检测头下方，令铁芯片的检测结果更加准确。

12、(3)本实用新型通过设备设置的传输组件自动传输铁芯片通过检测头下方，从而减轻操作工人的工作负担，检测过程中只需拿取放置铁芯片即可。

技术特征：

1.一种铁芯片半自动检测设备，其特征在于：包括底板(1)、支撑腿(2)、固定架(3)、传输组件(4)、固定组件(5)、移动组件(6)、电推杆(7)；

2.根据权利要求1所述的一种铁芯片半自动检测设备，其特征在于：所述传输组件(4)包括驱动电机一(401)，所述驱动电机一(401)固定连接在底板(1)侧面，所述驱动电机一(401)一侧固定连接有驱动杆(402)，所述驱动杆(402)旋转连接在固定架(3)内侧，所述驱动杆(402)表面固定连接有联动辊(403)，所述联动辊(403)有两个，两个所述联动辊(403)表面连接传输带(404)。

3.根据权利要求1所述的一种铁芯片半自动检测设备，其特征在于：所述夹持块(504)一侧固定连接有移杆(505)，所述移杆(505)一侧固定连接有挡块(506)，所述移杆(505)表面设有弹簧二(507)，所述移杆(505)外侧设有限位框(508)，所述限位框(508)固定连接在放置盒(501)内侧，所述挡块(506)滑动连接在限位框(508)内侧，所述夹持块(504)表面设有固定环(509)，所述螺杆(502)旋转连接在固定环(509)内侧。

4.根据权利要求1所述的一种铁芯片半自动检测设备，其特征在于：所述转盘(603)旋转连接在固定架(3)内侧上表面，所述固定杆一(604)偏心连接在转盘(603)表面，所述固定杆一(604)底面固定连接有挡板(605)。

5.根据权利要求1所述的一种铁芯片半自动检测设备，其特征在于：所述固定杆二(607)上表面固定连接有滑块(608)，所述滑块(608)内侧滑动连接有滑条(609)，所述滑条(609)固定连接在固定架(3)内侧上表面。

技术总结
本技术公开了一种铁芯片半自动检测设备，包括底板，所述底板表面固定连接固定架，所述底板内侧设置传输组件，所述传输组件表面连接固定组件，所述固定架上表面固定连接移动组件，所述移动组件底部设置电推杆。本技术能够在使用者使用时，固定架表面的移动组件能够带动电推杆移动，从而使电推杆底部的检测头能够来回移动，从而保证检测头能够扫描到整个铁芯片，避免铁芯片的某些角落无法被检测到，并且将需要检测的铁芯片放置在放置盒内侧，使操作工人只需要进行放置拿取的工作，减轻了操作人员的负担，同时通过螺杆能够对铁芯片进行固定，提高检测结果的准确性。

技术研发人员：顾国青,顾新华,顾士初
受保护的技术使用者：临海市一帆电器冲件厂（普通合伙）
技术研发日：20231116
技术公布日：2024/8/1