一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件的制作方法

本技术涉及半导体芯片测试相关，尤其涉及一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件。

背景技术：

1、芯片被测件接口板压紧组件是一种用于将接口板紧密地压在测试机上的装置，以确保接口板与测试机之间的稳定连接。

2、经过海量检索，发现现有技术公开号为cn116593863a，公开了一种用于芯片测试的滑轨式探针接口板的锁紧装置，包括：第一、第二组直线导轨、第一、第二对接块、连杆、操作块以及操作把手；第一、第二对接块上分别设置有第一、第二组卡槽，第一、第二对接块上还分别设置有第一、第二组滑槽，第一、第二组卡槽分别和第一、第二组滑槽一一对应并贯通；第一、第二对接块通过第一、第二连接装置连接于连杆；操作把手和操作块连接，操作把手用于推动连杆以带动第一对接块和第二对接块分别往第一方向和第二方向运动，第一方向和第二方向为相反方向。本发明提供的用于芯片测试的滑轨式探针接口板的锁紧装置，通过设置直线导轨和对接块，保证每次探针接口板下压的行程一致，使得每次检测准确可靠。

3、综上所述，现有的接口板锁紧装置中的两个压紧板均直接与连杆结构相连接，使得压紧板的更换较为繁琐；且压紧板和手柄在在活动过程中没有限位处理。

4、有鉴于上述的缺陷，本设计人积极加以研究创新，以期创设一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件，使其更具有产业上的利用价值。

技术实现思路

1、为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件。

2、为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

3、一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件，包括两组沿着x轴方向并列分布的对接机构，对接机构包括沿着y轴方向分布的拉板和定位锁紧板，定位锁紧板的底部通过若干个连接块与下方的拉板连接在一起；

4、两个拉板沿着y轴负方向的一侧连接设置有手柄连杆机构，手柄连杆机构包括手柄、曲柄和连杆，手柄通过转轴与下方的曲柄的第一端相连接，转轴的底部穿过曲柄的第一端后安装在下方的测试机上，曲柄的第二端安装在连杆上，连杆沿着x轴方向的两侧分别与转角座的第一侧端相连接，转角座的中部通过固定轴安装在测试机上，转角座的第二侧端通过活接螺栓机构与安装在拉板沿着y轴负方向一侧的耳座相连接。

5、作为本实用新型的进一步改进，活接螺栓机构包括第一活节螺栓、螺母柱和第二活节螺栓，螺母柱的第一侧通过第一活节螺栓与转角座的第二侧端相连接，螺母柱的第二侧通过第二活节螺栓与耳座相连接。

6、作为本实用新型的进一步改进，拉板正上方的测试机上安装有沿着y轴方向分布的导轨，拉板的顶部通过若干个滑块与上方的导轨相连接。

7、作为本实用新型的进一步改进，拉板沿着y轴正方向一侧的测试机上安装有限位座，限位座上沿着y轴负方向的一侧安装有限位块。

8、作为本实用新型的进一步改进，还包括手柄锁紧组件，手柄锁紧组件包括手柄锁紧杆和手柄锁紧柱，手柄上远离转轴的一侧设置有手柄锁紧孔，手柄锁紧杆上沿着x轴正方向一侧的手柄锁紧柱可插接入手柄锁紧孔内。

9、作为本实用新型的进一步改进，手柄锁紧杆沿着x轴正方向一侧的测试机上安装有锁紧柱导向座，手柄锁紧柱可在锁紧柱导向座内沿着x轴方向移动。

10、借由上述方案，本实用新型至少具有以下优点：

11、本实用新型的两个定位压紧板不直接与连杆结构相连接，使得定位压紧板的更换拆卸较为方便；

12、本实用新型的定位压紧板可通过限位座上的限位块进行限位处理，手柄可通过手柄锁紧组件进行限位处理。

13、上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

技术特征：

1.一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件，包括两组沿着x轴方向并列分布的对接机构，所述对接机构包括沿着y轴方向分布的拉板(11)和定位锁紧板(15)，所述定位锁紧板(15)的底部通过若干个连接块(14)与下方的拉板(11)连接在一起；

2.如权利要求1所述的一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件，其特征在于，所述活接螺栓机构包括第一活节螺栓(7)、螺母柱(8)和第二活节螺栓(9)，所述螺母柱(8)的第一侧通过第一活节螺栓(7)与转角座(5)的第二侧端相连接，所述螺母柱(8)的第二侧通过第二活节螺栓(9)与耳座(10)相连接。

3.如权利要求1所述的一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件，其特征在于，所述拉板(11)正上方的测试机上安装有沿着y轴方向分布的导轨(12)，所述拉板(11)的顶部通过若干个滑块(13)与上方的导轨(12)相连接。

4.如权利要求1所述的一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件，其特征在于，所述拉板(11)沿着y轴正方向一侧的测试机上安装有限位座(16)，所述限位座(16)上沿着y轴负方向的一侧安装有限位块(17)。

5.如权利要求1所述的一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件，其特征在于，还包括手柄锁紧组件(18)，所述手柄锁紧组件(18)包括手柄锁紧杆(20)和手柄锁紧柱(22)，所述手柄(1)上远离转轴(2)的一侧设置有手柄锁紧孔(19)，所述手柄锁紧杆(20)上沿着x轴正方向一侧的手柄锁紧柱(22)可插接入手柄锁紧孔(19)内。

6.如权利要求5所述的一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件，其特征在于，所述手柄锁紧杆(20)沿着x轴正方向一侧的测试机上安装有锁紧柱导向座(21)，所述手柄锁紧柱(22)可在锁紧柱导向座(21)内沿着x轴方向移动。

技术总结
本技术涉及一种半导体芯片测试机被测件接口板对接组件，包括两组沿着X轴方向并列分布的对接机构，对接机构包括沿着Y轴方向分布的拉板和定位锁紧板，定位锁紧板的底部通过若干个连接块与下方的拉板连接在一起；两个拉板沿着Y轴负方向的一侧连接设置有手柄连杆机构，手柄连杆机构包括手柄、曲柄和连杆。本技术的两个定位压紧板不直接与连杆结构相连接，使得定位压紧板的更换拆卸较为方便；本技术的定位压紧板可通过限位座上的限位块进行限位处理，手柄可通过手柄锁紧组件进行限位处理。

技术研发人员：张勇
受保护的技术使用者：上海铭剑电子科技有限公司
技术研发日：20231211
技术公布日：2024/7/15