一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置的制作方法

本技术涉及电子元器件检测，具体涉及一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置。

背景技术：

1、在电子设备中，绝缘电阻的大小对于确保电路的稳定性和安全性至关重要，特别是在高压或高频环境下。常见的电子元器件绝缘电阻包括绝缘电容、绝缘电阻器、绝缘型mos管等。为了确保产品质量，这些电子元器件在生产制造过程中需要进行抽检测试。

2、目前的测试方法主要包括人工夹取产品进行测试并记录测试数据，或将产品焊接在测试夹具上，通过夹具进行测试并记录测试数据。然而，这些方法存在一些问题需要解决。

3、首先，人工夹取产品进行测试时，由于夹取力度和位置的不同，会导致产品测试结果出现差异，影响测试的准确性和可靠性；其次，将产品焊接在测试夹具上进行测试时，往往会出现焊接裂纹导致产品失效的情况，从而影响测试结果的准确性。

技术实现思路

1、为此，本实用新型提供一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，主要解决现有技术的电子元器件绝缘电阻测试人工夹取产品进行测试因夹取力度和位置的不同，会导致产品测试结果出现差异及产品焊接在测试夹具上进行测试因会出现焊接裂纹导致产品失效的情况从而导致测试结构不准的技术问题。

2、为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

3、一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，包括测量座及与设置在测量座上方的下压装置；所述测量座包括底座；所述底座顶面设有pcb板，用于连接测量仪器，测试所述电子元器件的绝缘电阻；所述pcb板顶面设有放置板；所述放置板均布多个元器件放置部，用于放置所述电子元器件；所述下压装置包括盖板；所述盖板底面设有与所述元器件放置部数量及位置均适配的探头，用于下压放置在所述元器件放置部的所述电子元器件，以使所述电子元器件和所述pcb板接触。

4、优选地，所述底座、所述pcb板和所述放置板组合体左侧设有第一固定柱，右侧设有第二固定柱；所述盖板左侧开设有贯通的第一固定孔，右侧开设有贯通的第二固定孔；所述第一固定柱可活动嵌入第一固定孔内；所述第二固定柱可活动嵌入第二固定孔内。

5、优选地，所述第一固定柱外形和所述第一固定孔外形适配；所述第二固定柱外形和所述第二固定孔外形适配。

6、优选地，所述第一固定柱顶部和所述第二固定柱顶部均螺纹连接锁紧圆柱。

7、优选地，所述盖板呈倒“凸”字形；所述盖板底面凹陷部位开设有多个贯通的孔径从上向下依次减小的二阶孔探头孔；所述探头孔数量与位置均和所述元器件放置部数量及位置适配；所述探头由滑动部和压头组成；所述滑动部直径与所述探头孔上侧孔径适配，且可滑动设置在所述探头孔上侧孔内；所述压头直径与所述探头孔下侧孔径适配，且可滑动设置在所述探头孔下侧孔内；所述滑动部上方的所述探头孔内设有压力弹簧，用于下压所述探头。

8、优选地，所述压头底部呈倒圆锥状。

9、优选地，所述盖板顶部设有标识板。

10、优选地，所述标识板顶面设有与所述探头孔位置和数量均适配的标识。

11、优选地，所述底座底面设有定位孔。

12、本实用新型至少具有以下有益效果：

13、其设置有pcb板，pcb板顶面设有放置板，放置板均布多个元器件放置部，还设置有盖板，盖板底面设有与元器件放置部数量及位置均适配的探头。测试时，将待测电子元器件放置在元器件放置部，将盖板放置到放置板上，探头底端和所述待测电子元器件接触，并下压待测电子元器件和pcb板接触，将测量仪器和pcb板连接，即可稳定的进行绝缘电阻的测试，以元器件放置部有多个，一次可对多个电子元器件进行测试，测试效率高。

14、由此可见，本实用新型的一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置具有结构简单，使用方便，测试效率高，测试可靠性高、可提高测试准确性等优点。

技术特征：

1.一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，其特征在于，包括测量座及与设置在测量座上方的下压装置；所述测量座包括底座(1)；所述底座(1)顶面设有pcb板(2)，用于连接测量仪器，测试所述电子元器件的绝缘电阻；所述pcb板(2)顶面设有放置板(3)；所述放置板(3)均布多个元器件放置部(301)，用于放置所述电子元器件；所述下压装置包括盖板(4)；所述盖板(4)底面设有与所述元器件放置部(301)数量及位置均适配的探头(5)，用于下压放置在所述元器件放置部(301)的所述电子元器件，以使所述电子元器件和所述pcb板(2)接触。

2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，其特征在于，所述底座(1)、所述pcb板(2)和所述放置板(3)组合体左侧设有第一固定柱(7)，右侧设有第二固定柱(8)；所述盖板(4)左侧开设有贯通的第一固定孔(402)，右侧开设有贯通的第二固定孔(403)；所述第一固定柱(7)可活动嵌入第一固定孔(402)内；所述第二固定柱(8)可活动嵌入第二固定孔(403)内。

3.根据权利要求2所述的一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，其特征在于，所述第一固定柱(7)外形和所述第一固定孔(402)外形适配；所述第二固定柱(8)外形和所述第二固定孔(403)外形适配。

4.根据权利要求2所述的一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，其特征在于，所述第一固定柱(7)顶部和所述第二固定柱(8)顶部均螺纹连接锁紧圆柱(10)。

5.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，其特征在于，所述盖板(4)呈倒“凸”字形；所述盖板(4)底面凹陷部位开设有多个贯通的孔径从上向下依次减小的二阶孔探头孔(401)；所述探头孔(401)数量与位置均和所述元器件放置部(301)数量及位置适配；所述探头(5)由滑动部和压头组成；所述滑动部直径与所述探头孔(401)上侧孔径适配，且可滑动设置在所述探头孔(401)上侧孔内；所述压头直径与所述探头孔(401)下侧孔径适配，且可滑动设置在所述探头孔(401)下侧孔内；所述滑动部上方的所述探头孔(401)内设有压力弹簧(9)，用于下压所述探头(5)。

6.根据权利要求5所述的一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，其特征在于，所述压头底部呈倒圆锥状。

7.根据权利要求5所述的一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，其特征在于，所述盖板(4)顶部设有标识板(6)。

8.根据权利要求7所述的一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，其特征在于，所述标识板(6)顶面设有与所述探头孔(401)位置和数量均适配的标识(601)。

9.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，其特征在于，所述底座(1)底面设有定位孔(101)。

技术总结
本技术涉及一种用于电子元器件绝缘电阻测试的装置，包括测量座及与设置在测量座上方的下压装置；所述测量座包括底座；所述底座顶面设有PCB板，用于连接测量仪器，测试所述电子元器件的绝缘电阻；所述PCB板顶面设有放置板；所述放置板均布多个元器件放置部，用于放置所述电子元器件；所述下压装置包括盖板；所述盖板底面设有与所述元器件放置部数量及位置均适配的探头，用于下压放置在所述元器件放置部的所述电子元器件，以使所述电子元器件和所述PCB板接触。本技术具有结构简单，使用方便，测试效率高，测试可靠性高、可提高测试准确性等优点。

技术研发人员：张璇,柴伟,陈喆
受保护的技术使用者：北京元六鸿远电子科技股份有限公司
技术研发日：20231211
技术公布日：2024/11/21