微小环形电容的测试设备的制作方法

本技术涉及电子，尤其涉及一种微小环形电容的测试设备。

背景技术：

1、目前，电容广泛应用于各种场景和设备中，电容可分为多种类型，包括微小环形电容。

2、通常，电容在出厂之前需要进行各项性能测试，目前，对于微小环形电容，通常采用人工操作的方式进行测试。

3、但是人工操作存在测试效率低、测试偏差较大等问题，影响电容出厂的效率和质量。

4、应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本申请的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本申请的背景技术部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。

技术实现思路

1、为了解决上述问题中的至少一个或其他类似问题，本实用新型实施例提供一种微小环形电容的测试设备。

2、根据本实用新型实施例，提供了一种微小环形电容的测试设备，所述测试设备包括：

3、给料部，其用于装载待测的电容，所述电容在所述给料部以通孔朝向第一方向的方式排列；

4、机械手，其能够移动以搬移所述电容；以及

5、至少一个测试部，各测试部分别测试电容的不同参数，所述测试部设置于所述机械手的末端并随着所述机械手而移动，

6、所述测试部包括夹爪部，所述夹爪部包括用于夹持电容以进行测试的第一探针和第二探针，所述第一探针沿所述第一方向延伸，所述第一探针的外径不大于所述电容的内径，所述第二探针能够以远离或靠近所述第一探针的方式移动。

7、在一个或多个实施例中，

8、所述第一探针包括接触部和设置于所述接触部的端部的末端部，

9、所述接触部在所述第一探针插入所述电容的情况下与所述电容的内周面接触，

10、所述末端部的远离所述接触部的部分的径向尺寸小于所述末端部的靠近所述接触部的部分的径向尺寸。

11、在一个或多个实施例中，

12、所述末端部为圆锥形状。

13、在一个或多个实施例中，

14、在所述接触部的轴截面上，所述接触部的用于与所述电容的内周面接触的部分为直线或朝向所述电容凸出的弧线。

15、在一个或多个实施例中，

16、所述第二探针的用于接触电容的外周面的部位为曲面。

17、在一个或多个实施例中，

18、所述第二探针包括弯折部，所述弯折部的弯折角部的外侧面为所述曲面。

19、在一个或多个实施例中，所述给料部包括：

20、振动碗，其包括环形导槽，所述电容随着所述振动碗的振动而沿着环形导槽移动；以及

21、给料台，其与所述环形导槽的末端连接，所述电容在所述给料台以通孔朝向第一方向的方式排列。

22、在一个或多个实施例中，所述测试设备还包括：

23、至少一个仓位，其用于存放测试后的电容，

24、仓位驱动部，其沿预定轨道驱动所述至少一个仓位；以及

25、控制部，所述控制部连接所述测试部和所述仓位驱动部，所述控制部根据所述测试部的测试结果确定被测电容的分仓结果并向所述仓位驱动部发送相应的驱动信号，所述仓位驱动部根据所述驱动信号而驱动所述至少一个仓位，并将对应分仓结果的仓位移动至夹持有待分仓的电容的夹爪部的下方。

26、在一个或多个实施例中，

27、所述测试设备还包括中转台，所述中转台设置于所述给料部和对应分仓结果的仓位之间的位置，所述中转台的数量比所述测试部的数量少1个。

28、在一个或多个实施例中，

29、所述至少一个测试部包括用于测试电阻的不同参数的第1测试部和第2测试部，

30、所述机械手包括摆臂和驱动所述摆臂的驱动机构，所述第1测试部和所述第2测试部设置于所述摆臂的不同位置，

31、所述给料部、所述中转台、和对应分仓结果的仓位彼此之间以相同的间隔在一条直线上排列，

32、在所述驱动机构的驱动下，所述摆臂在第1位置和第2位置之间移动，在所述第1位置，所述第1测试部和所述第2测试部分别对齐所述给料部和所述中转台，在所述第2位置，所述第1测试部和所述第2测试部分别对齐所述中转台和所述对应分仓结果的仓位。

33、本实用新型实施例的有益效果之一在于：通过本实用新型提供的测试设备，测试部利用包括第一探针和第二探针的夹爪部夹持微小环状电容以进行测试，并且测试部设置于能够移动的机械手，由此，能够实现微小环状电容的自动化测试，确保测试准确度，提高微小环状电容的出厂效率和质量。

34、参照后文的说明和附图，详细公开了本实用新型的特定实施方式，指明了本实用新型的原理可以被采用的方式。应该理解，本实用新型的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的条款的范围内，本实用新型的实施方式包括许多改变、修改和等同。

35、针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。

36、应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。

技术特征：

1.一种微小环形电容的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括：

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

5.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的测试设备，其特征在于，

7.根据权利要求1至6中任意一项所述的测试设备，其特征在于，

8.根据权利要求1至6中任意一项所述的测试设备，其特征在于，

9.根据权利要求1至6中任意一项所述的测试设备，其特征在于，

10.根据权利要求9所述的测试设备，其特征在于，

技术总结
本技术涉及电子技术领域并提供一种微小环形电容的测试设备，所述测试设备包括：给料部，其用于装载待测的电容，所述电容在所述给料部以通孔朝向第一方向的方式排列；机械手，其能够移动以搬移所述电容；以及至少一个测试部，各测试部分别测试电容的不同参数，所述测试部设置于所述机械手的末端并随着所述机械手而移动，所述测试部包括夹爪部，所述夹爪部包括用于夹持电容以进行测试的第一探针和第二探针，所述第一探针沿所述第一方向延伸，所述第一探针的外径不大于所述电容的内径，所述第二探针能够以远离或靠近所述第一探针的方式移动。通过本技术提供的测试设备，能够实现微小环状电容的自动化测试，确保测试准确度。

技术研发人员：蔡德威
受保护的技术使用者：楼氏电子（苏州）有限公司
技术研发日：20231229
技术公布日：2025/1/20