一种层叠电容测试治具及其控制方法与流程

本发明涉及电容生产测试工装，特别是涉及一种层叠电容测试治具、一种电容测试工装和一种基于层叠电容测试治具的测试方法。

背景技术：

1、在铝叠层电容单体参数测试过程中，传统的测试治具是两探针或者鳄鱼夹样式的，这两种测试治具在测试过程中很难保证测试参数的稳定性和准确性：治具接触点的不稳定导致校正后的零值波动大，测试值出现偏差较大时需要不断调整测试物料与探针的接触位置，即使不动的前提下测试数值有时也会出现波动较大的情况；导致测试准确率和效率低。

技术实现思路

1、鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种层叠电容测试治具、一种电容测试工装和一种基于层叠电容测试治具的测试方法。

2、为了解决上述问题，在本发明的第一个方面，本发明实施例公开了一种层叠电容测试治具，包括：

3、测试底座，所述测试底座上设置有定位槽，所述定位槽用于放置待测试层叠电容；

4、测试板，对所述测试底座相对设置；

5、多组探针，设置于所述测试板靠近所述测试底座；

6、高度调节结构，与所述测试板连接，用于带动所述测试板向所述测试底座靠近，或远离所述测试底座；

7、当所述高度调节结构带动所述测试板向所述测试底座靠近过程中，当所述多组探针与所述待测试层叠电容接触，对所述待测试层叠电容进行测试。

8、可选地，所述层叠电容测试治具还包括：

9、参数测试模块，与所述多组探针，用于通过所述多组探针与所述待测试层叠电容连接，形成电桥电路。

10、可选地，所述电桥电路为电容电感电阻电桥电路；所述电容电感电阻电桥电路与所述待测试层叠电容连接；

11、所述电容电感电阻电桥电路包括：

12、第一电阻；

13、第二电阻；

14、电感；

15、所述第一电阻、所述第二电阻、所述电感和所述待测试层叠电容连接形成桥式电路；

16、激励电源，与所述桥式电路连接；

17、电流检测器，连接在所述桥式电路的两端，用于检测所述桥式电路的电流值；

18、电压检测器，连接在所述桥式电路的两端，用于检测所述桥式电路的电压值；

19、所述待测试层叠电容的容值通过在所述检测桥式电路的电流值和所述检测桥式电路的电压值相等时，基于预设容值公式确定；所述预设容值公式为：c＝(r1/r2)*(1/(2*π*f*l))；

20、其中，c为所述待测试层叠电容的容值；r1为所述第一电阻的电阻值；r2为所述第二电阻的电阻值；π为圆周率；f为所述激励电源的频率；l为所述电感的感值。

21、可选地，所述高度调节结构包括：

22、滑杆，一端与所述测试板连接，用于带动所述测试板移动；

23、滑轨，套设于所述滑杆外侧，用于对所述滑杆进行运动导向；

24、支撑板，所述滑轨固定于所述支撑板；

25、驱动块，与所述滑杆的另一端连接，用于带动所述滑杆沿所述滑轨滑动。

26、可选地，所述高度调节结构包括：

27、定位柱，设置于所述测试底座和所述测试板之间，用于限制所述测试板的滑动位置。

28、可选地，所述定位槽为倒梯形凹槽。

29、可选地，所述多组探针为四探针结构。

30、可选地，所述层叠电容测试治具还包括：

31、弹簧，设置于所述多组探针和所述测试板之间，用于抵接所述多组探针与所述待测试层叠电容接触，或复位所述多组探针。

32、在本发明的第二个方面，本发明实施例公开了一种电容测试工装，包括如上所述的层叠电容测试治具。

33、在本发明的第三个方面，本发明实施例公开了一种基于层叠电容测试治具的测试方法，所述层叠电容测试治具包括测试底座，所述测试底座上设置有定位槽，所述定位槽用于放置待测试层叠电容；测试板，对所述测试底座相对设置；多组探针，设置于所述测试板靠近所述测试底座；高度调节结构，与所述测试板连接，用于带动所述测试板向所述测试底座靠近，或远离所述测试底座；所述方法包括：

34、在所述待测试层叠电容位于所述定位槽时，控制所述高度调节结构带动所述测试板向所述测试底座靠近；

35、响应于所述多组探针与所述待测试层叠电容接触，执行预设测试操作指令，以对所述待测试层叠电容进行测试。

36、本发明实施例包括以下优点：

37、本发明实施例通过测试底座，所述测试底座上设置有定位槽，所述定位槽用于放置待测试层叠电容；测试板，对所述测试底座相对设置；多组探针，设置于所述测试板靠近所述测试底座；高度调节结构，与所述测试板连接，用于带动所述测试板向所述测试底座靠近，或远离所述测试底座；当所述高度调节结构带动所述测试板向所述测试底座靠近过程中，当所述多组探针与所述待测试层叠电容接触，对所述待测试层叠电容进行测试；通过高度调节结构控制测试板及其上多组探针的下压高度和力度，对待测试的层叠电容进行测试，每一个待测试的检测一致性强，从而使得检测的准确度更好，并且通过定位槽放置待测试层叠电容可以更好的固定待测试的层叠电容，以使探针与待测试层叠电容的接触检测位置稳定性更好，进一步提高检测准确度；而且无需人工进行重复的低效率操作，可以提高测试的效率。

技术特征：

1.一种层叠电容测试治具，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的层叠电容测试治具，其特征在于，所述层叠电容测试治具还包括：

3.根据权利要求2所述的层叠电容测试治具，其特征在于，所述电桥电路为电容电感电阻电桥电路；所述电容电感电阻电桥电路与所述待测试层叠电容连接；

4.根据权利要求1所述的层叠电容测试治具，其特征在于，所述高度调节结构包括：

5.根据权利要求4所述的层叠电容测试治具，其特征在于，所述高度调节结构包括：

6.根据权利要求1所述的层叠电容测试治具，其特征在于，所述定位槽为倒梯形凹槽。

7.根据权利要求1所述的层叠电容测试治具，其特征在于，所述多组探针为四探针结构。

8.根据权利要求1所述的层叠电容测试治具，其特征在于，所述层叠电容测试治具还包括：

9.一种电容测试工装，其特征在于，包括如权利要求1至8任一项所述的层叠电容测试治具。

10.一种基于层叠电容测试治具的测试方法，其特征在于，所述层叠电容测试治具包括测试底座，所述测试底座上设置有定位槽，所述定位槽用于放置待测试层叠电容；测试板，对所述测试底座相对设置；多组探针，设置于所述测试板靠近所述测试底座；高度调节结构，与所述测试板连接，用于带动所述测试板向所述测试底座靠近，或远离所述测试底座；所述方法包括：

技术总结
本发明实施例提供了一种层叠电容测试治具及其控制方法，包括：测试底座，所述测试底座上设置有定位槽，所述定位槽用于放置待测试层叠电容；测试板，对所述测试底座相对设置；多组探针，设置于所述测试板靠近所述测试底座；高度调节结构，与所述测试板连接，用于带动所述测试板向所述测试底座靠近，或远离所述测试底座；当所述高度调节结构带动所述测试板向所述测试底座靠近过程中，当所述多组探针与所述待测试层叠电容接触，对所述待测试层叠电容进行测试；通过本发明实施例可以提高测试精准度，和测试效率。

技术研发人员：张文梁
受保护的技术使用者：苏州元脑智能科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/7