本发明涉及光电跟踪测量设备,尤其涉及一种跟踪靶标对准工装。
背景技术:
1、我国开展光电跟踪测量设备的研制工作已经有60多年了,并建立了针对该领域产品的检测体系,可以实现对光电跟踪测量设备大部分战技指标的过程检验和最终检验。光电经纬仪的动态精度是仪器的重要性能指标,因此研制了可以提供动态仿真目标的光学动态靶标,配合相应的靶标对准工装,用来在室内检测光电跟踪测量设备的动态性能。
2、现有的靶标对准工装是通过更改安装孔位,使靶标对准工装处于两种姿态,通过改变光路的不同传播路径,分别对两路精跟踪传感器进行引导,完成光电经纬仪的动态精度检测。
3、因此,现有的靶标对准工装,首先不能同时对两路精跟踪传感器进行动态检测,监视器前不能同时成像,检测跟踪效果不直观。其次,当更改靶标对准工装姿态时,需要对靶标工装中的反射镜组与分色镜组进行重新装调,并对光电跟瞄转台进行重新配重。最后,当两路精跟踪探测系统采用同一控制板路时,分别控制两传感器系统即可,不能提现电子学相互干扰的情况。
技术实现思路
1、本发明的目的是通过提供一种能够同时对两路精跟踪传感器进行动态检测、节省装调时间以及可以检测两路精跟踪信号干扰情况的跟踪靶标对准工装,以解决上述技术问题。
2、为实现上述目的,本发明提供了一种跟踪靶标对准工装,具体技术方案如下:
3、一种跟踪靶标对准工装,所述对准工装包括:
4、支撑框架,所述支撑框架底部与光电经纬仪连接安装,其上方沿光路依次布置连接有第一反射镜、第一分色镜、第二反射镜、第二分色镜、第三反射镜、第四反射镜和第五反射镜;
5、所述入射光线打到第一反射镜上,经第一反射镜反射转折经过第一分色镜,所述第一分色镜将一部分光线反射转折进入精跟踪a光路中,最后打到a光路第一中波红外相机上;另一部分光线透过第一分色镜打到第二反射镜上,第二反射镜将光线进行一次转折,使光线打到第二分色镜上,所述第二分色镜将一部分光线反射转折进入使光线进入粗跟踪相机,另一部光线透过第二分色镜打到第三反射镜上,第三反射镜将光线转折打到第四反射镜上,第四反射镜使光线转折打到第五反射镜上,所述第五反射镜将光线反射转折进入精跟踪b光路中,最后打到b光路第二中波红外相机上。
6、进一步的,所述支撑框架上方安装固定有精跟踪a路支撑板、粗跟踪支撑板和精跟踪b路支撑板,所述第一反射镜、第一分色镜和第二反射镜连接在所述精跟踪a路支撑板上,所述第二分色镜和第三反射镜连接在粗跟踪支撑板上,所述第四反射镜和第五反射镜连接在精跟踪b路支撑板上。
7、进一步的,所述第一反射镜、第一分色镜、第二反射镜、第二分色镜、第三反射镜、第四反射镜和第五反射镜底部分别固定有镜座,每个所述镜座顶部两侧分别固定有压块,所述第一反射镜、第一分色镜和第二反射镜通过其底部的镜座固定在精跟踪a路支撑板上,所述第二分色镜和第三反射镜通过其底部的镜座固定在粗跟踪支撑板上,所述第四反射镜和第五反射镜通过其底部的镜座固定在精跟踪b路支撑板。
8、本发明的有益效果
9、与现有技术相比,首先,本发明能同时对两路精跟踪传感器进行动态检测,监视器能同时成像,检测跟踪效果直观。
10、其次,因为靶标对准工装采用一体化设计,反射镜组与分色镜组只需要装调一次,在靶标对准工装装调完毕后,光电经纬仪理论重心已经确定,因此只需要对光电经纬仪进行一次配重。
11、最后,因为精跟踪光路系统中包含相对应的控制系统,并采用同一控制板,两套控制系统待机和工作状态所需电流等电子学参数会有所变动,可以检验两套系统之间是否有互相干扰。
1.一种跟踪靶标对准工装,其特征在于,所述对准工装包括:
2.根据权利要求1所述的一种跟踪靶标对准工装,其特征在于,所述支撑框架(1)上方安装固定有精跟踪a路支撑板(2)、粗跟踪支撑板(3)和精跟踪b路支撑板(4),所述第一反射镜(5)、第一分色镜(6)和第二反射镜(7)连接在所述精跟踪a路支撑板(2)上,所述第二分色镜(8)和第三反射镜(9)连接在粗跟踪支撑板(3)上,所述第四反射镜(10)和第五反射镜(11)连接在精跟踪b路支撑板(4)上。
3.根据权利要求2所述的一种跟踪靶标对准工装,其特征在于,所述第一反射镜(5)、第一分色镜(6)、第二反射镜(7)、第二分色镜(8)、第三反射镜(9)、第四反射镜(10)和第五反射镜(11)底部分别固定有镜座(12),每个所述镜座(12)顶部两侧分别固定有压块(13),所述第一反射镜(5)、第一分色镜(6)和第二反射镜(7)通过其底部的镜座(12)固定在精跟踪a路支撑板(2)上,所述第二分色镜(8)和第三反射镜(9)通过其底部的镜座(12)固定在粗跟踪支撑板(3)上,所述第四反射镜(10)和第五反射镜(11)通过其底部的镜座(12)固定在精跟踪b路支撑板(4)。