一种MicroLED光分布测量方法与流程

本发明涉及发光芯片测试，更具体地，涉及一种micro led光分布测量方法。

背景技术：

1、小尺寸的发光芯片，例如微米级的micro led芯片，具有尺寸小、集成度高和自发光等特点。与lcd、oled相比，在亮度、分辨率、对比度、能耗、使用寿命、响应速度和热稳定性等方面优势明显。然而这些发光芯片在走向量产过程中还有很多技术难点需要克服，其中随着尺寸越来也小，发光效率及发光分布是一种重要的研究课题。在前期的研发过程中，通过测量分析芯片的发光分布可以及时调整工艺，提升发光芯片的发光效率和改善发光的光型。

2、图1示出了现有技术中的一种micro led芯片光分布测量装置，其工作原理为固定测量模块10，使其正对样品模块20，样品模块20夹持样品，并可以带动样品旋转，在其水平转台221旋转时可以测量夹持样品的光分布。但是，由于待测micro led芯片的自身转动，导致该现有技术难以进一步集成其他检测。

3、现有技术：cn112378628a，光空间分布测量系统及方法。

技术实现思路

1、针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本发明提供了一种光分布测量方法，采用光接收装置绕发光芯片的方式完成发光芯片的光分布测量，可以便于集成其他测试设备，提高测量效率。

2、为了实现上述目的，本发明的实施方式提供如下技术方案：

3、一种micro led光分布测量方法，包括：

4、点亮micro led芯片；

5、光接收装置沿预设轨迹移动，并在不同角度处收集所述micro led芯片发出的光，传递至检测装置；所述预设轨迹是以所述micro led芯片为圆心的半圆形的圆弧，所述光接收装置包括光接收光纤，所述光接收光纤的前端正对所述micro led芯片，后端接入所述检测装置；

6、所述检测装置测量所述micro led芯片在不同角度下的发光强度。

7、作为本发明的一种优选方案，拟合所述micro led芯片不同角度下的发光强度，得到其在各个角度的光分布结果。

8、作为本发明的一种优选方案，所述光接收装置还包括反射镜，所述反射镜与所述光接收光纤同步沿所述预设轨迹移动，所述反射镜位于所述光接收光纤的前方，用于将所述micro led芯片发出的光反射后入射所述光接收光纤。

9、作为本发明的一种优选方案，所述光接收装置还包括机械臂，所述机械臂的一端安装所述反射镜，所述光接收光纤至少部分固定安装在所述机械臂上；固定安装在所述机械臂上的光接收光纤部分至少包括光接收光纤的前端；

10、所述机械臂用于带动所述反射镜和所述光接收光纤沿预设轨迹移动。

11、作为本发明的一种优选方案，所述光接收装置还包括半圆形轨道，用于安装机械臂的另一端，使得所述机械臂沿半圆形轨道移动。

12、作为本发明的一种优选方案，所述机械臂包括第一横杆、第二横杆与连接件；

13、所述第一横杆的第一端上安装所述反射镜，所述光接收光纤至少部分安装在所述第一横杆上；

14、所述第一横杆的第二端与所述连接件固定连接；

15、所述第二横杆的第一端与所述连接件固定连接，使得所述第二横杆与所述第一横杆平行设置，且所述第二横杆的高度高于所述第一横杆；

16、所述第二横杆的第二端安装在所述半圆形轨道上。

17、作为本发明的一种优选方案，所述第一横杆与所述连接件垂直连接；所述第二横杆与所述连接件垂直连接；所述反射镜将所述micro led芯片发出的光反射90°后入射所述光接收光纤。

18、作为本发明的一种优选方案，所述光接收光纤的后端还连接激光器；

19、在测量开始前，打开所述激光器，移动所述micro led芯片的位置，使其位于所述激光器的光斑处，以确定所述micro led芯片正对所述光接收装置。

20、作为本发明的一种优选方案，通过高精度成像装置，拍摄所述激光器的光斑，以确定所述micro led芯片正对所述光接收装置。

21、作为本发明的一种优选方案，所述micro led芯片被置于载物台上，所述载物台用于使得所述micro led芯片平移，使得所述micro led芯片正对光接收装置且满足测量方向。

22、作为本发明的一种优选方案，所述载物台还用于使得所述micro led芯片旋转；

23、在测量完成后，旋转所述载物台，重复上述步骤，测量所述micro led芯片在另一测量方向上，不同角度的发光。

24、总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：

25、（1）本发明提供的一种光分布测量方法，采用光接收装置绕发光芯片的方式完成发光芯片的光分布测量，可以便于集成其他测试设备，提高测量效率。

26、（2）本发明提供的一种光分布测量方法，通过反射镜改变光路走向，进一步便于集成其他测试设备。

27、（3）本发明提供的一种光分布测量方法，光接收装置同时是对准用光路，可以实现精确对准。

技术特征：

1. 一种micro led光分布测量方法，包括：

2. 如权利要求1所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

3. 如权利要求2所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

4. 如权利要求3所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

5. 如权利要求4所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

6. 如权利要求5所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

7. 如权利要求6所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

8. 如权利要求3所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

9. 如权利要求8所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

10. 如权利要求1~9任一项所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

11. 如权利要求10所述的micro led光分布测量方法，其特征在于：

技术总结
本发明公开了一种Micro LED光分布测量方法，包括：点亮Micro LED芯片；光接收装置沿预设轨迹移动，并在不同角度处收集Micro LED芯片发出的光，传递至检测装置；预设轨迹是以Micro LED芯片为圆心的半圆形的圆弧，光接收装置包括光接收光纤，光纤的前端正对Micro LED芯片，后端接入检测装置；检测装置测量Micro LED芯片在不同角度下的发光强度。本发明采用光接收装置绕发光芯片的方式完成发光芯片的光分布测量，可以便于集成其他测试设备，提高测量效率。

技术研发人员：江宝焜,郑水锋,纪伟,李建平,洪浩
受保护的技术使用者：武汉精立电子技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/8/16