一种高功率微波电磁敏感度试验装置及方法与流程

本发明属于高功率微波电磁效应与电磁兼容测试，尤其涉及一种高功率微波电磁敏感度试验装置及方法。

背景技术：

1、目前在外场开阔环境中开展高功率微波辐照测试试验时，由于现有高功率微波辐照系统的源的输出功率不可调节，对于不同待测设备，需调节高功率微波辐照系统发射天线与待测设备之间的距离以达到待测设备所需的试验功率。设备搬运难度大，且测量精度低，可重复性差。

技术实现思路

1、本发明要解决的技术问题：提供一种高功率微波电磁敏感度试验装置及方法，以解决现有技术的高功率微波辐照测试试验时，设备搬运难度大，且测量精度低，可重复性差等技术问题。

2、本发明技术方案：

3、一种高功率微波电磁敏感度试验装置，所述装置包括屏蔽试验舱和屏蔽控制舱，接收天线固定在屏蔽试验舱顶端的外壳上，发射天线和场强探头固定在屏蔽试验舱内，接收天线与可调衰减器连接，可调衰减器与定向耦合器连接，定向耦合器第一路输出与第一检波器（4）连接，第一检波器与脉冲功率计连接，定向耦合器二路输出与发射天线连接，场强探头与第二检波器连接，第二检波器与脉冲功率计连接。

4、所述屏蔽试验舱和屏蔽控制舱并排固定连接；屏蔽试验舱和屏蔽控制舱均由金属外壳构成，所述屏蔽试验舱内侧布满吸波材料。

5、吸波材料为尖劈形状。

6、接收天线通过天线夹具a固定；发射天线通过天线夹具b固定；场强探头通过探头夹具c固定，且场强探头对准发射天线。

7、可调衰减器、定向耦合器、第一检波器、脉冲功率计和第二检波器位于屏蔽控制舱内部。

8、一种高功率微波电磁敏感度试验装置的试验方法，所述方法包括：

9、步骤1、将接收天线对准高功率微波的主瓣，将发射天线对准场强探头；

10、步骤2、从高向低调节可调衰减器衰减范围，利用脉冲功率计实时监测场强探头位置处接收到的功率值，对场强探头位置处进行功率标定，然后固定接收与发射天线的姿态；

11、步骤3、在场强探头位置处固定待测设备，根据步骤2标定的功率数据调节可调衰减器，使待测设备处达到所需功率大小；

12、步骤4、按照试验测试大纲进行测试试验。

13、本发明的有益效果：

14、本发明通过可调衰减器对接收到的高功率进行调节，屏蔽暗箱进行电磁屏蔽，对于1114w以下的等效辐射功率，可实现0-1114w范围内步进1db的等效辐射功率调节。

15、通过本发明调节高功率微波的功率，调节范围可达到0-1114w，重复性误差可达到1%以内。

16、本发明能够利用带有吸波材料的暗箱结构模拟无限远的外场环境；本发明能够利用可调衰减器实现暗箱内部等效辐射功率可调。

17、解决了现有高功率微波辐照系统的源的输出功率不可调节，对于不同待测设备，需调节高功率微波辐照系统发射天线与待测设备之间的距离以达到待测设备所需的试验功率。设备搬运难度大，且测量精度低，可重复性差等技术问题。

技术特征：

1.一种高功率微波电磁敏感度试验装置，其特征在于：所述装置包括屏蔽试验舱（11）和屏蔽控制舱（6），接收天线（1）固定在屏蔽试验舱（11）顶端的外壳上，发射天线（8）和场强探头（9）固定在屏蔽试验舱（11）内，接收天线（1）与可调衰减器（2）连接，可调衰减器（2）与定向耦合器（3）连接，定向耦合器（3）第一路输出与第一检波器（4）连接，第一检波器（4）与脉冲功率计（5）连接，定向耦合器（3）第二路输出与发射天线（8）连接，场强探头（9）与第二检波器（7）连接，第二检波器（7）与脉冲功率计（5）连接。

2.根据权利要求1所述的一种高功率微波电磁敏感度试验装置，其特征在于：所述屏蔽试验舱（11）和屏蔽控制舱（6）并排固定连接；屏蔽试验舱（11）和屏蔽控制舱（6）均由金属外壳构成，所述屏蔽试验舱（11）内侧布满吸波材料（10）。

3.根据权利要求2所述的一种高功率微波电磁敏感度试验装置，其特征在于：吸波材料（10）为尖劈形状。

4.根据权利要求1所述的一种高功率微波电磁敏感度试验装置，其特征在于：接收天线（1）通过天线夹具a固定；发射天线（8）通过天线夹具b固定；场强探头（9）通过探头夹具c固定，且场强探头（9）对准发射天线（8）。

5.根据权利要求1所述的一种高功率微波电磁敏感度试验装置，其特征在于：可调衰减器（2）、定向耦合器（3）、第一检波器（4）、脉冲功率计（5）和第二检波器（7）位于屏蔽控制舱（6）内部。

6.如权利要求1所述的一种高功率微波电磁敏感度试验装置的试验方法，其特征在于：所述方法包括：

技术总结
本发明公开了一种高功率微波电磁敏感度试验装置及方法，包括屏蔽试验舱（11）和屏蔽控制舱（6），接收天线（1）固定在屏蔽试验舱（11）顶端的外壳上，发射天线（8）和场强探头（9）固定在屏蔽试验舱（11）内，接收天线（1）与可调衰减器（2）连接，可调衰减器（2）与定向耦合器（3）连接，定向耦合器（3）第一路输出与第一检波器（4）连接，第一检波器（4）与脉冲功率计（5）连接，定向耦合器（3）第二路输出与发射天线（8）连接，场强探头（9）与第二检波器（7）连接，第二检波器（7）与脉冲功率计（5）连接；解决了现有高功率微波辐照系统的源的输出功率不可调节、设备搬运难度大、测量精度低及可重复性差等问题。

技术研发人员：吴诗月,管徐青云,陈军,金开礼,胡天涛,何洋
受保护的技术使用者：贵州航天计量测试技术研究所
技术研发日：
技术公布日：2025/2/10