一种在线校验系统和校验方法与流程

本发明涉及测量，尤其涉及一种在线校验系统和校验方法。

背景技术：

1、目前印制电路板行业中对于半固化片的生产都采用浸胶式涂布机进行生产，而对所生产的半固化片质量最有效的监控方式是采射线在线厚度或者面密度检测仪（简称测厚仪）对产线膜片进行实时的测量，该测厚仪一般采用x射线或者β射线，利用射线穿透膜片时的衰减对膜片进行非接触式的测量。在生产线切换生产批次或转换规格的时候，射线检测的精确性容易受到被测材料的材质特性影响。

2、目前行业内常用的应对措施是采用人工取片测量的形式，将人工测量出来的膜片实测值与测厚仪的检测数据对比进行校正，以此来修正测厚仪的检测误差。采用人工取样校正的方式存在测量效率低、校验误差大等问题。

技术实现思路

1、本发明提供了一种在线校验系统和校验方法，以实现对测量设备的自动校验，解决人工取样校正测量效率低、校验误差大的问题。

2、根据本发明的一方面，提供了一种在线校验系统，该在线校验系统包括：测量设备、取样设备和校验设备，其中，测量设备、取样设备和校验设备依次设置在生产线上，测量设备分别与取样设备和校验设备通信连接；

3、测量设备用于对生产线上产品进行测量，得到第一测量值；

4、取样设备用于对产品进行取样处理，得到待测样本，其中，待测样本为测量设备对产品进行测量的部分；

5、校验设备用于对待测样本进行测量，得到第二测量值，将第二测量值传输至测量设备；

6、测量设备基于第一测量值和第二测量值确定测量偏移值，基于测量偏移值进行设备校验，完成设备校验的测量设备用于对生产线上的其他产品进行测量。

7、根据本发明的另一方面，提供了一种在线校验的校验方法，该在线校验的校验方法包括：

8、通过测量设备对生产线上产品进行测量得到第一测量值；

9、通过取样设备对产品的测量部分进行取样处理，得到待测样本；

10、通过校验设备用于对待测样本进行测量得到第二测量值，将第二测量值传输至测量设备；

11、通过测量设备基于第一测量值和第二测量值确定测量偏移值，基于测量偏移值进行设备校验。

12、本发明实施例的技术方案，通过测量设备对生产线上产品进行测量得到第一测量值，取样设备对产品进行取样处理，得到待测样本，校验设备对待测样本进行测量得到第二测量值，并将第二测量值传输至测量设备，基于第一测量值和第二测量值确定测量偏移值，基于测量偏移值进行设备校验，完成设备校验的测量设备用于对生产线上的其他产品进行测量，解决了人工取样校正测量效率低、校验误差大的问题，提高了校验结果的准确性，提升了测厚仪测量的准确性。

13、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种在线校验系统，其特征在于，包括：测量设备、取样设备和校验设备，其中，所述测量设备、所述取样设备和所述校验设备依次设置在生产线上，所述测量设备分别与所述取样设备和所述校验设备通信连接；

2.根据权利要求1所述的在线校验系统，其特征在于，所述测量设备和所述取样设备分别与同一纵向编码器连接；所述纵向编码器用于产生时间脉冲；

3.根据权利要求1所述的在线校验系统，其特征在于，所述取样设备包括冲片刀模。

4.根据权利要求1所述的在线校验系统，其特征在于，所述测量设备还用于：在所述测量偏移值小于预设阈值的情况下，结束设备校验；在所述测量偏移值大于所述预设阈值的情况下，基于下一所述产品继续执行设备校验。

5.根据权利要求1所述的在线校验系统，其特征在于，所述测量设备为测厚仪，所述校验设备为厚度校验设备。

6.根据权利要求5所述的在线校验系统，其特征在于，所述测厚仪用于对所述产品的测量部分进行扫描，得到连续的多个测量值，基于所述多个测量值的均值确定所述第一测量值；

7.根据权利要求1所述的在线校验系统，其特征在于，所述取样等待延时基于所述产品在所述测量设备与所述取样设备之间的传输耗时、采样位置、生产线的传输速度、所述测量设备的扫描速度和取样部分的尺寸确定。

8.根据权利要求1所述的在线校验系统，其特征在于，所述测量设备与生产设备连接，所述测量设备接收所述生产设备传输的触发信号，基于所述触发信号进行设备校验，其中，所述触发信号包括产线批次更换信号和规格转换信号。

9.一种在线校验的校验方法，其特征在于，包括：

技术总结
本发明涉及测量领域，本发明公开了一种在线校验系统和校验方法。一种在线校验系统，包括：测量设备、取样设备和校验设备，其中，测量设备、取样设备和校验设备依次设置在生产线上，测量设备分别与取样设备和校验设备通信连接；测量设备用于对生产线上产品进行测量，得到第一测量值；取样设备用于对产品进行取样处理，得到待测样本，其中，待测样本为测量设备对产品进行测量的部分；校验设备用于对待测样本进行测量，得到第二测量值，将第二测量值传输至测量设备；测量设备基于第一测量值和第二测量值确定测量偏移值，基于测量偏移值进行设备校验，完成设备校验的测量设备用于对生产线上的其他产品进行测量。减小了测量误差，提高了测量的效率。

技术研发人员：葛铭,张烩,魏江,刘双飞,沈井学
受保护的技术使用者：杭州百子尖科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/12/19