一种测试机监控方法、系统、计算机设备及存储介质与流程

本发明涉及半导体，尤其涉及一种测试机监控方法、系统、计算机设备及存储介质。

背景技术：

1、led芯片测试校正是一个涉及精确测量和数据一致性的重要过程，目前通过多个或大量测试机台分别对不同类型的led裸芯片进行测试时，测试机台、探针、外在环境都有可能会引入误差。对此，一般通过预先制作相应类型的标准样片，利用标准机对该类型的标准样进行测试以确定其各波段的波长；在多个测试机台批量生产测试前或定时验机校正时，工程技术人员都需使用相应的标准样片对每个测试机台进行验机校正，通过将测试数据与标准数据等进行比对，并根据人工经验确定比对校正结果是否异常，从而对测试机台进行校正调整；但人工验机校正设备容易因人为因素而出错(如疏忽、疲劳或判断失误因素)，验机校正无法及时发现问题，将会导致生产测试出的led芯片批量性异常，降低生产质量及生产效率，而且由于测试机构数量较多，增加了人工监控的负担和人力成本。

技术实现思路

1、本发明所要解决的技术问题在于，提供一种测试机监控方法、系统、计算机设备及存储介质，能监控所有测试机台的验机校正工作，提高验机校正工作的准确性，从而提高生产质量及生产效率，而且减轻人工监控的负担和降低人工成本。

2、为了解决上述技术问题，本发明提供了一种测试机监控方法，包括：获取所有测试机台发送的机台校正数据，其中，所述机台校正数据包括机台id、系数校正数据和芯片类型id，所述系数校正数据为相应测试机台的测试数据与标准数据的比对校正结果；将所述芯片类型id与预设类型数据库进行配对，以获得对应类型的预设阈值范围组；判断所述系数校正数据是否在预设阈值范围组内，若判断为是时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送生产测试指令，以使所述测试机台根据所述系数校正数据进行生产测试工作，若判断为否时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送报警指令，以使所述测试机台报警工作。

3、作为上述方案的改进，所述系数校正数据包括电压校正offset值、亮度校正ga in值和波长校正offset值；

4、所述预设类型数据库包括了所有led类型的预设阈值范围组，所述预设阈值范围包括预设电压阈值范围、预设亮度比阈值范围和预设波长阈值范围。

5、作为上述方案的改进，判断所述系数校正数据是否在预设阈值范围组内，若判断为是时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送生产测试指令，以使所述测试机台根据所述系数校正数据进行生产测试工作，若判断为否时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送报警指令，以使所述测试机台报警工作的步骤包括：判断所述电压校正offset值是否在预设电压阈值范围内且所述亮度校正gai n值是否在预设亮度比阈值范围内且所述波长校正offset值是否在预设波长阈值范围内，若判断为是时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送生产测试指令，以使所述测试机台根据所述系数校正数据进行生产测试工作，若判断为否时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送报警指令，以使所述测试机台报警工作。

6、作为上述方案的改进，所述获取所有测试机台发送的机台校正数据的步骤之后还包括：根据所述机台id将所述系数校正数据和芯片类型id生成对应测试机台的测试类型及系数报表；将所述测试机台的测试数据及系数报表存放至服务器中。

7、作为上述方案的改进，所述获取所有测试机台发送的机台校正数据为：当所述测试机台生产测试时、切换档位或定时验机时，所述测试机台会在系数校正工作之后上传所述机台校正数据，并处于待机等待状态。

8、相应地，本发明还提供了一种测试机监控系统，包括：获取模块，用于获取所有测试机台发送的机台校正数据，其中，所述机台校正数据包括机台id、系数校正数据和芯片类型id，所述系数校正数据为相应测试机台的测试数据与标准数据的比对校正结果；类型配对模块，用于将所述芯片类型id与预设类型数据库进行配对，以获得对应类型的预设阈值范围组；判断处理模块，用于判断所述系数校正数据是否在预设阈值范围组内，若判断为是时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送生产测试指令，以使所述测试机台根据所述系数校正数据进行生产测试工作，若判断为否时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送报警指令，以使所述测试机台报警工作。

9、作为上述方案的改进，所述判断处理模块包括：判断处理单元，用于判断所述电压校正offset值是否在预设电压阈值范围内且所述亮度校正gai n值是否在预设亮度比阈值范围内且所述波长校正offset值是否在预设波长阈值范围内，若判断为是时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送生产测试指令，以使所述测试机台根据所述系数校正数据进行生产测试工作，若判断为否时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送报警指令，以使所述测试机台报警工作。

10、作为上述方案的改进，还包括报表生成模块和存储模块；报表处理模块，用于根据所述机台id将所述系数校正数据和芯片类型id生成或更新对应测试机台的测试类型及系数报表；存储模块，用于根据将所述测试机台的测试数据及系数报表存放至服务器中。

11、相应地，本发明还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。

12、相应地，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

13、实施本发明，具有如下有益效果：

14、本发明能对所有测试机台起到监控作用，可自动对每个测试机台进行的测试类型的机台校正数据进行数据判断处理，以准确确定测试机台的校正情况，提高验机校正工作的准确性；若出现异常情况时，能及时控制测试机台进行报警工作，从而及时通知技术人员进行人工验机校正处理，有效避免出现led芯片批量性生产测试情况，从而提高生产质量及生产效率，而且减轻人工监控的负担和降低人工成本。

技术特征：

1.一种测试机监控方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试机监控方法，其特征在于，所述系数校正数据包括电压校正offset值、亮度校正gain值和波长校正offset值；

3.根据权利要求2所述的测试机监控方法，其特征在于，判断所述系数校正数据是否在预设阈值范围组内，若判断为是时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送生产测试指令，以使所述测试机台根据所述系数校正数据进行生产测试工作，若判断为否时，根据所述机台id向对应的所述测试机台发送报警指令，以使所述测试机台报警工作的步骤包括：

4.根据权利要求1所述的测试机监控方法，其特征在于，所述获取所有测试机台发送的机台校正数据的步骤之后还包括：

5.根据权利要求1所述的测试机监控方法，其特征在于，所述获取所有测试机台发送的机台校正数据为：当所述测试机台生产测试时、切换档位或定时验机时，所述测试机台会在系数校正工作之后上传所述机台校正数据，并处于待机等待状态。

6.一种测试机监控系统，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的测试机监控系统，其特征在于，所述判断处理模块包括：

8.根据权利要求6所述的测试机监控系统，其特征在于，还包括报表生成模块和存储模块；

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。

技术总结
本发明公开了一种测试机监控方法、系统、计算机设备及存储介质，该方法包括：获取所有测试机台发送的机台校正数据，其中，机台校正数据包括机台I D、系数校正数据和芯片类型I D，系数校正数据为相应测试机台的测试数据与标准数据的比对校正结果；将芯片类型I D与预设类型数据库进行配对，以获得对应类型的预设阈值范围组；判断系数校正数据是否在预设阈值范围组内，若判断为是时，根据机台I D向对应的测试机台发送生产测试指令，以使测试机台根据系数校正数据进行生产测试工作，若判断为否时，控制测试机台报警工作。采用本发明能监控所有测试机台的验机校正工作，提高验机校正工作的准确性，从而提高生产质量及生产效率，而且减轻人工监控的负担。

技术研发人员：朱兵兵,郭磊,文国昇,金从龙
受保护的技术使用者：江西耀驰科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2025/3/18