一种用于精密测量的装置的制作方法

本技术涉及精密测量，具体为一种用于精密测量的装置。

背景技术：

1、随着工业的不断发展，市场对精密仪器得到需求不断增加，精密仪器在生产加工过程中经常需要对部件进行精密测量，从而保证加工精度，对元件表面镜面度的检测就是其中非常重要的一项，现有技术中公开了授权公告号为cn218646182u的一种用于精密测量的装置，所述底板的顶部设有载物台，载物台与底板之间通过支撑柱进行连接，支撑柱与底板之间通过紧固件进行旋合连接，底板的两端分别设有第一固定板和第二固定板，第一固定板和第二固定板均与底板进行固定连接，第一固定板上设有测量表，第一固定板与测量表之间通过紧固件进行旋合连接，测量表的一端自第一固定板穿至载物台的顶面，第二固定板上设有定位杆，第二固定板与定位杆之间通过紧固件进行旋合连接，定位杆自第二固定板穿至载物台的顶面，载物台的顶面设有固定块，固定块与载物台的顶面进行粘接。该一种用于精密测量的装置，节省时间成本的同时，还取得高精度的测量结果。

2、但是，上述设计在使用中发现，其不便于对测量组件的高度进行调节，导致对机械部件的检测范围有限，难以有效测量机械部件的不同位置，给精密测量工作带来了很多麻烦。

技术实现思路

1、针对以上问题，本实用新型的目的在于：提供一种用于精密测量的装置，便于对测量组件的高度进行调节，能够有效扩大对机械部件的测量范围，能够有效测量机械部件的不同位置，给精密测量工作带来了很多便利，解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现以上目的，本实用新型采用的技术方案：一种用于精密测量的装置，包括底座，所述底座的顶部转动安装有转盘，所述转盘的顶部设有机械部件，所述底座的顶部固定安装有竖杆，所述转盘上固定套设有第一齿轮，所述底座的顶部转动安装有第二齿轮，所述第二齿轮与第一齿轮啮合，所述竖杆上贯穿有矩形通槽，所述矩形通槽内滑动贯穿有两个第一滑块，所述竖杆靠近转盘的一侧滑动安装有激光测距组件，所述第一滑块的一端固定安装在激光测距组件上，两个所述第一滑块上螺纹贯穿有第一丝杆，所述第一丝杆的底端固定安装有第三齿轮，所述竖杆远离转盘的一侧设有第四齿轮，所述第四齿轮的一侧延伸至矩形通槽内并与第三齿轮啮合。

3、为了便于对不同尺寸的机械部件进行快速夹持限位：

4、作为上述技术方案的进一步改进：所述转盘还包括多个呈环形阵列排布的滑槽，所述滑槽开设于转盘的顶部，所述滑槽内滑动安装有第二滑块，所述第二滑块的顶部固定安装有限位圆杆，所述限位圆杆与机械部件的内壁接触，所述第二滑块上螺纹贯穿有第二丝杆，所述转盘上开设有第一腔室和第二腔室，多个所述第二丝杆相互靠近的一端均延伸至第一腔室内并固定安装有第一锥齿轮，所述转盘上转动安装有第一转杆，所述第一转杆的顶端和底端分别延伸至第一腔室和第二腔室内并分别固定安装有第二锥齿轮和第三锥齿轮，多个所述第一锥齿轮均与第二锥齿轮啮合，所述转盘的一侧转动安装有第二转杆，所述第二转杆的一端延伸至第二腔室内并固定安装有第四锥齿轮，所述第四锥齿轮与第三锥齿轮啮合。

5、本改进的有益效果为：通过这样设置，从而便于对不同尺寸的机械部件进行快速夹持限位，从而能够防止测量过程中机械部件移动，能够有效保证测量的精确度。

6、为了使转盘转动更加稳定：

7、作为上述技术方案的进一步改进：所述底座的顶部开设有第一圆槽，所述第一圆槽内转动安装有第一转轴，所述第一转轴固定安装在转盘的底部。

8、本改进的有益效果为：通过设置第一圆槽和第一转轴，从而能够对转盘进行限位，使转盘转动更加稳定。

9、为了使第二齿轮转动更加稳定：

10、作为上述技术方案的进一步改进：所述底座的顶部开设有第二圆槽，所述第二圆槽内转动安装有第二转轴，所述第二转轴固定安装在第二齿轮的底部。

11、本改进的有益效果为：通过设置第二圆槽和第二转轴，从而便于对第二齿轮进行支撑和限位，使第二齿轮转动更加稳定。

12、为了使第一滑块升降更加稳定：

13、作为上述技术方案的进一步改进：所述竖杆远离转盘的一侧滑动安装有限位板，所述第一滑块的一端固定安装在限位板上。

14、本改进的有益效果为：通过设置限位板，从而能够对两个第一滑块进行限位，使第一滑块升降更加稳定。

15、为了对第一丝杆进行支撑和限位：

16、作为上述技术方案的进一步改进：所述矩形通槽内固定安装有横板，所述第一丝杆转动贯穿横板，所述第四齿轮上转动贯穿有第三转轴，所述第三转轴的顶端和底端均焊接有固定板，所述固定板的一端固定安装在竖杆上。

17、本改进的有益效果为：通过设置横板，从而能够对第一丝杆进行支撑和限位。

18、为了使第二滑块滑动更加稳定：

19、作为上述技术方案的进一步改进：所述滑槽内固定安装有限位杆，所述限位杆滑动贯穿对应的第二滑块，所述第一腔室和对应的滑槽之间贯穿有第一通孔，所述第二丝杆转动贯穿第一通孔。

20、本改进的有益效果为：通过设置限位杆，从而能够对第二滑块进行限位，使第二滑块滑动更加稳定。

21、为了便于对第一转杆和第二转杆进行支撑和限位：

22、作为上述技术方案的进一步改进：所述第一腔室和第二腔室之间贯穿有第二通孔，所述第一转杆转动贯穿第二通孔，所述第二腔室的一侧内壁上贯穿有第三通孔，所述第二转杆转动贯穿第三通孔。

23、本改进的有益效果为：通过设置第二通孔和第三通孔，从而便于对第一转杆和第二转杆进行支撑和限位。

24、本实用新型的有益效果为：通过简单的升降结构，从而便于对测量组件的高度进行调节，能够有效扩大对机械部件的测量范围，能够有效测量机械部件的不同位置，给精密测量工作带来了很多便利。

技术特征：

1.一种用于精密测量的装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部转动安装有转盘(2)，所述转盘(2)的顶部设有机械部件(3)，所述底座(1)的顶部固定安装有竖杆(4)，所述转盘(2)上固定套设有第一齿轮(5)，所述底座(1)的顶部转动安装有第二齿轮(6)，所述第二齿轮(6)与第一齿轮(5)啮合，所述竖杆(4)上贯穿有矩形通槽(7)，所述矩形通槽(7)内滑动贯穿有两个第一滑块(8)，所述竖杆(4)靠近转盘(2)的一侧滑动安装有激光测距组件(9)，所述第一滑块(8)的一端固定安装在激光测距组件(9)上，两个所述第一滑块(8)上螺纹贯穿有第一丝杆(10)，所述第一丝杆(10)的底端固定安装有第三齿轮(11)，所述竖杆(4)远离转盘(2)的一侧设有第四齿轮(12)，所述第四齿轮(12)的一侧延伸至矩形通槽(7)内并与第三齿轮(11)啮合。

2.根据权利要求1所述的一种用于精密测量的装置，其特征在于：所述转盘(2)还包括多个呈环形阵列排布的滑槽(13)，所述滑槽(13)开设于转盘(2)的顶部，所述滑槽(13)内滑动安装有第二滑块(14)，所述第二滑块(14)的顶部固定安装有限位圆杆(15)，所述限位圆杆(15)与机械部件(3)的内壁接触，所述第二滑块(14)上螺纹贯穿有第二丝杆(16)，所述转盘(2)上开设有第一腔室(17)和第二腔室(19)，多个所述第二丝杆(16)相互靠近的一端均延伸至第一腔室(17)内并固定安装有第一锥齿轮(18)，所述转盘(2)上转动安装有第一转杆(20)，所述第一转杆(20)的顶端和底端分别延伸至第一腔室(17)和第二腔室(19)内并分别固定安装有第二锥齿轮(21)和第三锥齿轮(22)，多个所述第一锥齿轮(18)均与第二锥齿轮(21)啮合，所述转盘(2)的一侧转动安装有第二转杆(23)，所述第二转杆(23)的一端延伸至第二腔室(19)内并固定安装有第四锥齿轮(24)，所述第四锥齿轮(24)与第三锥齿轮(22)啮合。

3.根据权利要求1所述的一种用于精密测量的装置，其特征在于：所述底座(1)的顶部开设有第一圆槽，所述第一圆槽内转动安装有第一转轴，所述第一转轴固定安装在转盘(2)的底部。

4.根据权利要求1所述的一种用于精密测量的装置，其特征在于：所述底座(1)的顶部开设有第二圆槽，所述第二圆槽内转动安装有第二转轴，所述第二转轴固定安装在第二齿轮(6)的底部。

5.根据权利要求1所述的一种用于精密测量的装置，其特征在于：所述竖杆(4)远离转盘(2)的一侧滑动安装有限位板，所述第一滑块(8)的一端固定安装在限位板上。

6.根据权利要求1所述的一种用于精密测量的装置，其特征在于：所述矩形通槽(7)内固定安装有横板，所述第一丝杆(10)转动贯穿横板，所述第四齿轮(12)上转动贯穿有第三转轴，所述第三转轴的顶端和底端均焊接有固定板，所述固定板的一端固定安装在竖杆(4)上。

7.根据权利要求2所述的一种用于精密测量的装置，其特征在于：所述滑槽(13)内固定安装有限位杆，所述限位杆滑动贯穿对应的第二滑块(14)，所述第一腔室(17)和对应的滑槽(13)之间贯穿有第一通孔，所述第二丝杆(16)转动贯穿第一通孔。

8.根据权利要求2所述的一种用于精密测量的装置，其特征在于：所述第一腔室(17)和第二腔室(19)之间贯穿有第二通孔，所述第一转杆(20)转动贯穿第二通孔，所述第二腔室(19)的一侧内壁上贯穿有第三通孔，所述第二转杆(23)转动贯穿第三通孔。

技术总结
本技术涉及精密测量技术领域，具体为一种用于精密测量的装置。包括底座，所述底座的顶部转动安装有转盘，所述转盘的顶部设有机械部件，所述底座的顶部固定安装有竖杆，所述转盘上固定套设有第一齿轮，所述底座的顶部转动安装有第二齿轮，所述第二齿轮与第一齿轮啮合，所述竖杆上贯穿有矩形通槽，所述矩形通槽内滑动贯穿有两个第一滑块，所述竖杆靠近转盘的一侧滑动安装有激光测距组件，所述第一滑块的一端固定安装在激光测距组件上，两个所述第一滑块上螺纹贯穿有第一丝杆。通过简单的升降结构，从而便于对测量组件的高度进行调节，能够有效扩大对机械部件的测量范围，能够有效测量机械部件的不同位置，给精密测量工作带来了很多便利。

技术研发人员：张禹,胡兰,吴贤龙
受保护的技术使用者：苏州富盛汇鑫科技有限公司
技术研发日：20240115
技术公布日：2024/12/10