一种电源管理芯片测试实验装置的制作方法

本技术涉及电源管理芯片测试领域，特别涉及一种电源管理芯片测试实验装置。

背景技术：

1、电源管理芯片测试实验装置是一种进行电源管理芯片检测的支撑设备，电源管理芯片是所有电子产品和设备的电能供应中枢和纽带，负责所需电能的变换、分配、检测等管控功能，是电子产品和设备不可或缺的关键器件，因此学习掌握好不同的电源管理芯片对于初学者是非常有必要的，随着科技的不断发展，人们对于电源管理芯片测试实验装置的制造工艺要求也越来越高。

2、现有的电源管理芯片测试实验装置在使用时存在一定的弊端，目前在对于电源管理芯片的学习一般基于对于元器件的数据手册或者自己搭建电路实际操作，前者不能直观观察芯片具体使用状态以及使用过程中会出现的问题；后者操作起来对于初学者难度、成本较高，不容易实现；因此提供一种包含不同的电源芯片管理电路并能够让初学者能够实际动手操作测试、观察不同电源管理芯片工作状态的电源管理芯片测试实验装置是非常有必要的，为此，我们提出一种电源管理芯片测试实验装置。

技术实现思路

1、解决的技术问题：针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种电源管理芯片测试实验装置，提供了三种不同电源管理芯片的测试电路，让使用者能够更好地理解以及认识不同的电源管理芯片内部结构以及使用方法，使用源表作为输入信号单元以及输出测量单元，测试精度更高更加可靠，能够观察到电路变化引起的细微变化，可以有效解决背景技术中的问题。

2、技术方案：为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：一种电源管理芯片测试实验装置，包括输入单元、第一切换开关、第一集成芯片电源电路、第二集成芯片电源电路、分立器件电源电路、第二切换开关、输出单元、控制单元与液晶显示单元，所述液晶显示单元与控制单元连接，所述控制单元与第一切换开关和第二切换开关连接，所述第一切换开关与输入单元、第一集成芯片电源电路和第二集成芯片电源电路连接，所述第二切换开关与输出单元、第一集成芯片电源电路和第二集成芯片电源电路连接，所述输入单元与输出单元均与分立器件电源电路连接，所述第一集成芯片电源电路、第二集成芯片电源电路和分立器件电源电路为三种不同的电源管理芯片电路。

3、优选的，所述输入单元提供电压输入信号，是由源表提供高精度电源输出，包含两路输出端，一路输出端连接到第一切换开关，为第一集成芯片电源电路、第二集成芯片电源电路提供电源信号，另一路输出端连接到分立器件电源电路的输入端，为分立器件电源电路提供电源信号。

4、优选的，所述第一切换开关通过控制单元进行控制，用于在使能时使对应输出端与电源电路输入端之间导通。

5、优选的，所述第一集成芯片电源电路由降压转换器tps5430ddar搭建电源电路，内部集成了低电阻、高侧n沟道mosfet，完成降压稳压操作，电路输入端通过第一切换开关连接到输入单元，输出端通过第二切换开关连接到输出单元。

6、优选的，所述输出单元测量电源电路的输出电压，是由源表进行高精度电压测量，包含两路输入端，一路输入端连接到第二切换开关，测量来自第一集成芯片电源电路、第二集成芯片电源电路的输出电压信号，另一路输入端连接到分立器件电源电路的输出端，测量分立器件电源电路的输出电压信号。

7、优选的，所述控制单元用于为第一切换开关与第二切换开关提供控制信号。

8、优选的，所述液晶显示单元用于切换第一集成芯片电源电路、第二集成芯片电源电路的输入与输出状态以及显示三路电源电路的状态。

9、有益效果：与现有技术相比，本实用新型提供了一种电源管理芯片测试实验装置，具备以下有益效果：该一种电源管理芯片测试实验装置，提供了三种不同电源管理芯片的测试电路，让使用者能够更好地理解以及认识不同的电源管理芯片内部结构以及使用方法，使用源表作为输入信号单元以及输出测量单元，测试精度更高更加可靠，能够观察到电路变化引起的细微变化，测试精度高且占用空间极小，便于运输携带，解决了传统测试设备造价昂贵、体积庞大的问题，在测试过程中具有较高的便捷性以及灵活性，整个电源管理芯片测试实验装置结构简单，操作方便，使用的效果相对于传统方式更好。

技术特征：

1.一种电源管理芯片测试实验装置，包括输入单元(1)、第一切换开关(2)、第一集成芯片电源电路(3)、第二集成芯片电源电路(4)、分立器件电源电路(5)、第二切换开关(6)、输出单元(7)、控制单元(8)与液晶显示单元(9)，其特征在于：所述液晶显示单元(9)与控制单元(8)连接，所述控制单元(8)与第一切换开关(2)和第二切换开关(6)连接，所述第一切换开关(2)与输入单元(1)、第一集成芯片电源电路(3)和第二集成芯片电源电路(4)连接，所述第二切换开关(6)与输出单元(7)、第一集成芯片电源电路(3)和第二集成芯片电源电路(4)连接，所述输入单元(1)与输出单元(7)均与分立器件电源电路(5)连接，所述第一集成芯片电源电路(3)、第二集成芯片电源电路(4)和分立器件电源电路(5)为三种不同的电源管理芯片电路。

2.根据权利要求1所述的一种电源管理芯片测试实验装置，其特征在于：所述输入单元(1)提供电压输入信号，是由源表提供高精度电源输出，包含两路输出端，一路输出端连接到第一切换开关(2)，为第一集成芯片电源电路(3)、第二集成芯片电源电路(4)提供电源信号，另一路输出端连接到分立器件电源电路(5)的输入端，为分立器件电源电路(5)提供电源信号。

3.根据权利要求1所述的一种电源管理芯片测试实验装置，其特征在于：所述第一切换开关(2)通过控制单元(8)进行控制，用于在使能时使对应输出端与电源电路输入端之间导通。

4.根据权利要求1所述的一种电源管理芯片测试实验装置，其特征在于：所述第一集成芯片电源电路(3)由降压转换器tps5430ddar搭建电源电路，内部集成了低电阻、高侧n沟道mosfet，完成降压稳压操作，电路输入端通过第一切换开关(2)连接到输入单元(1)，输出端通过第二切换开关(6)连接到输出单元(7)。

5.根据权利要求1所述的一种电源管理芯片测试实验装置，其特征在于：所述输出单元(7)测量电源电路的输出电压，是由源表进行高精度电压测量，包含两路输入端，一路输入端连接到第二切换开关(6)，测量来自第一集成芯片电源电路(3)、第二集成芯片电源电路(4)的输出电压信号，另一路输入端连接到分立器件电源电路(5)的输出端，测量分立器件电源电路(5)的输出电压信号。

6.根据权利要求1所述的一种电源管理芯片测试实验装置，其特征在于：所述控制单元(8)用于为第一切换开关(2)与第二切换开关(6)提供控制信号。

7.根据权利要求1所述的一种电源管理芯片测试实验装置，其特征在于：所述液晶显示单元(9)用于切换第一集成芯片电源电路(3)、第二集成芯片电源电路(4)的输入与输出状态以及显示三路电源电路的状态。

技术总结
本技术公开了一种电源管理芯片测试实验装置，包括输入单元、第一切换开关、第一集成芯片电源电路、第二集成芯片电源电路、分立器件电源电路、第二切换开关、输出单元、控制单元与液晶显示单元，液晶显示单元与控制单元连接，控制单元与第一切换开关和第二切换开关连接，第一切换开关与输入单元、第一集成芯片电源电路和第二集成芯片电源电路连接。本技术所述的一种电源管理芯片测试实验装置，提供了三种不同电源管理芯片的测试电路，让使用者能够更好地理解以及认识不同的电源管理芯片内部结构以及使用方法，使用源表作为输入信号单元以及输出测量单元，测试精度更高更加可靠，能够观察到电路变化引起的细微变化。

技术研发人员：王丰芹
受保护的技术使用者：王丰芹
技术研发日：20240124
技术公布日：2024/9/2