一种半导体器件检测用测试仪的制作方法

本技术涉及半导体检测，更具体的说，它涉及一种半导体器件检测用测试仪。

背景技术：

1、半导体器件生产中，从半导体单晶片到制成最终成品，须经历数十甚至上百道工序，为了确保产品性能合格、稳定可靠，需要对成品进行检测，该检测的设备一般使用光学检测仪，光学检测仪是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备，其基本原理是：机器通过摄像头自动扫描pcb采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出pcb上的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示或标示出来，供维修人员修整。

2、在现有的技术中，目前的光学检测仪不便于调整待检测半导体器件的高度和方向，进而无法调整到最佳的检测位置，降低了检测准确性和实用性，同时，在对相同尺寸的半导体器件进行夹持时，需要反复旋转夹持旋钮，增加了操作繁琐性，降低了夹持装置的实用性。

技术实现思路

1、(一)解决的技术问题

2、针对现有技术中存在的问题，本实用新型提供了一种半导体器件检测用测试仪，以解决背景技术中提到的不便于调节待检测半导体器件高度的技术问题。

3、(二)技术方案

4、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体器件检测用测试仪，包括测试台，所述测试台上设有支撑架和检测仪，所述测试台上设有调节箱，所述调节箱内设有支撑套筒，所述支撑套筒上滑动设有调节板，所述调节板上设有支撑杆，所述支撑杆上设有支撑板，所述调节箱与调节板之间设有调节气缸，所述支撑套筒上滑动设有支撑柱，所述支撑柱顶部设有夹持座，所述夹持座与支撑板转动连接，所述夹持座上设有移动槽，所述移动槽内滑动设有移动杆，所述移动槽的上下两侧设有滑动槽，所述移动杆上设有滑动块，所述移动杆上设有限位块，所述限位块上设有夹持装置。

5、本实用新型进一步设置为，所述支撑柱上设有花键槽，所述支撑套筒上设置有与花键槽配合的限位花键，便于通过支撑套筒带动支撑柱转动。

6、本实用新型进一步设置为，所述调节箱一侧设有调节电机，所述调节电机的电机轴上设有蜗杆，所述支撑套筒上设有蜗轮，通过调节电机带动蜗杆转动，进而带动蜗轮和支撑套筒转动。

7、本实用新型进一步设置为，所述移动槽的两侧设置有多个与限位块配合的限位槽，限制限位块的位置。

8、本实用新型进一步设置为，所述移动槽内设有限位腔，所述限位块在限位腔内设有限位杆，所述限位杆与限位腔之间设有限位弹簧，通过限位腔内设置限位杆和限位弹簧，便于对限位块和夹持装置进行移动。

9、本实用新型进一步设置为，所述夹持装置包括夹持杆，所述夹持杆上设有夹持螺杆，所述夹持螺杆的一端设有夹持旋钮，另一端设有夹持板，转动夹持旋钮带动夹持螺杆转动，进而带动夹持板向半导体器件一侧夹持固定。

10、本实用新型进一步设置为，所述夹持板上设有夹持槽和夹持垫，提高了夹持板对半导体器件的夹持稳定性，同时防止夹持板损伤半导体器件。

11、本实用新型进一步设置为，所述测试台上设有防尘罩，便于对测试台上检测仪进行防尘处理，减少落灰。

12、(三)有益效果

13、与现有技术相比，本实用新型提供了一种半导体器件检测用测试仪，具备以下有益效果：

14、1、通过调节气缸带动调节板进行竖直方向上的移动，进而调整支撑板和夹持座的高度，通过调节电机带动蜗杆和蜗轮转动，进而带动支撑套筒和支撑柱转动，进而带动夹持座进行转动，进而便于对器件进行高度和方向的调整，提高了测试仪的实用性。

15、2、通过滑动块和滑动槽的配合，限制移动杆在移动槽内的移动方向，通过限位块与限位槽的配合，限定移动杆的位置，通过夹持块上夹持螺杆、夹持旋钮和夹持板，便于对半导体器件进行夹持固定，通过限位杆和限位弹簧的配合，便于直接对同尺寸器件进行夹持，提高了夹持便捷性。

16、3、通过在测试台上设置防尘罩，便于对测试台上检测仪进行防尘处理，减少落灰。

技术特征：

1.一种半导体器件检测用测试仪，包括测试台(1)，其特征是：所述测试台(1)上设有支撑架(2)和检测仪(3)，所述测试台(1)上设有调节箱(4)，所述调节箱(4)内设有支撑套筒(5)，所述支撑套筒(5)上滑动设有调节板(6)，所述调节板(6)上设有支撑杆(7)，所述支撑杆(7)上设有支撑板(8)，所述调节箱(4)与调节板(6)之间设有调节气缸(9)，所述支撑套筒(5)上滑动设有支撑柱(10)，所述支撑柱(10)顶部设有夹持座(11)，所述夹持座(11)与支撑板(8)转动连接，所述夹持座(11)上设有移动槽(12)，所述移动槽(12)内滑动设有移动杆(13)，所述移动槽(12)的上下两侧设有滑动槽(14)，所述移动杆(13)上设有滑动块(15)，所述移动杆(13)上设有限位块(16)，所述限位块(16)上设有夹持装置。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测用测试仪，其特征是：所述支撑柱(10)上设有花键槽(17)，所述支撑套筒(5)上设置有与花键槽(17)配合的限位花键(18)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体器件检测用测试仪，其特征是：所述调节箱(4)一侧设有调节电机(19)，所述调节电机(19)的电机轴上设有蜗杆(20)，所述支撑套筒(5)上设有蜗轮(21)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测用测试仪，其特征是：所述移动槽(12)的两侧设置有多个与限位块(16)配合的限位槽(22)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测用测试仪，其特征是：所述移动槽(12)内设有限位腔(23)，所述限位块(16)在限位腔(23)内设有限位杆(24)，所述限位杆(24)与限位腔(23)之间设有限位弹簧(25)。

6.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测用测试仪，其特征是：所述夹持装置包括夹持杆(26)，所述夹持杆(26)上设有夹持螺杆(27)，所述夹持螺杆(27)的一端设有夹持旋钮(28)，另一端设有夹持板(29)。

7.根据权利要求6所述的一种半导体器件检测用测试仪，其特征是：所述夹持板(29)上设有夹持槽(30)和夹持垫(31)。

8.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测用测试仪，其特征是：所述测试台(1)上设有防尘罩(32)。

技术总结
本技术公开了一种半导体器件检测用测试仪，包括测试台，测试台上设有支撑架和检测仪，测试台上设有调节箱，调节箱内设有支撑套筒，支撑套筒上滑动设有调节板，调节板上设有支撑杆，支撑杆上设有支撑板，调节箱与调节板之间设有调节气缸，支撑套筒上滑动设有支撑柱，支撑柱顶部设有夹持座，夹持座与支撑板转动连接，夹持座上设有移动槽，移动槽内滑动设有移动杆，移动槽的上下两侧设有滑动槽，移动杆上设有滑动块，移动杆上设有限位块，限位块上设有夹持装置，通过调节气缸带动调节板进行竖直方向上的移动，进而调整支撑板和夹持座的高度，通过滑动块和滑动槽的配合，限制移动杆在移动槽内的移动方向，调整夹持装置的位置。

技术研发人员：温焱升,康树军,刘桂珍
受保护的技术使用者：蔚县中天电子股份合作公司
技术研发日：20240222
技术公布日：2024/10/17