一种单颗量测印字偏移治具的制作方法

本申请涉及印字检测治具的，尤其是涉及一种单颗量测印字偏移治具。

背景技术：

1、在半导体领域，基板的表面为胶体，常常需要使用镭射机在上面镭刻客户商标、型号及相关厂的产品生产信息。

2、产品镭刻后，需要对镭刻信息进行检测，以判断镭刻产品的印字是否合格。在检测时，需要将产品放到显微镜下，进行比对分析，在实际检测过程中，需要将每一个产品进行比对，导致合格品也会需要至少做一次检测，会加长检测的时长，影响效率。

技术实现思路

1、为了便于检测偏移量，提高工作效率，本申请提供一种单颗量测印字偏移治具。

2、本申请提供的一种单颗量测印字偏移治具，采用如下的技术方案：一种单颗量测印字偏移治具，包括底座，所述底座具有供待检测物嵌入的测量槽，所述底座上可拆卸连接有用于覆盖所述测量槽的透明板，所述透明板具有对应待检测物的偏移刻度线，所述测量槽的侧壁外延形成有两个延伸槽，用于取出待检测物，所述透明板具有插接于所述底座上的固定块。

3、通过采用上述技术方案，在检测前，通过测量槽将待检测物放置在底座上，随后通过透明板将待检测物覆盖，透明板根据待检测物的不同而不同，这样对应的偏移刻度线能够跟位于待检测物上的印字进行比对，若完全一致的情况下，便不需要进行后续检测，而具有偏移量的情况下，整体进行对比能够得到具体的偏移量，便于后续进行良品和次品的分类，提高了工作效率。

4、优选的，所述透明板与所述底座在同一个边角处具有相同的缺口。

5、优选的，所述底座上设置有供所述固定块插入的插槽。

6、优选的，所述固定块设有两个，且两个固定块的宽度不同。

7、优选的，所述插槽的内壁设置有形变凸起，所述固定块上设置有对应供所述形变凸起嵌入的限位槽。

8、优选的，所述插槽的内壁凹陷形成避让槽，所述形变凸起包括并列连接在避让槽底部的结构杆、连接在两个结构杆之间的弧形凸圈，所述弧形凸圈的顶部用于嵌入至限位槽。

9、优选的，两个所述结构杆的连接至避让槽内壁的端部至另一端间距逐渐变大。

10、优选的，所述避让槽底壁与所述弧形凸圈的凹侧之间设置有辅助弹簧。

11、优选的，所述结构杆的端部位于避让槽内，所述弧形凸圈的顶部外露至避让槽外。

12、优选的，所述透明板由亚克力材料制成。

13、综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

14、1、在底座上通过和透明板的配合，使得待检测物能够比对，在未有偏移的情况下，免去检测，而对于具有偏移的部分，整体进行检测，便于后续进行良品和次品的分类，提高了工作效率；

15、2、透明板可通过缺口或者固定块的不同，实现防呆的效果；

16、3、透明板的固定，通过弧形凸圈进行加固，使得偏移刻度线能够准确得与待检测物进行比对，提高比对精度。

技术特征：

1.一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：包括底座（100），所述底座（100）具有供待检测物嵌入的测量槽（110），所述底座（100）上可拆卸连接有用于覆盖所述测量槽（110）的透明板（111），所述透明板（111）具有对应待检测物的偏移刻度线，所述测量槽（110）的侧壁外延形成有两个延伸槽（112），用于取出待检测物，所述透明板（111）具有插接于所述底座（100）上的固定块（114）。

2.根据权利要求1所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述透明板（111）与所述底座（100）在同一个边角处具有相同的缺口（113）。

3.根据权利要求2所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述底座（100）上设置有供所述固定块（114）插入的插槽（115）。

4.根据权利要求3所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述固定块（114）设有两个，且两个固定块（114）的宽度不同。

5.根据权利要求4所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述插槽（115）的内壁设置有形变凸起，所述固定块（114）上设置有对应供所述形变凸起嵌入的限位槽（120）。

6.根据权利要求5所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述插槽（115）的内壁凹陷形成避让槽（121），所述形变凸起包括并列连接在避让槽（121）底部的结构杆（122）、连接在两个结构杆（122）之间的弧形凸圈（123），所述弧形凸圈（123）的顶部用于嵌入至限位槽（120）。

7.根据权利要求6所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：两个所述结构杆（122）的连接至避让槽（121）内壁的端部至另一端间距逐渐变大。

8.根据权利要求7所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述避让槽（121）底壁与所述弧形凸圈（123）的凹侧之间设置有辅助弹簧（124）。

9.根据权利要求8所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述结构杆（122）的端部位于避让槽（121）内，所述弧形凸圈（123）的顶部外露至避让槽（121）外。

10.根据权利要求1所述的一种单颗量测印字偏移治具，其特征在于：所述透明板（111）由亚克力材料制成。

技术总结
本申请公开了一种单颗量测印字偏移治具，包括底座，所述底座具有供待检测物嵌入的测量槽，所述底座上可拆卸连接有用于覆盖所述测量槽的透明板，所述透明板具有对应待检测物的偏移刻度线，所述测量槽的侧壁外延形成有两个延伸槽，用于取出待检测物，所述透明板具有插接于所述底座上的固定块。本申请具有以下效果：通过透明板将待检测物覆盖，透明板根据待检测物的不同而不同，这样对应的偏移刻度线能够跟位于待检测物上的印字进行比对，若完全一致的情况下，便不需要进行后续检测，而具有偏移量的情况下，整体进行对比能够得到具体的偏移量，便于后续进行良品和次品的分类，提高了工作效率。

技术研发人员：王木远,宁瑞强,渠立松,孙希雨,林煜斌
受保护的技术使用者：长电集成电路（绍兴）有限公司
技术研发日：20240311
技术公布日：2025/2/10