专利名称:狭缝x射线照像装置的制作方法
本发明涉及一种用于狭缝X射线照象的装置，其中包括一个X射线源，利用该X射线源可将一个基本上平面的扇形X射线束通过一个狭缝光阑对接受辐射的物体进行扫描，同时通过该物体的扫描X射线束照射在一个X线检测器上。
在共同未决(copending)的荷兰专利申请8400845号中对这种包括与狭缝光阑协同工作的可控衰减元件的装置进行了描述，该专利申请在此引用做为参考。荷兰专利申请8400845号中说明了产生衰减元件所需控制信号的几种方法。荷兰专利申请8400845号中所说明的大多数情况下，为了达到这一目的，使用了一系列安置在所采用的X线检测装置出口一侧的光线检测器，每一光线检测器与狭缝光阑的一个部份相对应，并且通过控制装置控制该部份与衰减元件的协同动作，或者是控制该部份与一组衰减元件协同动作。
然而，在利用不透光的X线胶片暗盒作为X射线检测器时，不能以一种简单的方式来应用这种技术。
因此，本发明的一个目的是设计一种狭缝X射线照像装置，其中包括与一个狭缝光阑协同工作的可控衰减元件，其协同方式为，即使采用了不透光的X射线胶片暗盒，仍可用一种相对简单并且可靠的方式获得衰减元件所需的控制信号。
为了达到这一效果，根据本发明，上述类型装置的特征在于;包括与狭缝光阑协同动作的多个可控衰减元件，每个元件被用于在由辐射检测装置所产生的信号的控制之下，对X射线扫描束的一个部份施加影响;该辐射检测装置被置于接受辐射的物体与X射线探测器之间;该辐射检测装置包括至少一个在任何时刻都探伸到穿透物体的扫描X线束之中，并与该X线束的扫描运动同步动作的辐射检测器。该辐射检测装置被分为与可由衰减元件影响的扫描X线束的各节段相对应的部份，工作时，辐射检测器的每一部份产生出一个可用于控制衰减元件的信号。
可以看出，本发明即可用于使用不透光X射线胶片暗盒的情况，也可用于使用任何其它类型X射线探测器的场合。
以下将参照附图，举例对根据本发明的装置的几个实施方案予以说明，在附图中图1示意性地示出根据本发明的装置的第一实施方案;
图2示意性地示出图1的一种变化形式;
图3示出图2的另一种变化形式;
图4示出图3的一种修改形式;和图5示出图4的一种修改形式。
图1示意性地示出本发明的第一实施方案，其中显示了具有X射线焦点2的X射线源1。在工作中，X射线源产生X射线束B，其中基本上为平面扇形的一部份B′几乎都能穿过狭缝光阑3上的狭缝S。另外，图中示出接受辐射的物体4和置于该物体之后的一个X射线检测器5，该检测器5安装在一个未示出的外壳之中。该X射线检测器可以是任何常规类型，但在本实施方案中是由一个不透光的X射线胶片暗盒构成，其中包括一个X射线荧光屏6和置于其后的X射线胶片7。在某些X射线胶片暗盒中，X射线胶片之后还安装了第二个X射线荧光屏。除了这种胶片暗盒，也可采用具有大输入屏幕的静态X射线图象增强管或采用具有窄条式输入屏的X射线图象增强管。在后一种情况中，X射线图象增强管在工作中执行扫描运动。
在所示的情况中，穿过狭缝光阑的X射线束B′仅照射在物体4的一个狭长部份上，这一部份在X射线检测器的输入屏上成象。如数字10所示。为了获得该物体更大部份的图象，X射线束适宜于在图示的平面内进行扫描运动。这可以通过不同的方法得以实现，例如通过使狭缝光阑按箭头8所指的方向运动。这些都不构成本发明的一部份。狭缝光阑与多个可控衰减元件9协同动作。多个衰减元件并行排列并且可按这样的方式安置在一个边上，即，使衰减元件在适当的控制信号的影响下，可以或大或小幅度不同地探伸到通过或将要通过狭缝S的光束B′之中。这样，如荷兰专利申请8400845号中所说明的那样。X射线束可以瞬时地并且局部地被衰减一个较大或较小的程度。可以看出，狭缝光阑的狭缝可处于水平，垂直或中间的位置，而扫描则可以按垂直，水平或中间的方向进行。
应根据穿过物体的X射线的强度来控制衰减元件。为此，根据本发明，使用了设置在接受辐射的物体4和X射线检测器之间的辐射检测装置，该辐射检测装置的安装方式使其在任何时刻都能将穿过物体的辐射检测出来，这种检测可分别针对与衰减元件9相对应的或与一组这种衰减元件相对应的穿过物体的X射线束的每一部份。
根据本发明，为此采用了辐射检测装置，该装置在物体和X射线检测器之间执行扫描运动，而该扫描运动与工作过程中由X射线束B′进行的扫描运动同步。
为了达到这种效果，该辐射检测装置与使X射线束执行扫描运动的装置进行了机械的或机电的耦合。辐射检测装置可被置于X射线检测器5之前，并在工作时执行垂直扫描运动。
在图1所示的实施方案中，辐射检测装置固定在从狭缝光阑向X射线检测器方向伸展出的臂11上。如箭头12所示，该臂适宜于相对一个实的或虚的旋转轴而旋转，该旋转轴通过X射线焦点2沿垂直于图纸平面的方向伸展。该臂在任何时刻都处于穿过狭缝光阑的X射线束的范围之外。臂11可以适当地固定在狭缝光阑上，如图1中所示，以保证臂的动作与狭缝光阑的动作(因而也包括X射线束的扫描动作)同步。然而，这种臂与狭缝光阑的固定联接并不是必不可少的。重要的是臂要与X射线束B′做同步运动。
该臂的延伸超过了接受辐射的物体，并且在超过物体而延伸的一端上有一个附加臂13，附加臂13在远离臂11的一端上带有一个X射线荧光屏14。
X射线荧光屏14在任何时刻都至少部份地伸入到穿过物体的X射线束之中并形成辐射检测器本身。附加臂13还带有一系列并行排列的透镜15。透镜15的数目与衰减元件的个数或组数相对应。透镜在附加臂13上的安装方式使得这些透镜在任何时刻都处于穿过物体的X射线束之外。每一个透镜都被用于收集在照射到X射线荧光屏上的X射辐射的影响下，X射线荧光屏的特定部份上产生的光线。
上述特定部份还对应于X射线束B′的各部份，该X射线束可以是已穿过或将要穿过狭缝光阑，并且可受到衰件元件9或一组衰减元件的影响。
每一透镜均用于将收集到的光集中到同样在臂11和13的组合件上固定的相应的信号传输器16上，如，一个传输与光的亮度相对应的电信号的光检测器。该电信号通过线17施加到图中所示的控制装置18上。控制装置18由接收的信号产生用于控制与有关的光检测器相对应的衰减元件的控制信号。
在所示的实施方案中，荧光屏14安装成与X射线扫描束保持一定的角度，这样可用相对较薄的屏幕得到相对较强的光输出。然而，这并非必不可少。自然，荧光屏应该设计成对X射线扫描束产生的衰减为最小。
X射线荧光屏14可以是相对于图纸平面横向展开的屏幕。然而，如果X射线束的各部份之间需要有更好的分离，则该屏幕也可由若干并行排列但相互之间隔开的屏幕部份组成。
图2示意性地示出图1所示的辐射检测装置的一个变形，其中省略了臂11，13或类似的相应构件。通过狭缝光阑的X射线扫描束在图2中用标号20表示。在入射到X射线胶片暗盒7或其它图象X射线检测器之前，X射线束20穿过了一系列并行排列的发光晶体元件21，图2中示出了一个这样的元件，这些元件可采用如碘化锗晶体，并且在X射线的作用下发光。每一发光晶体元件可以与一个光检测器22进行光耦合，该光检测器响应于相关联的发光晶体元件，产生一个电信号，这一电信号再应用于生成控制相应衰减元件或相应一组衰减元件的控制信号。
为了增加发生晶体元件的有效光输出，最好每一发光晶体元件除了与光检测器耦合的一面之外，在所有侧面上都涂有向内侧的反射层。该层同时还可使发光晶体元件免受外部影响，例如湿汽的影响，这样作是适当的，因为发光晶体通常都具有吸湿的特性。
图3示出根据本发明的辐射检测装置的第二种变形。X射线扫描束仍以标号20表示。在此使用的不是一系列发光晶体元件，而是一系列并行排列的电离室30，图中示出一个电离室。每一电离室包括两个电极31和32。在电极之间存在着电压差。当电离室被高能量的放射线(例如X射线)照射时，将在电极31和32连接的电路中产生一个电流，同样，可从中获得控制一个或多个相应的衰减元件的控制信号。
当然，从扫描束20的方向来看，至少电离室的前壁与后壁应由不衰减或几乎不衰减X射线的材料制成。
这里也可以不使用若干个分离的电离室，而使用单独一个长条形的电离室，该电离室具有一个沿电离室整个长度伸展的公共电极，即横向伸出图纸平面，以及若干个分离的电极，从该分离电极上导出用于相应衰减元件的控制信号。
图4中用标号40表示这种长条形的电离室。公共电极由41表示，与公共电极相对的各个电极由42a，……e表示。可以将公共电极看成是相互连接的多个分离电极。这样一个相互间的连接可以在长条形电离室内布置也可是在该室之外。
在图5中示出了图3和图4所示辐射检测器的实施方案的一个混合形式的俯视图。长条形电离室50包括若干由合成塑料材料制成的隔离件51，如聚脂薄膜。在隔离件之间的空间便形成了电离室。俯视图中示出了X射线扫描束20，箭头52指出其方向。隔离件最好指向X射线焦点方向。
可以看出，了解了上述内容之后，所属领域内的熟练人员将能很容易地做出各种修改方案。这些修改被视为不超出本发明的范围。
权利要求
1.一种狭缝X射线照像装置，包括一个X射线源，利用该X射线源可以使通过一个狭缝光阑的一束基本上为平面扇形的X射线对一个接受辐射的物体进行扫描，穿过该物体的扫描X射线束照射到一个X射线检测器上，其特征在于该装置包括与狭缝光阑协同动作的多个可控衰减元件，每一元件在由一个辐射检测装置产生的信号的控制下被用于影响扫描X射线束的一个部份；该辐射检测装置被安置在接受辐射的物体和X射线检测器之间；该辐射检测装置包括至少一个辐射检测器，该辐射检测器在任何时刻都探伸到穿过物体的扫描X射线束之中并与X射线束的扫描运动进行同步运动，该辐射检测装置被分隔为多个部份，以便对应于可受衰减元件影响的扫描X射线束的各个部份，同时，在工作时，该辐射检测装置的每一部分都产生一个可用于控制衰减元件的信号。
2.根据权利要求
1的装置，其特征在于该辐射检测器包括一个X射线荧光屏，并且其辐射检测装置另外包括置于扫描X射线束范围之外的多个并行排列的透镜，每一透镜用于收集在扫描X射线束的作用下X射线荧光屏的一个给定部份上产生的光线，并将上述光线引向一个附属的光检测器，将光信号转换为电信号。
3.根据权利要求
2的装置，其特征在于其X射线荧光屏被分成多个并行排列并且相互隔离的部份。
4.根据权利要求
2的装置，其特征在于其X射线荧光屏以锐角伸入扫描X射线束。
5.根据权利要求
1的装置，其特征在于其辐射检测器包括多个并行排列的发光晶体元件，每一个元件的处于扫描X射线束以外的一面与产生电信号的光检测器进行光耦合。
6.根据权利要求
5的装置，其特征在于每一发光晶体元件在除了与光检测器耦合的部份外的全部外表面都涂有向内侧的反射层。
7.根据权利要求
1的装置，其特征在于其辐射检测器包括多个并行排列的电离室，每个电离室具有两个彼此相对的电极，在工作时电极导通电流，从中导出用于衰减元件的控制信号。
8.根据权利要求
7的装置，其特征在于其多个电离室结合成一个长条形电离室，该电离室具有多个分离安置的第一电极和一个共用的第二电极。
9.根据权利要求
8的装置，其特征在于在长条形的电离室内每一对相邻的第一电极之间安置了一个隔离件。
10.根据权利要求
9的装置，其特征在于各个隔离件中，每一个都指向X射线源的焦点。
11.根据权利要求
1的装置，其特征在于其辐射检测装置固定在一个臂上，该臂由狭缝光阑向X射线探测器方向伸展并超过接受辐射的物体，上述臂能够分别在一个垂直的和水平的平面内旋转，这些平面分别对应于通过X射线源焦点的沿水平和垂直方向伸展的直线，并且上述臂在其靠近X射线检测器的一端装有一个带有辐射检测器的附加臂。
专利摘要
本发明包括经狭缝阑对受射物体用基本为平面扇形的X线来进行扫描的X线源，穿过物体的X线束照射到X线检测器上本装置包括与光阑协同动作的多个可控衰减元件，每一元件能在辐射检测装置产生的信号控制下影响X线束的一部分。辐射检测装置位于受射物和X线检测器之间，其中包括至少一个始终伸入穿过物体的X线束中并与其扫描运动同步动作的辐射检测器。该检测器分成多个部分以与衰减元件影响的X线束各部分对应，工作时每部分产生控制衰减元件的信号。
文档编号G01N23/02GK85106558SQ85106558
公开日1987年3月18日 申请日期1985年8月31日
发明者西蒙·杜英克, 雨果·夫拉斯布劳姆 申请人:老代尔夫特光学工业有限公司导出引文BiBTeX, EndNote, RefMan