专利名称：轴键槽对称度量规的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及的是一种测量工具，它是用于按相关原则设计的轴键槽对称度误差的综合量规。
按照《GB1183－80形状和位置公差术语及定义》的规定，轴键槽相对基准轴线的对称度定义是键槽的中心面必须位于距离为公差值的两平行平面之间，该两平面对称配置在通过基准轴线的辅助平面两侧。现有的测量方法是根据《GB1958－80形状和位置公差检测规定》进行的，通过定位块模拟中心平面来测量，即将轴体置于平台上两个等高的V形块上，并使基准轴线与平台平行。再将定位块安置于键槽中，转动轴使定位块素线与平台平行，测得键槽两端高度差h3－h1，再在键槽的任意部位测得高度h2，而后将轴旋转180°，在另一侧键槽任意部位测得高度h4，通过计算可得出对称度误差值。
这种测量方法的缺点是(1)检测工时多，一般检测一根中型电机轴需两人工作两小时，即四个工时，劳动强度大；(2)检测数据与实际误差有差距；(3)只能在完工后检测，如果工件对称度不合格，也无法挽救；(4)普通键连接多数是用于满足配合性能或装配互换性的场合，这类场合形位公差多应用相关原则，现有方法未能体现这一情况。
本实用新型的目的是提供一种适合于对称度定义、满足相关原则、检测简便的对称度综合量规。
本实用新型是这样设计的它包括卡规、塞规和手柄。卡规部分成门形，塞规部分成矩形板状，位于卡规的中央(塞规相对卡规中心线对称度达到工件对称度15％)，卡规的最小极限尺寸等于基准轴径的最大极限尺寸，塞规的最小极限尺寸等于键槽宽的最小极限尺寸减对称度公差加微量磨损量。
本实用新型的设计原理是根据轴键槽对称度公差的定义，对于一个槽深h，直线长度为l的键槽而言，它的对称度公差带为一个t×h×l的长方体，t是对称度公差值。键槽的中心平面可以在公差带范围内变动，可能相对基准轴线偏斜、偏移或既偏斜又偏移，键槽的两个侧面则相应的在各自公差带范围内变动。如果取宽度为键槽最小极限尺寸减去对称度公差值的塞规，则这个量具是满足对称度公差采用相关原则的设计的。应用这个塞规检测键槽，如果在全长上能够通过，且塞规端部与槽底接触，且在两个端部截面上塞规端面与槽底有共同的夹角，则这个轴键槽对称度合格。
本实用新型适合于只要求满足装配互换性的键槽测量，即设计图标注对称度采用相关原则的地方，
。
以下结合附图对本实用新型做进一步描述附
图1是本实用新型的一种结构示意图。
附图2是本实用新型的公差带原理图。
附图3为校准规示意图。
根据附图，综合量规包括卡规1、塞规2、手柄3。卡规1成门形，尺寸D的最小极限尺寸取轴径的最大极限尺寸，塞规2成矩形，其最小极限尺寸等于键槽宽的最小极限尺寸减对称度公差加微量磨损量。塞规2可以与卡规1制成一体，且使塞规2与卡规1工作面在一个平面上。为了使制作方便，也可以分别制作，然后铆接或螺纹连接成一体。手柄3与卡规1连接。
本实用新型如果批量生产，需做一个校准规，在装配时或者修磨时用校准规校正塞规2的安装位置。校准规成凹形外廊尺寸D′与卡规工作尺寸相同，内槽尺寸B′与塞规工作尺寸相同。
本实用新型做为机械加工键槽的工序检查和成品检查，可以准确地区分零件的合格与否，而且量规的结构简单、制造容易、使用方便，用久磨损了，塞规端部可以刃磨，使用寿命长，比目前的检测方法提高工效10倍。
权利要求1.一种轴键槽对称度量规，它包括卡规、塞规和手柄，其特征在于卡规成门形，塞规成矩形板状，位于卡规的中央，与卡规工作面在一个平面上，卡规的最小极限尺寸等于基准轴径的最大极限尺寸，塞规的最小极限尺寸等于键槽宽的最小极限尺寸减去对称度公差，加微量磨损量。
2.根据权利要求1所述的量规，其特征在于所说的卡规与塞规可制成一体或分别制成再连接一体。
3.根据权利要求1所述的量规，其特征在于所说的塞规位于卡规中央，有一凹形校准规校正。
专利摘要本实用新型是一种轴键槽对称度综合量规，它包括卡规部分、塞规部分和手柄部分。卡规的最小极限尺寸为基准轴的最大极限尺寸，塞规的最小极限尺寸等于键槽宽的最小极限尺寸减去对称度公差加微小磨损量。这种量规适用于尺寸公差与形位公差采用相关原则的场合，它测量快速、使用方便、较现有检测方法提高工效10倍。
文档编号G01B3/30GK2080163SQ9021361
公开日1991年7月3日 申请日期1990年7月23日 优先权日1990年7月23日
发明者李世功 申请人:李世功