专利名称：电子天平密度测定附属装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于称量仪器的附属装置。主要适用于在电子天平中测量物体的密度和体积。
物体密度的传统测量方法是由密度计或比重(密度)天平等专用设备测定的。精确度较差。瑞士梅特勒公司、西德沙多利斯厂均在其电子天平中，配有密度测定的附属配件或软件，可在电子天平上测量物体的密度和体积。但测量密度时需将电子天平垫高20～30cm，用天平底座下的挂钩与配件进行测定。这样就带来两个缺点一是需做一个高20～30cm的稳定支架来支承天平，每测定一次需搬动一次，操作不便；二是支架如果没有密封措施，测定时易受流动空气的干扰，影响测定精度。
本实用新型的目的在于提供了一种可置于电子天平称量室内的密度测量附属装置，使其电子天平既能测定物体的质量，又能测定物体的密度，而且操作方便、迅速，测定准确。
该附属装置由支承架、托架、烧杯和金属丝组成。测定物体密度时，支承架置于电子天平的载物托盘上，托架放在称量室内托盘的上方，与托盘不接触，金属丝悬挂在支承架上。支承架和托架均可用有机玻璃制成。
当需要测定物体密度时，将附属装置置于电子天平称量室内，操作方便，测定迅速；而且测量是在称量室内进行，不受外界条件影响，测定准确，精度高；另外，造价低，只相当于电子天平价格的五百分之一。
现结合附图对本附属装置加以说明。
附
图1为本实用新型电子天平密度测定附属装置示意图附图1中，1为支承架，2为金属丝，3为托架，4为烧杯，5为液体，6为被测物，7为电子天平的载物托盘，8为电子天平的称量室。
需要测定物体密度时，首先将支承架1放在电子天平托盘7上；托架3放在托盘7上方，但与托盘7不接触；烧杯4放在托架3上；金属丝2悬挂在支承架1上；被测物6挂在金属丝2上；烧杯4中盛液体5。这样就可测出物体浸没在液体中平衡时砝码质量。
根据液体静力衡量法测定密度的下列公式，就可求出物体的密度。即ρt＝ (m1)/(m1－m2) (ρ－D)＋D式中 ρt－所求物体在温度为t℃时的密度m1－在空气中衡量物体时的砝码质量m2－物体浸没在液体中平衡时的砝码质量ρ－在液体中衡量物体时，温度为t℃时液体的密度D－温度为t℃时的空气密度。
附图2为支承架1的示意图。
附图3为托架3的示意图。
权利要求一种测定物体密度的电子天平附属装置，其特征在于它由支承架1、金属丝2、托架3和烧杯4组成。
专利摘要本实用新型属于称量的附属装置。它附属于电子天平中，用于测量物体的密度和体积。该附属装置由支承架、托架、金属丝和烧杯组成，结构简单。需要测定物体密度时，将附属装置放入电子天平的称量室内，可测出物体浸没在液体中平衡时的砝码质量，再根据液体静力衡量法测定密度的公式就可得出被测物体的密度。由于该装置是置于称量室内，测量时不受外界环境影响，测量准确。
文档编号G01G1/00GK2080175SQ90220820
公开日1991年7月3日 申请日期1990年9月22日 优先权日1990年9月22日
发明者邓玉春 申请人:冶金工业部钢铁研究总院