专利名称：永磁体的温度系数测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于永磁材料的测量设备。特别适用于永磁体的温度系数测量装置。
在永磁材料领域中，特别是在特殊用途下永磁体的应用，使永磁体的温度系数这一物理参数显得更为重要。对于测量温度系数的装置，其测量精度，又是直接影响被测永磁体能否被正确使用的关键，所以温度系数测量装置的测量精度是关系着低温度系数永磁材料的发展前景。目前，在现有技术中测量温度系数的方法有采用线圈提拉法，由于该方法所采用测量装置的主要缺点是，每次提拉测量线圈后，不能保证准确复位，造成人为的测量失误，另外该装置由于线圈是套在测量管的外部，线圈与被测样品之间的距离较大，则会造成测量误差增大，另外还有炉体加热控制系统精度不够，和测量温度系数不连续，只能测量出样品在某一温度范围内开路磁通的平均值等不足。
本实用新型的目的是提出一种能够连续测量永磁体温度系数的，而且测量精度高和重复性好的永磁体温度系数测量装置。
本实用新型永磁体的温度系数测量装置的具体结构可根据附图
进行叙述，该附图为本装置的结构示意剖面图，在附图中1为永磁体样品，2为样品室，3为加热炉体，4为保温罩，5为热电偶，6为台架，7为测量探头，8为探头支架，9为磁屏蔽罩，10为磁强计，11为温度自控仪，12为绘图记录仪，13为冷却套。由附图可看出，本实用新型永磁体的温度系数测量装置组成是由磁屏蔽、工作台和控制记录三部分组成，其特征是在磁屏蔽罩9内底部装有台架6，在台架6上装有加热炉体3，在加热炉体3内套装有样品室2，在样品室2内装有永磁体样品1，在样品室2的上端盖有保温罩4，下端装有热电偶5，在加热炉体3的外壁还装有冷却套13，探头支架8的前端装有测量探头7，下端是安装在台架6上，测量探头7与磁强计10绘图记录仪12应串联相接，热电偶5与绘图记录仪12相接，加热炉体3与温度自控仪11相联接，冷却套13与冷却源相接。在本该置中的另一特征是永磁体样品1在样品室2内的放置应是磁力线发射方向与探头7纵向相平行。为了能准确测量永磁体样品1温度系数，在台架6上的其它各部件均采用无磁材料制做，安装磁屏蔽罩9的保护，其目的是消除空间散射磁场对样品测量信号的干扰。该装置的工作过程是当要测量永磁体样品1的从低温到高温的温度系数时，应先打开冷却源，冷却液经冷却套13可将永磁体样品1的温度降至零度以下，此时探头7通过磁强计10与绘图记录仪12记录下在空间测量值，在关闭冷却源打开温度控制仪11，加热炉体3开始对永磁体样品1升温，此时热电偶5将测得永磁体样品1的实际温度输入至绘图记录仪12中记录。因此通过绘图记录仪12，可将永磁体样品1的开路磁通随温度变化的曲线绘制出来。根据该曲线可算出在测量时的任一温度下，样品的温度系数，同样也可计算出在某一温度范围内的平均温度系数。
本实用新型永磁体的温度系数测量装置与现有技术相比较具有测量精度高，重复性好，通过绘图记录仪12可得到被测样品的开路磁通随温度变化的曲线，因此该装置即可以给出样品的任一温度下的温度系数，而且也可给出某一温度范围内的平均温度系数。
权利要求1.一种能够测量永磁体的温度系数测量装置，其该装置的组成是由磁屏蔽罩、工作台和控制记录三部分组成，其特征是在磁屏蔽罩(9)内底部装有台架(6)，在台架(6)上装有加热炉体(3)，在加热炉体(3)内套装有样品室(2)，在样品室(2)内装有永磁体样品(1)，在样品室(2)的上端盖有保温罩(4)，下端装有热电偶(5)，在加热炉体(3)的外壁装有冷却套(13)，探头支架(8)的前端装有测量探头(7)，下端是安装在台架(6)上，测量探头(7)与磁强计(10)、绘图记录仪(12)应串联相接，热电偶(5)与绘图记录仪(12)相联接，加热炉体(3)与温度自控仪(11)相接冷却套(13)与冷却源相接。
2.根据权利要求1所述装置，其特征是永磁体样品(1)在样品室(2)内的放置应是磁力线发射方向与探头7纵向相平行。
专利摘要本实用新型属于永磁材料的测量设备。特别适用于永磁体的温度系数测量装置。该装置的组成是磁屏蔽罩内台架上装有加热炉体，炉体内装有样品室和样品，炉体外套有冷却套，炉体盖有保温罩，台架上还装有探头支架和探头，探测头与磁强计、绘图仪是串联相接，热电偶与绘图仪相接。该装置与现有技术相比较，具有测量精度高和重复性好。该装置不但能给出任一温度下样品的温度系数，而且还可以给出样品在某一温度范围内的平均系度系数。
文档编号G01N27/72GK2352958SQ98241658
公开日1999年12月8日 申请日期1998年10月22日 优先权日1998年10月22日
发明者崔利亚, 潘伟 申请人:冶金工业部钢铁研究总院