专利名称：直流耐压测试/绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置的制作方法
直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置本发明涉及一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置，特别是指一种能在测试前检测出待测物与测试装置是否正常导接的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置。
目前电子产品的制造日益精良，因此，常有电子产品经直流耐压测试装置检测后，显示其漏电流为零(该漏电流实际只是趋近于零，但因受限于测试装置之精密度，故测试结果显示为零)之情况；或是该电子产品在作绝缘阻抗测试时，经绝缘阻抗测试装置检测后，显示其绝缘阻抗为无穷大(该绝缘阻抗实际只是趋近于无穷大，但因受限于测试装置之精密度，故测试结果显示为无穷大)。所以，当测试者在测试过程中，若因一时疏忽而未将待测物与测试装置正常导接，或因其它原因令二者无法正常导接时，测试者常会因测试装置显示其漏电流为零，而错误地判定该等待测物符合安全标准，进而造成日后无法预想的隐患。
由于一般负载待测物均具有大小不等的容抗值，而具有容抗值的负载物在施加一测试电压后，均会产生一充电电流。根据此现象，本发明的目的就在于提供一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其可令测试装置在设定的时间内通过检测待测物的充电电流，进而判断该待测物与测试装置的开路状态，以确保后续检测结果的正确性。
本发明的另一目的在于根据本发明方法提供一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，当待测物与该测试装置处于开路状态时，发出信息并停止后续的测试动作，当待测物与该测试装置妥善导接时，再进行后续的测试动作，以确保通过检测产品的安全性。
本发明一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其特征在于该方法的步骤是(一)在一测试装置中设定检测时间区间(ΔT)及一待测物的充电电参数极限值，其中该检测时间区间(ΔT)是指在该测试装置提供电压后，检测充电电参数的时间区间，该充电电参数极限值系该待测物对应于所提供的电压，应产生的充电参数的极限值；(二)测试装置在该检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的充电电参数值；(三)测试装置将步骤二所检测的充电电参数值与步骤一预设的该充电电参数极限值相比较，以判断该待测物与该测试装置两测试端是否相导接，若两者相导接，则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，否则，该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。
上述的方法中，步骤一的充电电参数极限值可为充电电流下限值(Id)，所述的检测时间区间(ΔT)是指在所述检测装置提供电压后，检测充电电流的时间区间，该充电电流下限值(Id)是指在该检测时间区间(ΔT)内，所述待测物对应于所提供的电压，应产生的充电电流的最低下限值；步骤二为测试装置在该检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的电流值(I)；步骤三的测试装置是根据步骤二所检测的电流值(I)与步骤一所预设的充电电流下限值(Id)相比较，若该电流值(I)大于该充电电流下限值(Id)，则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，若该电流值(I)小于该充电电流下限值(Id)，则该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。
上述的方法中，步骤一的充电电参数极限值为待测物的绝缘阻抗上限值；步骤二为测试装置在检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的绝缘阻抗值；步骤三的测试装置是根据步骤二所检测的绝缘阻抗值与步骤一所预设的绝缘阻抗上限值相比较，若在检测时间区间(ΔT)内各绝缘阻抗值比该绝缘阻抗上限值小时，则测试装置可继续测试，若无该绝缘阻抗值小于该绝缘阻抗上限值，则判断该待测物与测试装置不导接，该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。
本发明一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于该检测装置包括一输入装置、一微处理器、一测试电路及一状态显示器；所述的输入装置、状态显示器与微处理器相连接；所述的测试电路由一可编程高压产生器、一模数转换器及一量测电路组成，其中，该可编程高压产生器的输入端与微处理器的输出端相连接，该模数转换器的输入端与该量测电路的输出端相连接，该模数转换器的输出端与微处理器相连接，且该量测电路设有供待测物导接的测试端；测试信息通过状态显示电路显示。
上述的测试装置还进一步包括一提醒测试者待测物与测试电路处于开路状态的警报电路，其与微处理器的输出端连接。
上述的量测电路可为安培计或伏特计。
上述的微处理器可为一中央处理单元或一微控制器。
本发明所提出的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置，其效果就在于利用在设定时间内所检测的充电电流值(或绝缘阻抗值)与预先设定的充电电流值(或绝缘阻抗值)比较的结果，判断出待测物与测试装置所处的状态，可确保检测结果的正确性，同时也可提高通过检测的产品的安全性，从而也保证了测试者的安全。
下面结合附图及具体实施例对本发明再作进一步详细的说明。
图1是一电容性负载待测物在接设一高压电源后的电流--时间关系图；图2是本发明方法的流程图；图3是本发明装置的一实施例图。
一般的负载物均具有大小不等的容抗值，而容抗负载的物理特性是在其输出入端施加一高压电源时，该高压电源将对该负载物充电，而产生一瞬间的充电电流，请参见图1所示，在该高压电源对该负载物完成充电后，则该负载物上根据其材料的特性而维持有一固定大小的漏电流。
本发明即利用上述特性，在对一负载物进行测试前，预先在本发明所运用的测试装置(该测试装置可为直流耐压测试装置或绝缘阻抗测试装置)中设定一充电电流下限值Id及一检测充电电流时间区间ΔT；该充电电流下限值Id是指待测负载物在施加一高压电源的状态下，其所产生的充电电流的最低下限值；该检测充电电流时间区间ΔT则是指该负载物在施加一高压电源测试后，该负载物上产生充电电流的充电作用的某一时间范围，其中，该检测充电电流时间区间ΔT是依不同待测物的材料特性及所施加的高压电源大小而定。
本发明在对待测物进行测试时，其步骤请参见图2所示，先在测试装置中设定该待测物的充电电流下限值Id、检测充电电流时间区间ΔT及漏电流的上限值I1(或绝缘阻抗下限值Ru)，其中该漏电流的上限值I1(或绝缘阻抗下限值Ru)是指符合安全规范的上限(下限)标准值，该测试装置即提供一高压电源至测试装置两测试端，并在该时间区间△T内量测两测试端间的连续电流值I(量测时亦可以间断取样的方式量测两测试端间的电流值I1、I2……In)。
该测试装置并根据所量测的电流值开始判别该等连续电流值I是否有一瞬间电流i大于该充电电流下限值Id。
如果该测试装置在该等连续电流值I中经比较有一瞬间电流i(或电流值I1、I2…或In)大于该充电电流下限值Id，表示该待测物与该测试装置正常导接；因此，该测试装置可继续该待测物漏电流(绝缘阻抗)的检测，判断该待测物的漏电流(绝缘阻抗)是否符合该漏电流的上限值I1(绝缘阻抗下限值Ru)，以正确地完成待测物的各项检测；如果经比较均无瞬间电流i(I1、I2……In)大于该充电电流下限值Id，则该测试装置即停止该待测物的检测，并显示该待测物并未与该测试装置的两测试端正常导接的信息，在其警报器发出警示信号，使测试者及时得知该待测物并未与测试装置正常导接。
参见图3所示，本发明的测试装置设有一微处理器10(该微处理器在实施时，可为一中央处理单元CPU或为一微控制单元MPU)、一状态显示器20、一警报器30(该警报器可为一喇叭)、一输入装置40(该输入装置可为键盘)、一测试电路50(该测试电路在本实施例中是由模／数转换器51、一可编程高压产生器52及一量测电路53所组成，并且该量测电路53可为一安培计或一伏特计)。
当测试装置量测一待测物8时，先将该待测物8接设在该量测电路53的测试端，此时，可藉由输入装置40将充电电流下限值Id、检测充电电流时间区间ΔT及漏电流的上限值I1(绝缘阻抗下限值Ru)输入至该微处理器10；之后，该微处理器10即驱动该可编程高压产生器52提供一高电压至该待测物8，并在通电后的该时间区间ΔT内，驱动该量测电路53量测该两测试端531间的电流I。
该量测电路53再将所量得的电流值I(或瞬间取样所量得的I1、I2……In)的模拟信号传至该模／数转换器51，该模／数转换器51则将该模拟信号转换为数字信号后，再传输至该微处理器10；则该微处理器10即在接收到测试电路50所传至的电流值I(或瞬间取样所量得的I1、I2……In)后，将其与该充电电流下限值Id相比较。
如经比较判断，该等电流值均小于该充电电流下限值Id时，则该微处理器10即在该状态显示器20上显示该待测物8并未与该测试装置的两测试端531正常导接的信息，并在该警报器30发出警示信号，使得测试者及时得知该待测物8并未与测试装置正常导接。
若该微处理器10经比较判断所量测的一瞬间电流值i(I1、I2…或In)大于该充电电流下限值Id，则该测试装置可继续该待测物8漏电流(绝缘阻抗)检测；从而防止了待测物8未与测试装置正常导接时，发生误判为合格的情况。
其中，以上所述的方法或装置亦可就一绝缘阻抗值Rc取代充电电流下限值Id作为该待测物8检测的标准(因对一待测物施加相同的电压下，该待测物的阻抗值是与其电流值成反比)；该等测试装置可在完成绝缘阻抗值Rc、检测色缘阻抗时间区间ΔT及漏电流的上限值I1(绝缘阻抗值下限值Ru)设定后，是供一高压电源至其两测试端531，并在该检测绝缘阻抗时间区间ΔT内量测两测试端531间的连续绝缘阻抗值R(量测时也可以间断取样的方式量测两测式端间的电流值R1、R2…、Rn)。
该测试装置根据所量测的绝缘阻抗值R，判别是否有一瞬间绝缘阻抗r小于该绝缘阻抗值Rc。
如果该测试装置在该等连续绝缘阻抗值R中，经比较有一瞬间绝缘阻抗r(或电阻值R1、R2…或Rn)小于该绝缘阻抗值Rc，则表示待测物8与测试装置正常导接；因此，该测试装置可继续该待测物8漏电流(绝缘阻抗)的检测，判断该待测物8的漏电流(绝缘阻抗)是否符合该漏电流的上限值I1(绝缘阻抗值下限值Ru)，以正确地完成待测物的各项检测。
若经比较均无瞬间绝缘阻抗r(R1、R2…或Rn)小于该绝缘阻抗值Rc，则该测试装置即停止该待测物8的检测，并显示该待测物8并未与该测试装置的两测试端正常导接的信息，并在该警报器30发出警示信号，使得测试者及时得知该待测物8并未与测试装置正常导接。
倘该微处理器10经比较判断所量测的一瞬间电阻值r(R1、R2…或Rn)小于该绝缘阻抗值Rc，则该测试装置可继续该待测物8漏电流(绝缘阻抗)检测；从而防止待测物8未与测试装置正常导接时，发生误判为合格的情况。
以上所述，仅为本发明的最佳实施例，并非用于限定本发明。
权利要求
1.一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其特征在于该方法的步骤是(一)在一测试装置中设定检测时间区间(ΔT)及一待测物的充电电参数极限值，其中该检测时间区间(ΔT)是指在该测试装置提供电压后，检测充电电参数的时间区间，该充电电参数极限值系该待测物对应于所提供的电压，应产生的充电参数的极限值；(二)测试装置在该检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的充电电参数值；(三)测试装置将步骤二所检测的充电电参数值与步骤一预设的该充电电参数极限值相比较，以判断该待测物与该测试装置两测试端是否相导接，若两者相导接，则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，否则，该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。
2.根据权利要求1所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其特征在于所述的步骤一的充电电参数极限值为充电电流下限值(Id)，所述的检测时间区间(ΔT)是指在所述检测装置提供电压后，检测充电电流的时间区间，该充电电流下限值(Id)是指在该检测时间区间(ΔT)内，所述待测物对应于所提供的电压，应产生的充电电流的最低下限值；所述的步骤二为测试装置在该检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的电流值(I)；所述的步骤三的测试装置是根据步骤二所检测的电流值(I)与步骤一所预设的充电电流下限值(Id)相比较，若该电流值(I)大于该充电电流下限值(Id)，则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，若该电流值(I)小于该充电电流下限值(Id)，则该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。
3.根据权利要求1所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其特征在于所述的步骤一的充电电参数极限值为待测物的绝缘阻抗上限值；所述的步骤二为测试装置在检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的绝缘阻抗值；所述的步骤三的测试装置是根据步骤二所检测的绝缘阻抗值与步骤一所预设的绝缘阻抗上限值相比较，若在检测时间区间(ΔT)内各绝缘阻抗值比该绝缘阻抗上限值小时，则测试装置可继续测试，若无该绝缘阻抗值小于该绝缘阻抗上限值，则判断该待测物与测试装置不导接，该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。
4.一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于该检测装置包括一输入装置、一微处理器、一测试电路及一状态显示器；所述的输入装置、状态显示器与微处理器相连接；所述的测试电路由一可编程高压产生器、一模数转换器及一量测电路组成，其中，该可编程高压产生器的输入端与微处理器的输出端相连接，该模数转换器的输入端与该量测电路的输出端相连接，该模数转换器的输出端与微处理器相连接，且该量测电路设有供待测物导接的测试端；测试信息通过状态显示电路显示。
5.根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于所述的测试装置还进一步包括一提醒测试者待测物与测试电路处于开路状态的警报电路，其与微处理器的输出端连接。
6.根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于所述的量测电路可为安培计。
7.根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于所述的量测电路可为伏特计。
8.根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于所述的微处理器可为一中央处理单元。
9.根据权利要求4所述的直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测装置，其特征在于所述的微处理器可为一微控制器。
全文摘要
本发明公开了一种直流耐压测试/绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置。在检测一负载待测物前,先在一测试装置中设定检测时间区间及一待测物的充电电参数极限值,检测该待测物两测试端的充电电参数值,将所检测的充电电参数值与预设的该充电电参数极限值相比较,以判断该待测物与该测试装置两测试端是否相导接,若两者相导接,则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测,否则,该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测,并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。以此防止待测物未与测试装置正常导接时,却误判为合格的情况。
文档编号G01R31/12GK1280301SQ99109739
公开日2001年1月17日 申请日期1999年7月9日 优先权日1999年7月9日
发明者陈品毅 申请人:华仪电子股份有限公司