一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于电子技术领域，具体涉及一种测量极快上升沿极高幅值电压的方法。
【背景技术】
[0002] 强电磁辐射系统中，辐射天线的工作电压越来越高。辐射天线击穿前，其本质上可 以等效为一个几个皮法的高压电容。激励天线的是一个上升沿为纳秒甚至次纳秒，幅值达 到几百千伏甚至几个兆伏的高压脉冲。天线辐射时，其电压幅值就是一个很重要的参数，这 对整个辐射系统的研宄具有重要意义。
[0003] 传统测量高电压脉冲的方法是采用电阻分压器，如水电阻分压器。但是使用这些 设备直接测试天线的辐射电压，就会存在很多问题。其主要问题是：
[0004] ?电阻分压器测试高电压，必须要和测试设备直接接触。而天线周围充有高压气 体，这样由于测试设备的引入，必然对天线的结构，气密，绝缘等设计带来很多难题，并且极 有可能会改变天线电极的寄生参数，导致电压测试不准确。
[0005] ?测试设备的装卸就会比较复杂，增加了工作量。
[0006] ?这种的高压电阻分压器体积都比较大，实际使用中非常不方便。
[0007] 基于这些因素，提出了一种测试天线充电电流，然后进行积分，来间接测试天线电 压的方法。
【发明内容】
[0008] 要解决的技术问题
[0009] 为了避免现有技术中直接测量极快前沿极高幅值电压的不足之处，本发明提出一 种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法。
[0010] 技术方案
[0011] 一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法，其特征在于步骤如下：
[0012] 步骤1 :测量辐射天线的等效电容C;
[0013] 步骤2 :测量开始充电时间到天线辐射时间T2之间的电流i(t);
[0014] 步骤3 :通过公式
【主权项】
1. 一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法，其特征在于步骤如下： 步骤1;测量福射天线的等效电容C; 步骤2;测量开始充电时间Ti到天线福射时间T2之间的电流i (t); 步骤3 ;通过公式V=C/了(t)dt计算得到天线的极快前沿极高幅值的充电电压。
2. 根据权利要求1所述的一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法，其特征在于步 骤1的等效电容是通过LCR仪测量。
3. 根据权利要求1所述的一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法，其特征在于步 骤2的电流是通过罗氏线圈测量，所述的罗氏线圈具备测试纳秒、次纳秒脉冲电流的能力。
【专利摘要】本发明涉及一种极快前沿极高幅值电压的间接测量方法，具体的是一种通过罗氏线圈测量电容的充电电流，通过电流波形对电容进行积分，从而达到测量电容充电电压的方法。由于充电电容极小，大约几个皮发，对电容充电的高压脉冲上升沿前沿为几个纳秒甚至几百皮秒，幅值为几百千伏甚至几个兆伏。
【IPC分类】G01R19-00
【公开号】CN104849529
【申请号】CN201510223662
【发明人】解江远, 何鹏军, 张帆, 金兆鑫, 赵程光, 田川, 王亚杰, 蒋丹, 李奇威, 荆晓鹏, 谢军
【申请人】西安电子工程研究所
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2015年5月5日