一种超声波探伤缺陷定位测量装置及其使用方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及无损探伤技术领域，具体为一种超声波探伤缺陷定位测量装置及其使用方法。
【背景技术】
[0002]超声波检测是对于金属等材料无损探伤检测时一种常用的检测方法，用于检测部件的埋藏缺陷，而在现场发现缺陷后，需要根据相应的方法对埋藏缺陷进行定位，测量缺陷长度，确定缺陷埋藏深度，一般使用记号笔进行标记，但现场进行超声波探伤时为了使得探头与检测部件良好耦合必然使用机油、水等耦合剂均匀涂抹于探伤部件表面，使得现场标记困难。
【发明内容】
[0003](一)要解决的技术问题
[0004]本发明涉及一种超声波探伤缺陷定位测量装置，用于无损探伤，是一种对于现场超声波探伤发现埋藏缺陷时的辅助定位测量缺陷长度的工具。
[0005]( 二)技术方案
[0006]为了解决上述技术问题，本发明提供了一种超声波探伤缺陷定位测量装置，所述超声波探伤缺陷定位测量装置包括:主尺1、左游标尺2、右游标尺3、左锁紧螺丝4、右锁紧螺丝5和磁吸6 ;所述主尺1由具备弯曲至与检测部件表面贴合的弹性材质制成；所述主尺1上端标有刻度；所述主尺1两端底部均设置有所述磁吸6 ;所述主尺1中间设置有中空导轨；所述左游标尺2通过所述左锁紧螺丝4紧固在所述中空导轨上；所述右游标尺3通过所述右锁紧螺丝5紧固在所述中空导轨上；所述左锁紧螺丝4和右锁紧螺丝5均包括与其相配合的锁紧螺母；所述左游标尺2和右游标尺3在所述主尺1中间沿所述中空导轨左右滑动；所述左游标尺2和右游标尺3相对的一端均标有刻度；所述左游标尺2和右游标尺3中间均设置有实现上下滑动的中空导轨。
[0007]优选地，所述主尺1、左游标尺2、右游标尺3、左锁紧螺丝4、右锁紧螺丝5均为不锈钢材质。
[0008]优选地，所述主尺1上端标有以中间为零点，向两侧标识长度的刻度，所述刻度最小单位为mm。
[0009]优选地，所述左游标尺2和右游标尺3长度为5?10cm。
[0010]优选地，所述左游标尺2和右游标尺3相向一侧顶端为对称的锐角；底端均为圆弧。
[0011]为了解决上述技术问题，本发明提供了一种应用所述一种超声波探伤缺陷定位测量装置进行测量的方法，所述方法分为如下步骤:
[0012]调整好使其合并对齐至主尺零点，并向上滑动后拧紧左锁紧螺丝4和右锁紧螺丝5以固定位置；
[0013]当超声波探伤检测到缺陷的最高波反射波时，超声波探头固定不动，用测量尺上左游标尺2和右游标尺3的尖端抵住探头中间部位，两端磁吸6下压吸附固定测量尺于检测部件表面；
[0014]根据超声波探伤仪指示缺陷与探头前端的距离，拧松左锁紧螺丝4，左游标尺2顺右游标尺3下移相应刻度距离后，拧松右锁紧螺丝5，右游标尺3顺左游标尺2下移至其尖端与左游标尺2对齐，其尖端指示缺陷最高反射波位置A点；
[0015]超声波探头向左移动至最高反射波降低6dB处，左游标尺2沿主尺向左水平滑动，左游标尺2尖端指示B处，超声波探头向右移动至最高反射波降低6dB处，右游标尺3沿主尺向右水平滑动，右游标尺3尖端指示C处，拧紧右锁紧螺丝5 ；
[0016]此时B、C点的间距即缺陷的指示长度，由左游标尺2和右游标尺3刻度值之和得出，主尺1的零点指示缺陷最高反射波位置。
[0017](三)有益效果
[0018]本发明提供一种对超声现场检测发现缺陷进行定位测量长度时，能够直观和更为精确的对于缺陷进行定位和测长，并且操纵更为简便。
【附图说明】
[0019]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1是根据本发明一种超声波探伤缺陷定位测量装置一个实施例的装置俯视图示意图；
[0021]图2是根据本发明一种超声波探伤缺陷定位测量装置一个实施例的装置正视图示意图；
[0022]图3是根据本发明一种超声波探伤缺陷定位测量装置一个测量实施例第二步操作示意图；
[0023]图4是根据本发明一种超声波探伤缺陷定位测量装置一个测量实施例第三步操作示意图；
[0024]图5是根据本发明一种超声波探伤缺陷定位测量装置一个测量实施例第四步操作示意图；
[0025]图6是根据本发明一种超声波探伤缺陷定位测量装置一个测量实施例第五步操作示意图。
【具体实施方式】
[0026]下面结合说明书附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例仅用于说明本发明，但不能用来限制本发明的范围。
[0027]图1与图2所示，本发明一种超声波探伤缺陷定位测量装置，所述超声波探伤缺陷定位测量装置包括:主尺1、左游标尺2、右游标尺3、左锁紧螺丝4、右锁紧螺丝5和磁吸6 ;所述主尺1由具备弯曲至与检测部件表面贴合的弹性材质制成；所述主尺1上端标有刻度；所述主尺1两端底部均设置有所述磁吸6 ;所述主尺1中间设置有中空导轨；所述左游标尺2通过所述左锁紧螺丝4紧固在所述中空导轨上；所述右游标尺3通过所述右锁紧螺丝5紧固在所述中空导轨上；所述左锁紧螺丝4和右锁紧螺丝5均包括与其相配合的锁紧螺母；所述左游标尺2和右游标尺3在所述主尺1中间沿所述中空导轨左右滑动；所述左游标尺2和右游标尺3相对的一端均标有刻度；所述左游标尺2和右游标尺3中间均设置有实现上下滑动的中空导轨。
[0028]应用本发明所述一种超声波探伤缺陷定位测量装置进行测量的方法:
[0029]图2所示:调整好使其合并对齐至主尺零点，并向上滑动后拧紧左锁紧螺丝4和右锁紧螺丝5以固定位置；
[0030]图3所示:当超声波探伤检测到缺陷的最高波反射波时，超声波探头固定不动，用测量尺上左游标尺2和右游标尺3的尖端抵住探头中间部位，两端磁吸6下压吸附固定测量尺于检测部件表面；
[0031]图4所示:根据超声波探伤仪指示缺陷与探头前端的距离，拧松左锁紧螺丝4，左游标尺2顺右游标尺3下移相应刻度距离后，拧松右锁紧螺丝5，右游标尺3顺左游标尺2下移至其尖端与左游标尺2对齐，其尖端指示缺陷最高反射波位置A点；
[0032]图5所示:超声波探头向左移动至最高反射波降低6dB处，左游标尺2沿主尺向左水平滑动，左游标尺2尖端指示B处，超声波探头向右移动至最高反射波降低6dB处，右游标尺3沿主尺向右水平滑动，右游标尺3尖端指示C处，拧紧右锁紧螺丝5 ；
[0033]图6所示:此时B、C点的间距即缺陷的指示长度，由左游标尺2和右游标尺3刻度值之和得出，主尺1的零点指示缺陷最高反射波位置。
[0034]以上实施方式仅用于说明本发明，而非对本发明的限制。尽管参照实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，对本发明的技术方案进行各种组合、修改或者等同替换，都不脱离本发明技术方案的精神和范围，均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
【主权项】
1.一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述超声波探伤缺陷定位测量装置包括:主尺(1)、左游标尺(2)、右游标尺(3)、左锁紧螺丝(4)、右锁紧螺丝(5)和磁吸(6);所述主尺⑴由具备弯曲至与检测部件表面贴合的弹性材质制成；所述主尺⑴上端标有刻度；所述主尺(1)两端底部均设置有所述磁吸出)；所述主尺(1)中间设置有中空导轨；所述左游标尺(2)通过所述左锁紧螺丝(4)紧固在所述中空导轨上；所述右游标尺(3)通过所述右锁紧螺丝(5)紧固在所述中空导轨上；所述左锁紧螺丝(4)和右锁紧螺丝(5)均包括与其相配合的锁紧螺母；所述左游标尺(2)和右游标尺(3)在所述主尺(1)中间沿所述中空导轨左右滑动；所述左游标尺(2)和右游标尺(3)相对的一端均标有刻度；所述左游标尺(2)和右游标尺(3)中间均设置有实现上下滑动的中空导轨。2.根据权利要求1所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述主尺(1)、左游标尺(2)、右游标尺(3)、左锁紧螺丝(4)、右锁紧螺丝(5)均为不锈钢材质。3.根据权利要求2所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述主尺(1)上端标有以中间为零点，向两侧标识长度的刻度，所述刻度最小单位为_。4.根据权利要求3所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述左游标尺⑵和右游标尺⑶长度为5?10cm。5.根据权利要求4所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述左游标尺(2)和右游标尺(3)相向一侧顶端为对称的锐角；底端均为圆弧。6.一种应用权利要求1?5项任一项所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置进行测量的方法，所述方法分为如下步骤: 调整好使其合并对齐至主尺零点，并向上滑动后拧紧左锁紧螺丝(4)和右锁紧螺丝(5)以固定位置； 当超声波探伤检测到缺陷的最高波反射波时，超声波探头固定不动，用测量尺上左游标尺(2)和右游标尺(3)的尖端抵住探头中间部位，两端磁吸(6)下压吸附固定测量尺于检测部件表面； 根据超声波探伤仪指示缺陷与探头前端的距离，拧松左锁紧螺丝(4)，左游标尺(2)顺右游标尺(3)下移相应刻度距离后，拧松右锁紧螺丝(5)，右游标尺(3)顺左游标尺(2)下移至其尖端与左游标尺(2)对齐，其尖端指示缺陷最高反射波位置A点； 超声波探头向左移动至最高反射波降低6dB处，左游标尺(2)沿主尺向左水平滑动，左游标尺(2)尖端指示B处，超声波探头向右移动至最高反射波降低6dB处，右游标尺(3)沿主尺向右水平滑动，右游标尺(3)尖端指示C处，拧紧右锁紧螺丝(5)； 此时B、C点的间距即缺陷的指示长度，由左游标尺(2)和右游标尺(3)刻度值之和得出，主尺(1)的零点指示缺陷最高反射波位置。
【专利摘要】本发明涉及无损探伤技术领域，具体为一种超声波探伤缺陷定位测量装置及其使用方法。本发明用于现场超声波无损探伤并发现埋藏缺陷时的辅助定位测量缺陷的长度，应用本发明所述装置进行定位测量长度时，能够直观和更为精确的对于缺陷进行定位和测长，并且操纵更为简便。
【IPC分类】G01N29/04
【公开号】CN105277613
【申请号】CN201410246817
【发明人】王兴义, 程巍, 常鑫, 刘国盛
【申请人】国网山西省电力公司电力科学研究院
【公开日】2016年1月27日
【申请日】2014年6月5日