一种柔性阵列器件的测量接线结构的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及多通道扫描电学性能测量系统的接线转接测量结构。具体是指一种柔性阵列器件的测量接线结构。在对阵列式柔性器件的逐点扫描测量过程中，实现从杜邦接口到标准FFC接口的转接功能，同时适应器件使用过程中的变形和移动的柔性要求。
【背景技术】
[0002]多通道阵列器件扫描电学性能测量系统(D01:10.1126/science.1234855)是为适应新型阵列器件的电学性能测试而开发的一种测试装置。其特点是可按照用户的需求实现对器件进行逐点扫描，包括电流、电压、电阻、电容等特性的扫描测试。但该类测试系统一般配备的是刚性的接线接口，仅适用于与应变无关或仅有离面变形的情况，而且不便于距离测试系统较远的现场测试。对于需变形的柔性器件，尤其是包括面内变形、离面变形等复杂变形情况，该测试系统的接线结构难以与之匹配。
[0003]目前柔性器件在变形过程中的测试问题的接线解决方案主要是通过柔性的杜邦排线连接探针卡，再通过探针卡连接柔性器件的电极。该方案对于器件变形较小或者仅有离面变形的情况时是适用的，但不能用于变形要求较高的情况。当变形量较高时，刚性探针卡的针尖会与器件表面发生相对滑动，一方面对测量信号造成干扰，另外一方面还会破坏器件表面的电极。
[0004]柔性接线的FFC接口结构已经在许多电工电子器件及产品中被广泛使用，它将排线的柔性和接线的紧凑性特点综合到一起，是解决阵列器件接线的理想方案。但目前该类排线仅仅起到电学连接的作用，没有接线接口的转换功能。
【发明内容】
[0005]本发明的目的是针对上述现有技术的不足以及柔性器件的测量需求，提出一种新型的柔性阵列器件的测量接线结构，以适合复杂变形柔性器件的阵列式扫描测量；
[0006]本发明提供的柔性阵列器件的测量接线结构包括柔性排线和转接板两部分；
[0007]所述柔性排线为以聚酰亚胺为衬底材料的金属薄膜导线结构，包括平行排列的金属导线构成的排线和排线末端的FFC接口 ；
[0008]所述柔性排线的长度一般在30cm至200cm之间；
[0009]所述平行排列的金属导线构成的排线为40路至128路的平行导线；
[0010]所述FFC接口，柔性排线的一端为FFC公头，另一端为FFC母头；公头与母头均为40针的标准接口 ；公头与母头的数量视柔性排线的金属导线构成的排线数量而定，如平行导线数量为128针，则需要分配4个公头和4个母头；
[0011]所述柔性排线的FFC接口位置背面黏贴有高分子补强板；
[0012]所述转接板为刚性的印刷电路板，平面尺寸一般在lOcmX 15cm左右；
[0013]所述转接板上布置有杜邦线接头的公头接线阵列，公头接线阵列为40针一组，具体组数依据金属导线构成的排线的数量而定；
[0014]所述转接板上布置有40针的FFC接头的母头，具体母头数量依据金属导线构成的排线的数量而定；
[0015]所述转接板的杜邦线接头的公头接线阵列与FFC接头的母头--对应，通过印刷电路连接，实现从FFC到杜邦线的转换；
[0016]所述转接板的杜邦线接头通过双母头的柔性杜邦线与多通道扫描测量系统杜邦线公头相连接，实现器件与转接板的电学连接。
【附图说明】
[0017]图1、柔性排线示意图；
[0018]图2、转接板示意图；
[0019]图3、柔性阵列器件测试接线示意图。
[0020]图中:
[0021]1.柔性排线；2.转接板；201.公头接线阵列；202.印刷电路接线；
[0022]101.金属薄膜导线；102.衬底；103.FFC公头；104.FFC母头；
[0023]105.补强板。
【具体实施方式】
[0024]下面结合附图和实施例比发明作进一步详细描述。
[0025]本发明提供一种柔性阵列器件的测量接线结构，包括柔性排线1和转接板2两部分。如图1所示，所述柔性排线1以聚酰亚胺为衬底102，衬底102上布置有一系列的平行金属薄膜导线101。柔性排线为40路至128路的平行金属薄膜导线101，柔性排线1末端具有FFC接口，一端为FFC公头103，另一端为FFC母头104，FFC公头103与FFC母头104均为40针的标准接口 ；FFC公头103与FFC母头104的数量视柔性排线1的金属薄膜导线101的数量而定，确定方法为FFC公头或母头的针数大于等于排线中的导线数量。如果平行金属薄膜导线101的数量为128针，则需要分配4个FFC公头103和4个FFC母头104。在所述柔性排线的衬底102背面对应FFC接口位置黏贴有高分子补强板105，作用是保证排线与FFC插座反复插接过程中的接口强度，减少插接接触不良的问题。
[0026]所述柔性排线1的长度一般在30cm至200cm之间；
[0027]所述转接板2为刚性的印刷电路板(PCB板)，如图2所示，转接板2的平面尺寸一般在lOcmX 15cm左右。所述转接板2上布置有杜邦线接头的公头接线阵列201，公头接线阵列201为40针一组，具体组数依据金属薄膜导线101构成的柔性排线1的数量而定，原则是保证公头总的针数不低于排线中的导线数量。
[0028]所述转接板2上布置有40针标准接口的FFC接头的FFC母头104，具体FFC母头104的数量依据金属薄膜导线101构成的柔性排线1的数量而定；
[0029]所述转接板2的杜邦线接头的公头接线阵列201与转接板2的FFC母头一一对应，通过印刷电路接线202(即印刷金属导线)连接，实现从FFC接口到杜邦线接头的转换。
[0030]所述转接板2的杜邦线接头(公头)通过双母头的柔性杜邦线与多通道扫描测量系统杜邦线公头相连接，实现器件与转接板的电学连接。
[0031]如图3为柔性阵列器件测试接线示意图，柔性阵列器件采用的是正交式的电极布置，通过地址线(列扫描)和数据线(行扫描)控制接入测试仪表的器件单元实现测试。通过行扫描和列扫描的方式完成对所有器件单元的逐一访问和测试。具体接线方式为:将待测柔性阵列器件的行和列的FFC公头接口分别插接于两个柔性排线的FFC母头104接口上，再将柔性排线另一端的FFC公头103插接于转接板的FFC母头接口上，然后将转接板通过杜邦线接口与多通道阵列器件扫描电学性能测量系统的接线盒上的杜邦线公头逐一相连接，具体线序可通过杜邦线的接线线序来调整。
[0032]测试过程中，柔性阵列器件的任意变形可由柔性排线的变形来适应，从而保证了接线的电学可靠性。另外，采用FFC式的接口形式，可以实现在狭小空间内的高密度电极接线，从而满足了阵列器件的高密度器件单元集成的需求。
【主权项】
1.一种柔性阵列器件的测量接线结构，其特征在于:包括柔性排线和转接板两部分； 所述柔性排线为以聚酰亚胺为衬底材料的金属薄膜导线结构，包括平行排列的金属导线构成的排线和排线末端的FFC接口 ； 所述FFC接口，柔性排线的一端为FFC公头，另一端为FFC母头；FFC公头与FFC母头均为40针的标准接口 ； 所述转接板为刚性的印刷电路板；所述转接板上布置有杜邦线接头的公头接线阵列，公头接线阵列为40针一组；所述转接板上布置有40针的FFC接头的母头； 所述转接板的杜邦线接头的公头接线阵列与FFC接头的母头--对应，通过印刷电路连接，实现从FFC到杜邦线的转换。2.根据权利要求1所述的一种柔性阵列器件的测量接线结构，其特征在于:所述柔性排线的长度在30cm至200cm之间；所述平行排列的金属导线构成的排线为40路至128路的平行导线。3.根据权利要求1所述的一种柔性阵列器件的测量接线结构，其特征在于:所述柔性排线的FFC接口位置背面黏贴有高分子补强板。4.根据权利要求1所述的一种柔性阵列器件的测量接线结构，其特征在于:所述转接板的平面尺寸1cmX 15cm。5.根据权利要求1所述的一种柔性阵列器件的测量接线结构，其特征在于:所述转接板的杜邦线接头通过双母头的柔性杜邦线与多通道扫描测量系统杜邦线公头相连接，实现器件与转接板的电学连接。
【专利摘要】本发明公开了一种柔性阵列器件的测量接线结构，该结构包括柔性排线和转接板；所述柔性排线为以聚酰亚胺为衬底材料的金属薄膜导线结构，包括平行排列的金属导线构成的排线和排线末端的FFC接口；所述转接板为刚性的印刷电路板；所述转接板上布置有杜邦线接头的公头接线阵列和FFC接头的母头，通过印刷电路连接，实现从FFC到杜邦线的转换。该结构配合阵列器件的多通道扫描测试系统使用，可实现杜邦接口至双FFC接口的柔性转接与线序分配。该接线结构适合对柔性阵列式器件扫描测量，具有适应大变形、可移动的特点，为现场测量提供了一种可行的解决方案。
【IPC分类】G01R1/04
【公开号】CN105334356
【申请号】CN201510810262
【发明人】宋明, 徐彤
【申请人】中国特种设备检测研究院
【公开日】2016年2月17日
【申请日】2015年11月20日