一种荧光检漏法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种检漏法，具体为一种荧光检漏法，属于检测方法应用技术领域。
【背景技术】
[0002]随着科技的发展，单分子荧光检漏法在分析化学、生命科学等领域受到极大重视，但期间发展较慢，随着荧光检测技术的发展，此后单分子检测由低温条件下发展到可在室温下进行，趋于温和，并且陆续实现液流、微滴和溶液中的单分子荧光检测，这种实时测量使单分子荧光记录不仅反映出特定分子在探测区的停留时间，而且包含特征性间歇信息，这种单分子光谱法可用于高通量筛查疾病标记物的单分子及监控单一分子的相互作用，荧光素漏出试验是通过检测暴露于受试物后渗透过的荧光素量来评价受试物的气密性，针对当前电子产品的防水性能测试具有极其重要的作用，而目前电子产品的防水性能检测方法存在很多不足之处，如传统的电子产品检漏方法通常是使用红墨水试验进行检测的，检测后烘干并拆解测试样品寻找泄漏点，这种做法还是很难能够准确的找到漏点，并且这种方法造成样品必须拆开寻找，需要花费大量的时间进行检漏，工作效率低，因此，针对上述问题提出一种荧光检漏法。
【发明内容】
[0003]本发明的目的就在于为了解决上述问题而提供一种荧光检漏法。
[0004]本发明通过以下技术方案来实现上述目的，一种荧光检漏法，通过以下步骤完成检漏过程:
[0005]a、备胶，将注射针管内部灌入荧光胶，备好待用；
[0006]b、开孔，在待测样品合适位置开孔；
[0007]C、注胶，在b中找到开孔的位置上使用注射针管从开孔位置且在一定压力下把注射针管内部的染色剂从样品内部挤压出来；
[0008]d、记录，使用相机或者摄像头记录c中样品泄漏位置；
[0009]e、找漏，通过微切片观察d找到的样品泄漏位置，找到电子产品组装过程的间隙，从而实现电子产品的检漏过程。
[0010]优选的，所述背胶中注射针管内部无其他杂物，并且注射针管内部的荧光胶量大于样品内部的容积。
[0011 ]优选的，所述开孔的孔洞直径和注射针管直径相等。
[0012]优选的，所述相机或者摄像头要检测样品的每个方位。
[0013]优选的，所述找漏过程中的微切机观察的位置要取样合理，经过多次取样进行观察。
[0014]本发明的有益效果是:该种荧光测漏法可以准确的找到漏点位置，发现为产品组装的过程改善提供了重要的依据，并且检漏过程快速，检测结构准确，操作简单，工作效率高，为电子产品的防水性能方面的发展具有极其重要的作用，适合推广使用。
【具体实施方式】
[0015]下面将结合本发明实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0016]实施例，一种荧光检漏法，通过以下步骤完成检漏过程:
[0017]步骤一:将注射针管内部灌入荧光胶，备好待用；
[0018]步骤二:在样品合适位置开孔；
[0019]步骤三:在步骤二找到开孔的位置上使用注射针管从开孔位置且在一定压力下把注射针管内部的染色剂从样品内部挤压出来；
[0020]步骤四:使用相机或者摄像头记录步骤三中样品泄漏位置；
[0021]步骤五:通过微切片观察步骤四找到的样品泄漏位置，找到电子产品组装过程的间隙，从而实现电子产品的检漏过程。
[0022]作为本发明的一种优化技术方案，所述步骤一中注射针管内部无其他杂物，并且注射针管内部的荧光胶量大于步骤二中样品内部的容积。
[0023]作为本发明的一种优化技术方案，所述开孔的孔洞直径和注射针管直径相等。
[0024]作为本发明的一种优化技术方案，所述相机或者摄像头要检测样品的每个方位。
[0025]作为本发明的一种优化技术方案，所述找漏过程中的微切机观察的位置要取样合理，经过多次取样进行观察。
[0026]本发明利用荧光胶的特点和切片的手段，找出漏点的具体位置和组装过程的间隙，可以准确的找到漏点位置，发现为产品组装的过程改善提供了重要的依据，在样品合适位置开孔，使用注射针管从开孔位置，在一定压力下把染色剂从样品内部挤压出来，使用相机或者摄像头记录泄漏位置，使整个检漏过程快速，检测结构准确，操作简单，工作效率高，为电子产品的防水性能方面的发展具有极其重要的作用。
[0027]对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何标记视为限制所涉及的权利要求。
[0028]此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
【主权项】
1.一种荧光检漏法，其特征在于，该方法包括如下步骤: a、备胶，将注射针管内部灌入荧光胶，备好待用； b、开孔，在待测样品合适位置开孔； C、注胶，在b中找到开孔的位置上使用注射针管从开孔位置且在一定压力下把注射针管内部的染色剂从样品内部挤压出来； d、记录，使用相机或者摄像头记录c中样品泄漏位置； e、找漏，通过微切片观察d找到的样品泄漏位置，找到电子产品组装过程的间隙，从而实现电子产品的检漏过程。2.根据权利要求1所述的一种荧光检漏法，其特征在于:所述背胶中注射针管内部无其他杂物，并且注射针管内部的荧光胶量大于样品内部的容积。3.根据权利要求1或2所述的一种荧光检漏法，其特征在于:所述开孔的孔洞直径和注射针管直径相等。4.根据权利要求3所述的一种荧光检漏法，其特征在于:所述相机或者摄像头要检测样品的每个方位。5.根据权利要求1或4所述的一种荧光检漏法，其特征在于:所述找漏过程中的微切机观察的位置要取样合理，经过多次取样进行观察。
【专利摘要】本发明公开了一种荧光检漏法，通过以下步骤来完成检测：首先，将注射针管内部灌入荧光胶，备好待用；找出检漏样品合适位置开孔；在找到开孔的位置上使用注射针管从开孔位置且在一定压力下把注射针管内部的染色剂从样品内部挤压出来；使用相机或者摄像头记录样品泄漏位置；通过微切片观察找到的样品泄漏位置，找到电子产品组装过程的间隙，从而实现电子产品的检漏过程。本发明的有益效果是：该种荧光测漏法可以准确的找到漏点位置，发现为产品组装的过程改善提供了重要的依据，并且检漏过程快速，检测结构准确，操作简单，工作效率高，为电子产品的防水性能方面的发展具有极其重要的作用。
【IPC分类】G01M3/20
【公开号】CN105675223
【申请号】CN201610032692
【发明人】邬博义, 刘燕利, 莫益明
【申请人】伟创力制造（珠海）有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年1月18日