用于检测物质的方法和装置的制造方法

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用于检测物质的方法和装置的制造方法
【专利摘要】一种用于检测物质的装置,包括:块馈送器件(3;3’),被配置用于将多个物体(2;2’)馈送到检测区域(D);至少一个光源(8;10,20;40),具有聚焦元件并且被配置用于照射在检测区域(D)的物面(P?P)中移动的至少一个物体(2;2’);以及第一光分析装置(4),被设置为感测已经穿透物体的光。在相关联的方法中,使物体在平面内移动并且利用入射光照射物体。检测已经穿透物体并且落入测量平面(T)内的光,并且基于检测的透射光来确定物体特定参数。
【专利说明】
用于检测物质的方法和装置
技术领域
[0001]本发明涉及用于非破坏性评估的系统和方法。更具体地,本发明涉及用于检测物质并且用于确定物体的一个或多个参数的光学系统、装置和方法。本发明特别有利于确定一个或多个半透明物体的特性。
【背景技术】
[0002]存在用于确定收获的水果和蔬菜的质量的各种技术。在农业产业中,感兴趣的是基于内部参数(诸如含糖量、酸度、成熟度、腐烂度和损坏度)以及外部特征(诸如大小、形状和颜色)将产品分级,并且根据这些参数和特征来执行某些分选操作。
[0003]熟知的是使用近红外(NIR)光谱和可见光(VIS)光谱用于确定收获的水果和蔬菜的各种特性。NIR辐射通常被定义为在780nm和2500nm之间的电磁频谱的范围,而在400nm和780nm之间的光谱称为VIS辐射。在NIR或VIS光谱中,照射经受分析的物体,并且测量反射辐射或透射辐射。分析反射光的变化以确定物体的表面的各种特性。透射光(即穿透物体的辐射)经受影响它的波长的散射和/或吸收。这些改变取决于物体以及其化学成分的光散射特性。
[0004]现有技术的状况包括JP2010 210355A,其描述了用于执行目标成分的浓度的非破坏性测量的方法和装置。在该方法中,用波长在400nm至2500nm范围内的光辐射待测量的食品项目(诸如蔬菜、水果、肉)。通过检测透射光和/或反射光获得吸收光谱,并且通过使用从所有测量波长或特定波长的吸收的刻度曲线来确定测量物体的目标成分的浓度。
[0005]现有技术的状况还包括CN2733343Y,其描述了用于农产品(诸如水果和蔬菜)的内部非破坏性整体分析设备,其包括光源系统、过滤器和成像系统。该设备可以以不同的角度照射不同的农产品,并且经由透镜成像功能,透过样品的光可以尽可能多地进入分光计(光源是多色的)或检测器(光源是单色的),以利用可见光-近红外光谱分析农产品的质量。
[0006]在已知的系统和方法中,物体是一个接一个地被照射和分析,其要求每个物体被手动地放置于检测器内、或者放置在具有用于每个物体的指定插口的传送带上。因此,希望在以上提及的设备中增加物体的通过量(throughout,吞吐量)。

【发明内容】

[0007]本发明在主权利要求中阐述和表征,而从属权利要求描述本发明的其他特征。
[0008]因此,提供了用于检测物质的装置,其特征在于:
[0009]-块馈送器件,被配置用于将多个物体馈送到检测区域;
[0010]-至少一个光源,具有聚焦元件并且被配置用于照射在检测区域的物面(objectplane)中移动的至少一个物体;以及
[0011]-第一光分析装置,被设置为感测已经穿透物体的光。
[0012]根据一个实例,提供了用于检测物质的装置,其特征在于:
[0013]-块馈送器件,被配置用于将多个物体馈送到检测区域;
[0014]-至少一个光源,分别具有聚焦元件并且被配置为在各自的第一方向发送光,以照射在检测区域的物面中移动的至少一个物体;以及
[0015]-第一光分析装置,被设置为感测已经穿透物体的光,并且识别已经从所述至少一个光源接收的光的量,
[0016]其中,所述第一光分析装置被设置为感测具有在所述第一光分析装置的视野(field-of-view)内的方向的光,并且
[0017]其中,所述各自的第一方向不同于在所述第一光分析装置的视野内的方向。
[0018]换言之,当在检测区域内没有物体时,由所述至少一个光源发射或发送的光通常将不会被所述第一光分析装置感测到。又换言之,当在检测区域内没有物体时,由所述至少一个光源发射或发送的光将被发送到所述第一光分析装置的视野之外。更详细地,当在检测区域内没有物体存在时,由于例如在环境空气或表面上的散射,通常没有或者不超过从所述至少一个光源发送的光的一小部分将被所述第一光分析装置感测到。根据一个实例,当在检测区域内没有物体存在时,从至少一个光源发送的光的至多10%或至多5%或至多
I%或至多0.5%或至多0.1%或至多0.05%被所述第一光分析装置识别。
[0019]根据一个实例,当检测区域内存在物体并且由所述至少一个光源辐射物体时,来自所述至少一个光源的光在其到达光分析装置的传感器之前,被所述物体漫透射或折射。更详细地,来自所述至少一个光源的到达所述第一光分析装置的该光的大于75%或大于90%,在其到达光分析装置的传感器之前,已被所述物体漫透射或折射。
[0020]如上所述,所述第一光分析装置被设置为识别已经从所述至少一个光源接收的光;换言之,所述第一光分析装置被设置为区分环境光与从至少一个光源接收的光。又换言之,从所述第一光分析装置接收到的光量明显高于在至少一个光源未关闭时存在的噪声水平。
[0021]根据一个实例,光源和聚焦元件具有在第一方向定向的合成光轴。所述第一方向在所述第一光分析装置的视野之外,换言之,沿所述第一光轴发射的未折射光在所述第一光分析装置的视野之外,并且不会被所述第一光分析装置感测到。
[0022]在一个实施方式中,至少一个光源被设置为朝向在物面中移动的多个物体发送入射光;并且其中第一光分析装置被设置为使得用于透射光和入射光的测量平面不是同一平面。
[0023]在一个实施方式中,块馈送器件被配置用于以随机方式将物体馈送到检测区域。
[0024]在一个实施方式中,至少一个光源被设置在截断的椭圆形状的反射器的第一焦点处,并且反射器被设置为使得截断的椭圆形状的反射器的第二焦点与物面重合。
[0025]换言之,从至少一个光源发射的光将首先被会聚到焦点,此后它将发散。光分析装置被有利地设置为使得发散光不会到达其传感器。
[0026]至少一个光源可以包括一个或多个发光二极管(LED),并且可以进一步包括能够使光聚焦在物面中的至少一个透镜。
[0027]在一个实施方式中,光源和第一光分析装置被设置在物面的相对侧上。在一个实施方式中,第一光源与第二光源关于中心轴对称设置。
[0028]在一个实施方式中,第二光分析装置相对于第一光分析装置被设置在物面的相对侧上,并且被配置为接收从各自的第一光源和第二光源发送的光产生的从物体反射的光。
[0029]在一个实施方式中,至少第三光源被设置在物面的与第一光分析装置的同一侧上,并且被配置为利用反射到第一光分析装置的光来照射物体。
[0030]光分析装置可包括光谱系统或超光谱照相机系统。
[0031]在一个实施方式中,至少一个光源是被设置为发送脉冲光至检测区域内的脉冲光源。光控制器件可以被设置和配置为可控地发送脉冲光至检测区域内。
[0032]块馈送器件可以包括可选地结合滑槽的振动馈送器或传送带,从而使物体落入检测区域。块馈送器件还包括延伸到检测区域内的半透明传送带,并且被设置为至少部分地支持在检测区域中的物体。
[0033]在一个实施方式中,传送带包括丝网传送带(wire mesh conveyor belt)或由中间间隙隔开的两个传送带。
[0034]还提供了用于分选物体的系统,其中,所发明的装置与排出设备(expuls1ndevice)相结合,该排出设备被配置为基于由第一光分析装置接收到的光的特性可控地和选择性地从系统中排出物体。
[0035]还提供了确定至少一个物体的参数的方法,包括如下步骤:
[0036]i)使物体在检测区域的平面内移动;
[0037]? )利用入射光照射物体;
[0038]iii)检测已经穿透物体并且下落在测量平面内的光;以及
[0039]iv)基于检测到的下落在测量平面内的透射光确定物体特定参数。
[0040]此外,还提供了确定至少一个物体的参数的方法,包括如下步骤:
[0041 ] i)使物体在检测区域(D)的平面(P-P)内移动;
[0042]? )利用具有第一方向的入射光照射物体,该入射光从至少一个光源发射;
[0043]iii)检测并识别源于所述至少一个光源并且穿透物体的光,所述光具有不同于所述第一方向的第二方向;以及
[0044]iv)基于检测到的透射光确定物体特定参数。
[0045]在一个实施方式中,用于透射光和入射光的测量平面不是同一平面。在步骤i)中的运动包括自由落体或可以由传送带实现。
[0046]在本发明方法的一个实施方式中,照射步骤包括:朝向检测区域发送脉冲光;并且检测步骤额外包括在没有朝向检测区域发送光的时间间隔期间检测环境光。
[0047]物体特定参数可以包括在列表上的一个或多个参数,该列表包括:含糖量、酸度、成熟度、腐烂度、机械损伤度、存在异物、存在骨头。
[0048]在一个实施方式中,物体是基于在步骤iv)中确定的物体特定参数来分选的。
[0049]本发明并不限于近红外(NIR)光谱学或可见光(VIS)光谱学,而是可以一般利用任何光谱学方法,还包括但不必限于紫外线(UV)光谱学和中间红外(MIR)光谱学。
[0050]另外,以上相对于装置所描述的内容通常也可以应用于方法。
【附图说明】
[0051]参照所附的示意图,从下面作为非限制性实例给出的实施方式的优选形式的描述中,本发明的这些和其他特征将变得清晰,其中:
[0052]图1a和图1b分别是根据本发明的系统的第一实施方式的侧视图和顶视图;
[0053]图2是根据本发明的系统的第二实施方式的侧视图;
[0054]图3是根据本发明的系统的第三实施方式的侧视图;
[0055]图4是根据本发明的系统的第四实施方式的侧视图;
[0056]图5是根据本发明的系统的第五实施方式的侧视图;
[0057]图6是不出本发明的另一种变型的侧视图;以及
[0058]图7显示了来自灯壳体的光被脉冲化的设置。
【具体实施方式】
[0059]下面的描述将使用诸如“水平”、“垂直”、“横向”、“前和后”、“上和下”、“上部”、“下部”、“内部”、“外部”、“向前”、“向后”等的术语。这些术语通常是指如附图所示的以及与本发明的正常使用相关联的视图和方位。这些术语仅用于方便读者并且不应是限制性的。
[0060]图1a和图1b是根据本发明的系统的示意图。照明系统8朝向光谱系统4发生光L。传送带3在由箭头M表示的方向上馈送多个物体2(例如收获的水果或蔬菜),使得物体2随后掉落(通常以抛物线轨迹)并且向下经过在照明系统和光谱系统之间限定的照明区域。参考字母S表示扫描线,参考字母P-P表示物面,以及参考字母SR表示扫描范围。因此当物体2下落在检测区域D内的物面中时,从后面照射物体2并且由光谱系统4检测和分析透射光。
[0061]照明系统可以包括一个或多个光源以及能够将光聚焦在物面P-P内的辅助设备(例如反射器、透镜)。因此,合适的光源可以包括与合适的透镜或其它聚焦元件结合的超连续激光器、宽带光源(诸如卤素灯泡)或一个或多个发光二极管(LED)。这种聚焦元件的一个实例在EP O 772 498B1中公开,其描述了具有透镜的光学检查系统,该透镜用于将来自源单元(诸如LED)的光指向穿过检查区域的产品。光源可以是例如单宽带LED,或者分别具有不同的光谱带宽的多个LED的阵列。
[0062]在示出的实施方式中,光谱系统4包括旋转镜(rotating mirror)6和传感器7。该设置为在扫描线S上的每一个点产生单一光谱。应理解,传感器可以包括例如分光计或超光谱照相机系统。光谱系统还可以利用在本领域内已知的具有例如雪崩光电二极管(APD)或光电倍增管(PMT)的非常灵敏的分光计系统。
[0063]图2是根据本发明的系统的第二实施方式的示意图。参考标号3表示块馈送装置,诸如传送带或振动供给器和滑槽(chute);其功能是馈送多个物体,使得它们落入检测区域D。为了图示的清晰,在图2中仅示出一个物体。然而应理解,类似于在图la、图1b中所示的情形,几个物体可以同时落入检测区域D。图2示出了物体2(例如水果或蔬菜)已经从馈送设备3掉落并且落入检测区域D中的情形,如箭头G所表示。
[0064]光源10被设置为朝向落入物面P-P中的物体2发送入射光束I1。线T表示落入测量平面内(沿平面观察)的透射光,即由光谱系统4检测到的透射光T。换言之,入射光束I1的一部分穿透物体并且随后由光谱系统4检测/识别,该部分称为透射及检测光。如在图2中能够看出,入射光Ii的方向不同于透射及检测光TD1的方向。更详细地,入射光的方向可以等于入射光的中心轴的方向;并且透射及检测光的方向可以等于透射及检测光的中心轴。
[0065]当在检测区域内不存在物体时,由光源10发射或发送的光将不会被光谱系统4感测到,因为由光源10发射的光将被发送到所述光谱系统4的视野之外。更详细地,当在检测区域内不存在物体时,由于例如环境空气散射,通常没有或不大于从光源发送的光的一小部分将被光谱系统4测到。根据一个实例,当在检测区域内不存在物体时,从光源10发送的光的至多10%或至多5%或至多I %或至多0.5%或至多0.1%或至多0.05%,将被光谱系统4识别。
[0066]当物体存在于检测区域内并且由所述光源10照射时,来自光源的光在其到达光谱系统4的传感器之前被所述物体漫透射或折射。更详细地,来自光源到达光谱系统4的传感器的该光的大于75%或大于90%在其到达光分析装置的传感器之前已经被所述物体漫透射或折射。
[0067]根据一个实例,光源10和聚焦元件12具有在第一方向上定向的合成光轴(OA)。所述第一方向在所述光谱系统4的视野之外,换言之,沿所述第一光轴发射的未折射光在所述光谱系统4的场之外,并且不会被光谱系统4感测到。
[0068]在光谱系统中,分析透射及检测光以便确定物体的内部特性。如果这些内部特性在预定的容差之外(例如如果物体具有腐烂或损坏的内部区域),则发送命令信号(控制线路未示出)到喷射设备9(其设置在检测区域D的下游),喷射设备9从系统中移除物体。可选的喷射设备9可以是任何已知的机械喷射设备或移除设备,诸如襟翼(flap)、机械手指、空气喷嘴等。
[0069]光源10和光谱系统4被设置为使得入射光I1和测量平面T不对准。相对于光谱系统4在物体2的另一侧上的区域DB是空的或者包含可选的暗参考元件(dark referenceelement)61。这种参考元件可以确保如果在检测区域中没有物体时,光谱系统不被蒙蔽。
[0070]为了优化物面中的光强度,如图2所示,在示出的实施方式中,光源10包括设置在反射器12内的宽带光源(诸如卤素灯泡)。因此,参照图la、图lb,在图2示出的实施方式中,照明系统8包括在灯壳体42中的光源10和反射器12。反射器12是截断的椭圆体形状(平行于椭圆体短轴截断的),并且光源10被设置在截断的椭圆体的第一焦点^处。从截断的椭圆体的第一焦点^发射的每个光束被反射器反射以在第二焦点f’i处会聚,该系统被设计为使得物面P-P与第二焦点f’i相交。这确保了当物体2下落通过检测区域D时被集中的光照射。换言之,从光源10发射的光将首先被会聚到焦点f、,此后它将发散。光分析装置通常被设置为使得发散光不会到达其传感器。
[0071]应理解,虽然图2显示了沿着物面P-P垂直下落的物体2,但这不是对本发明的要求。物体与第二焦点f’i以及检测区域D内的物面相交是足够的;即物体可以是非垂直的轨迹。
[0072]图3是根据本发明的系统的第三实施方式的示意图。下面将仅讨论与以上参照图2的那些描述不同的方面。在本第三实施方式中,类似于如上所述的第一光源10和第一反射器12,第二光源20和相应的第二截断的椭圆体形状的反射器22被设置在灯壳体42内,并且第二光源20在截断的椭圆体的第一焦点5处。第二反射器20和第一反射器10关于共同的中心轴C对称设置,并且第二反射器20(类似第一反射器10)设置为使得物面P-P与第二反射器的第二焦点f’2相交。因此,如图3所示,第二焦点f’1、第二焦点f’道合并且位于物面P-P内。该实施方式与在图2中示出的实施方式相比,有效地使物体2上的照射强度加倍。
[0073]第一光源10和第二光源20朝向落入物面P-P中的物体2发送它们各自的第一光束Ii和第二光束12。如上所述,落入测量平面T中的透射光由光谱系统4检测。换言之,入射光束
I1的一部分和入射光束I2的一部分穿透物体并且随后由光谱系统4检测,这些部分称为透射和检测光。如在图3中能够看出,入射光束I1、入射光束I2的方向不同于透射和检测光1012的方向。更详细地,入射光束的方向可以等于入射光束的中心轴的方向;并且透射和检测光的方向可以等于透射及检测光的中心轴。
[0074]暗参考元件61被设置在反射器12、反射器22之间,确保如果在检测区域D内没有物体时光谱系统不被蒙蔽。在实际的实施方式中,反射器和它们各自的光源可以合并到单一的灯壳体42中。因此,参考图1a、图1b,在图2中示出的实施方式中,照明系统8包括在壳体42中的光源10、光源20、反射器12、反射器22以及参考元件61。
[0075]图2和图3还显示了设置在灯壳体42内但在光谱系统4的扫描范围内的可选的白参考元件43。白参考元件43使得在系统运行时能够校准系统,其可以提高测量精度。白参考元件可以是例如小的钡金字塔,放置为使得其被(多个)光源照射。
[0076]图4是根据本发明的系统的第四实施方式的示意图。灯壳体在本图示中被省略。下面将仅讨论与以上参照图3描述的那些不同的方面。
[0077]在本第四实施方式中,暗参考元件(在图3中参考标号61)已被在反射器12、反射器22之间的开口(或光导)62取代,并且第二光谱系统5与第一光谱系统4共线设置。随着第一和第二入射光束I1, ^朝向物体2发送,部分T被透射和发送到第一光谱系统4。然而,入射光的一部分也朝向第二光谱系统5被反射(由R1,2表示)。该配置因此允许透射光谱(在第一光谱系统4中)和反射光谱(在第二光谱系统5中)。
[0078]第四实施方式还包括被设置为朝向物体2发送第三入射光束I3的第三光源30和滤光器63。滤光器63被配置为阻止要不然会干扰落入测量平面T内的透射光的波长的光。因此,第三入射(过滤的)光束I3被物体2反射并且反射光R3被导向第一光谱系统4。该第三光源30使得能够测量以及评估物体表面的特性。应理解,可以在第一光谱系统4的另一侧上包括(例如对称地)类似于第三光源30的多个光源。
[0079]图5是根据本发明的系统的第五实施方式的示意图。本实施方式实质上是第三实施方式和第四实施方式的结合。在本图示中灯壳体已被省略。如以上参照图3所述,暗参考元件61设置在第一反射器12和第二反射器22之间,并且第三光源30和滤光器63如以上参照图4所述设置。
[0080]图6显示了变型,其中本发明系统被设置为使得物体2不是落入物面中(如以上所述的本发明的实施方式中),而是在沿方向B移动的传送带3’上运载通过检测区域D。与物面P-P对准的传送带3’是透明和/或半透明的,使得光束I1,2被允许穿过该带并且到达物体上。因此,传送带3’可以是例如丝网传送带、半透明传送带或设置为中间有间隙的两条传送带。在图6中显示的设置允许本发明的系统用于分析和分选不能被丢落的物体,例如肉类产品。这类肉类产品的实例有鸡肉、五花肉和绞肉。该设置也适合于对具有较少限定的形状并且能够在传送带3’上形成层或块的物体(诸如绞牛肉、肉末、肉填料(meat farce)等)进行检测、分析和分选。这种类型的物体在图6中由参考标号2’表示。应理解,图6的设置可以被翻转,即光源在传送带3,之上并且光谱系统在传送带3,之下。
[0081]在使用中,本发明系统和装置的任何实施方式通常可以安装在用于进行光学检测处理的条件可能不够理想的工业环境(例如邻近产品包装设备或在肉类加工厂中)中。例如,由光谱系统检测到的光通常是(i)由光源产生的已经穿透物体的光以及(ii)环境光的总和。这在图7中示出,其中,箭头标记“A”表示环境光,并且L’代表来自灯壳体42中的脉冲光源40的脉冲光。环境光可以构成检测到的光的显著部分并且可以以不利的方式影响检测处理。因此,感兴趣的是能够将环境光从检测和测量过程中分析出。
[0082]因此,本发明包括用于关闭(多个)光源一段时间使得光谱系统可以仅测量环境光的方法和相关联的装置。当光源关闭时,没有光穿透物体。当由照明系统(光源)产生的光穿透物体时,在光谱系统4中的处理设备(未示出)从由光谱系统做出的测量中减去环境光测量。
[0083]物体通常以高速移动(例如下落)通过检测区域;并且光源关闭的时间段必须与该速度匹配。这可以通过使得能够快速开/关循环的脉冲聚焦LED来获得。脉冲LED设置使得当光源关闭(仅环境光)和打开(产生的光+环境光)时,能够检测从相邻像素接收的光。如图7所示,如果光源是例如卤素灯泡(具有更长的响应时间),可以通过在光源的前面设置光控制器件45得到脉冲光L ’。光控制器件45可以是例如机械快门或所谓的可切换玻璃(switchable)。可切换玻璃已广为人知,一个实例就是SmartGlass?,由Schott AG市场化并出售。
[0084]在检测处理期间测量和减去环境光的这种能力提高了系统的通用性。例如,检测区域不需要处于封闭的柜体中,而可以是开放的并且暴露于环境光。应理解,脉冲LED可以与光控制器件45相结合。
[0085]尽管本发明已经参照检测水果、蔬菜和肉类中的物质进行了描述,但是应理解,本发明同样可应用于检测一般半透明物体中的物质,包括但不限于其他食品。
【主权项】
1.一种用于检测物质的装置,其特征在于: -块馈送器件(3;3’),被配置用于将多个物体(2;2’)馈送到检测区域(D); -至少一个光源(8; 10,20; 40),均具有聚焦元件并且被配置为在相应的第一方向上发送光(IuI2)以照射在所述检测区域(D)的物面(P-P)内移动的至少一个物体(2;2’);以及 -第一光分析装置(4),被设置为感测穿透物体的光、并且识别从所述至少一个光源接收到的光量, 其中,所述第一光分析装置(4)被设置为感测具有在所述第一光分析装置(4)的视野内的方向的光(TD15TD12),并且 其中,相应的所述第一方向不同于所述第一光分析装置(4)的视野内的方向。2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述块馈送器件(3)被配置用于以随机方式将物体(2)馈送到所述检测区域(D)。3.根据前述权利要求中的任一项所述的装置,其中,所述至少一个光源(10;20)被设置在截断的椭圆体形状的反射器(12;22)的第一焦点处,并且所述反射器被设置为使得截断的椭圆体形状的所述反射器的第二焦点(fV;f2’)与所述物面(P-P)重合。4.根据前述权利要求中的任一项所述的装置,其中,所述至少一个光源包括一个或多个发光二极管(LED)。5.根据前述权利要求中的任一项所述的装置,其中,所述至少一个光源(40)还包括能够使光聚焦在所述物面(P-P)中的至少一个透镜。6.根据前述权利要求中的任一项所述的装置,其中,所述光源和所述第一光分析装置被设置在所述物面(P-P)的相对侧上。7.根据前述权利要求中的任一项所述的装置,其中,第一光源(10)与第二光源(20)关于中心轴(C)对称设置。8.根据权利要求6所述的装置,其中,第二光分析装置(5)相对于所述第一光分析装置(4)被设置在所述物面(P-P)的相对侧上,并且所述第二光分析装置(5)被配置为接收由从相应的所述第一光源和所述第二光源发送的光(Il,12)产生的从所述物体反射的光(Rl,2)。9.根据前述权利要求中的任一项所述的装置,还至少包括与所述第一光分析装置(4)设置在物面(P-P)的同一侧上的第三光源(30,63),并且所述第三光源(30,63)被配置为利用反射(R3)到所述第一光分析装置(4)的光(I3)照射所述物体。10.根据前述权利要求中的任一项所述的装置,其中,光分析装置(4,5)包括光谱系统或超光谱照相机系统。11.根据前述权利要求中的任一项所述的装置,其中,所述至少一个光源是被设置为发送脉冲光(L’)到所述检测区域的脉冲光源(40)。12.根据权利要求1-11中的任一项所述的装置,还包括被设置和配置为可控地发送脉冲光(L’)到所述检测区域的光控制器件(45)。13.根据前述权利要求中的任一项所述的装置,其中,所述块馈送器件(3)包括与滑槽可选地结合的振动馈送器或传送带,从而使所述物体下落通过所述检测区域(D)。14.根据权利要求1-14中的任一项所述的装置,其中,所述块馈送器件包括延伸到所述检测区域(D)并且被设置为在所述检测区域内至少部分地支持所述物体(2;2’)的半透明传送带(3’)。15.根据权利要求14所述的装置,其中,所述传送带(3’)包括丝网传送带、或由中间间隙隔开的两个传送带。16.一种用于分选物体的系统,其特征在于包括:由权利要求1-16中的任一项所限定的装置;以及排出装置(9),被配置为基于由所述第一光分析装置接收的光的特性可控地和选择性地从所述系统中排出所述物体。17.一种确定至少一个物体(2; 2 ’)的参数的方法,包括如下步骤 i)使所述物体在检测区域(D)的平面(P-P)内移动; ? )利用入射光照射所述物体; i i i)检测穿透所述物体并且落入测量平面(T)内的光;以及 iv)基于检测到的落入测量平面(T)内的透射光来确定物体特定参数。18.一种确定至少一个物体(2; 2 ’)的参数的方法,包括如下步骤 i)使所述物体在检测区域(D)的平面(P-P)内移动; ?)利用具有第一方向的入射光照射物体,所述入射光从至少一个光源发射; iii)检测并识别源于所述至少一个光源并且穿透所述物体的光,所述光具有不同于所述第一方向的第二方向;以及 iv)基于检测到的透射光来确定物体特定参数。19.根据权利要求17或权利要求18所述的方法,其中,在步骤i)中的所述移动包括自由落体。20.根据权利要求17或权利要求18所述的方法,其中,在步骤i)中的所述移动由传送带(3’)实现。21.根据权利要求17-20中的任一项所述的方法,其中,照射步骤包括:朝向所述检测区域发送脉冲光(L’);并且检测步骤额外包括在未朝向检测区域发送光的时间间隔期间检测环境光(A)。22.根据权利要求17-21中的任一项所述的方法,其中,所述物体特定参数包括如下列表上的一个或多个参数,所述列表包括:含糖量、酸度、成熟度、腐烂度、机械损伤度、存在异物、存在骨头。23.根据权利要求17-22中的任一项所述的方法,其中,所述物体基于在步骤iv)中确定的所述物体特定参数来分选。
【文档编号】G01N21/85GK105874322SQ201480071702
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2014年11月3日
【发明人】迪尔克·巴尔塔扎, 托比亚斯·哈特曼, 约翰·麦格劳赫林, 道格拉斯·亚历山大·里德
【申请人】陶朗分选股份有限公司
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