激光测距设备及自动清洁设备的制造方法
【专利摘要】本公开是有关一种激光测距设备及自动清洁设备，所述激光测距设备包括：编码底盘，旋转盘，所述旋转盘上的第一阻隔圈和/或所述编码底盘上的第二阻隔圈；所述编码底盘包括旋转仓、以及设置于所述旋转仓外围且间隔设置的多个测距齿，所述旋转盘装配于所述编码底盘内且可被驱动地在所述旋转仓内旋转；其中，所述第一阻隔圈设置于所述旋转盘底面边缘，所述第二阻隔圈设置于所述测距齿的外围；在所述旋转盘装配于所述编码底盘后，所述第一阻隔圈位于所述测距齿的外围。本公开的激光测距设备通过在其结构上设置多个防水防尘墙，用以阻挡灰尘以及防水进入，起到保护激光测距设备内的元器件的作用，从而可以增强激光测距设备的使用寿命。
【专利说明】
激光测距设备及自动清洁设备
技术领域
[0001]本公开涉及激光测距技术领域，尤其涉及一种防水防尘的激光测距设备，尤其涉及自动清洁设备中的激光测距设备。
【背景技术】
[0002]度量衡的测量及单位为自古以来随着朝代更迭而不断变更演进，最后与世界各国统一标准制订出的公制单位。以往测量距离以尺为工具，但是对于长距离便有测量上的困难，随着科技发展开发出以激光进行距离测量的设备。
[0003]目前，对多方向激光测距需求的日益增长，旋转测距的方式已被普遍使用。然而现有技术中，激光测距设备通常并未做防水防尘处理，长期以往随着灰尘的积累会影响测距组件的测距视角，导致测距组件无法测量或者影响测量数据的准确性;或者激光测距设备进水后，水滴到激光测距设备中电路板上，容易导致电路短路、烧毁电路板等，从而使激光测距设备无法正常工作。
【发明内容】
[0004]有鉴于此，本公开提出一种具有防尘防水设计的激光测距设备及自动清洁设备以解决上述技术问题。
[0005]为了达到上述目的，本公开所采用的技术方案为:
[0006]根据本公开实施例的第一方面，提出了一种激光测距设备，包括:
[0007]编码底盘，包括旋转仓、以及设置于所述旋转仓外围且间隔设置的多个测距齿；
[0008]旋转盘，装配于所述编码底盘内且可被驱动地在所述旋转仓内旋转；
[0009]所述旋转盘上的第一阻隔圈和/或所述编码底盘上的第二阻隔圈；
[0010]其中，所述第一阻隔圈设置于所述旋转盘底面边缘，所述第二阻隔圈设置于所述测距齿的外围；在所述旋转盘装配于所述编码底盘后，所述第一阻隔圈位于所述测距齿的外围。
[0011]本公开激光测距设备的进一步改进在于，所述激光测距设备包括第一阻隔圈和第二阻隔圈，在所述旋转盘装配于所述编码底盘后，所述第二阻隔圈位于所述第一阻隔圈与所述测距齿之间。
[0012]本公开激光测距设备的进一步改进在于，所述第一阻隔圈和所述第二阻隔圈在竖直面上的投影具有部分重合。
[0013]本公开激光测距设备的进一步改进在于，所述第一阻隔圈与所述编码底盘之间存在间距，所述第二阻隔圈与所述旋转盘之间存在间距。
[0014]本公开激光测距设备的进一步改进在于，所述编码底盘还包括设置于其上的至少一个槽孔，所述槽孔在所述测距齿的外缘。
[0015]本公开激光测距设备的进一步改进在于，所述编码底盘还包括设置于所述编码底盘底面且对应于所述槽孔的第一导水凸起。
[0016]本公开激光测距设备的进一步改进在于，所述编码底盘还包括靠近所述旋转仓的驱动仓;其中，所述编码底盘上还包括设置于所述旋转仓与所述驱动仓之间的防水防尘墙。
[0017]本公开激光测距设备的进一步改进在于，所述编码底盘还包括临近所述防水防尘墙设置的凹槽，所述凹槽和所述旋转仓位于所述防水防尘墙的两侧，所述凹槽的底面设置有导孔。
[0018]本公开激光测距设备的进一步改进在于，所述编码底盘还包括设置于所述编码底盘底面且对应于所述导孔的第二导水凸起。
[0019]本公开激光测距设备的进一步改进在于，还包括驱动装置，所述驱动装置设置于所述编码底盘的底面，所述驱动装置的驱动轴贯穿所述编码底盘，所述编码底盘上还包括设置于所述驱动轴周侧的第三阻隔圈。
[0020]本公开激光测距设备的进一步改进在于，所述编码底盘上还包括供与所述驱动装置连接的连接部，所述连接部的周侧设置有防水凸起。
[0021]本公开激光测距设备的进一步改进在于，还包括装配在所述旋转盘上的测距组件，以及装配在所述编码底盘上的上盖体，所述旋转盘和所述测距组件位于所述上盖体与所述编码底盘之间。
[0022]根据本公开实施例的第二方面，提出一种自动清洁设备，包括:机器主体，设置于所述机器主体内的、如上述中任一项所述的激光测距设备。
[0023]本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:本公开的激光测距设备及自动清洁设备通过在激光测距设备上设置多个防水防尘墙、灰尘积水容纳腔、导流凸起，用以阻挡灰尘以及防水进入，起到保护激光测距设备内的元器件的作用，从而可以增强激光测距设备的使用寿命。
[0024]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
【附图说明】
[0025]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。
[0026]图1为本公开激光测距设备的整体结构示意图；
[0027]图2为本公开激光测距设备的分解结构示意图；
[0028]图3为本公开激光测距设备中旋转盘的结构示意图；
[0029]图4为本公开激光测距设备中编码底盘的立体图；
[0030]图5为本公开激光测距设备中编码底盘的俯视图。
【具体实施方式】
[0031]以下将结合附图所示的【具体实施方式】对本公开进行详细描述。但这些实施方式并不限制本公开，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本公开的保护范围内。
[0032]在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
[0033]如图1和图2所示，图1为本公开激光测距设备的整体结构示意图；图2为本公开激光测距设备的分解结构示意图。本公开激光测距设备100包括:编码底盘11、旋转盘12、测距组件13、以及上盖体14。其中，该编码底盘11包括其上的旋转仓111、以及设置于旋转仓111外围且间隔设置的多个测距齿112，该测距齿112结合测距组件13中的一对光耦元件测量该旋转盘12的转速，旋转的光耦元件若被灰尘遮挡，会导致LDS(半导体激光器)的角速度无法测量，直接影响测量的距离数据不准确，自主清洁设备(也称为扫地机器人)无法确定障碍物位置，导致无法正常工作。旋转盘12则装配于编码底盘11内，具体地装配在编码底盘11的旋转仓111内，并且可被驱动地在旋转仓111内旋转。测距组件13装配在该旋转盘12上，并跟随旋转盘12旋转盘12，该上盖体14装配在编码底盘11上，以使旋转盘12、测距组件13、旋转仓111等位于上盖体14与编码底盘11之间，从而可以保护激光测距设备100内的元器件，并且可以起到辅助防尘防水的作用。
[0034]其中，编码底盘11和旋转盘12的中心圆孔下方为LDS的无线供电电路板，LDS下方为风机电路板，如果有水滴到电路板上，很有可能直接造成电路板损坏，需要更换电路板。如图1和图5所示，在本公开的一较佳实施例中，为了保护LDS中的电路板，该激光测距设备100包括设置于旋转盘12上的第一阻隔圈121和/或编码底盘11上的第二阻隔圈113。具体地，在旋转盘12上具有第一阻隔圈121时，第一阻隔圈121设置于旋转盘12底面边缘，在编码底盘11上具有第二阻隔圈113时，该第二阻隔圈113位于测距齿112的外围。
[0035]进一步地，如图1至图5所示，该第一阻隔圈121为旋转盘12朝向编码底盘11 一侧面上的凸起，该第一阻隔圈121可以与旋转盘12—体成型构成。其中，在旋转盘12装配于编码底盘11后，该第一阻隔圈121位于测距齿112的外围，该第一阻隔圈121与编码底盘11之间存在间隙，以使该旋转盘12在转动时不会与编码底盘11之间产生摩擦。优选地，该第一阻隔圈121与编码底盘11之间的间隙可以尽可能的小，从而可以增大防尘面积。另外，该第一阻隔圈121从旋转盘12延伸向编码底盘11可以避免水从旋转盘12引流入编码底盘11内，由该第一阻隔圈121引流向编码底盘11的外围，从而起到防水的作用。
[0036]该第二阻隔圈113为编码底盘11朝向旋转盘12—侧面上的凸起，该凸起可以与编码底盘11 一体成型构成。该第二阻隔圈113与旋转盘12之间存在间距，优选地，该第二阻隔圈113与旋转盘12之间的间距可以尽可能的小，只需满足在旋转盘12转动时，该第二阻隔圈113不会与旋转盘12之间产生摩擦。
[0037]在本公开的一较佳实施例中，同时包括有第一阻隔圈121和第二阻隔圈113，在旋转盘12装配于编码底盘11后，第二阻隔圈113位于第一阻隔圈121与测距齿112之间。在本实施例中，第一阻隔圈121和第二阻隔圈113在竖直面上的投影具有部分重合，简单的说，即该第一阻隔圈121与第二阻隔圈113具有部分重合，以使该第一阻隔圈121与第二阻隔圈113之间的空间形成一个S型空间，如此设置彻底解决了泼水的问题，且可以增强防尘的效果。具体的，由于第一阻隔圈121与编码底盘11之间具有间距，因此多多少少会有部分灰尘或者水进入到该编码底盘11的旋转仓111内，由此增加了第二阻隔圈113，第二阻隔圈113则可以弥补第一阻隔圈121与编码底盘11之间的间距这一不足之处。
[0038]优选地，编码底盘11还包括设置于其上的至少一个槽孔114，该槽孔114设置在测距齿112的外侧，优选地，该槽孔114对应在第一阻隔圈121的外缘延伸至编码底盘11的位置，如此设置以使该第一阻隔圈121所阻挡的灰尘或者水滑落向该槽孔114，并最终通过该槽孔114从编码底盘11的底面滑落出去，避免灰尘积余及水的积余。一较佳实施例中，编码底盘11上设置多个槽孔114且均匀分布在第一阻隔圈121的外缘延伸至编码底盘11的位置上。一较佳实施例中，编码底盘11的背面槽孔114的位置(即编码底盘11的底面对应槽孔114的位置)设有第一导水凸起(未图示)，该第一引导凸起用于引导水和灰尘向下流出，避免水漫流到其他地方引起电路板漏水。
[0039]该激光测距设备100还包括驱动装置15，该驱动装置15临近旋转盘12设置以驱动该旋转盘12转动。在本公开的一实施例中，该驱动装置15为伺服电机，伺服电机装配在编码底盘11的底面，该驱动装置15的驱动轴贯穿编码底盘11。在编码底盘11的上方，驱动轴上装配有传动轮151，并通过传送带装配在传动轮151及旋转盘12上，从而驱动旋转盘12转动。该编码底盘11还包括靠近旋转仓111的驱动仓，该传动轮151位于驱动仓内，伺服电机装配在驱动仓下方，从而可以合理利用该激光测距设备100内的空间。其中，编码底盘11上还包括设置于旋转仓111与驱动仓之间的防水防尘墙115，该防水防尘墙115将旋转仓111和驱动仓分隔开，以避免滴入驱动仓的水流向旋转仓111内，同时该防水防尘墙115也可以起到防止灰尘从驱动仓转移向旋转仓111，该防水防尘墙115为由编码底盘11的表面上向上延伸出的凸起。进一步地，编码底盘11还包括临近防水防尘墙115的凹槽116，凹槽116与旋转仓111分别位于防水防尘墙115的两侧，在本公开中，凹槽116为两个分别位于编码底盘11中旋转仓111和驱动仓之间的底盘腰部，凹槽116的底面设置有导孔1161，该凹槽116用于储存灰尘，该凹槽116周围的灰尘都可以被引导入该凹槽116内，以减少进入到旋转仓111内，该凹槽116的底面的导孔1161可以使一部分的灰尘从导孔1161内排出。另外，该凹槽116同样可以用于积水防尘及排水，其积水功能主要体现在第一阻隔圈121和防水防尘墙115形成一个积水空间，防尘功能主要体现在第一阻隔圈121的外沿和防水防尘墙115的上沿夹的狭缝将随风进入的进灰被第一阻隔圈121改变了路径向下，可以大大较少灰尘的进入。之后再加入第二阻隔圈113将带灰尘的风又增加了由下向上的路径，进一步减少灰尘。在其他部件的引导下，滴在激光测距设备100上的部分水被引导入该凹槽116内，该凹槽116通过导孔1161使水流出该激光测距设备100，在水流出的同时还可以带着灰尘一同流出激光测距设备100。
[0040]优选地，编码底盘11还包括设置于编码底盘11底面且对应于导孔1161的第二导水凸起(未图示)，该导水凸起是为了起到引导排水的作用，避免编码底盘11上方流下来的水随编码底盘11的底面引流到主机内的位于LDS下方的电路主板上，造成电路主板损坏，以及避免引流到驱动装置15上，造成驱动装置15的损坏。该导水凸起由编码底盘11底面向下延伸所形成，导水凸起与驱动装置15之间具有一定的间距，以使从导水凸起流出的水不会滴到驱动装置15上。在本实施例中，编码底盘11上方的水经导孔1161流到编码底盘11的底面，再经该导水凸起滴出，从而使滴水不会流到其他位置。
[0041]进一步地，编码底盘11上还包括设置于驱动轴周侧的第三阻隔圈117，该第三阻隔圈117位于传动轮的下方，其目的是为了保护驱动装置15，为了避免水从编码底盘11上供贯穿驱动轴的孔中流下去而滴到驱动装置15上，进而造成驱动装置15的损坏。另外，编码底盘11上还包括供与驱动装置15连接的连接部118，连接部118的周侧设置有防水凸起119。例如:在本公开一实施例中，驱动装置15通过螺钉固定在编码底盘11上，该编码底盘11上对应地设置有螺纹孔，因此在激光测距设备100内进水后，螺纹孔处会有水向下滴，且直接滴在驱动装置15上，具有使驱动装置15短路的风险，因此在螺纹孔的周侧设置有防水凸起119，当然，本公开中连接部并不限于仅为螺纹孔，也可以是其他结构的连接部，该防水凸起119的目的即为了使连接部118处不会有水进入。
[0042]在本公开实施例的又一方面，还提出了一种自动清洁设备，该自动清洁设备包括:机器主体，以及上述中的激光测距设备，该激光测距设备设置在机器主体内，通过该激光测距设备具有防尘防水的效果以使该自动清洁设备具有防尘防水的效果。
[0043]本公开的激光测距设备及自动清洁设备通过在激光测距设备上设置多个防水防尘墙、灰尘积水容纳腔、导流凸起，用以阻挡灰尘以及防水进入，起到保护激光测距设备内的元器件的作用，从而可以增强激光测距设备的使用寿命，且可以避免因灰尘的积累而造成影响测量数据的准确性。
[0044]本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由本申请的权利要求指出。
[0045]应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。
【主权项】
1.一种激光测距设备，其特征在于，包括: 编码底盘，包括旋转仓、以及设置于所述旋转仓外围且间隔设置的多个测距齿； 旋转盘，装配于所述编码底盘内且可被驱动地在所述旋转仓内旋转； 所述旋转盘上的第一阻隔圈和/或所述编码底盘上的第二阻隔圈； 其中，所述第一阻隔圈设置于所述旋转盘底面边缘，所述第二阻隔圈设置于所述测距齿的外围；在所述旋转盘装配于所述编码底盘后，所述第一阻隔圈位于所述测距齿的外围。2.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述激光测距设备包括第一阻隔圈和第二阻隔圈，在所述旋转盘装配于所述编码底盘后，所述第二阻隔圈位于所述第一阻隔圈与所述测距齿之间。3.根据权利要求2所述的激光测距设备，其特征在于，所述第一阻隔圈和所述第二阻隔圈在竖直面上的投影具有部分重合。4.根据权利要求1或2所述的激光测距设备，其特征在于，所述第一阻隔圈与所述编码底盘之间存在间距，所述第二阻隔圈与所述旋转盘之间存在间距。5.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述编码底盘还包括设置于其上的至少一个槽孔，所述槽孔在所述测距齿的外侧。6.根据权利要求5所述的激光测距设备，其特征在于，所述编码底盘还包括设置于所述编码底盘底面且对应于所述槽孔的第一导水凸起。7.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，所述编码底盘还包括靠近所述旋转仓的驱动仓;其中，所述编码底盘上还包括设置于所述旋转仓与所述驱动仓之间的防水防尘墙。8.根据权利要求7所述的激光测距设备，其特征在于，所述编码底盘还包括临近所述防水防尘墙设置的凹槽，所述凹槽和所述旋转仓位于所述防水防尘墙的两侧，所述凹槽的底面设置有导孔。9.根据权利要求8所述的激光测距设备，其特征在于，所述编码底盘还包括设置于所述编码底盘底面且对应于所述导孔的第二导水凸起。10.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，还包括驱动装置，所述驱动装置设置于所述编码底盘的底面，所述驱动装置的驱动轴贯穿所述编码底盘，所述编码底盘上还包括设置于所述驱动轴周侧的第三阻隔圈。11.根据权利要求10所述的激光测距设备，其特征在于，所述编码底盘上还包括供与所述驱动装置连接的连接部，所述连接部的周侧设置有防水凸起。12.根据权利要求1所述的激光测距设备，其特征在于，还包括装配在所述旋转盘上的测距组件，以及装配在所述编码底盘上的上盖体，所述旋转盘和所述测距组件位于所述上盖体与所述编码底盘之间。13.—种自动清洁设备，其特征在于，包括:机器主体，设置于所述机器主体内的、如权利要求I至12中任一项所述的激光测距设备。
【文档编号】G01S17/48GK105988120SQ201511021200
【公开日】2016年10月5日
【申请日】2015年12月30日
【发明人】万云鹏, 夏勇峰
【申请人】小米科技有限责任公司, 北京石头世纪科技有限公司