一种晶振频率测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及频率测试领域，特别是一种晶振频率测试系统。
【背景技术】
[0002]射频晶振是电子大家庭一种很重要的元器件，其作用在于产生原始的时钟频率，这个频率经过频率发生器的倍频或分频后作为电子产品中各种不同的总线频率。晶振单体的频率测试时可以用晶体分析仪测试，但是已焊接到电路板中的晶振，其频率就无法采用晶体分析仪测试了。如果采取用分析仪连接探头点测晶振的输出频率角的方式测量其频率，则会对其产生阻抗匹配，改变了晶振的外围电路，导致测试结果不准确，从而产生晶振启振后频率误差测试，无法有效保证晶振工作频率在允许范围内。
【实用新型内容】
[0003]因此，针对上述的问题，本实用新型提出一种晶振测试精准度高、有效保障晶振工作频率在允许范围的晶振频率测试系统。
[0004]为解决此技术问题，本实用新型采取以下方案:一种晶振频率测试系统，包括信号分析仪、近场探头、PC计算机和电源，所述近场探头与信号分析仪输入端相连接，所述PC计算机通过GPIB线缆连接信号分析仪，所述电源为含有待测晶振的电路板供电，所述近场探头放置于含有待测晶振的电路板的待测晶振正上方与待测晶振建立连接，所述PC计算机控制信号分析仪通过近场探头对含有待测晶振的电路板进行测试并生成测试报告。
[0005]进一步的改进，所述近场探头放置于待测晶振正上方的垂直放置距离为距离晶振表面高0.8-1.2cm位置。
[0006]通过采用前述技术方案，本实用新型的有益效果是:通过将近场探头连接到信号分析仪并置于待测晶振上方进行空中辐射连接，由PC计算机控制信号分析仪对其频率进行测量，测试结果通过安装于PC计算机的自动化测试软件从信号分析仪获得，并生成测试报告，测试结果精准度高，可有效的保障电路板上的晶振工作频率在允许范围内。
【附图说明】
[0007]图1是本实用新型实施例的结构示意图。
【具体实施方式】
[0008]现结合附图和【具体实施方式】对本实用新型进一步说明。
[0009]参考图1，优选的本实用新型的晶振频率测试系统，包括信号分析仪1、近场探头2,PC计算机3、电源和含有待测晶振的电路板4，所述近场探头2与信号分析仪I输入端相连接，所述PC计算机3通过GPIB线缆连接信号分析仪I，所述电源为含有待测晶振的电路板4供电，所述近场探头2放置于含有待测晶振的电路板4的待测晶振41正上方与待测晶振41建立空中辐射连接，近场探头放置于待测晶振41正上方的垂直放置距离为距离待测晶振41表面高Icm位置，所述PC计算机3控制信号分析仪I通过近场探头2对含有待测晶振的电路板4的待测晶振41进行测试并生成测试报告。
[0010]本实用新型中近场探头放置于待测晶振正上方的垂直放置距离以距离晶振表面高0.8-1.2cm位置为佳。
[0011]本实用新型通过将近场探头连接到信号分析仪并置于待测晶振上方进行空中辐射连接，由PC计算机控制信号分析仪对其频率进行测量，测试结果通过安装于PC计算机的自动化测试软件从信号分析仪获得，并生成测试报告，测试结果精准度高，可有效的保障电路板上的晶振工作频率在允许范围内。
[0012]尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种晶振频率测试系统，其特征在于:包括信号分析仪、近场探头、PC计算机和电源，所述近场探头与信号分析仪输入端相连接，所述PC计算机通过GPIB线缆连接信号分析仪，所述电源为含有待测晶振的电路板供电，所述近场探头放置于含有待测晶振的电路板的待测晶振正上方与待测晶振建立连接，所述PC计算机控制信号分析仪通过近场探头对含有待测晶振的电路板进行测试并生成测试报告。
2.根据权利要求1所述的晶振频率测试系统，其特征在于:所述近场探头放置于待测晶振正上方的垂直放置距离为距离晶振表面高0.8-1.2cm位置。
【专利摘要】本实用新型涉及频率测试领域，提供一种晶振测试精准度高、有效保障晶振工作频率在允许范围的晶振频率测试系统，包括信号分析仪、近场探头、PC计算机和电源，所述近场探头与信号分析仪输入端相连接，所述PC计算机通过GPIB线缆连接信号分析仪，所述电源为含有待测晶振的电路板供电，所述近场探头放置于含有待测晶振的电路板的待测晶振正上方与待测晶振建立连接，所述PC计算机控制信号分析仪通过近场探头对含有待测晶振的电路板进行测试并生成测试报告。
【IPC分类】G01R23-02
【公开号】CN204287321
【申请号】CN201420819524
【发明人】黄和聪, 张国忠, 杨连池
【申请人】厦门盈趣科技股份有限公司
【公开日】2015年4月22日
【申请日】2014年12月22日