一种用于pcb检测通孔低阻测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种PCB测试装置，尤其是涉及一种用于PCB检测通孔低阻测试
目.ο
【背景技术】
[0002]随着电子模块功能的不断增强，集成度越来越高，器件体积小，密度高，PCB成品出货前就需要进行飞针测试。一般来说，飞针测试机装有4一8个由电机通过皮带传动来带动的测试探针，探针的移动包括X、Y、Z三个方向，测试前需将原CAD数据转换成可使用的测试数据文件，飞针测试先进行开路测试，其中开路测试原理是对某一待测网络的一端施加电流，在该网络的另一端进行测量。根据电流的变化值来判断这一网络是否导通，存在电阻大小或断开。方法是对2个具有相同网络值的焊点，移动2个探针分别与2个焊点相接触。读取反馈数据到计算机进行分析，电路原理是探针与焊点接触后形成回路。在该回路中有一个恒压源，如果2个焊点是通的，则回路中有电流通过，否则没有。反馈到计算机中的数据就是这个电流值经过电阻R转换后的电压值。
[0003]电镀孔内铜薄和孔内断路是不可容忍的缺陷，普通的飞针测试可将过孔断路检测出，但对于过孔铜薄、微连接的现象不能检测出来，流入到客户手中在高温焊接过程，由于经过多次热冲击，出现孔铜断裂，产品失效。
[0004]随着线路板向高、精、尖发展，难度和要求的提高，故引进四线微阻测试飞针机进行测试。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种实现精确测量的用于PCB检测通孔低阻测试装置。
[0006]本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现:
[0007]一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，包括测试作业区、操作盘、测试控制板、机台输入信号线、界面板卡及伺服器，所述的测试作业区用于对PCB进行通孔低阻测试，所述的测试作业区内含有探针盒，所述的伺服器控制着测试作业区内探针盒的移动，所述的测试控制板与测试作业区连接，控制测试作业区的运行，所述的界面板卡通过机台输入信号线与外界的信息输入设备和信息接收设备连接，所述的操作盘与测试控制板及界面板卡连接，为测试控制板与界面板卡的操作控制界面。
[0008]所述的测试作业区包括探针盒、导轨、丝杆及固定板夹具，所述的固定板夹具用于夹持PCB，所述的导轨设置在固定板夹具的四周，所述的丝杆设置在导轨上，所述的探针盒设置在丝杆上，所述的伺服器包括控制丝杆转动的伺服器和控制导轨移动的伺服器。
[0009]所述的探针盒内为四线测试探针。
[0010]所述的丝杆的两端设有丝轴防撞感应器。
[0011]所述的操作盘包括开关键、重启键、急停键、探针控制键，主要用于机台开关机、重起、探针的移动切换、紧急停止。
[0012]所述的测试控制板包括CPU控制板、马达控制板、电压发生器控制板、CCD图像输入控制板、A/D转换控制板。
[0013]所述的机台输入信号线包括联机线、视频线、电源开关、加密线、电源插头，主要用于飞针机与电脑主机连接及电源连接。
[0014]所述的测试控制板包括CPU控制板、马达控制板、电压发生器控制板、CXD图像输入控制板、A/D转换控制板，主要用于CPU控制及马达、CXD镜头等控制。
[0015]所述的界面板卡为机台的总控制台。
[0016]与现有技术相比，本实用新型具有以下优点及有益效果:
[0017]一、实现精确测量:本实用新型的用于PCB检测通孔低阻测试装置为四线低阻飞针测试机，电流供给回路与电压测定回路完全独立，其排线阻抗探针阻抗与接触完全忽略，所测阻抗值就是PCB本身待测线路位置德尔阻值，可精确测定被测PCB之微小阻值，其四线测试的测试精度可到达πιΩ级。
[0018]二、四线测试针:超细微加工，不因组装复杂而引致其成本高昂。
[0019]三、本实用新型的用于PCB检测通孔低阻测试装置功能强大，不但将过孔断路、线路开路检测出，但对于过孔铜薄、微连接和线路微开的现象也能检测出来。
[0020]四、本实用新型的装置测量精确，使用方便，自动化程度高。
【附图说明】
[0021]图1为用于PCB检测通孔低阻测试装置的结构示意图；
[0022]图2为测试作业区的结构示意图；
[0023]图3为导体的立体结构示意图；
[0024]图4为导体的竖截面示意图。
【具体实施方式】
[0025]下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。
[0026]实施例
[0027]如图1所示，一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，包括测试作业区1、操作盘2、测试控制板3、机台输入信号线4、界面板卡5及伺服器6，测试作业区I用于对PCB进行通孔低阻测试，测试作业区I内含有探针盒11，伺服器6控制着测试作业区I内探针盒11的移动，测试控制板3与测试作业区I连接，控制测试作业区I的运行，界面板卡5通过机台输入信号线4与外界的信息输入设备和信息接收设备连接，操作盘2与测试控制板3及界面板卡5连接，为测试控制板3与界面板卡5的操作控制界面。
[0028]如图2所示，测试作业区I包括探针盒11、导轨12、丝杆13及固定板夹具14，固定板夹具14用于夹持PCB，导轨12设置在固定板夹具14的四周，丝杆13设置在导轨12上，探针盒11设置在丝杆13上，伺服器6包括控制丝杆13转动的伺服器和控制导轨12移动的伺服器。探针盒11内为四线测试探针。丝杆13的两端设有丝轴防撞感应器15。
[0029]其中，操作盘2包括开关键、重启键、急停键、探针控制键，主要用于机台开关机、重起、探针的移动切换、紧急停止。测试控制板3包括CPU控制板、马达控制板、电压发生器控制板、CCD图像输入控制板、A/D转换控制板。机台输入信号线4包括联机线、视频线、电源开关、加密线、电源插头，主要用于飞针机与电脑主机连接及电源连接。测试控制板3包括CPU控制板、马达控制板、电压发生器控制板、C⑶图像输入控制板、A/D转换控制板，主要用于CPU控制及马达、CXD镜头等控制。界面板卡5为机台的总控制台。
[0030]四线测试有两个要求，对于每个测试点都要一条激励线和一条检测线，二者严格分开，各自构成独立回路，同时要求检测线必须接到一个有极高输入阻抗的测试回路上，使流过检测线的电流极小，近似为零。激励线即是电流供给回路，检测线是电压测定回路。电流、电压两回路各自独立，电流供给回路两端子与电压测定回路两端子共计四端子，共称四线测试。
[0031]电阻计算方法如下(参考图3、图4):
[0032]R= P L/S = PL/ π { (D/2)2-(d/2)2 }
[0033]R:导体的电阻.单位是欧姆
[0034]P:导体材料的电导率.单位是欧姆.平方米/米
[0035]L:导体长度.单位是米
[0036]S:导体的横截面积.单位是平方米
[0037]D:钻孔直径
[0038]d:除去孔铜外空心直径
[0039]上述的对实施例的描述是为便于该技术领域的普通技术人员能理解和使用实用新型。熟悉本领域技术的人员显然可以容易地对这些实施例做出各种修改，并把在此说明的一般原理应用到其他实施例中而不必经过创造性的劳动。因此，本实用新型不限于上述实施例，本领域技术人员根据本实用新型的揭示，不脱离本实用新型范畴所做出的改进和修改都应该在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，其特征在于，包括测试作业区(1)、操作盘(2)、测试控制板(3)、机台输入信号线(4)、界面板卡(5)及伺服器(6)，所述的测试作业区(I)用于对PCB进行通孔低阻测试，所述的测试作业区(I)内含有探针盒(11)，所述的伺服器(6)控制着测试作业区⑴内探针盒(11)的移动，所述的测试控制板(3)与测试作业区(I)连接，控制测试作业区(I)的运行，所述的界面板卡(5)通过机台输入信号线(4)与外界的信息输入设备和信息接收设备连接，所述的操作盘(2)与测试控制板(3)及界面板卡(5)连接，为测试控制板(3)与界面板卡(5)的操作控制界面。
2.根据权利要求1所述的一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，其特征在于，所述的测试作业区⑴包括探针盒(11)、导轨(12)、丝杆(13)及固定板夹具(14)，所述的固定板夹具(14)用于夹持PCB，所述的导轨(12)设置在固定板夹具(14)的四周，所述的丝杆(13)设置在导轨(12)上，所述的探针盒(11)设置在丝杆(13)上，所述的伺服器(6)包括控制丝杆(13)转动的伺服器和控制导轨(12)移动的伺服器。
3.根据权利要求2所述的一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，其特征在于，所述的丝杆(13)的两端设有丝轴防撞感应器(15)。
4.根据权利要求1所述的一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，其特征在于，所述的操作盘(2)包括开关键、重启键、急停键、探针控制键。
5.根据权利要求1所述的一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，其特征在于，所述的测试控制板(3)包括CPU控制板、马达控制板、电压发生器控制板、CXD图像输入控制板、A/D转换控制板。
6.根据权利要求1所述的一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，其特征在于，所述的机台输入信号线(4)包括联机线、视频线、电源开关、加密线、电源插头。
7.根据权利要求1所述的一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，其特征在于，所述的探针盒(11)内为四线测试探针。
【专利摘要】本实用新型涉及一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，包括测试作业区、操作盘、测试控制板、机台输入信号线、界面板卡及伺服器，所述的测试作业区用于对PCB进行通孔低阻测试，所述的测试作业区内含有探针盒，所述的伺服器控制着测试作业区内探针盒的移动，所述的测试控制板与测试作业区连接，控制测试作业区的运行，所述的界面板卡通过机台输入信号线与外界的信息输入设备和信息接收设备连接，所述的操作盘与测试控制板及界面板卡连接，为测试控制板与界面板卡的操作控制界面。与现有技术相比，本实用新型的装置测量精确，使用方便，自动化程度高。
【IPC分类】G01R31-28, G01R31-02
【公开号】CN204536491
【申请号】CN201520151474
【发明人】魏勇, 鲁龙辉, 严学锋
【申请人】上海嘉捷通电路科技有限公司
【公开日】2015年8月5日
【申请日】2015年3月17日