适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种定位装置，特别涉及一种适用于太赫兹时域光谱技术检测的精确定位装置。
【背景技术】
[0002]太赫兹波(Terahertz，THz)是指频率在0.1-1OTHz范围内的电磁福射(ITHz =112Hz),介于微波和红外之间，兼有电子学和光子学特性。长期以来，由于缺乏有效的产生和检测太赫兹辐射的方法，使得太赫兹波成为电磁波谱中最后一个未被全面研宄的频率窗口，被称为“太赫兹空隙”。随着超快激光技术的迅速发展，为太赫兹脉冲的产生提供了稳定、可靠的激发光源，使得太赫兹科学和技术得以飞速发展。
[0003]太赫兹时域光谱技术是近年来最有代表性也是研宄最多的太赫兹技术，是一种新兴的、非常有效的相干探测技术，具有透视性、安全性、宽带性、瞬态性、高分辨率、高信噪比等优点。许多生物分子的分子间弱作用力，如氢键、范德华力，偶极的旋转以及晶体中晶格振动等低频振动吸收通常都出现在太赫兹波段范围，太赫兹时域光谱系统通过记录参考和透过样品或从样品反射后的太赫兹时域电场波形，通过傅立叶变换获得被测样品的频谱信息，通过分析和处理频域信号即可获得样品的消光系数、吸收系数、折射率等相关参数，从而实现物质识别并进一步获得物质的一些重要的物理和化学信息。
[0004]太赫兹时域光谱系统按实验装置可分为透射式、反射式、差分式和椭偏式等。太赫兹透射式时域光谱系统光路简单，可有效检测多种固体、液体和气体样品，是应用最早、使用最广的太赫兹时域光谱技术，而对于较厚并且在太赫兹波段不透明的样品，反射式是较优的检测方法。在太赫兹透射式时域光谱技术检测时，需将待测样品置于系统光路中，且保证光路焦点能够位于样品中心位置，在反射式检测时，需在光路中严格确定被测样品反射面的位置，避免被测样品的反射光程带来的误差。因此急需一种定位准确、重复定位精度高的样品架移动装置，减少太赫兹时域光谱技术检测时样品位置带来的检测误差。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的是克服上述【背景技术】中的不足，提供一种适用于太赫兹时域光谱系统的定位装置，该定位装置应具有定位准确，操作方便，结构简单的技术特点。
[0006]为实现以上目的，本实用新型采用了以下的技术方案:
[0007]适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置，其特征在于:包括样品架、横向移动机构以及纵向移动机构，所述样品架安装在纵向移动机构上，由纵向移动机构带动作纵向运动，所述纵向移动机构安装在横向移动机构上，由横向移动机构带动作横向运动。
[0008]作为优选，所述横向移动机构包括底座、横向导轨、移动平台、丝杆以及电机，横向导轨以及丝杆水平安装在底座上，丝杆由电机驱动，移动平台安装在横向导轨上并通过螺纹与丝杆配合。
[0009]作为优选，所述纵向移动机构包括支架、纵向导轨、样品台以及螺纹杆，支架固定在移动平台上，纵向导轨以及螺纹杆竖直安装在支架上并与横向导轨垂直，样品台安装在纵向导轨上并通过螺纹与螺纹杆配合，样品台上横向伸出一平板，平板上安装着所述样品架。
[0010]作为优选，所述电机通过接口与控制器连接。
[0011 ] 作为优选，所述螺纹杆的上端设置有刻度盘。
[0012]本实用新型的有益效果是:本实用新型通过纵向移动机构以及横向移动机构的叠加，实现样品架的在较大范围内的精确定位(可重复实现)，整个装置运动稳定，结构简单，操作方便。
【附图说明】
[0013]图1是本实用新型的立体结构示意图。
[0014]图2是横向移动机构的剖视结构图。
[0015]图3是纵向移动机构的剖视结构图。
[0016]图中:1、横向移动机构；2、样品架；3、纵向移动机构；4、接口 ；5、底座；6、移动平台；7、丝杆；8、电机；9、样品台；10、螺纹杆；11、支架，12、纵向导轨；13、横向导轨；9_1、平板。
【具体实施方式】
[0017]下面结合说明书附图，对本实用新型作进一步说明，但本实用新型并不局限于以下实施例。
[0018]如图1到图3所示，本实用新型所述的适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置，由横向移动机构1、纵向移动机构3和样品架2组成。横向移动机构I包括电机8、丝杆
7、移动平台6、横向导轨13和底座5，横向导轨以及丝杆水平安装在底座上，丝杆由电机驱动，移动平台安装在横向导轨上并通过螺纹与丝杆配合。
[0019]纵向移动机构3包括支架11、样品台9、螺纹杆10以及纵向导轨12，支架固定在移动平台上，纵向导轨以及螺纹杆竖直安装在支架上并与横向导轨垂直，样品台安装在纵向导轨上并通过螺纹与螺纹杆配合，样品台上横向伸出一平板9-1，平板上安装着所述样品架。
[0020]所述电机通过接口 4与太赫兹时域光谱系统的控制器连接(或与电机控制器连接)，通过控制器控制电机8的正反转可实现纵向移动机构3的横向移动，从而实现样品架2的横向移动。
[0021]通过改变螺纹杆10的旋向带动样品台9的上下移动(此过程可以手动操作)，从而实现样品架2的上下移动，螺纹杆10的上端带有刻度盘(图中省略)，可实现样品台2上下移动距离的精确测量。
[0022]下面以本实用新型用于检测固体压片样品为例作进一步说明:
[0023]步骤1:将样品架2固定在样品台9上；
[0024]步骤2:将固体压片样品固定在样品架2上；
[0025]步骤3:开启控制器，通过控制电机的旋转调节移动平台6的位置，从而对固体压片样品进行横向定位；
[0026]步骤4:通过转动螺纹杆10调节样品台9的位置，从而对固体压片样品进行纵向定位;
[0027]步骤5:此样品精确定位，可进彳丁检测；
[0028]步骤6:检测完毕后，更换样品，重复步骤1-5，直至所有固体压片样品检测完毕。
[0029]最后，需要注意的是，以上列举的仅是本实用新型的具体实施例。显然，本实用新型不限于以上实施例，还可以有很多变形。本领域的普通技术人员能从本实用新型公开的内容中直接导出或联想到的所有变形，均应认为是本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置，其特征在于:包括样品架(2)、横向移动机构(I)以及纵向移动机构(3)，所述样品架安装在纵向移动机构上，由纵向移动机构带动作纵向运动，所述纵向移动机构安装在横向移动机构上，由横向移动机构带动作横向运动。
2.根据权利要求1所述的适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置，其特征在于:所述横向移动机构包括底座(5)、横向导轨(13)、移动平台(6)、丝杆(7)以及电机⑶，横向导轨以及丝杆水平安装在底座上，丝杆由电机驱动，移动平台安装在横向导轨上并通过螺纹与丝杆配合。
3.根据权利要求2所述的适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置，其特征在于:所述纵向移动机构包括支架(11)、纵向导轨(12)、样品台(9)以及螺纹杆(10)，支架固定在移动平台上，纵向导轨以及螺纹杆竖直安装在支架上并与横向导轨垂直，样品台安装在纵向导轨上并通过螺纹与螺纹杆配合，样品台上横向伸出一平板(9-1)，平板上安装着所述样品架。
4.根据权利要求3所述的适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置，其特征在于:所述电机通过接口(4)与控制器连接。
5.根据权利要求4所述的适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置，其特征在于:所述螺纹杆的上端设置有刻度盘。
【专利摘要】本实用新型涉及适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置。目的是提供的定位装置应具有定位准确，操作方便，结构简单的技术特点。技术方案是：适用于太赫兹时域光谱系统的精确定位装置，其特征在于：包括样品架、横向移动机构以及纵向移动机构，所述样品架安装在纵向移动机构上，由纵向移动机构带动作纵向运动，所述纵向移动机构安装在横向移动机构上，由横向移动机构带动作横向运动。
【IPC分类】G01N21-3586
【公开号】CN204556497
【申请号】CN201520200123
【发明人】谢丽娟, 陈敏
【申请人】浙江大学
【公开日】2015年8月12日
【申请日】2015年4月3日