一种qfn压测测试机构的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种QFN压测测试机构。
【背景技术】
[0002]传统的IC元件电信压测测试包括电压压测测试、电流压测测试与电阻压测测试等，其主要都是采用人工测试的方法，人工测试工作效率低、劳务成本高，不利于企业批量化生产的要求。后来，市面上出现了一些IC元件电信测试设备，由于其不具有测试站高度调节的功能，无法适用于对不同规格的IC元件进行测试。市面上还有部分IC元件电信测试设备，由于其电信测试的种类比较单一，导致一个测试平台无法完成对各种不同规格、不同类型的IC元件进行测试，从而给使用者带来极大的不便。因此，针对目前IC元件进行电信测试存在上述技术问题的不足，本申请人研发一种通过设置有测试站底座、测试站高度调整机构、压测测试板和测试板引线转换机构，其通过调节测试站高度可适应对不同规格的IC元件进行测试，通用性强；所述压测测试板设置有引线PCB板、IC定位机构、IC脚位金手指和IC散热板探针，其通过IC定位机构可对IC元件进行压测前定位，保证了 IC脚位金手指和IC散热板探针对IC元件测试接触良好，从而保证了测试的准确性，其不但结构简单，成本低，使用简单、快捷、实用，还满足了对精细的IC元件多脚位、多电信的测试需求，扩展性强，便于广泛推广使用的一种QFN压测测试机构确属必要。
【发明内容】
[0003]本实用新型要解决的技术问题是提供一种通过设置有测试站底座、测试站高度调整机构、压测测试板和测试板引线转换机构，其通过调节测试站高度可适应对不同规格的IC元件进行测试，通用性强；所述压测测试板设置有引线PCB板、IC定位机构、IC脚位金手指和IC散热板探针，其通过IC定位机构可对IC元件进行压测前定位，保证了 IC脚位金手指和IC散热板探针对IC元件测试接触良好，从而保证了测试的准确性，其不但结构简单，成本低，使用简单、快捷、实用，还满足了对精细的IC元件多脚位、多电信的测试需求，扩展性强，便于广泛推广使用的QFN压测测试机构。本实用新型是通过以下技术方案来实现的:
[0004]一种QFN压测测试机构，包括测试站底座，及垂直设置在测试站底座一端上、可对不同规格的IC元件进行测试的测试站高度调整机构，及横向设置在测试站高度调整机构上端的压测测试板，及垂直设置在测试站底座另一端上的测试板引线转换机构；所述压测测试板设置包括引线PCB板，及设置在引线PCB板中部、具有弹性自动复位作用的IC脚位金手指，及盖设于IC脚位金手指上面的IC定位机构，及设置在引线PCB板下方、具有弹性自动复位作用的散热板控针。
[0005]作为优选，所述IC定位机构侧视时呈凹型设置。
[0006]作为优选，所述散热板控针设置有三根以上。
[0007]作为优选，所述IC散热板探针通过引线PCB板与IC脚位金手指连接。
[0008]本实用新型的一种QFN压测测试机构，包括测试站底座，及垂直设置在测试站底座一端上、可对不同规格的IC元件进行测试的测试站高度调整机构，及横向设置在测试站高度调整机构上端的压测测试板，及垂直设置在测试站底座另一端上的测试板引线转换机构；所述压测测试板设置包括引线PCB板，及设置在引线PCB板中部、具有弹性自动复位作用的IC脚位金手指，及盖设于IC脚位金手指上面的IC定位机构，及设置在引线PCB板下方、具有弹性自动复位作用的散热板控针。本实用新型由于设置有测试站底座、测试站高度调整机构、压测测试板和测试板引线转换机构，其通过调节测试站高度可适用于对不同规格、不同类型的IC元件进行测试，通用性强；其又由于设置有引线PCB板、IC定位机构、IC脚位金手指和IC散热板探针，其通过IC定位机构可对IC元件进行压测前定位，保证了 IC脚位金手指与IC散热板探针对IC元件进行测试时具有良好的接触性能，从而保证了测试的准确性，其还设置测试板引线转换机构与压测测试板相配合操作，使其满足可对精细的IC元件进行多脚位、多电信的测试要求，扩展性强，结构简单，成本低，操作简便，实用性强，推于广泛推广使用。
【附图说明】
[0009]为了易于说明，本实用新型由下述的较佳实施例及附图作以详细描述。
[0010]图1为本实用新型的一种QFN压测测试机构的立体图。
[0011]图2为本实用新型的一种QFN压测测试机构的压测测试板的左视图。
【具体实施方式】
[0012]本实施例中，如图1至图2所示，本实用新型的一种QFN压测测试机构，包括测试站底座I，及垂直设置在测试站底座I 一端上、可对不同规格的IC元件进行测试的测试站高度调整机构2，及横向设置在测试站高度调整机构2上端的压测测试板3，及垂直设置在测试站底座I另一端上的测试板引线转换机构4 ;所述压测测试板3设置包括引线PCB板31，及设置在引线PCB板31中部、具有弹性自复位作用的IC脚位金手指32，及盖设于IC脚位金手指32上面的IC定位机构33，及设置在引线PCB板31下方、具有弹性自动复位作用的散热板控针34。所述IC脚位金手指32具有弹性自动复位的功能。
[0013]其中，所述IC定位机构33侧视时呈凹型设置。
[0014]其中，所述散热板控针34设置有三根以上。
[0015]其中，所述IC散热板探针通过引线PCB板31与IC脚位金手指32连接。
[0016]操作时，首先，IC元件上料到压测测试板3上，同时，测试站高度调整机构2启动进行高度调整，使压测测试板3可对不同规格、不同类型的IC元件进行测试。其次，IC定位机构33对IC元件进行压测前定位，定位完成之后，IC脚位金手指32与IC散热板探针对IC元件进行压测测试，测试板引线转换机构4与压测测试板3相配合使用，使本实用新型实现了可对精细IC元件进行多脚位、多电信测试。
[0017]本实用新型的一种QFN压测测试机构，包括测试站底座，及垂直设置在测试站底座一端上、可对不同规格的IC元件进行测试的测试站高度调整机构，及横向设置在测试站高度调整机构上端的压测测试板，及垂直设置在测试站底座另一端上的测试板引线转换机构；所述压测测试板设置包括引线PCB板，及设置在引线PCB板中部、具有弹性自动复位作用的IC脚位金手指，及盖设于IC脚位金手指上面的IC定位机构，及设置在引线PCB板下方、具有弹性自动复位作用的散热板控针。本实用新型由于设置有测试站底座、测试站高度调整机构、压测测试板和测试板引线转换机构，其通过调节测试站高度可适用于对不同规格、不同类型的IC元件进行测试，通用性强；其又由于设置有引线PCB板、IC定位机构、IC脚位金手指和IC散热板探针，其通过IC定位机构可对IC元件进行压测前定位，保证了 IC脚位金手指与IC散热板探针对IC元件进行测试时具有良好的接触性能，从而保证了测试的准确性，其还设置测试板引线转换机构与压测测试板相配合操作，使其满足可对精细的IC元件进行多脚位、多电信的测试要求，扩展性强，结构简单，成本低，操作简便，实用性强，推于广泛推广使用。
[0018]上述实施例，只是本实用新型的一个实例，并不是用来限制本实用新型的实施与权利范围，凡与本实用新型权利要求所述内容相同或等同的技术方案，均应包括在本实用新型保护范围内。
【主权项】
1.一种QFN压测测试机构，其特征在于:包括测试站底座，及垂直设置在测试站底座一端上、可对不同规格的IC元件进行测试的测试站高度调整机构，及横向设置在测试站高度调整机构上端的压测测试板，及垂直设置在测试站底座另一端上的测试板引线转换机构；所述压测测试板设置包括引线PCB板，及设置在引线PCB板中部、具有弹性自动复位作用的IC脚位金手指，及盖设于IC脚位金手指上面的IC定位机构，及设置在引线PCB板下方、具有弹性自动复位作用的散热板控针。2.根据权利要求1所述的一种QFN压测测试机构，其特征在于:所述IC定位机构侧视时呈凹型设置。3.根据权利要求1所述的一种QFN压测测试机构，其特征在于:所述散热板控针设置有三根以上。4.根据权利要求1所述的一种QFN压测测试机构，其特征在于:所述IC散热板探针通过引线PCB板与IC脚位金手指连接。
【专利摘要】本实用新型的一种QFN压测测试机构，包括测试站底座、测试站高度调整机构、压测测试板、测试板引线转换机构、引线PCB板、IC脚位金手指、IC定位机构与散热板控针。本实用新型通过调节测试站高度可适用于对不同规格、不同类型的IC元件进行测试，通用性强；其又由于设置有引线PCB板、IC定位机构、IC脚位金手指和IC散热板探针，其通过IC定位机构可对IC元件进行压测前定位，保证了IC脚位金手指与IC散热板探针对IC元件进行测试时具有良好的接触性能，从而保证了测试的准确性，其通过设置测试板引线转换机构与压测测试板相配合操作，使其满足对精细的IC元件进行多脚位、多电信的测试要求，扩展性强，结构简单，成本低，操作简便，实用性强，推于广泛推广使用。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN204758717
【申请号】CN201520366946
【发明人】谢国清
【申请人】东莞市华越自动化设备有限公司
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年6月1日