一种测厚装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测厚仪领域，特别是涉及一种高精度的测厚装置。
【背景技术】
[0002]现有的测厚仪装置的基本结构简单地说就是指针测厚仪测量产品厚度，由于手动测量误差较大而且也不能无间隔测量。
【实用新型内容】
[0003]为克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种具有无间隔测量且误差较小的测厚装置。
[0004]为实现上述目的，本实用新型通过以下技术方案实现:
[0005]—种测厚装置，包括:
[0006]扫描架底脚3，其上设有用于高度及平衡微调的螺孔；
[0007]控制柜I，其设于扫描架底脚上；
[0008]扫描架基座4，其上设有两个孔，与所述扫描架底脚相匹配，采用螺栓与扫描架底脚固定连接，其内以可拆卸的方式安装有下探头；
[0009]放射源扫描台2，其位于扫描架基座上方，其内以可拆卸的方式安装有上探头；
[0010]其中，扫描架底脚与支撑控制柜对称设于所述放射源扫描台两侧。
[0011]优选的是，所述的测厚装置，其中，所述螺孔为M16螺孔。
[0012]优选的是，所述的测厚装置，其中，所述两个孔的直径均为22cm。
[0013]优选的是，所述的测厚装置，其中，所述螺栓为M20螺栓。
[0014]优选的是，所述的测厚装置，其中，所述测厚装置还包括四周不小于70cm间距的维护空间。
[0015]优选的是，所述的测厚装置，其中，所述下探头包括用于发射β射线的厚度放射源、矫正用的标样及其驱动装置、用于温度补偿的温度传感器。
[0016]优选的是，所述的测厚装置，其中，所述厚度放射源选用85Kr、147Pm中的一种。
[0017]优选的是，所述的测厚装置，其中，所述上探头包括用于接收β射线的电离室、高阻抗的前置放大器。
[0018]本实用新型的有益效果:本案的测厚装置利用物质对β射线的吸收近似服从指数衰减规律的原理制成，此外，下探头包括厚度放射源、矫正用的标样及其驱动装置和用于温度补偿的温度传感器，厚度放射源根据被测对象厚度放射源可选用85Kr、147Pm，上探头包括用于接收β射线的特殊结构的电离室和高阻抗的前置放大器，上下探头均可以随时拆卸安装，便于更换厚度放射源和检修;该装置用于产品测量厚度效果精准，误差小，尤其适用于人造革的测厚领域。
【附图说明】
[0019]图1为本实用新型一实施例所述的测厚装置的结构示意图。
[0020]其中，1-控制柜，2-放射源扫描台，3-扫描架底脚，4-扫描架基座。
【具体实施方式】
[0021]下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。
[0022]一种测厚装置，请参阅附图1，包括:
[0023]扫描架底脚3，其上设有用于高度及平衡微调的螺孔；
[0024]控制柜I，其设于扫描架底脚上；
[0025]扫描架基座4，其上设有两个孔，与所述扫描架底脚相匹配，采用螺栓与扫描架底脚固定连接，其内以可拆卸的方式安装有下探头；
[0026]放射源扫描台2，其位于扫描架基座上方，其内以可拆卸的方式安装有上探头；
[0027]其中，扫描架底脚与支撑控制柜对称设于所述放射源扫描台两侧。
[0028]进一步的，所述螺孔为M16螺孔。
[0029]进一步的，所述两个孔的直径均为22cm。
[0030]进一步的，所述螺栓为M20螺栓。
[0031]进一步的，所述测厚装置还包括四周不小于70cm间距的维护空间。
[0032]进一步的，所述下探头包括用于发射β射线的厚度放射源、矫正用的标样及其驱动装置、用于温度补偿的温度传感器。
[0033]进一步的，所述厚度放射源选用85Kr、147Pm中的一种。
[0034]进一步的，所述上探头包括用于接收β射线的电离室、高阻抗的前置放大器。
[0035]测厚装置利用物质对β射线的吸收近似服从指数衰减规律的原理制成，根据被测对象厚度放射源可选85Kr、147Pm，此外，下探头内还装有矫正用的标样及其驱动装置和用于温度补偿的温度传感器。上探头内装有用于接收β射线的特殊结构的电离室和高阻抗的前置放大器。装置用于本产品测量厚度效果精准，误差小。
[0036]尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
【主权项】
1.一种测厚装置，其特征在于，包括: 扫描架底脚(3)，其上设有用于高度及平衡微调的螺孔； 控制柜(I)，其设于扫描架底脚上； 扫描架基座(4)，其上设有两个孔，与所述扫描架底脚相匹配，采用螺栓与扫描架底脚固定连接，其内以可拆卸的方式安装有下探头； 放射源扫描台(2)，其位于扫描架基座上方，其内以可拆卸的方式安装有上探头； 其中，扫描架底脚与支撑控制柜对称设于所述放射源扫描台两侧。2.如权利要求1所述的测厚装置，其特征在于，所述螺孔为M16螺孔。3.如权利要求1所述的测厚装置，其特征在于，所述两个孔的直径均为22cm。4.如权利要求1所述的测厚装置，其特征在于，所述螺栓为M20螺栓。5.如权利要求1所述的测厚装置，其特征在于，所述测厚装置还包括四周不小于70cm间距的维护空间。6.如权利要求1所述的测厚装置，其特征在于，所述下探头包括用于发射β射线的厚度放射源、矫正用的标样及其驱动装置、用于温度补偿的温度传感器。7.如权利要求6所述的测厚装置，其特征在于，所述厚度放射源选用85Kr、147Pm中的一种。8.如权利要求1所述的测厚装置，其特征在于，所述上探头包括用于接收β射线的电离室、高阻抗的前置放大器。
【专利摘要】本案为一种测厚装置，包括：扫描架底脚，其上设有用于高度及平衡微调的螺孔；控制柜，其设于扫描架底脚上；扫描架基座，其上设有两个孔，与所述扫描架底脚相匹配，采用螺栓与扫描架底脚固定连接，其内以可拆卸的方式安装有下探头；放射源扫描台，其位于扫描架基座上方，其内以可拆卸的方式安装有上探头；其中，扫描架底脚与支撑控制柜对称设于所述放射源扫描台两侧。本案的测厚装置上下探头均可以随时拆卸安装，便于更换厚度放射源和检修；该装置用于产品测量厚度效果精准，误差小，尤其适用于人造革的测厚领域。
【IPC分类】G01B15/02
【公开号】CN205262423
【申请号】CN201520924773
【发明人】匡建武
【申请人】苏州贝斯特装饰新材料有限公司
【公开日】2016年5月25日
【申请日】2015年11月19日