一种荧光测量检测块的制作方法

文档序号:10920523阅读:254来源:国知局
一种荧光测量检测块的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种荧光检测结构,尤其涉及一种荧光测量检测块。一种荧光测量检测块,所述的检测块包含紫外二极管、入射口、接收口、滤光片、硅光电池,所述的紫外二极管位于入射口内,所述的硅光电池位于接收口内,所述的滤光片位于接收口内硅光电池下方。本实用新型检测块能够自由移动,在一个试剂卡上读取处理多种数据,体积小,干扰少,准确率高,易维修。
【专利说明】
_种焚光测量检测块
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种荧光检测结构,尤其涉及一种荧光测量检测块。
【背景技术】
[0002]试剂卡作为一种常见的检测手段,在一个试剂卡上滴加不同的试剂,对不同体液进行检测,光物质反应后,经过检测块的检测、采集和处理后,通过读卡得到反映信息,从而获取体液中反映的数据。具有高效、准确,同一批次多次读取的优点。目前试剂卡荧光检测仪主要固定式读卡,采用的是固定读卡的荧光检测结构。而目前常见的荧光检测组件不能移动,入射和回收光线都是以圆形光斑形状,已经不适应一卡读取多种数据的要求了。
【实用新型内容】
[0003]所要解决的问题:针对以上问题,本实用新型提供一种荧光测量检测块,检测块能够自由移动,在一个试剂卡上读取处理多种数据,体积小,干扰少,准确率高,易维修。
[0004]技术方案
[0005]—种荧光测量检测块,所述的检测块包含紫外二极管、入射口、接收口、滤光片、硅光电池,所述的紫外二极管位于入射口内,所述的硅光电池位于接收口内,所述的滤光片位于接收口内硅光电池下方。
[0006]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块还设有遮光片,所述的遮光片位于检测块底面;所述的遮光片上设有反射接收孔和遮光孔。
[0007]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块底面设有遮光片槽;所述的遮光片与检测块活动连接。
[0008]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块还设有防导电避让孔。
[0009]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的入射口与与检测块底部呈30°至75。。
[0010]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的接收口与检测块底部呈60°至120。。
[0011]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的入射口为末端平整圆锥状。
[0012I作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的遮光片厚度为0.01厘米至0.1厘米。
[0013]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,侧面或底部设有滑槽;所述的检测块一端还设有齿条槽。
[0014]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的反射接收孔为圆形;所述的遮光孔为长椭圆形或者长方形。
[0015]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的遮光孔长为0.1厘米至I厘米,所述的遮光孔宽为0.01厘米至0.3厘米。
[0016]有益效果
[0017]本实用新型提供一种荧光测量检测块,检测块能够自由移动,在一个试剂卡上读取处理多种数据,体积小,干扰少,准确率高,易维修。内置紫外二极管不受到影响的发射光线,防止大范围的光线照射,造成机器老化,影响仪器,使用寿命。同时对紫外二极管要求功率小,能够长时间持续工作,节约能源。内置硅光电池负责接收信号,信号稳定好。内置滤光片用于过滤其他波长的光线,内置硅光电池负责接收信号,信号稳定性好。起到过滤光线的作用,位于底部用料少,而且牢固,不易移动,检修或者更换只需从接收口近底面开口处捣一下即可。而且因为滤光片位于接收口底部,上面有硅光电池遮蔽,不容易被污染。
[0018]I遮光片槽的设计使得整体部件平整,安装运输方便,槽状结构能够紧挨着遮光片并起到保护遮光片的作用。
[0019]2可拆卸式的遮光片,方便拆卸、维修,容易更换,可以根据不同规格的试剂卡调整更换不同规格的遮光片。
[0020]3荧光检测组件内有很多的线路板和排针焊接头,或者其他焊接处,为了避免焊接头和底座检测块接触,可以在相应的可能接触焊接处的位置挖空形成防防导电避让孔,防止漏电等情况发生。
[0021]4入射口和接收口的角度决定了光线入射的角度和接受的角度,这个角度范围相互干扰小,检测准确率高。
[0022]5上宽下窄结构,紫外二极管不需要借助其他辅助工具安放稳定,且在内部活动范围小发出广信稳定,不会出现晃动,且方便运输。
[0023]6检测块上的滑槽和齿条槽配合电机等移动部件移动,移动更加平滑,稳定性高,发光稳定不抖动,光线采集效果好。
[0024]7遮光孔用于将入射光斑调成为长条形,这种结构能够增大荧光照射到试剂卡上的区域,有效的检测试剂卡内荧光试纸条上的试剂,增快读卡速度,防止漏检,信息更加全面。所述的回收光口为圆口,这种结构能够阻碍多余的光线,回收光斑为圆形。遮光孔的尺寸范围适合多种不同带检测标本,且该范围内标本覆盖率高,结果准确。
【附图说明】
[0025]图1为一种荧光测量组件检测块的立体结构示意图;
[0026]图2为一种荧光测量组件检测块的俯视结构示意图;
[0027]图3为一种荧光测量组件检测块的遮光片结构示意图;
[0028]图4为一种荧光测量组件检测块的遮光片结构示意图;
[0029]1-防导电避让孔;2-入射口; 3-接收口; 4-螺丝固定孔;5-齿条槽;6-滑槽;7-遮光板槽;8-遮光片;9-遮光孔;I O-反射接收孔。
【具体实施方式】
[0030]实施例1
[0031]如图1、2、3所示,一种荧光测量检测块,所述的检测块包含紫外二极管、入射口2、接收口 3、滤光片、硅光电池,所述的紫外二极管位于入射口 2内,所述的硅光电池位于接收口 3内,所述的滤光片位于接收口 3内硅光电池下方。
[0032]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块还设有遮光片8,所述的遮光片8位于检测块底面;所述的遮光片8上设有反射接收孔10和遮光孔9。
[0033]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块底面设有遮光片槽7;所述的遮光片8与检测块活动连接。
[0034]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块还设有防导电避让孔I。
[0035]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的入射口2与底部呈75°。
[0036]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的接收口3与检测块底部呈120°。
[0037]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的入射口2为末端平整圆锥状。
[0038]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,底部设有滑槽6;所述的检测块一端还设有齿条槽5。
[0039]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的遮光片8厚度为0.03厘米。
[0040]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的反射接收孔10为圆形;所述的遮光孔9为长方形。
[0041]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的遮光孔9长度为0.2厘米,宽度
0.05厘米。
[0042]实施例2
[0043]如图1、2、3所示,一种荧光测量检测块,所述的检测块包含紫外二极管、入射口2、接收口3、滤光片、硅光电池,所述的紫外二极管位于入射口2内,所述的硅光电池位于接收口 3内,所述的滤光片位于接收口 3内硅光电池下方。
[0044]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块还设有遮光片8,所述的遮光片8位于检测块底面;所述的遮光片8上设有反射接收孔10和遮光孔9。
[0045]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块底面设有遮光片槽7;所述的遮光片8与检测块活动连接。
[0046]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块还设有防导电避让孔I。
[0047]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的入射口2与底部呈60°。
[0048]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的接收口3与检测块底部呈80°。
[0049]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的入射口2为末端平整圆锥状。
[0050]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,底部设有滑槽6;所述的检测块一端还设有齿条槽5。
[0051 ]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的遮光片8厚度为0.04厘米。
[0052]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的反射接收孔10为圆形;所述的遮光孔9为长方形。
[0053]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的遮光孔9长度为0.5厘米宽度为
0.2厘米。
[0054]实施例3
[0055]如图1、2、4所示,一种荧光测量检测块,所述的检测块包含紫外二极管、入射口2、接收口 3、滤光片、硅光电池,所述的紫外二极管位于入射口 2内,所述的硅光电池位于接收口 3内,所述的滤光片位于接收口 3内硅光电池下方。
[0056]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块还设有遮光片8,所述的遮光片8位于检测块底面;所述的遮光片8上设有反射接收孔10和遮光孔9。
[0057]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块底面设有遮光片槽7;所述的遮光片8与检测块活动连接。
[0058]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的检测块还设有防导电避让孔I。
[0059]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的入射口2与底部呈30°。
[0060]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的接收口3与检测块底部呈60°。
[0061]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的入射口2为末端平整圆锥状。
[0062]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,底部设有滑槽6;所述的检测块一端还设有齿条槽5。
[0063]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的遮光片8厚度为0.05厘米。
[0064]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的反射接收孔10为圆形;所述的遮光孔9为长椭圆。
[0065]作为本技术方案的一种改进,更进一步的,所述的遮光孔9长度为I厘米宽度0.3厘米。
【主权项】
1.一种荧光测量检测块,其特征在于,所述的检测块包含紫外二极管、入射口、接收口、滤光片、硅光电池,所述的紫外二极管位于入射口内,所述的硅光电池位于接收口内,所述的滤光片位于接收口内硅光电池下方。2.根据权利要求1所述的一种荧光测量检测块,其特征还在于,所述的检测块还设有遮光片,所述的遮光片位于检测块底面;所述的遮光片上设有反射接收孔和遮光孔。3.根据权利要求2所述的一种荧光测量检测块,其特征在于,所述的检测块底面设有遮光片槽;所述的遮光片与检测块活动连接。4.根据权利要求1所述的一种荧光测量检测块,其特征还在于,所述的检测块还设有防导电避让孔。5.根据权利要求1所述的一种荧光测量检测块,其特征在于,所述的入射口与检测块底部呈30°至75° ;所述的接收口与检测块底部呈60°至120°。6.根据权利要求1所述的一种荧光测量检测块,其特征在于,所述的入射口为末端平整圆锥状。7.根据权利要求2所述的一种荧光测量检测块,其特征在于,所述的遮光片厚度为0.01厘米至0.1厘米。8.根据权利要求1所述的一种荧光测量检测块,其特征在于,侧面或底部设有滑槽;所述的检测块一端还设有齿条槽。9.根据权利要求2所述的一种荧光测量检测块,其特征还在于,所述的反射接收孔为圆形;所述的遮光孔为长椭圆形或者长方形。10.根据权利要求2所述的一种荧光测量检测块,其特征还在于,所述的遮光孔长为0.1厘米至I厘米,所述的遮光孔宽为0.01厘米至0.3厘米。
【文档编号】G01N21/64GK205607998SQ201620316915
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2016年4月15日
【发明人】何仕钊
【申请人】南京诺尔曼生物技术有限公司
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