专利名称：衰耗冗余控制器的防干扰测试孔的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及铁路信号系统，具体说是无绝缘移频自动闭塞系统中的衰耗冗余控制器。
背景技术：
目前，衰耗冗余控制器面板11上设测试孔12，为方便测试数据，测试孔外端距面板外表面为a=lmm左右，即测试孔向面板方向凹进Imm左右(参见图I)。在衰耗冗余控制器进行静电放电试验时(接触放电6000V，空气放电8000V)，干扰信号常常通过测试孔进入衰耗冗余控制器中，影响系统信号的正常传输，使接收器存在闪红式死机及损坏的情况。
发明内容为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种衰耗冗余控制器的防干扰测试孔。本实用新型的目的是这样实现的面板上设测试孔，其特征是测试孔外端距面板外表面为3. 5-5_。这样它增加了爬电距离，能够使衰耗冗余控制器在静电放电试验中抗住干扰信号。同时，又能够满足测试仪表的表笔与测试孔有效地接触(一般表笔笔尖为10—15mm)，得到真实的测试数据。与现有技术相比，本实用新型的积极效果是大大提高了衰耗冗余控制器的抗干扰能力。
图I是现有的衰耗冗余控制器的测试孔的剖视图。图2是本实用新型的结构示意图(局部剖)。
具体实施方式
面板I上设测试孔2，所说的测试孔外端距面板外表面为b=3. 5mm。这样它增加了爬电距离，能够使衰耗冗余控制器在静电放电试验中抗住干扰信号。同时，又能够满足测试仪表的表笔与测试孔有效地接触(一般表笔笔尖为10 — 15mm)，得到真实的测试数据。
权利要求1.一种衰耗冗余控制器的防干扰测试孔，面板上设测试孔，其特征是测试孔外端距面板外表面为3. 5_5mm。
专利摘要本实用新型提供一种衰耗冗余控制器的防干扰测试孔，所要解决的技术问题是目前的衰耗冗余控制器面板上设测试孔，测试孔外端距面板外表面为a=1mm左右。在衰耗冗余控制器进行静电放电试验时，干扰信号常常通过测试孔进入衰耗冗余控制器中。本实用新型的要点是测试孔外端距面板外表面为3.5-5mm。本实用新型的积极效果是大大提高了衰耗冗余控制器的抗干扰能力。
文档编号G05B9/03GK202748614SQ20122027655
公开日2013年2月20日 申请日期2012年6月13日 优先权日2012年6月13日
发明者吕树远, 王进忠, 王洋, 贾敏捷, 王润隆, 杨力, 胡军鹤, 于智博, 周海涛, 刘嘉 申请人:沈阳铁路信号有限责任公司