一种多读数头数据采集与多主控接收系统的制作方法

文档序号:33834954发布日期:2023-04-19 22:59阅读:53来源:国知局
一种多读数头数据采集与多主控接收系统的制作方法

本技术涉及一种多读数头数据采集与多主控接收系统。


背景技术:

1、目前市面上主流的绝对式圆光栅编码器、增量式圆光栅编码器、时栅角位移传感器多采用基于biss c协议或endat 2.2协议的读数头与外部主控设备进行数据通讯。bissc协议或endat 2.2协议是一种主从接口模式,角度传感器同一时刻只允许一个主控设备进行访问。而在实际项目应用中像转台、转位机构、吊舱、导引头等伺服控制产品若仅采用一个读数头进行角度信息读取无法满足更高精度指标要求;同时在无刷电机驱动产品中为了使电机平稳可靠的换向,无刷电机驱动器也必须接有一路角度信息反馈输入,若为此增加一个读数头无疑会增加硬件成本和不稳定性;另外转台、转位机构、导引头、吊舱等伺服控制产品都在往小型化、集成化、模块化、一体化方面发展,冗余的设计会阻碍并限制相关技术提升。


技术实现思路

1、本实用新型其目的就在于提供一种多读数头数据采集与多主控接收系统,以解决现有转台、转位机构等伺服控制产品精度不高,无刷电机驱动器等有关功能产品需额外读数头设备作为测角信息反馈,单读数头单主控适应场景较少,集成化、模块化程度不高的问题。

2、为实现上述目的而采取的技术方案是,一种多读数头数据采集与多主控接收系统,包括用于同时与多个或多种测角传感器相连的多个读数头设备接口单元,所述多个读数头设备接口单元连接数据采集单元,数据采集单元连接数据处理系统,所述数据处理系统连接数据发送单元,数据发送单元通过多主控设备接口单元与多个主控设备连接。

3、进一步,所述数据采集单元通过多个读数头设备接口单元与多个或多种所述测角传感器互相通讯,并根据协议解析出角度信息;多个或多种所述测角传感器为多个单读数的圆光栅传感器、单个多读数头的圆光栅传感器、多个单读数的时栅角位移传感器、单个多读数头的时栅角位移传感器。

4、进一步,所述数据处理系统分别与数据采集单元、数据发送单元连接,数据处理系统接收数据采集单元的角度信息并按阵列存储的同时根据指令将角度信息传送给数据发送单元。

5、进一步,所述数据发送单元通过多主控设备接口单元与多个主控设备通讯连接,并按主控设备协议要求对角度信息进行编码传输;所述主控设备为需角度信息的主控设备。

6、有益效果

7、与现有技术相比本实用新型具有以下优点。

8、本实用新型可实现多个或多种读数头数据同时角度信息采集,多个或多种主控设备同时接收角度信息,降低高精度伺服控制类产品硬件成本,简化系统设计架构,提高转台、转位机构、导引头、吊舱等伺服控制产品的测角反馈精度、系统测试精度;提升转台、转位机构、导引头、吊舱等伺服控制产品的小型化、集成化、模块化、一体化水平。



技术特征:

1.一种多读数头数据采集与多主控接收系统,包括用于同时与多个或多种测角传感器相连的多个读数头设备接口单元(1),其特征在于,所述多个读数头设备接口单元(1)连接数据采集单元(2),数据采集单元(2)连接数据处理系统(3),所述数据处理系统(3)连接数据发送单元(4),数据发送单元(4)通过多主控设备接口单元(5)与多个主控设备连接。

2.根据权利要求1所述的一种多读数头数据采集与多主控接收系统,其特征在于,所述数据采集单元(2)通过多个读数头设备接口单元(1)与多个或多种所述测角传感器互相通讯,并根据协议解析出角度信息;多个或多种所述测角传感器为多个单读数的圆光栅传感器、单个多读数头的圆光栅传感器、多个单读数的时栅角位移传感器、单个多读数头的时栅角位移传感器。

3.根据权利要求1所述的一种多读数头数据采集与多主控接收系统,其特征在于,所述数据处理系统(3)分别与数据采集单元(2)、数据发送单元(4)连接,数据处理系统(3)接收数据采集单元(2)的角度信息并按阵列存储的同时根据指令将角度信息传送给数据发送单元(4)。

4.根据权利要求1所述的一种多读数头数据采集与多主控接收系统,其特征在于,所述数据发送单元(4)通过多主控设备接口单元(5)与多个主控设备通讯连接,并按主控设备协议要求对角度信息进行编码传输;所述主控设备为需角度信息的主控设备。


技术总结
本技术公开了一种多读数头数据采集与多主控接收系统,包括用于同时与多个或多种测角传感器相连的多个读数头设备接口单元,所述多个读数头设备接口单元连接数据采集单元,数据采集单元连接数据处理系统,所述数据处理系统连接数据发送单元,数据发送单元通过多主控设备接口单元与多个主控设备连接。本技术能够解决现有转台、转位机构等伺服控制产品精度不高,无刷电机驱动器等有关功能产品需额外读数头设备作为测角信息反馈,单读数头单主控适应场景较少,集成化、模块化程度不高的问题。

技术研发人员:文先刚,刘强,周宇友
受保护的技术使用者:九江精密测试技术研究所
技术研发日:20221213
技术公布日:2024/1/13
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