一种中频产品通用控制测试系统的制作方法

本发明涉及测试系统，具体来说，涉及一种中频产品通用控制测试系统。

背景技术：

1、在电子装备领域，芯片频率综合器、衰减器、射频开关等基础设备正在朝着高速、高精、高效方向发展，建立可靠的电子装备控制测试系统是保证设备安全运行的必要举措。

2、图1为中频产品的测试模式。对于中频产品来说，其性能测试仪器主要包括信号源、频谱仪以及直流电源等，虽然测试仪器相对固定，但是每一种中频产品在进行测试时所需要的工装及连接线缆都各不相同。并且大多数电子设备制造企业均为多品种、小批量的生产模式，如果每种中频产品在测试时都需要专用测试工装，那么专用工装数量将会达到数百种。并且在生产线测试不同产品时需要频繁的进行工装的更换，所有工装都需要进行管理和定期的维护。因此，发明一种中频产品通用的控制测试系统及方法，是亟需解决的问题。

技术实现思路

1、本发明的目的在于解决上述背景中的问题，发明一种中频产品通用控制测试系统，该系统以通用性、灵活性为主要特点，可以提高中频生产线生产制造的柔性和生产效率，缩短产品测试周期。

2、为了实现上述目的，本发明所采取的技术方案为：

3、一种中频产品通用测试系统，包括上位机、单片机和通用控制单元；所述通用控制单元主要由主控单元、程控直流电源单元、接口转换单元、射频开关单元、参考分路单元、电源滤波器以及电源单元组成；

4、所述通用控制单元的主控单元与上位机通过串口协议进行通信，主控单元接收到协议后进行翻译，针对协议的内容分别控制程控直流电源单元、接口转换单元以及射频开关单元；

5、所述通用控制单元的程控直流电源用于接收主控单元的控制命令并回报其运行状态，主控单元可控制程控直流电源单元进行四路电压的切换和开关；

6、所述通用控制单元的射频开关单元用于实现8路输入和8路输出，主控单元的控制信号经电平转换后控制射频开关单元切换，主要实现多路输入或多路输出产品的不换线测试。

7、所述通用控制单元的参考分路单元，主要用于为被测中频产品提供10mhz、20mhz、50mhz、100mhz的参考信号，每种信号单独设置开关加电并分别输出两路；

8、外界电源通过对应的电源滤波器分别连接程控直流电源单元和电源单元；其中电源单元的输出端分别连接主控单元、接口转换单元、参考分路单元和射频开关单元，对其进行供电；主控单元的通过双向端口分别连接接口转换单元、射频开关单元和程控直流电源单元。

9、进一步的，所述单片机用于检测通用控制单元的程控直流电源单元状态以及与程控直流电源单元进行通信，单元机内集成的主控模块，用于生成控制信号输出至接口转换单元。

10、进一步的，所述上位机中设置有通用控制机箱模块，通用控制机箱模块用于显示程控直流电源单元的运行状态，选择控制接口，控制中频产品的输出频率以及控制射频开关。

11、进一步的，所述单片机中还集成有多种中频产品的测试软件，并且可以随时调用。

12、本发明采取上述技术方案所产生的有益效果在于：

13、1、本发明可以控制被测中频产品内部串行、并行信号，切换不同输入不同输出的射频信号，转换串口协议以及向被测中频产品供电；

14、2、本发明极具通用性、灵活性，适用于多种中频产品的测试而不需要频繁的进行测试工装及测试系统的更换，极大提高了中频生产线生产制造的柔性和生产效率，并且缩短产品测试周期。

技术特征：

1.一种中频产品通用控制测试系统，包括上位机、单片机和通用控制单元；其特征在于，所述通用控制单元主要由主控单元、程控直流电源单元、接口转换单元、射频开关单元、参考分路单元、电源滤波器以及电源单元组成；

2.根据权利要求1所述的一种中频产品通用控制测试系统，其特征在于，所述单片机用于检测通用控制单元的程控直流电源单元状态以及与程控直流电源单元进行通信，单元机内集成的内主控模块，用于生成控制信号输出至接口转换单元。

3.根据权利要求2所述的一种中频产品通用控制测试系统，其特征在于，所述上位机中设置有通用控制机箱模块，通用控制机箱模块用于显示程控直流电源单元的运行状态，选择控制接口，控制中频产品的输出频率以及控制射频开关。

4.根据权利要求2所述的一种中频产品通用控制测试系统，其特征在于，所述单片机中还集成有多种中频产品的测试软件，并且可以随时调用。

技术总结
本发明公开了一种中频产品通用控制测试系统，属于测试系统技术领域。系统包括上位机、单片机、2U机箱、通用控制单元及其软件系统。所述通用控制单元包括：主控单元、程控直流电源单元、接口转换单元、射频开关单元、参考分路单元、电源滤波器以及电源单元。所述软件系统包括主控单元模块、通用控制机箱模块以及自动测试模块。本发明的优势在于：具通用性、灵活性，适用于多种中频产品的测试而不需要频繁的进行测试工装及测试系统的更换，极大提高了中频生产线生产制造的柔性和生产效率，并且缩短产品测试周期。

技术研发人员：陆朝光,马茜,姜艳霞,刘博亚
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第五十四研究所
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15