专利名称：I2c测试单体的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种I2C测试单体，是用以测试一具有I2C介面的产品。该测试单体是由单晶片完成，可以独立测试，亦可结合其他的测试系统来对产品做测试。
在科技迅速发展的今天，各式各样的电子电器装置，早已充斥着我们的日常生活；为了要达成更高的效率，这些装置势必要能沟通、互相合作，因此针对不同的设备，各种不同的通讯介面不断的被发展出来。其中有一种简易的主从式架构通讯方式，称为I2C(Inter-IntegratedCircuit Bus)，它只利用SDA(Serial Data Line)、SCL(Serial Clock Line)及GND(接地)三条线构成串列传输通讯，通常用于短距离(小于1．5m)及传输速度要求不高(Std100Kbits／s)的装置间沟通。
在电脑装置方面的各式介面，如GPIB(仪器控制介面)、CENTRONICS(PRINTER介面)、RS-232(电脑周边介面)、RS-485(串列通讯介面)、USB(电脑通用介面)、SCSI、PCI……等等比较之下，I2C是属于一种简单许多的通讯介面，其通讯架构可参阅
图1，I2C BUS的架构。
在I2C BUS上的各装置，都是以SDA(11)和SCL(12)两条线互相电连接。在每一次的通讯中，都有一个装置扮演主要(Master)的角色，控制通讯过程；还有一个装置扮演从动(Slave)的角色，接受控制。而在上述两个装置中，又会有一个同时扮演传送(Transmitter)的角色，以送出资料；而另外一个装置则是同时扮演接收(Receiver)的角色，以接收资料。在图1中，有一个装置扮演着主接收(Master-Receiver)(13)的角色，还有一个装置是从动传送(Slave-Transmitter)(14)，表示目前的通讯情况，是控制通讯的主要(Master)需要资料而担任接收(Receiver)，并控制担任传送(Transmitter)的从动(Slave)送出资料。
目前在许多伺服器电源供应器(SERVER POWER SUPPLY)上，都采用了I2C的介面来作讯息的沟通，而在电脑日渐普及、功能日益强大的今日，伺服器的需求也相对的水涨船高，因此这种I2C的介面应用也越来越普遍。在现有的伺服器电源供应器产品测试上，可以分为两种方式。
第一种是用于没有I2C介面的产品，请参阅图2所示，伺服器电源供应器现有测试技术一。该测试环境只是单纯的电连接测试系统22和伺服器电源供应器(SERVER POWER SUPPLY)21，用来测试一些简单的I／O信号。其中该测试系统22如现有的CHROMA 6000 SYSTEM或POWER PRO等产品，除了提供交流电源，还可以提供各式各样的测试信号，例如负载过高、短路、过热状况等等，以模拟各种测试环境。
第二种是用于具有I2C介面的产品，请参阅图3所示，伺服器电源供应器现有测试技术二。该测试环境中，伺服器电源供应器21分别电连接了交流电源(AC SOURCE)31、电子负载32、I2C测试机台33。其中交流电源31用以提供伺服器电源供应器21工作时所需的电源，电子负载32提供如短路、负载过重等各式简单I／O的测试信号，而I2C介面的测试，则是由I2C测试机台33来处理，其中该测试机台是一部电脑，也具有I2C介面，内部具有一用C语言写的测试程式，来处理I2C的测试。
撰写该测试程式，需要熟悉电脑介面控制(如8255卡、Printer Port、Rs-232C…)、GPIB介面、仪器控制命令、I2C介面、程式语言(如C++、VB)、待测伺服器电源供应器的功能需求及相关软硬体等，因此该测试程式在撰写上非常不便、费时，而且不易维护，用高阶语言写成程式，也造成测试系统的无法统一，更别提为了测试一个伺服器电源供应器，就要外接电源、负载和测试机台等设备的繁杂不便了。
有鉴于此，本发明者克服现有技术存在的缺陷，乃经悉心试验与研究，并一本锲而不舍的精神，终于创作出本发明的I2C测试单体。以下为本发明的简要说明。
本发明的主要目的在于，克服现有的存在的缺陷，而提供一种新型结构的I2C测试单体，使其电连接一测试系统，该测试系统是提供一电源供应器的测试环境，而该电源供应器是具有一I2C介面，该I2C测试单体是用以测试该电源供应器。
本发明的目的是由以下技术方案实现的。
该I2C测试单体包括一第一介面，是为一I2C介面，是电连接该电源供应器，以接收一第一信号；一第二介面，是电连接该测试系统，以接收一第二信号；以及一单体本体，是因应该第一信号及该第二信号，做一处理动作，以辅助该测试系统测试该电源供应器。
本发明的目的还可由以下技术措施进一步实现。
前述的I2C测试单体，其中该单体本体更包括一控制单元，是因应该第一信号与该第二信号的一对应规则，以完成该处理动作；一记忆单元，是电连接该控制单元，用以记录该第一信号与该第二信号的该对应规则；以及一回应单元，是电连接该控制单元，并于该控制单元完成该处理动作后，执行一回应动作。
前述的I2C测试单体，其中该控制单元是为一比较器或是一微处理器。
前述的I2C测试单体，其中该处理动作是因应该对应规则，以决定该第一信号与该第二信号的一对应关系，并触发该回应动作。
前述的I2C测试单体，其中当该回应单元为一显示装置时，该回应动作是为输出该对应关系至该显示装置，而该显示装置可为液晶显示装置(LCD)。
前述的I2C测试单体，其中当该回应单元是为电连接该测试系统的一回应电路时，该回应动作是为输出该对应关系至该测试系统。
前述的I2C测试单体，其中该记忆单元是为唯读记忆体(ROM)。
前述的I2C测试单体，其中该测试系统是电连接并送出一第三信号至该电源供应器，并送出该第二信号至该测试单体。
前述的I2C测试单体，其中该电源供应器是因应该第三信号，输出该第一信号至该测试单体。
本发明与现有技术相比具有明显的优点及其效果。
我们可得以下三点结论一、本发明以简单的构造元件，就可以取代现有复杂的装置。二、本发明在不同方面的应用，具有极大的弹性。三、应用了本发明的产品，可以以极低的成本，增加了极重要的功能。因此，本发明实为一可广泛运用、具有前景性又可提高市场竞争力的产品。
本发明的具体结构由以下实施例及其附图详细给出。
图1是I2CBUS的架构。
图2是伺服器电源供应器现有测试技术一。
图3伺服器电源供应器现有测试技术二。
图4是本发明测试环境架构的较佳实施例。
图5是单体本体结构方块图。
图示中各符号11SDA(Serial Data Line)12SCL(Serial Clock Line)13Master-Receiver 14Slave-Transmitter21伺服器电源供应器(SERVER POWER SUPPLY)22测试系统31交流电源(ACSOURCE)32电子负载33I2C测试机台41I2C测试单体 42第一介面43第二介面44第一信号45第二信号46第三信号51控制单元52记忆单元53回应单元以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的I2C测试单体，其具体结构、特征及其功效，详细说明如后。
请参阅图4所示，本发明测试环境架构的较佳实施例。其与图2比较之下可以发现，本发明的测试环境架构是在现有未测试I2C介面的架构下，增加一个I2C测试单体41，其中该单体以一第一介面42和伺服器电源供应器21电连接，以一第二介面43和测试系统22电连接。
该单体可以独立于该测试系统22以外、与该测试系统合作(如图4所示)，也可以合并到该测试系统的电路中，或者是只用该单体与伺服器电源供应器21电连接以提供测试，而不电连接该测试系统22。后两者的结构在外观上类似图2，只是各方块所提供的功能并不一样。
本发明为一种I2C测试单体，用于一具有I2C介面的伺服器电源供应器的测试环境，是利用一单晶片构成的单体，取代现有以电脑完成的测试机台，以增加测试的弹性并降低成本、简化工作。
本发明的较佳实施例如图4所示，而单体内部的结构，则参阅图5所示单体本体结构方块图。本体包括三大部分，分别是控制单元51、记忆单元52、回应单元53。控制单元51分别借由第一介面42、第二介面43和伺服器电源供应器、测试系统电连接，接收各种测试信号，并因应该等信号来作处理。
在该测试环境中，其测试方式为该伺服器电源供应器，当接收到短路、负载过重、电压不足等等测试信号时，会发出一回应的信号。参阅图4所示，本发明实施例是利用测试系统22发出一测试的第三信号46到相电连接的伺服器电源供应器21，该伺服器电源供应器会因应该第三信号46的短路、过载等不同测试条件内容，透过I2C介面发出一回应的第一信号44，经由第一介面42到该测试单体41。同时，该测试系统也借由第二介面43和该I2C测试单体41相电连接，并在发出该第三信号的同时，发出一第二信号45到该I2C测试单体，告知目前对该伺服器电源供应器进行的是何种条件的测试。
请参阅图5所示，在I2C测试单体中，记忆单元52在逻辑上是一个表格，记录着第一信号与第二信号的对应关系。当控制单元51分别由第一介面42、第二介面43接收到第一信号44和第二信号45后，就会到记忆单元52的表格去，查询比对目前这两个信号的对应关系是否为表格中所记录的正确对应关系，之后将比对的结果通知该控制单元51，并透过该回应单元53输出。
举例而言，假设第二信号为01代表过载的测试，而正常情形下，伺服器电源供应器在过载时会由I2C测试介面输出一FF的第一信号，则在记忆单元52的表格中，会记录着第二信号的01对应到第一信号的FF。当测试系统22要测试伺服器电源供应器在过载下的反应是否正常时，先提供一过载的第三信号46到伺服器电源供应器21，并输出一01的第二信号45到I2C测试单体41，告知目前进行的是过载的测试。
伺服器电源供应器21在接收到测试的第三信号46后，会输出一第一信号44作为回应。该I2C测试单体的控制单元，接收到第一信号与第二信号后，就会到记忆单元52的表格中查询。若该过载测试正常，伺服器电源供应器21会送出FF的第一信号，该控制单元将接收到的FF的第一信号和01的第二信号，而在记忆单元中记录着这样的对应是正确的，如此便能确定测试无误。如果测试不正常，送出的第一信号并不是FF，例如是DE，则在记忆单元中查询不到此种对应，就可以确定该项测试出了问题。
又，记忆单元52可以是一个简单的唯读记忆体(ROM)，记录着前述的对应表格，因此在测试不同规格的产品时，只要更换记忆单元52，就可以获得不同的信号对应规则，并不需要重新撰写程式，在使用、维护上都非常的快捷便利，节省了许多时间和工作成本。
测试的结果，是由回应单元52负责对外输出。该回应单元可以为一液晶显示驱动器，可以直接将测试结果的正确与否，直接由液晶显示器显示出来；也可以是一组回应电路，将测试结果送回测试系统22，合并其他的I／O测试结果一起输出，例如直接显示、或者由印表机列印出来等等，因此，本发明在应用上，不管是单独的用于I2C介面的测试，或者是合并现有对其他功能的测试系统，都非常的方便、具有弹性。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1．一种I2C测试单体，是电连接一测试系统，该测试系统是提供一电源供应器的测试环境，而该电源供应器是具有一I2C介面，其包括一第一介面，是为一I2C介面，是电连接该电源供应器，以接收一第一信号；一第二介面，是电连接该测试系统，以接收一第二信号；以及一单体本体，是因应该第一信号及该第二信号，做一处理动作，以辅助该测试系统测试该电源供应器。
2．根据权利要求1所述的I2C测试单体，其特征在于所述单体本体更包括一控制单元，是因应该第一信号与该第二信号的一对应规则，以完成该处理动作；一记忆单元，是电连接该控制阐，用以记录该第一信号与该第二信号的该对应规则；以及一回应单元，是电连接该控制单元，并于该控制单元完成该处理动作后，执行一回应动作。
3．根据权利要求2所述的I2C测试单体，其特征在于所述控制单元是为一比较器或一微处理器。
4．根据权利要求2所述的I2C测试单体，其特征在于所述处理动作是因应该对应规则，以决定该第一信号与该第二信号的一对应关系，并触发该回应动作。
5．根据权利要求2所述的I2C测试单体，其特征在于所述回应是为一显示装置。
6．根据权利要求5所述的I2C测试单体，其特征在于所述回应动作是输出该对应关系至该显示装置，而该显示装置是为液晶显示装置(LCD)。
7．根据权利要求2所述的I2C测试单体，其特征在于所述回应单元是为一回应电路。
8．根据权利要求7所述的I2C测试单体，其特征在于所述回应电路是电连接该测试系统。
9．根据权利要求7所述的I2C测试单体，其特征在于所述回应动作是输出该对应关系至该测试系统。
10．根据权利要求2所述的I2C测试单体，其特征在于所述记忆单元是为唯读记忆体(ROM)。
11．根据权利要求1所述的I2C测试单体，其特征在于所述测试系统是电连接并送出一第三信号至该电源供应器，并送出该第二信号至该测试单体。
12．根据权利要求1所述的I2C测试单体，其特征在于所述电源供应器是因应该第三信号，输出该第一信号至该测试单体。
全文摘要
一种I2C测试单体,是使用于一具有Ⅰ2C介面的产品测试场合,尤指一具Ⅰ2C介面的伺服器电源供应器的测试场合。其是提供一由单晶片完成的单体,用以直接测试产品,或是合并其他现有的测试系统来测试产品的多方面性能。本发明一方面免除了测试I2C介面的现有技术中,需要增加一台I2C测试机台的不便,一方面又可以增加一般现有的测试系统无法测试I2C介面的缺陷,进而提供一低成本高效率且多功能的品质。
文档编号G05B23/02GK1290875SQ99119760
公开日2001年4月11日 申请日期1999年9月30日 优先权日1999年9月30日
发明者叶治平 申请人:台达电子工业股份有限公司