专利名称：Ic仿真卡的制作方法
技术领域：
本实用新型属于一种IC卡仿真或IC卡外部接口设备的性能检测工具。
现有的IC卡，其集成电路的电触点一般为6个或8个，IC卡的外形尺寸、电触点分布位置符合IS07816的规定，其中，C1为集成电路的供电电源触点，C5为集成电路的信号地触点，如
图1所示，C4和C8没有统一规定，由各芯片厂家定义(或取消则为6个电触点)；使用时，插入IC卡外部接口设备(如各类专用或通用IC卡读写器)的卡座，通过有形的电极触点将卡的集成电路与卡座的触点连接进行数据交换；然而上述的IC卡仿真及IC卡外部接口设备的性能检测较麻烦。
本实用新型的目的是提供一种结构简单、能方便地用于IC卡仿真及IC卡外部接口设备性能检测的IC仿真卡。
本实用新型的目的是这样实现的，所述的IC仿真卡，包括基片和镶嵌在基片或附在基片上的对应于集成电路芯片的电触点，所述的电触点中包括对应于集成电路的供电电源触点C1和对应于集成电路的信号地触点C5，其结构特点为在基片中的触点C1和触点C5中至少有一触点有引信号线，在基片中的其它对应于集成电路的电触点包括上述基片中的触点C1和触点C5中未引信号线的触点，至少再有一触点有引信号线。
本实用新型的目的还可通过以下技术方案实现的，所述的IC仿真卡，其特点为在基片中的对应于集成电路的电触点包括触点C1和触点C5，以及包括其它的4个或6个对应于集成电路的电触点。所述的IC仿真卡，其特点为在基片中的触点C1有引信号线1，以及触点C5又有引信号线2。所述的IC仿真卡，其特点为在基片中的触点C1有引信号线1，在基片中的其它4个或6个的电触点至少有一个触点有引信号线。所述的IC仿真卡，其特点为在基片中的触点C5有引信号线2，在基片中的其它4个或6个的电触点至少有一个触点有引信号线。所述的IC仿真卡，其特点为在基片中的触点C1有引信号线1，以及触点C5又有引信号线2，在基片中的其它4个或6个的电触点全部有引信号线。
本实用新型由于采用在基片中的对应于集成电路的供电电源触点C1和对应于集成电路的信号地触点C5中至少有一触点有引信号线，在基片中的对应于其它集成电路的电触点包括上述基片中的触点C1和触点C5中未引信号线的触点，至少再有一触点有引信号线。因而能用于将IC卡外部接口设备与IC卡的接触点信号延伸到IC卡读写器卡座外，方便地用于IC卡仿真及IC卡外部接口设备的性能检测；另外，在应用中还可将不影响与IC卡读写器连接的本实用新型的Y端进行扩展，而增加其它应用电路，如图2所示。
以下结合附图和实例对本实用新型进行详细描述图1为现有IC卡的结构示意图。
图2为本实用新型的Y端扩展的结构示意图。
图3为本实用新型的结构示意图。
图4为本实用新型的另一结构示意图。
图5为本实用新型的又一结构示意图。
如图1、图2、图3、图4和图5所示，本实用新型包括基片10和镶嵌在基片10或附在基片10上的对应于集成电路芯片的电触点，基片10上可不包含集成电路芯片，也可包含集成电路芯片，当包含集成电路芯片时，所述的电触点就是集成电路芯片的电触点；在基片中的对应于集成电路的电触点包括对应于集成电路的供电电源触点C1和对应于集成电路的信号地触点C5,以及包括其它的4个或6个对应于集成电路的电触点C2、C3、C4、C6、C7,C4和C8没有统一规定，由各芯片厂家定义(或取消则为6个电触点)。如图3所示，在基片中的对应于集成电路的供电电源触点C1有引信号线1，以及对应于集成电路的信号地触点C5又有引信号线2。从触点C1或触点C5和任一触点引出信号线，即最少引出两根信号线，如在触点C3引信号线3，如图4所示；最多8根信号线，如图5所示，信号线分布方式任意。在应用中还可将不影响与IC卡读写器连接的本实用新型的Y端进行扩展，而增加其它应用电路，如图2所示。
权利要求1.一种IC仿真卡，包括基片(10)和镶嵌在基片(10)或附在基片(10)上的对应于集成电路芯片的电触点，所述的电触点中包括对应于集成电路的供电电源触点C1和对应于集成电路的信号地触点C5，其特征在于在基片(10)中的触点C1和触点C5中至少有一触点有引信号线，在基片中的其它对应于集成电路的电触点包括上述基片中的触点C1和触点C5中未引信号线的触点，至少再有一触点有引信号线。
2.根据权利要求1所述的IC仿真卡，其特征在于在基片(10)中的对应于集成电路的电触点包括触点C1和触点C5，以及包括其它的4个或6个对应于集成电路的电触点。
3.根据权利要求1或2所述的IC仿真卡，其特征在于在基片(10)中的触点C1有引信号线(1)，以及触点C5又有引信号线(2)。
4.根据权利要求1或2所述的IC仿真卡，其特征在于在基片(10)中的触点C1有引信号线(1)，在基片中的其它4个或6个的电触点至少有一个触点有引信号线。
5.根据权利要求1或2所述的IC仿真卡，其特征在于在基片(10)中的触点C5有引信号线(2)，在基片中的其它4个或6个的电触点至少有一个触点有引信号线。
6.根据权利要求1或2所述的IC仿真卡，其特征在于在基片(10)中的触点C1有引信号线(1)，以及触点C5又有引信号线(2)，在基片中的其它4个或6个的电触点全部有引信号线。
专利摘要本实用新型公开了一种IC仿真卡,包括基片和镶嵌在基片或附在基片上的对应于集成电路芯片的电触点,所述的电触点中包括对应于集成电路的供电电源触点C1和信号地触点C5,特点为在基片中的触点C1和触点C5中至少有一触点有引信号线,在基片中的其它对应于集成电路的电触点包括上述基片中的触点C1和触点C5中未引信号线的触点,至少再有一触点有引信号线。因而能方便地用于IC卡仿真及IC卡外部接口设备性能检测。
文档编号G06K19/07GK2453488SQ0023222
公开日2001年10月10日 申请日期2000年10月19日 优先权日2000年10月19日
发明者方辉, 杨志斌 申请人:福建省计量科学技术研究所