专利名称：高度检验判断装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及检验判断装置，尤其涉及一种高度检验判断装置。
背景技术：
机箱是电脑主机的一个重要部件，一般主机板通过螺钉螺锁在机箱底板上，其他板卡(如显卡、声卡等)一方面插设在主机板的插槽中实现与主机板上相应元件的通讯，同时也固定在电脑机箱后板(设有显示器、键盘等设备连接器的板)上以实现与外界设备的连接，板卡与机箱若不能可靠固定，会导致板卡不能正常使用，甚至损毁。机箱上主机板固定螺钉与后板间高度配合尺寸影响板卡、主机板、机箱间的配合连接，若此配合尺寸不能保证，可能造成板卡不能安装固定或安装后板卡连接不可靠，从而影响电脑主机的正常组装和使用。
以尺规测量主机板固定螺钉与后板间高度配合尺寸是否在所规定的配合尺寸范围内，因为待侧位置不能在同一平面内进行测量，给测量带来不便，影响检验判断的准确性。现有条件下，机箱上主机板固定螺钉与后板高度配合尺寸是否合格，板卡与主机板、机箱之间的连接配合是否正常，均要使用主机板、板卡实物进行试装，但此种检验方式需要以实物模拟，测试费时、过程较为麻烦，且并不标准，其对固定螺钉与机箱后板的高度配合的一致性不能进行有效控制。
因此，有必要提供一种检测装置以解决上述问题。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是提出一种结构简单、使用方便的高度检验判断装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是本实用新型高度检验判断装置，用于检验判断两物体间高度配合尺寸是否合格，其包括设有滑槽的框架及可在所述框架滑槽中滑动的滑杆，所述框架上设有检验判断的基准面，所述滑杆上设有第一测量面及第二测量面，所述第一测量面到所述基准面的垂直距离设置为物体间配合尺寸的下限值，所述第二测量面到所述基准面的垂直距离设置为物体间配合尺寸的上限值；所述滑杆垂直装设在所述框架上的滑槽中，其包括形状尺寸与所述滑槽配合的滑动部，所述滑动部可沿滑槽长度方向滑动，且不会自所述滑槽中掉落；使用测量两物体间的高度配合尺寸是否合格时，可将框架基准面置于其中一物体表面，当另一物体可以进入表示配合尺寸上限值的第二测量面但不能同时进入表示配合尺寸下限值的第一测量面时，即两物体间的配合尺寸在规定范围内，则这两个物体间相应的配合尺寸合格。
本实用新型的有益效果本实用新型高度检验判断装置包括框架及可在框架中滑动的滑杆，所述框架上设有检验判断的基准面，所述滑杆上设有高度不同的第一测量面和第二测量面，其中第一、二测量面与基准面间的距离分别按规定的配合尺寸的下限值、上限值设置，因此，在检验判断两物体上两位置间的高度配合尺寸是否符合规定的配合尺寸标准时，只需将基准面置于其中一位置上，将另一位置与滑杆的第一、二测量面比较，即可判断两位置间的配合高度是否在规定标准的范围内，从而判断其合格性，结构简单，检验判断方便、准确。另外，通过滑杆在框架中滑动，可对两物体间不同位置高度配合的一致性进行有效控制。
图1是本实用新型高度检验判断装置的立体分解图；图2是图1中V处的局部放大图；图3是本实用新型高度检验判断装置的立体组合图；图4是本实用新型高度检验判断装置组合后的右视图；图5是本实用新型高度检验判断装置组合后的正视图；图6是本实用新型高度检验判断装置的使用状态的俯视图。
具体实施方式
请参照图1，本实用新型高度测量装置10用于检验判断两物体间的高度配合尺寸是否合格，其包括框架20及可在所述框架20上滑动的滑杆30。
所述框架20包括略呈立方体状的本体部21，所述本体部21上表面一侧形成有略低于所述本体部21的平面22，所述本体部21上紧邻所述平面22处进一步开设有长方状滑槽23，所述滑槽23与所述本体部21其中一端面24平行设置，该端面24可作为测量过程中的基准面。所述本体部21上可进一步开设一个方形开口25，以方便使用时握持。
所述滑杆30垂直装设在所述框架20上的滑槽23中，其包括形状与所述滑槽23相配合的滑动部31、直径略大于所述滑槽23宽度的环形垫片35及将所述垫片35固定在所述滑动部31底部的螺钉36。所述滑动部31略呈长方柱状，其形状与所述滑槽23配合，可在沿滑槽23长度方向滑动，但不能在滑槽23宽度方向移动。所述滑动部31相对的两侧面其中一侧面前端呈台阶状，形成第一测量面311及略低于所述第一测量面311的第二测量面312，另一侧面前端边缘进一步向外延伸，形成挡止部313。所述螺钉36为内六角螺钉，所述滑动部31底部进一步向内凹形成与所述螺钉36配合的螺孔314。
组装时，将所述滑杆30挡止部313朝向平面22设置一侧，同时将所述滑动部31插入至滑槽23中，并通过挡止部313与平面22的配合阻止滑动部31自滑槽23落出。再将垫片35置于所述滑动部31底端以螺钉36固定在滑动部31上，因垫片35的直径大于滑槽23的宽度，所以，其可阻止组装后滑杆30自滑槽23抽出。从从而完成本实用新型高度测量装置10的组装。
如上所述，所述平面22、挡止部313、螺孔314、垫片35、螺钉36的设置是为了将所述滑动部31限定在滑槽23中不会掉落遗失，可以理解，其也可以其他结构实现上述功能，例如，滑动部下端进一步延伸设有具有螺纹的圆柱体，以螺母将垫片固定在所述滑动部底部，或直接以外径较大的螺母挡设在滑动部底端等结构。
在本实用新型高度检验判断装置10的尺寸设置是根据待检验物体间的配合尺寸范围设置，所述第一测量面311到所述端面24的垂直距离依据配合尺寸的下限值设置，所述第二测量面312到所述端面的垂直距离依据配合尺寸的上限值设置。
测量两物体间的高度配合尺寸是否合格时，将框架20的端面24作为基准面置于其中一物体表面，当另一物体可以进入表示配合尺寸上限值的第二测量面但不能同时进入表示配合尺寸下限值的第一测量面时，即两物体间的配合尺寸在规定范围内，则这两个物体间相应的配合尺寸合格。否则，配合尺寸不合格，将所述滑杆在滑槽中滑动，可检验各点高度配合尺寸的一致性。
下面以Intel定义的主机板固定螺钉与后板高度间的配合尺寸检验判断为例具体说明此检验判断过程。
Intel定义的主机板固定螺钉与后板间的高度配合是指主机板固定螺钉50与后板40上装设板卡(图未示)的后窗41端面411间的配合，其规定的配合尺寸标准是109.75(+0.25/-0.10)毫米，即，后窗40端面411到主机板固定螺钉50的垂直距离应在109.65毫米到110毫米之间才符合此标准，才能为在此标准下的板卡与机箱及主机板的可靠连接提供保障。因此，在设计制造时，先将所述第一测量面311到所述端面24的垂直距离设置为109.65毫米(即配合尺寸的下限值)，将所述第二测量面312到所述端面的垂直距离设置为为110毫米(即配合尺寸的上限值)。考虑到误差因素，所述所述第一测量面311到所述端面24的垂直距离、所述第二测量面312到所述端面24的垂直距离分别定义在109.65(+0.02/0)及110(0/-0.02)毫米范围内。
将所述框架20的本体部21端面24贴合在主机板固定螺钉50端面，当滑杆30第二测量面312置于后窗41端面411上，第一测量面311不能置于后窗41端面411上时，主机板固定螺钉50与后板40高度的配合尺寸在规定的尺寸范围内，主机板固定螺钉50与后板40高度配合尺寸合格，不能满足上述任意一种条件即可判定为不合格。
本实施例中，仅以计算机机箱主机板固定螺钉与后板高度配合尺寸的检验判断为例进行说明，可以理解，本实用新型高度检验判断装置也可适用于其他场合两物体间的高度配合尺寸检验判断，尤其是当两物体待测位置间不能在同一平面内进行测量的情况。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种高度检验判断装置，用于检验判断两物体间高度配合尺寸是否合格，其特征在于包括设有滑槽的框架及可在所述框架滑槽中滑动的滑杆，所述框架上设有检验判断的基准面，所述滑杆上设有第一测量面及第二测量面，所述第一测量面到所述基准面的垂直距离设置为物体间配合尺寸的下限值，所述第二测量面到所述基准面的垂直距离设置为物体间配合尺寸的上限值。
2.如权利要求1所述的高度检验判断装置，其特征在于所述框架包括略呈立方体状的本体部，所述本体部上表面一侧形成有略低于所述本体部的平面，所述滑槽呈长方状，紧邻所述平面开设在所述本体上。
3.如权利要求2所述的高度检验判断装置，其特征在于所述基准面为所述框架上与所述滑槽平行的一个端面。
4.如权利要求2所述的高度检验判断装置，其特征在于所述本体部上进一步开设一个方形开口。
5.如权利要求2所述的高度检验判断装置，其特征在于所述滑杆垂直装设在所述框架上的滑槽中，并沿滑槽长度方向滑动，其包括形状尺寸与所述滑槽配合的滑动部。
6.如权利要求5所述的高度检验判断装置，其特征在于所述滑杆滑动部朝向所述框架平面的侧面顶端的边缘进一步向外延伸，形成可挡止在所述平面上的挡止部。
7.如权利要求5所述的高度检验判断装置，其特征在于所述第一测量面及所述第二测量面呈台阶状设置在所述滑动部上与挡止部所在侧面相对的侧面的顶部。
8.如权利要求5所述的高度检验判断装置，其特征在于所述滑杆进一步包括直径略大于所述滑槽宽度的环形垫片及将所述垫片固定在所述滑动部底部的螺钉。
9.如权利要求8所述的高度检验判断装置，其特征在于所述螺钉为内六角螺钉，所述滑动部底部进一步向内凹形成有与所述螺钉配合的螺孔。
10.如权利要求5所述的高度检验判断装置，其特征在于所述滑杆进一步包括自所述滑动部底部延伸形成的具有螺纹的圆柱、套设在所述圆柱上的垫片及将所述垫片固定在圆柱上的螺母。
专利摘要本实用新型提供一种高度检验判断装置，用于检验判断两物体间高度配合尺寸是否合格，其包括设有滑槽的框架及可在所述框架滑槽中滑动的滑杆，所述框架上设有检验判断的基准面，所述滑杆上设有第一测量面及低于所述第一测量面的第二测量面，所述第一测量面到所述基准面的垂直距离设置为物体间配合尺寸的下限值，所述第二测量面到所述基准面的垂直距离设置为物体间配合尺寸的上限值。使用时，将框架基准面置于其中一物体表面，当另一物体可以进入表示配合尺寸上限值的第二测量面但不能同时进入表示配合尺寸下限值的第一测量面时，即两物体间的配合尺寸在规定范围内，则这两个物体间相应的配合尺寸合格。
文档编号G06F1/16GK2672717SQ20032012672
公开日2005年1月19日 申请日期2003年12月8日 优先权日2003年12月8日
发明者杨卫国 申请人:联想(北京)有限公司