专利名称：主机板的扩充座插接接口的测试装置及方法
技术领域：
本发明涉及连接器接口的测试装置及方法，尤其是涉及主机板的扩充座 插接接口的测试装置及方法。
背景技术：
主机板制作完成之后，需经过各种测试，以确定其质量是否合于需求。有各种测试主机板的专利技术，例台湾专利1260417揭示的自动化电路板测 试致动器系统；台湾专利公告590219揭示的主机板测试机；台湾专利公告 556840揭示的主机板测试模具等。传统测试主积4l的扩充座插4姿4妄口 (Docking connector)的方式，4吏 主机板的扩充座插接接口连接扩充座(Docking)底座，置于扩充座功能测 试模具(俗称黑金刚模具)，来测试扩充座插接接口的质量是否合于需求； 测试时需约需300秒。传统测试主机板的扩充座插接接口需要特别的扩充底座及扩充座功能 测试模具，其测试设备的费用很高，且其测试所需时间长达300秒，特别花 费时间。发明内容本发明的主要目的，在于提供一种主机板的扩充座插接接口的测试装置 及方法，可缩短测试所需的时间，提高测试效率。本发明的另 一 目的，在于提供一种主机板的扩充座插接接口的测试装置 及方法，可使用一般的测试模具，可减少测试设备所需的费用。本发明主机板的扩充座插接接口的测试装置，是供利用自动测试设备进 行测试的，包括一测试板，具有一导接端部、多条信号线及多条接地线；该导接端部具 有多个端子分别电连接所述信号线及所述接地线；该每一信号线分别电连接 至一该接地线；其中，该导接端部与一主机板的扩充座插接接口相对应，当该导接端部 与该扩充座插接接口电连接后，该扩充座插接接口的每一信号线分别通过与 该测试板电连的一信号线、 一接地线及该扩充座插接接口的一接地线构成一 测试回路，通过该阻抗值得知该扩充座插接接口的质量状况数据。 其中该测试板的各条信号线及一接地线之间串接有 一 电阻。 其中该测试板的信号线中至少有两条信号线共同电连接至 一 接地线。 其中该扩充座插接接口的每一信号线分别电连接至该主机板上相对应 的各信号测试点，且该扩充座插接接口的各接地线分别电连接至该主机板上 相对应的各"l姿地测试点。本发明主机板的扩充座插接接口的测试方法，是用以节省测试时间提升测试效率的，包括如下步骤(1) 使一测试板电连接一主机板的扩充座插接接口 ，而使该扩充座插接接口的每一信号线与该扩充座插接接口的一接地线构成一测试回路；(2) 使一 自动测试设备的多支探针分別电连接至该测试回路的两端的信 号测试点及接地测试点；(3) 使该自动测试设备测量每一该测试回路的阻抗值；(4) 通过该阻抗值得知该扩充座插接接口的质量状况。 本发明的其它目的、功效，请参考附图详细说明如下。
图1为本发明的测试装置的实施例示意图。 图2为本发明主^^板的测试方法的流程图。图3为本发明以三个测试点对应不同条件的测试阻抗及实际测得的阻抗 值及意义对照图。 附图符号说明10测试板 11导接端部111端子 20主机板21扩充座插接接口 211母插接座212接脚S (1)、 S (2)、 S (3)、 S (n)信号线 S, (1)、 Si (2)、 S, (3)、 S(n)信号线G (1)、 G (m)、 G, (1)、 G丄(m)接地线 S0 (1 )、 S。 ( 2 )、 SQ ( 3 )、 SQ ( n )信号测试点 G0 (1 )、 G。 ( 2 )、 GQ ( 3 )、 G0 ( m)接地测试点 30 ATE
(1)、 (2)、 (3)、 (4)分别为各步骤的编号
具体实施例方式
图1所示为本发明主机板的扩充座插接接口的测试装置。本发明的测试 装置用以节省大量测试时间而得以测得扩充座插接接口的接脚质量，本实施 例中，包括一测试板10具有一导接端部11、多条信号线S(l)、 S(2)、 S
(3)…S(n)及多条接地线G(1)…G(m);导接端部11具有多个端子111 分别电连接多条信号线S (1 )、 S ( 2 )、 S ( 3 )…S ( n )及多条接地线G (1 )…G
(m);各条信号线S ( 1 )、 S (2)、 S ( 3)…S (n)与接地线连接端G ( 1 )…G
(m)之间分别串接有一电阻R (1)、 R (2)、 R (3)…R ( n )。
在本实施例中，是由每三条信号线S (1)、 S(2)、 S(3)共同连接至一 接地线，例如三条信号线S ( 1 )、 S ( 2 )、 S ( 3 )分别串接一电阻R ( 1 )、 R
(2)、 R(3)后，共同连接至一接地线G(l)。设计上，信号线连接端S(l)、 S (2)、 S (3)…S (n)的数量为n,而接地线连接端G (1)…G (m)的数
量为m, n〉m, n / m=a时，可使a条信号线连接端共同连接一条接地线连接
二山 响。
本实施例中，该导接端部11为一公插接座111;而主机板20的扩充座 插接接口 21具有一可与导接端部11相对应插接的母插接座211。扩充座插 接接口 21还具有多条信号线S, (1)、 S, (2)、 S, (3)…S, (n)、多条接地 线G, (1)…G! (m)及多个接脚212;多个接脚212分别连接信号线Si (1 )、 Si (2)、 (3)…S, (n)及接地线线G, (1)…G, (m)。多个接脚212分别 电连接至主机板20上相对应的信号测试点SQ ( 1 )、 SQ ( 2 )、 SQ ( 3 )…Sq (n)及接地测试点Go (1)、 GQ (2)、 G。(3)…Go(m)。
当测试板10与扩充座插接接口 21插接电连接时，各信号线S (1)、 S (2)、 S (3)…S (n)分别电连接至主机板20上相对应的各信号测试点S0 (1)、 So (2)、 So (3)…Sq (n),且各接地线G (1)…G UO分别电连接 至主机板20上相对应的各接地测试点Gq ( 1 )、 GQ ( 2 )、 Gq ( 3 )…G。 ( m );各信号测试点S" 1 )、 S。 ( 2 )、 So ( 3 )…S。 ( n )即分别与一接地测试点 G0 (1 )、 G。 ( 2 )、 GQ ( 3 )…G。 (m)之间构成一测试回路。例如信号测试点 S0 (1 )经由扩充座插接接口 21的信号线Si (1 )、测试板10的信号线S (1 )、 电阻R(l)、接地线G(l)及扩充座插接接口 21的接地线G, (1)电连接至接 地测试点GQ (1 ),而构成一测试回3各。测试之前，需先将主机板20上原本个别电连接至扩充座接接口 21的接 地线线G, (1)…G, (m)的接地线，断开成个别电连接至接地线Go—Go (m) 的接地线。接着需求得测试板10上各端点的阻抗值，其通过一自动测试设备 (ATE , Automatic Test Equipment) 30取得，其方式是通过ATE 30的多个探 针分别连接主机板20的各个信号测试点S() (1)、 SQ (2)、 SG (3) ,',So(n) 及各个接地测试点G。 ( 1 )、 GG ( 2 )、 G。 ( 3 )…G。 ( m ),以测量各信号测试点 S0(l)、 S。(2)、 S0 (3)…So (n)分别与一接地测试点Go (1)、 GQ ( 2 )、 G。 (3) ...GQ (m)之间构成的测试回路的阻抗值。本实施例，是以扩充座插接接口 21的信号线S,(l)、 Si (2)、 SJ3)…S, (n)约有91个，而接地线Gi (1)…G, (m)仅有33个，故使用约3条信 号线共同与一条接地线连接构成一测试回路方式，涵盖所有的信号线与接地线的测试，进而避免使单条接地线连接端上的电流过大。通过ATE 30测量各个测试回路的阻抗值，再由各测试回路的阻抗值， 即可判断扩充座插接接口 21的哪一条信号线、哪一个信号线的接脚、哪一 条接地线、哪一个接地线的接脚有问题。请参考图1、 3所示，图3为本发明以三个测试点对应不同条件的测试 阻抗值及实际测得的阻抗值及意义的对照图；在本图中以信号测试点So( 1 )、 S0 (2)、 So(3)举例说明，其中，R01是信号点SQ (1)在主机板20端的 阻抗值；R02是信号点So ( 2 )在主机板20端的阻抗值；R03是信号点S。 ( 3 ) 在主机板端的阻抗值。请一并参考图1所示，扩充座插接接口 21上三条信 号线端Si(l)、 S,(2)、 S,(3),分别串接测试板10上的三个电阻R (1)、 R (2)、 R (3)(电阻值分别为Rl、 R2、 R3)及共同电连接至其一条接地线G (1),并电连接至扩充座接接口 21的接地线G, (1)，且信号线St (1)、 S, (2 )、 St ( 3 )及接地线(1 )分别电连接至主机板20的信号测试点S。 ( 1 )、 S0 (2)、 SQ (3)及接地测试点GQ (1)，构成三条测试回路。利用ATE 30的四支探针分别连接主机板20的信号测试点S。 ( 1 )、 S。 ( 2 )、 S。 ( 3 )与 接地测试点G。 ( 1 ),测试扩充座插接接口 21的三条信号线S, ( 1 )、 St ( 2 )、 S！ ( 3 )分别与一个接地线G, ( 1 )构成的三条测试回路的阻抗值，可获得如 图3所示的结果。若所述信号线S,(l)、 S,(2)、 S,(3)，电阻R(l)、 R(2)、 R (3)与接地线(1)构成的三条测试回路无任何导接上的问题，则各测 试回路被测得的阻抗值分别为R01〃 Rl、 R02〃 R2及R03〃 R3;若各测试 回路被测得的阻抗值分別为ROl、 R02及R03，则表示各测试回路应有导接上 的问题。
若仅测量信号线S, ( 1 )、电阻R ( 1 )及接地线( 1 )构成的测试回路 的电阻值，可获得下列可能的数值
(A) 若该扩充座插接接口 21的信号线Si (1 )、信号线S, (1)的接脚、 接地线G, ( 1 )及接地线( 1 )的接脚均良好时，测到的阻抗值为ROl及 Rl并联的值；
(B) 若该扩充座插接接口 21的信号线Si (1)的接脚空焊不良时，该测 试回路是断开的状态，测到的阻抗值为信号测试点SOI在主机板上的阻抗 ROl;
(C) 若该扩充座插接接口 21的接地线G, (1)的接脚空焊不良时，该测 试回路是断开的状态，测到的阻抗值为信号测试点SOI在主机板上的阻抗 ROl;
(D) 若该扩充座插接接口 21的信号线(1)与其它的信号线短路，例 如，信号线S, ( 1 )与信号线Si ( 2 )短路，而该扩充座插接接口 21的接地 线G, ( 1 )的接脚空焊良好时，测到的阻抗值为ROl、 R02与Rl及R2并联的 值；
(E) 若该扩充座插接接口 21的信号线S, ( 1 )与该扩充座插接接口 21的 接地线( 1 )短路时，测到的阻抗值为0;
利用上述方式，可建立各测试回路的各种阻抗值变化表。下次测试时， 将ATE 30测量各测试回路获得的阻抗值，与相对应已知的阻抗值变化表相 比较，即可得知扩充座插接接口 21的各信号线、各信号线连接端、各接地 线及各接地线连接端导接上是否良好，或者各信号线及各接地线之间是否有 短路的情况、各信号线连接端及各接地线连接端是否有冷焊的情况等各种损 坏状况。请参考图1、 2所示。本发明主机板的扩充座插接接口的测试方法，是用以节省测试时间提升测试效率的，包括如下步骤(1) 将一测试板10电连接至一主机板20的扩充座插接接口 21,令该扩 充座插接接口 21的每一信号线S, (1)、 S, (2)、 S, (3)…S, (n)分别通过 该测试板10上的一电阻R (1)、 R(2)、 R (3)…R (n)与该扩充座插接接 口 21的一接地线G！ ( 1 )…Gi (m)构成一测试回路；(2) 使一 自动测试设备(ATE) 30的多支探针分别电连接该主机板20上的 各信号测试点SQ ( 1 )、 SQ ( 2 )、 S0 ( 3 )…S。 ( n )及接地测试点GQ (1 )、 G0 (2)、 G0 (3)…G。 (m);(3) 使该自动测试设备30测量得到每一测试回路的阻抗值；(4) 比对原本所测量得知的主机板20各测试点S。 ( 1 )、 S。 ( 2 )、 S0 (3)…S。 (n)的阻抗值，与测量该测试回路所得的阻抗值，而分析得知该扩充座插接接口 21的质量状况。其中该各测试回路的详细结构如前述本发明的测试装置中所揭示。也可 如前述本发明的测试装置中所揭示的方式建立该各测试回路良好状态下的 阻抗值表，作为与测量该测试回路所得的阻抗值的比较依据，而分析得知该 扩充座插接接口 21的质量状况。本发明利用测试板使主机板的扩充座插接接口的各信号线与 一接地线 之间串接一电阻构成一测试回路，再利用ATE测量每一测试回路的阻抗值，再使该阻抗值与原本所测量得知的主机板各测试点的阻抗值、或预先建立的 阻抗值表比对，即可得知该扩充座插接接口的质量状况。测试所需时间仅为 2秒，较传统的测试所需300秒的时间节省298秒。因此本发明可简化测试 流程大幅提高测试效率。另外，本发明使用的测试板结构筒单制作费用便宜， 且利用 一般常用的ATE做为测量各测试回路的阻抗值的设备，不需如传统的 测试方式，需购买特别的扩充座底座及扩充座功能测试模具，因此可降低购 买测试设备的成本。以上所述，仅为利用本发明技术内容的实施例，本领域技术人员利用本 发明所做的修饰、变化，皆属本发明的保范围，而不限于实施例所揭示的。
权利要求
1.一种主机板的扩充座插接接口的测试装置，用于利用自动测试设备进行测试，包括一测试板，具有一导接端部、多条信号线及多条接地线；该导接端部具有多个端子分别电连接所述信号线及所述接地线；该每一信号线分别电连接至一该接地线；其中，该导接端部与一主机板的扩充座插接接口相对应，当该导接端部与该扩充座插接接口电连接后，该扩充座插接接口的每一信号线分别通过与该测试板电连接的一信号线、一接地线及该扩充座插接接口的一接地线构成一测试回路。
2. 如权利要求1所述的主机板的扩充座插接接口的测试装置，其中该测 试板的各信号线及一接地线之间串接有一电阻。
3. 如权利要求1或2所述的主机板的扩充座插接接口的测试装置，其中 该测试板的信号线中至少有两条信号线共同电连接至一接地线。
4. 如权利要求3所述的主机板的扩充座插接接口的测试装置，其中该扩 充座插接接口的每一信号线分别电连接至该主机板上相对应的各信号测试 点，且该扩充座插接接口的各接地线分别电连接至该主机板上相对应的各接 地测试点。
5. —种主机板的扩充座插接接口的测试方法，用以节省测试时间提升测 试效率，包括如下步骤(1) 使一测试板电连〗妾一主机板的扩充座插接接口，而使该扩充座插接 接口的每一信号线与该扩充座插接接口的一接地线构成一测试回路；(2) 使一 自动测试设备的多支探针分别电连接至该测试回路的两端的信 号测试点及接地测试点；(3) 使该自动测试设备测量每一该测试回路的阻抗值；(4) 通过该阻抗值得知该扩充座插接接口的质量状况。
6. 如权利要求5所述的主机板的扩充座插接接口的测试方法，其中该信 号测试点及接地测试点在该主机板上分别电连接至该扩充座插接接口的信 号线及接地线。
7. 如权利要求6所述的主机板的扩充座插接接口的测试方法，其中该测试板，具有一导接端部、多条信号线及多条接地线；该导接端部具有多个端 子分别电连接所述信号线及所述接地线；该每一信号线分别电连接至一该接 地线；该导4姿端部与该主4几板的扩充座插接接口相对应，当该导接端部与该 扩充座插接接口电连接后，该扩充座插接接口的每一信号线分别通过与该测 试板电的一信号线、 一接地线及该扩充座插接接口的一接地线构成该测试回 路。
8.如权利要求7所述的主机板的扩充座插接接口的测试方法，其中该测 试板的各信号线及一接地线之间串接有一电阻。
全文摘要
一种主机板的扩充座插接接口的测试装置及方法，利用一测试板使主机板的扩充座插接接口的各信号线与一接地线之间串接一电阻构成一测试回路，再利用ATE测量每一测试回路的阻抗值，再使该阻抗值与预先建立的阻抗值表比较，即可得知该扩充座插接接口的的质量状况，可简化测试流程，大幅提高测试效率，并可降低购买测试设备的成本。
文档编号G06F11/267GK101320345SQ200710106600
公开日2008年12月10日 申请日期2007年6月6日 优先权日2007年6月6日
发明者孙宜阳, 李海荣, 宏 程, 贾志良 申请人:纬创资通股份有限公司;纬创资通(昆山)有限公司