专利名称：非接触ic介质方向检测装置及其方法和程序、以及存储有该程序的计算机可读取的记录介质的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种例如用于检测非接触IC介质所存在的方向的非接触IC介质方向 检测装置及其方法和程序、以及存储有该程序的计算机可读取的记录介质。
背景技术：
近来，可预先存储数据并能够通过非接触进行数据通信的非接触IC介质已被人 们所利用。而且，采用支持远程通信的UHF频带的非接触IC介质也被人们所利用。对于与采 用UHF频带的非接触IC介质进行通信的天线，一般采用1单元贴片天线(patch antenna) 0 1单元贴片天线的半值宽(波束宽)较宽，大体在70左右，具有能在广域内从非接触IC介 质读取数据的优点。对此，有人提出了一种对来自非接触IC介质的电波的到来方向进行估计并推导 出非接触IC介质所在位置的标签通信装置(参照专利文献1)。这种标签通信装置根据对 多个天线单元的输出所分别进行的加权来检测出特定方向的电波强度。然而，上述标签通信装置为了推导出一个非接触IC介质所存在的方向而需要进 行复杂的计算。并且，由于反射物的存在所造成的影响，必须对于以反射物为起因的方向误 差进行校正。因此，上述标签通信装置并非就是一个能够简单地实现非接触IC介质存在方 向推导的装置。专利文献1 日本国专利申请公开特开2006-10345号公报(
公开日2006年01月 12日)
发明内容
(发明所要解决的课题)本发明是鉴于上述课题进行开发的，其目的在于提供一种能够简单地获得非接触 IC介质的存在方向的非接触IC介质方向检测装置及其方法和程序、以及存储有该程序的 计算机可读取的记录介质。(解决课题的方法)本发明的非接触IC介质方向检测装置和非接触IC介质方向检测方法及其程序， 其特征在于，包括有能朝向不同的指向方向来读取非接触IC介质的接收部和从该接收部 接收信息并处理该信息的信息处理部，其中，由上述信息处理部执行第1取得处理，使指 向方向朝向第1方向，取得从具有规定识别信息的非接触IC介质接收到的信号的信号强 度；第2取得处理，使指向方向朝向第2方向，取得从上述非接触IC介质接收到的信号的信 号强度；合成处理，对上述第1方向的信号强度和第2方向的信号强度进行差分运算或者除 法运算，取得合成信号强度；存在方向判断处理，通过判断该合成信号强度是否在预先规定 的阈值范围内，来判断在由该阈值范围所区分的规定方向上，是否存在有作为对象的非接 触IC介质。
上述非接触IC介质可由诸如RFID标签等能够存储信息且能通过非接触进行通信 的介质构成。该非接触IC介质包括不具有电源而从外部获取电能并发送信号的被动式非 接触IC介质；具有电源并接收来自外部的查询请求后发送信号的半被动式非接触IC介质； 具有电源并定时发送信号的能动式非接触IC介质等。上述接收部可由能改变指向模式的1个或多个天线阵构成，也可由不能改变指向 模式的多个天线构成。上述信息处理部可由CPU、MPU等执行运算处理的部件构成。上述识别信息可以是用于识别RFID (无线射频识别)标签的ID等的非接触IC介 质的信息。上述合成处理可以是通过对数表述的差分运算进行的合成，也可以是通过反对数 表述的除法运算来进行的合成。上述存在方向运算处理可以是根据预先规定的函数或者对应表来推导与上述合 成信号强度相对应的角度的处理。上述预先规定的函数可以是诸如一次函数、二次函数或者三次函数等的、在作为1 个变量而输入合成信号强度的值时，作为响应能够算出角度的函数。上述预先规定的对应表可以是表示合成信号强度的值和角度的对应关系的表。上述非接触IC介质方向检测装置可由计算机实现。而且，使计算机作为上述各部 件执行动作的非接触IC介质方向检测程序以及存储有该程序的计算机可读取的记录介质 也包括在本发明的范畴内。(发明的效果)根据本发明，可提供能够简单地获得非接触IC介质的存在方向的非接触IC介质 方向检测装置和非接触IC介质方向检测方法及其程序，以及存储有该程序的计算机可读 取的记录介质。
图1是说明RFID检测装置的说明图。
图2是表示各个指向方向上的接收强度的曲线图。
图3是合成接收强度的曲线图。
图4是变更指向方向之后的合成接收强度的曲线图。
图5是控制部执行的动作的流程图。
图6是由实施例2的控制部执行的动作的流程图。
<附图标记说明>
1RFID检测装置
10天线
13控制部
25RFID标签
Rx_L, Rx_R接收强度
Rx.Diff 合成接收强度
-a下限阈值
5
+a上限阈值
具体实施例方式以下，参照图说明本发明的一个实施方式。(实施例1)图1是说明RFID检测装置1的说明图。在此例示了在台21上设置有物品27的情况。物品27上贴有RFID标签25。该 RFID标签25包括天线和IC，并且在其IC内的存储部存储有作为识别信息的ID、作为物品 信息的物品名和规格等适宜的信息。在台21的附近设有能够读取检测区域R内存在的RFID标签25的RFID检测装置 1。该RFID检测装置1包括有天线10、控制部13和存储部15。天线10由可对指向方向进行调节的3单元天线阵构成。控制部13根据由CPU和ROM和RAM构成的RFID标签方向检测程序等程序，执行 控制动作或运算动作。存储部15由非易失性存储器或者硬盘等存储装置构成，用于存储程序和信息(数 据)。接下来，对使用RFID检测装置1以在不受距离和标签性能的影响下检测RFID标 签25的存在方向的方法的理论予以说明。图2是表示在各个指向方向上通过RFID检测装置1从RFID标签25读取信息时 的接收强度的曲线图。在该曲线图中，纵轴表示接收强度(Gain:增益)，单位是分贝(dB)。 横轴表示角度，单位是度(deg)。图中，接收强度Rx_L是表示在天线10的指向方向(角度Θ)设为-35°且天线 10的正面设为0°时，各个方向的接收强度的分贝数的曲线图。图中，接收强度Rx_C是表示在天线10的指向方向(角度Θ)设为0°且天线10 的正面设为0°时，各个方向的接收强度的分贝数的曲线图。图中，接收电平Rx_R是表示在天线10的指向方向(角度Θ)设为35°且天线10 的正面设为0°时，各个方向的接收强度的分贝数的曲线图。在此，接收强度Rx_L可通过下述式(式3)来表示。并且，对数表述和反对数表述 的关系式如式(式1、式2)所示。(式1)Rx = 10 X Iogltl (Rx，)(式2)Rx，= 10(Ex/10)其中，Rx(dBm)对数表述，Rx，(mff)反对数表述。(式3)[A]对数表述Rx_L = Pt+Dt ( θ ) _Loss+D_L ( θ )其中，Pt 标签的发射功率，Loss 自由空间损耗，Dt( θ )标签的指向性增益，D_L( θ )指向左方向时的指向性增益。
[B]反对数表述Rx_L，= Pt，XDt，( θ ) X ( λ/4 π D)2XD_L，( θ )其中，Pt’ 标签的发射功率，D 通讯距离，Dt’( θ )标签的指向性增益，D_L’ ( θ )指向左方向时的指向性增益。同时，接收强度Rx_R可由下述式所表示。(式4)[A]对数表述Rx_R = Pt+Dt ( θ ) _Loss+D_R ( θ )其中，Pt 标签的发射功率，Loss 自由空间损耗，Dt( θ )标签的指向性增益，D_R( θ )指向右方向时的指向性增益。[B]反对数表述Rx_R，= Pt，XDt，( θ ) X ( λ/4 π D)2XD_R，( θ )其中，Pt’ 标签的发射功率，D 通讯距离，Dt’( θ )标签的指向性增益，D_R’ ( θ )指向右方向时的指向性增益。根据上述2个式子，进行因数减少合成运算(对数表述时为减法运算(差分)，反 对数表述时为除法运算)，算出合成接收强度Rx_Diff，可得出如下式。(式5)[A]对数表述Rx_Diff = Rx_R-Rx_L= {Pt+Dt(θ)-Loss+D_R(θ)}-{Pt+Dt(θ)-Loss+D_L(θ)}= D_R( θ )-D_L( θ )[B]反对数表述Rx_Diff' = Rx_R， /Rx_L，= (Pt，XDt，( θ ) X (A/4 3iD)2XD_R' ( θ ))/(Pt，XDt，( θ ) X (A/4 3iD)2XD_L' ( θ ))= D_R，( θ )/D_L，( θ )如上述式5所示，对于不同指向方向的接收强度的式子进行减法运算或除法运 算，得出只涉及θ的函数，其与距离，标签的性能(反射功率，标签的指向性增益)无关。图3是表示上述函数的曲线图。在图3中，纵轴表示合成接收强度Rx_Diff (Gain)， 单位为分贝(dB)。横轴表示角度，单位为度(deg)。如图3所示，合成接收强度Rx_Diff在天线10的正面附近，S卩，0°附近成为可视 为1次函数的波形。在士 10°附近外侧的角度，因受旁瓣的影响不能成为一次函数。因此，利用阈值_a、a，在合成接收强度Rx_Diff为符合下述式所示条件的RFID标 签25的情况下，能够根据一次函数简单地推导出该RFID标签25的存在方向。(式6)-a < Rx_Diff < a其中，_a:下限阈值，a:上限阈值在阈值_a、a的范围之外的RFID标签25，因旁瓣区域的影响，无法检测出正确的存 在方向。即，如图3所示，由于点P1、P2和P3均为相同于Rx_Diff的值，因此无法根据Rx_Diff推导存在方向。但是，通过切换指向方向的角度，能够对应上述情况。在此，图4表示将接收强度Rx_L的指向方向变更为0°，并使得接收强度Rx_R的 指向方向保持原来的35°的情况下的合成接收强度Rx_Diff的曲线图。如图4所示，通过变更指向方向，使获得的合成接收强度Rx_Diff成为接近一次函 数的函数(数值不断增加或者减少的函数)。即，在此例中，通过图3的检测已表明RFID标 签25存在于中心的右侧。因此，向右侧变更在左侧进行测定时的接收强度Rx_L的指向方 向的角度，使得成为0°，并在此状态下推导出合成接收强度Rx_Diff。在此，由于已知RFID 标签25存在于中心的右侧，因此，只看0°的右侧的值时，合成接收强度Rx_Diff是一个接 近一次函数的曲线。接下来，参照图5所示的流程图，说明根据上述理论取得RFID标签25的存在方向 (信号的到来方向)时RFID检测装置1的控制部13按照RFID标签方向检测程序所执行的动作。控制部13进行初期设定(步骤Si)，将第1方向的角度L设定为初期值(例 如-50° )并在存储部15存储该初期值，将第2方向的角度R设定为初期值(例如50° ) 并在存储部15存储该初期值。进行该初期设定时，优选角度L和角度R在中心的左右两侧 构成对称的角度。控制部13将天线10的指向方向的角度设定成第1方向，即，角度L(步骤S2)，并 向规定的RFID标签25发行读取指令(read command)(步骤S3)。此时的读取指令优选是 用于指定作为识别信息的ID并且只使具有该ID的RFID标签25进行响应的指令。控制部13算出响应信号的接收强度(步骤S4)，并将该接收强度作为接收强度 Rx_L存储在存储部15 (步骤S5)。控制部13将天线10的指向方向的角度设定成第2方向，S卩，角度R(步骤S6)，并 向规定的RFID标签25发行读取指令(步骤S7)。此时的读取指令优选是用于指定与步骤 S3相同的ID并且只使具有该ID的RFID标签25进行响应的指令。控制部13算出响应信号的接收强度(步骤S8)，并将该接收强度作为接收强度 Rx_R存储在存储部15 (步骤S9)。控制部13执行从接收强度Rx_R中减去接收强度Rx_L的差分运算(对数表述的情 况下为差分，反对数表述的情况下为除法运算)，并将运算结果作为合成接收强度Rx_Diff 存储在存储部15 (步骤10)。控制部13通过判断合成接收强度Rx_Diff是属于预先规定的、从_a至+a的阈值 范围内，还是小于或者是大于+a，对到来方向进行大致的判断(步骤Sll)。通过该处理， 能够大致判断出RFID标签25是存在于中心方向(例如在规定的角度-4° +4°之间)， 还是存在于左方向(例如在规定的角度-4°的左侧)或者右方向(例如在规定的角度+4° 的右侧)。合成接收强度Rx_Diff为+a以上的情况下(步骤Sll +a≥)，控制部13判断出 RFID标签25存在于比中心方向之右侧，并且使作为第1方向的角度L向右侧变更规定的角 度(例如10° )(步骤S12)。即，在表示右侧的指向方向的角度R固定不变的情况下，通过 向右侧变更表示左侧的指向方向的角度L，减小第1方向和第2方向之间的角度差，从而使检测对象范围全体向右侧变更。控制部13判断角度L和角度R是否相同，如果不相同(步骤S13 “否”)，就返回 步骤S2的处理，再次进行到来方向估算处理(步骤S2 Sll)。角度L和角度R相同时(步骤S13 “是”)，由于第1方向和第2方向是相一致的 方向，因此，控制部13使第2方向的角度R向右侧变更规定角度(例如10° )(步骤S14)。 然后，控制部13返回步骤S2的处理，再次进行到来方向估算处理(步骤S2 Sll)。合成接收强度Rx_Diff为-a以下的情况下(步骤Sll -a ()，控制部13判断出 RFID标签25存在于中心方向之左侧，并且使作为第2方向的角度R向左侧变更规定的角 度(例如-10° )(步骤S15)。即，在表示左侧的指向方向的角度L固定不变的情况下，通 过向左侧变更表示右侧的指向方向的角度R，减小第1方向和第2方向之间的角度差，从而 使检测对象范围全体向左侧变更。控制部13判断角度L和角度R是否相同，如果不相同(步骤S16 “否”)，就返回 步骤S2的处理，再次进行到来方向估算处理(步骤S2 Sll)。角度L和角度R相同时(步骤S16 “是”)，由于第1方向和第2方向是相一致的 方向，因此，控制部13使第1方向的角度L向左侧变更规定角度(例如-10° )(步骤S17)。 然后，控制部13返回步骤S2的处理，再次进行到来方向估算处理(步骤S2 Sll)。合成接收强度Rx_Diff在小于+a并且大于_a的阈值范围内的情况下(步骤 Sll :-a >并且+a < )，控制部13进行运算处理(步骤S18)，算出从天线10侧进行观察时 的RFID标签25的信号的到来方向X。可通过下式，算出该到来方向X。(式7)X= (R+L)/2+F(Rx_Diff)其中，F(Rx_Diff)修正式上述数学式中的修正式F(Rx_Diff)可由诸如一次函数、二次函数或者三次函数 等的、作为1个变量值输入合成接收强度Rx_DifT时作为响应能够算出角度的函数构成。但 是，并不限定于函数，例如还可在存储部15预先存储表示合成接收强度Rx_DifT的值和角 度之间的对应关系的表数据，通过参照该表，推导出对应的角度。根据上述结构以及动作，能够简单的检测出RFID标签25的信号的到来方向，从而 能够检测出RFID标签25的存在方向。天线10由3单元天线阵所构成，因此能够将指向方向迅速改变成任意的角度，从 而能够在短时间内执行指向方向的变更并再度进行到来方向估算的处理。另外，由于可不断改变指向方向，直至使RFID标签25的大致方向包含在中心方向 的一定范围内，即，成为可算出该RFID标签25的存在方向的角度的方向，因此，能够在将指 向方向调整到适合于RFID标签25的存在方向的基础上，适当地算出RFID标签25的存在 方向。(实施例2)实施例1中说明了天线10的指向方向变更没有限定的情况。实施例2中将说明 中天线10的指向方向变更设有限定的情况，或者是在指向方向的角度以上的方向上不进 行RFID标签25检测的情况。图6是说明实施例2的RFID检测装置1的控制部13在取得RFID标签25的存在
9方向(信号的到来方向)时按照RFID标签方向检测程序执行的动作的流程图。其他的结 构与实施例1相同，因此省略其详细说明。如图6所示，在步骤Sl S13执行与实施例1相同的动作，因此省略其详细说明。在步骤S11，合成接收强度Rx_Diff为-a以下的情况下(步骤Sll +a彡)，与实 施例1相同，控制部13执行步骤S15之后进入步骤S13的处理。执行步骤S12或者步骤S15之后，控制部13判断角度L和角度R是否相同。如果 不相同(步骤S13 “否”)，就返回步骤S2再次进行到来方向估算处理(步骤S2 S11)。角度L和角度R相同时(步骤S13 “是”)，由于无法对指向方向进行进一步的变 更，因此，控制部13在第2方向的角度R上加算修正式R，算出到来方向X。用于该算出处 理的数学式如下，(式8)X = R+F(Rx_Diff)其中，F(Rx_Diff)修正式。根据上述，能够检测出大致的到来方向。在步骤Sl 1，合成接收强度Rx_Diff在小于+a并且大于_a的阈值范围内的情况下 (步骤Sll -a >并且+a < )，控制部13执行与实施例1相同的到来方向算出处理(步骤 S18)。根据上述结构以及动作，能够获得与实施例1相同的效果。合成接收强度Rx_DifT 在阈值范围内的情况下，能够以相同于实施例1的精度来检测RFID标签25的存在方向。另 外RFID标签25存在于可设定天线10的指向方向极限的外侧时，精度虽然不及当合成接收 强度Rx_Diff存在于阈值范围内的情况，但是仍能够检测出大致的存在方向。在上述的各个实施方式中，设定下限阈值为_a，上限阈值为+a，两者的绝对值相 同。但是，并不限定于此，上限阈值和下限阈值还可以取绝对值不同的值时，也能够获得相 同的效果。另外，在步骤S3、S7中，可以不指定ID，而是发行用于使得响应回答ID的指令。此 时，在接下来的处理中只抽出所期望的ID并对每个ID进行处理，就能够算出该ID的存在 方向。此外，在步骤S12、S15中，除了只对单侧的指向方向进行角度变更，还可以对角度 R和角度L的两者进行角度变更，并进行重复处理。此时，可通过变更读取范围，将指向方向 变更为适当的角度，当指向方向到达适当的角度时，检测RFID标签25的存在方向。并且，根据本实施例所说明的计算式，最终所需要的是指向性增益的差(或商)， 可得出其比率。因此，本实施例虽然利用单位mW和dBm进行说明，但不限于此，利用单位 dBW也可得出同样的结果。而且，利用本实施例所说明的单位dBi求出对于各向同性天线的 倍率比，和利用与本实施例不同的单位dBd求出对于偶极天线的倍率比，均可得出同样的 结果。本发明的结构和上述实施方式的对应关系如下在本发明中，非接触IC介质方向检测装置对应于实施方式的RFID检测装置1 ；同样地，接收部对应于天线10 ；信息处理部对应于控制部13 ；
非接触IC介质对应于RFID标签25 ；第1取得处理对应于步骤S2 S5 ；重复处理对应于步骤S2 Sll ；第2取得处理对应于步骤S6 S9 ；合成处理对应于步骤SlO ；存在方向判断处理对应于步骤Sll ；方向切换处理对应于步骤S12，S15 ；角度取得处理对应于步骤S18，S19 ；信号强度对应于接收强度Rx_L，Rx_R ；合成信号强度对应于合成接收强度Rx_DifT ；阈值范围对应于+a -a ；第1阈值对应于-a;第2阈值对应于+a;预先规定的函数或者对应表对应于式7或者式8 ；识别信息对应于ID。但是，本发明并不限于上述实施方式所示的结构，通过变更所 获得的各种实施方式也属于本发明的范畴。
权利要求
一种非接触IC介质方向检测装置，其特征在于，包括有能朝向不同的指向方向来读取非接触IC介质的接收部和从该接收部接收信息并处理该信息的信息处理部，其中，上述信息处理部执行第1取得处理，使指向方向朝向第1方向，取得从具有规定识别信息的非接触IC介质接收到的信号的信号强度；第2取得处理，使指向方向朝向第2方向，取得从上述非接触IC介质接收到的信号的信号强度；合成处理，对上述第1方向的信号强度和第2方向的信号强度进行差分运算或者除法运算，取得合成信号强度；存在方向判断处理，通过判断该合成信号强度是否在预先规定的阈值范围内，来判断在由该阈值范围所区分的规定方向上是否存在有作为对象的非接触IC介质。
2.根据权利要求1所述的非接触IC介质方向检测装置，其特征在于，当通过上述存在方向判断处理而判断出在规定方向上未存在有作为对象的非接触IC 介质的情况下，上述信息处理部执行方向切换处理，将上述第1方向和第2方向中的至少一者切换成不同的方向；以及 重复处理，在进行上述方向切换处理之后，再度进行取得处理、上述合成处理和上述存 在方向判断处理，其中，该取得处理是指，上述方向切换后在上述第1取得处理和第2取得 处理中至少对进行了上述方向切换处理的上述方向所进行的取得处理。
3.根据权利要求2所述的非接触IC介质方向检测装置，其特征在于上述阈值范围是从上述第1方向侧的第1阈值到上述第2方向侧的第2阈值为止的范围，上述存在方向判断处理为，在上述合成信号强度不在阈值范围内的情况下，判断该合 成信号强度是在上述第1阈值的外侧还是在上述第2阈值的外侧的处理，上述方向切换处理为，在通过上述存在方向判断处理而判断出上述合成信号强度在第 1阈值的外侧的情况下，向第1方向侧变更上述第2取得处理的第2方向，而在判断出上述 合成信号强度在第2阈值的外侧的情况下，向第2方向侧变更上述第1取得处理的第1方 向的处理。
4.根据权利要求1、2、3中任意一项所述的非接触IC介质方向检测装置，其特征在于， 上述信息处理部执行角度取得处理，根据与上述存在方向判断处理的判断结果对应而预先规定的函数或者 对应表，推导出与上述合成信号强度相对应的角度。
5.一种非接触IC介质方向检测方法，其特征在于，利用能朝向不同的指向方向来读取非接触IC介质的接收部和从该接收部接收信息并 处理该信息的信息处理部，并通过上述信息处理部执行第1取得处理，使指向方向朝向第1方向，取得从具有规定识别信息的非接触IC介质 接收到的信号的信号强度；第2取得处理，使指向方向朝向第2方向，取得从上述非接触IC介质接收到的信号的 信号强度；合成处理，对上述第1方向的信号强度和第2方向的信号强度进行差分运算或者除法 运算，取得合成信号强度；存在方向判断处理，通过判断该合成信号强度是否在预先规定的阈值范围内，来判断 在由该阈值范围所区分的规定方向上是否存在有作为对象的非接触IC介质。
6.一种非接触IC介质方向检测程序，其特征在于，用于使信息处理部执行；第1取得处理，使接收部的指向方向朝向第1方向，取得从具有规定识别信息的非接触 IC介质接收到的信号的信号强度，其中，该接收部能朝向不同的指向方向来读取非接触IC 介质；第2取得处理，使上述接收部的指向方向朝向第2方向，取得从上述非接触IC介质接 收到的信号的信号强度；合成处理，对上述第1方向的信号强度和第2方向的信号强度进行差分运算或者除法 运算，取得合成信号强度；存在方向判断处理，通过判断该合成信号强度是否在预先规定的阈值范围内，来判断 在由该阈值范围所区分的规定方向上是否存在有作为对象的非接触IC介质。
7.一种计算机可读取的记录介质，其存储有用于使得信息处理部执行下述处理的非接 触IC介质方向检测程序，即第1取得处理，使接收部的指向方向朝向第1方向，取得从具有规定识别信息的非接触 IC介质接收到的信号的信号强度，其中，该接收部能朝向不同的指向方向来读取非接触IC 介质；第2取得处理，使上述接收部的指向方向朝向第2方向，取得从上述非接触IC介质接 收到的信号的信号强度；合成处理，对上述第1方向的信号强度和第2方向的信号强度进行差分运算或者除法 运算，取得合成信号强度；存在方向判断处理，通过判断该合成信号强度是否在预先规定的阈值范围内，来判断 在由该阈值范围所区分的规定方向上是否存在有作为对象的非接触IC介质。
全文摘要
本发明包括可朝向不同的指向方向来读取非接触IC介质(25)的接收部(10)和用于控制该接收部的信息处理部(13)，由上述信息处理部执行第1取得处理，使指向方向朝向第1方向，取得从具有规定识别信息的非接触IC介质接收到的信号的信号强度；第2取得处理，使指向方向朝向第2方向，取得从上述非接触IC介质接收到的信号的信号强度；合成处理，对上述第1方向的信号强度和第2方向的信号强度进行差分运算或者除法运算，取得合成信号强度；存在方向判断处理，通过判断该合成信号强度是否在预先规定的阈值范围内，来判断在由该阈值范围所区分的规定方向上，是否存在有作为对象的非接触IC介质。由此，可提供能够简单地获得非接触IC介质的存在方向的非接触IC介质方向检测装置(1)及非接触IC介质方向检测方法和其程序，以及存储有该程序的计算机可读取的记录介质。
文档编号G06K17/00GK101889214SQ200880119748
公开日2010年11月17日 申请日期2008年12月4日 优先权日2007年12月13日
发明者野上英克 申请人:欧姆龙株式会社