测试装置及测试方法

文档序号:6600311阅读:169来源:国知局
专利名称:测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试装置及测试方法,特别是涉及一种用来检测一嵌入式系统且可大幅减少测试所需人力与时间的测试装置及测试方法。
背景技术
电子产品在出厂前都会经过繁复的质量或可靠度检测,避免不良品流入市面,以确保产品竞争力。一般而言,为了提升测试效率,制造商通常是同时对多个待测装置进行测试。而测试流程是令每一待测装置执行特定功能(或运作),再检测其是否能正确完成或运作结果是否正确。若有一待测装置无法通过测试,表示产品有瑕疵,因此需记录问题发生点,以进行相关改善。在此情形下,测试人员会将未通过测试的待测装置重新进行相同的测试,并通过特定治具撷取测试过程的重要信息,以判断问题点。然而,在重新测试时,相同的结果不一定重复发生,造成需耗费许多人力与时间进行除错,影响测试及生产效率。有鉴于此,电子产品的测试方式实有改进的必要。

发明内容
因此,本发明的主要目的即在于提供一种测试装置及测试方法。本发明揭示一种测试装置,用来检测一嵌入式系统,包含有一接口,用来以可插拔方式耦接该嵌入式系统;一储存单元,用来储存数据;以及一处理器,用来于该接口耦接于该嵌入式系统时,根据一启动讯号,通过该接口取得该嵌入式系统对应于一测试指令的一测试讯息,并将该测试讯息储存至该储存单元中。本发明还揭示一种测试方法,用来检测一嵌入式系统,包含有于一测试装置耦接于该嵌入式系统时,根据一启动讯号,将该嵌入式系统对应于一测试指令的一测试讯息传送至该测试装置,以储存于该测试装置中。


图1为本发明实施例--测试装置的示意图。
图2为本发明实施例--测试流程的示意图。
图3为图1中一储存单元储存数据的运作示意图。
图4为图1的测试装置的变化实施例示意图。
附图符号说明
10测试装置
100嵌入式系统
102接口
104储存单元
106处理器
EN启动讯号
MSG20 CMD_TST
测试指令测试讯息测试流程200、202、204、206、208、210 步骤MSG_newMSG_old
最新测试讯息最旧测试讯息指令储存单元存储器408410
具体实施例方式请参考图1,图1为本发明实施例一测试装置10的示意图。测试装置10用来检测一嵌入式系统100,其包含有一接口 102、一储存单元104及一处理器106。嵌入式系统100 可以是计算机系统、移动电话、游乐器、影音设备、数字摄录像机、信息家电anformation Appliance)、先进医疗器材等电子产品。接口 102用来以可插拔方式耦接嵌入式系统100, 其可以是USB(通用序列总线)、VGA、IEEE 1394等常见讯号传输端子,亦可以是专属于嵌入式系统100的连接端子。当接口 102耦接于嵌入式系统100时,处理器106可根据一启动讯号EN,通过接口 102取得嵌入式系统100对应于一测试指令CMD_TST的一测试讯息MSG, 并将测试讯息MSG储存至储存单元104中。简单来说,当要检测嵌入式系统100时,测试操作人员只要将测试装置10与嵌入式系统100连接,并适当设定启动讯号EN,则嵌入式系统100所产生的测试讯息MSG会自动储存于测试装置10中。如此一来,即使嵌入式系统100有瑕疵而无法通过测试时,测试操作人员不需重新进行相同测试即可通过测试装置10取得相关信息。因此,测试所需的人力与时间可大幅减少,同时可更精准掌握问题发生点,有效提升测试及生产效率。需注意的是,图1所示的测试装置10是用以说明本发明的概念,本领域的技术人员可据以做不同的变化,而不限于此。举例来说,启动讯号EN用来指示处理器106是否启动测试讯息MSG的储存功能,其可以是由一开关或切换器所产生,除此之外,亦可依系统需求而进一步指示处理器106是否启动测试讯息MSG的读取功能。也就是说,测试装置10可操作于两种模式,当启动讯号EN等于1(或一特定值)时,处理器106将接口 102所接收的测试讯息MSG储存于储存单元104中,而当启动讯号EN等于0 (或另一特定值)时,处理器 106将储存单元104中的数据通过接口 102输出。换言之,当启动讯号EN等于1时,测试装置10用来自动储存测试讯息MSG,而当启动讯号EN等于0时,测试装置10则如随身盘般, 用来输出所储存的数据。在此情形下,只要通过切换启动讯号EN,测试操作人员可适时记录测试讯息MSG,或于测试完成后,通过计算机或其它装置读取测试装置10中的测试讯息 MSG。此外,为了确保测试讯息MSG能正确储存,当接口 102耦接于嵌入式系统100时, 若启动讯号EN表示启动测试讯息MSG的储存功能(如等于1),则处理器106可先进行通讯连结的初始化,以通过接口 102建立与嵌入式系统100的通讯连结。上述运作可归纳为一测试流程20,如图2所示。测试流程20包含以下步骤步骤200:开始。
4
步骤202 判断测试装置10是否耦接于嵌入式系统100。若是,进行步骤204 ;若否,重复进行判断。步骤204 判断启动讯号EN是否表示启动测试讯息MSG的储存功能。若是,进行步骤206 ;若否,进行步骤210。步骤206 处理器106进行通讯连结的初始化,以通过接口 102建立与嵌入式系统 100的通讯连结。步骤208 处理器106将嵌入式系统100所输出的测试讯息MSG储存于储存单元 104 中。步骤210 处理器106通过接口 102输出储存单元104所储存的数据。由测试流程20可知,测试装置10不仅可储存测试讯息MSG,同时可当作随身盘或储存器,用以输出所储存的数据。如此一来,测试操作人员只要于测试完成后,将测试装置 10嵌合于一计算机系统或测试结果分析装置,并调整启动讯号EN,则可读取测试装置10所储存的数据。在此情形下,若嵌入式系统100无法通过测试,甚至发生当机情形时,测试操作人员不需重新进行相同测试即可顺利取得相关信息。前述相关于测试装置10的硬件架构或运作流程等皆用以说明本发明的精神,本领域的技术人员可根据系统需求,做适当的修饰,而不限于此。举例来说,处理器106将测试讯息MSG储存于储存单元104中的运作方式可根据储存单元104的储存空间或测试操作人员的需求而定。例如,当储存单元104的储存空间不足时,则处理器106可将测试讯息 MSG以覆写方式,储存于储存单元104中,亦即删除旧数据(已储存讯息),而储存新数据。 此外,当储存单元104的储存空间足以储存超过一笔以上的测试讯息MSG时,则处理器106 可持续写入测试讯息MSG,并于储存单元104满载时,才将最旧的数据删除,以储存新数据, 即如图3所示。在图3中,MSG_new表示处理器106输出至储存单元104的最新测试讯息, 而MSG_old则表示储存单元104中的最旧测试讯息。由图3可知,当储存单元104满载时, 最旧测试讯息MSG_old会被删除,以容纳最新测试讯息MSG_new。除此之外,处理器106可较佳地于每次测试装置10耦接于嵌入式系统100时,即产生新的测试讯息MSG,并将之储存于储存单元104中。另一方面,在图1中,测试指令CMD_TST用来控制嵌入式系统100执行特定功能或运算,其可以是由外部装置提供或是预先储存于测试装置10中。以预先储存于测试装置10 为例,如图4所示,可于测试装置10中增加一指令储存单元408及一存储器410。指令储存单元408用来储存测试指令CMD_TST,而存储器410则暂存储存测试指令CMD_TST。当测试装置10与嵌入式系统100建立连结后,处理器106先由指令储存单元408内将所储存的测试指令CMD_TST取出再传送至存储器410,同时处理器106会将取出的测试指令CMD_TST 运算成嵌入式系统100能识别格式,再通过接口 102将测试指令CMD_TST发送至嵌入式系统100,同时开始记录测试讯息MSG。在此情形下,测试操作人员只要将测试装置10嵌合至嵌入式系统100,即可启动检测。当然,亦可预先储存一个以上的测试指令于指令储存单元 408中,再由测试操作人员选择所需执行的测试指令。在现有技术中,测试操作人员需将未通过测试的待测装置重新进行相同的测试, 并通过特定治具撷取测试过程的重要信息,以判断问题点。然而,在重新测试时,相同的结果不一定重复发生,造成需耗费许多人力与时间进行除错,影响测试及生产效率。相较之下,在本发明中,测试操作人员只要将测试装置10与嵌入式系统100连接,并适当设定启动讯号EN,则嵌入式系统100所产生的测试讯息MSG会自动储存于测试装置10中。如此一来, 即使嵌入式系统100有瑕疵而无法通过测试时,测试操作人员不需重新进行相同测试即可通过测试装置10取得相关信息。因此,测试所需的人力与时间可大幅减少,同时可更精准掌握问题发生点,有效提升测试及生产效率。综上所述,本发明可大幅减少测试所需的人力与时间,以有效提升测试及生产效率。以上所述仅为本发明的较佳实施例,凡依本发明的权利要求所做的均等变化与修饰,皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种测试装置,用来检测一嵌入式系统,包含有一接口,用来以可插拔方式耦接该嵌入式系统;一储存单元,用来储存数据;以及一处理器,用来于该接口耦接于该嵌入式系统时,根据一启动讯号,通过该接口取得该嵌入式系统对应于一测试指令的一测试讯息,并将该测试讯息储存至该储存单元中。
2.如权利要求1所述的测试装置,其中该接口符合通用序列总线规范。
3.如权利要求1所述的测试装置,其还包含一开关,用来产生该启动讯号。
4.如权利要求1所述的测试装置,其中于该接口耦接于该嵌入式系统时,该处理器还用来根据该启动讯号,通过该接口建立与该嵌入式系统的一通讯连结。
5.如权利要求1所述的测试装置,其中于该储存单元的一储存空间不足时,该处理器还用来删除该储存单元中一已储存讯息,以将该测试讯息储存至该储存单元。
6.如权利要求1所述的测试装置,其还包含一指令储存单元,用来储存该测试指令,该处理器还用来根据该启动讯号,通过该接口输出该测试指令至该嵌入式系统。
7.如权利要求1所述的测试装置,其还包含一存储器,用来暂存该测试指令。
8.如权利要求1所述的测试装置,其中该处理器还用来于该接口耦接于该嵌入式系统时,根据该启动讯号,通过该接口输出该储存单元所储存的数据至该嵌入式系统。
9.如权利要求1所述的测试装置,其中该嵌入式系统是一计算机系统。
10.一种测试方法,用来检测一嵌入式系统,包含有于一测试装置耦接于该嵌入式系统时,根据一启动讯号,将该嵌入式系统对应于一测试指令的一测试讯息传送至该测试装置,以储存于该测试装置中。
11.如权利要求10所述的测试方法,其中于该测试装置耦接于该嵌入式系统时,还包含根据该启动讯号,建立与该嵌入式系统的一通讯连结。
12.如权利要求10所述的测试方法,其中于该测试装置的一储存空间不足时,还包含删除该测试装置中一已储存讯息,以将该测试讯息储存至该测试装置中。
13.如权利要求10所述的测试方法,其还包含由该测试装置储存并输出该测试指令至该嵌入式系统。
14.如权利要求10所述的测试方法,其还包含于该测试装置耦接于该嵌入式系统时, 根据该启动讯号,输出该测试装置所储存的数据至该嵌入式系统。
15.如权利要求10所述的测试方法,其中该嵌入式系统是一计算机系统。
全文摘要
一种测试装置及测试方法。该测试装置,用来检测一嵌入式系统,包含有一接口,用来以可插拔方式耦接该嵌入式系统;一储存单元,用来储存数据;以及一处理器,用来于该接口耦接于该嵌入式系统时,根据一启动讯号,通过该接口取得该嵌入式系统对应于一测试指令的一测试讯息,并将该测试讯息储存至该储存单元中。
文档编号G06F11/22GK102214130SQ20101014129
公开日2011年10月12日 申请日期2010年4月8日 优先权日2010年4月8日
发明者林庆安 申请人:纬创资通股份有限公司
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