专利名称：一种基于相关性模型的机内测试设计方法
技术领域：
本发明属于测试性技术，涉及一种基于相关性模型的机内测试设计方法。
背景技术：
随着大规模集成电路的发展和应用，电子设备集成度越来越高、功能越来越复杂，随之而来的是故障模式的多样化，并体现出较强的耦合性和关联性，一种故障发生时会引起多个故障同时发生，导致故障检测和隔离时间长、难度大，维修工作量迅速增加。机内测试(Built-in test, BIT)技术是系统或设备依靠其内部检测电路和检测软件来完成系统或设备工作参数监测、故障检测和隔离的综合能力。现有的BIT工程设计方法主要有参数比较法和边界扫描法。参数比较法是通过与正常工作参数比较来检测和隔离故障，参数比较法主要依赖设计人员的工程经验，由于电子设备故障模式多、关联性强、表征参数多，设计人员要花大量时间确定测试点、监测参数与故障之间的关系，且准确性不高；边界扫描法虽然能够将故障隔离到器件，但其只适用于具有边界扫描功能的器件，且难以在电路正常工作时进行边界扫描，因此边界扫描法的使用具有一定的局限性。目前的BIT测试设计方法中对各测试点和测试项的考虑，主要基于故障模式的检测和隔离，在设计过程中仅注重测试点的检测隔离效果、实现难易程度和给系统附加的影响，较少顾及各测试点的平均故障间隔时间和测试成本，最终得到的测试点个数较多，可能存在设计冗余，致使产品系统复杂度高，可靠性下降，测试成本高，测试周期长，对人员需求高；同时存在对故障模式的检测隔离方法分配困难等问题。
发明内容
本发明的目的是提出一种测试准确性高、故障源查找速度快的一种基于相关性模型的机内测试设计方法。本发明的技术解决方案是，步骤一建立相关性模型的数学模型，相关性模型的数学模型的依存矩阵表示
权利要求
1.一种基于相关性模型的机内测试设计方法，其特征是， 步骤一建立相关性模型的数学模型，相关性模型的数学模型的依存矩阵表示
2.根据权利要求I所述的一种基于相关性模型的机内测试设计方法，其特征是，所述的每一个测试是指，当一个物理测试点完成两个以上故障特征状态的测试时，测试即为一个物理测试点执行的测试项；当一个物理测试点完成单个故障特征状态的测试时，测试即为一个物理测试点。
全文摘要
本发明属于测试性技术，涉及一种基于相关性模型的机内测试设计方法。该方法以产品相关性模型为基础，首先对相关性模型进行简化，消除冗余测试并合并模糊组，接着识别每种故障对应的最小测试向量矩阵，然后根据测试的可靠性指标以及测试成本确定最优测试向量，作为故障检测和隔离的判据，并将其转化为嵌入式诊断程序部署在产品的机内测试中。该方法能够实现以最优的测试费用、最少的测试准确找出故障源，从而提高电子产品测试性设计水平。
文档编号G06F17/50GK102930081SQ20121038055
公开日2013年2月13日 申请日期2012年10月9日 优先权日2012年10月9日
发明者李璠, 蒋觉义, 刘萌萌, 曾照洋 申请人:中国航空综合技术研究所