分析尺寸链的处理方法及其系统的制作方法
【专利摘要】一种分析尺寸链的处理方法及其系统，应用在设计模具时对外观部件的调整是否可以符合所要求的公差，并在不符合时播放相应的提示。处理方法包括以下步骤：选择待测样本，待测样本具有多个外观部件与相应的外观尺寸信息；载入调整参数；将调整参数套用于待测样本，计算待测样本的输出良率；判断输出良率是否符合期望值；若输出良率符合期望值，则将调整参数记录至汇出报告；若输出良率不符合期望值，调整外观尺寸信息的范围并重新计算新的输出良率。
【专利说明】分析尺寸链的处理方法及其系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种数值分析的方法及其处理系统，特别涉及一种分析尺寸链的处理方法及其系统。
【背景技术】
[0002]随着3C产品的多样化，许多厂商为了能迎合消费者的需求，所以会每经过一段时间后就对现有产品(或新产品)提出新的外观设计。当设计人员修改外观设计时，可能会将现有的外观部件进行异动(例如:删除、增加、变更尺寸或移动)。但由于3C产品的内部空间有限，因此一旦异动外观设计就可能干涉到内部元件的摆放。所以外观设计异动时，也会连带的牵扯到其他元件的设计。
[0003]为避免此一问题的产生，在相关的设计软件中有提供了部件异动且产生干涉时会发出警示的功能。而此一警示功能虽然可以发出干涉时的提示，但无法对具体的修改提出相应的建议。所以外观设计人员还须得其他部门的设计人员进行协商，方能得到合理的修改方式。
【发明内容】
[0004]鉴于以上的问题，本发明的目的在于提供一种分析尺寸链的处理方法，应用在设计模具时对外观部件的调整是否可以符合所要求的公差，并在不符合时播放相应的提示。
[0005]本发明所揭露的分析尺寸链的处理方法包括:选择待测样本，待测样本具有多个外观部件与相应的外观尺寸信息；载入调整参数；将调整参数套用于待测样本，计算待测样本的输出良率；判断输出良率是否符合期望值；若输出良率符合期望值，则将调整参数记录至汇出报告；若输出良率不符合期望值，调整外观尺寸信息的范围并重新计算新的输出良率。
[0006]本发明还提出一种分析尺寸链的处理系统，其包括储存单元、显示单元、输入单元与处理单元。处理单元电性连接于储存单元、显示单元与输入单元。显示单元显示视觉界面，视觉界面包括目标输入区、条件输入区与分析输出区；储存单元储存待测样本、公差分析程序与产生视觉界面的界面绘制程序；处理单元运行界面绘制程序并于显示单元上显示该视觉界面；目标输入区接收该期望值，条件输入区接收调整参数，处理单元根据期望值与调整参数计算待测样本的输出良率。
[0007]本发明所提出的分析尺寸链的处理方法及其系统可以即时的提供外观部件被异动时，系统可以回应该外观部件的公差分析与修改建议。使得开发人员可以节省重新规划其他部件的尺寸链。
[0008]以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1为本发明处理系统的架构示意图；[0010]图2为本发明的运作流程示意图；
[0011]图3A为本发明的第一参数的运作流程示意图；
[0012]图3B为本发明的第二参数的运作流程示意图；
[0013]图3B-1为本发明的调整上限边界的运作流程示意图；
[0014]图3B-2为本发明的调整下限边界的运作流程示意图；
[0015]图3C为本发明的第三参数的运作流程示意图。
[0016]其中，附图标记
[0017]处理系统100
[0018]储存单元110
[0019]视觉界面111
[0020]待测样本112
[0021]调整参数113
[0022]显示单元120
[0023]输入单元130
[0024]处理单元140
【具体实施方式】
[0025]下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述:
[0026]请参考图1所示，其为本发明处理系统的架构示意图。本发明的处理系统100包括储存单元110、显示单元120、输入单元130与处理单元140。处理单元140电性连接于储存单元110、显示单元120与输入单元130。储存单元110记录视觉界面111、待测样本112与调整参数113。显示单元120用以播放视觉界面111与待测样本112的各项信息(显示内容与处理方式将于后文详述)。输入单元130用以接收使用者所键入的指令与信息。
[0027]为清楚说明本发明运作时的各项信息。在此对所述名词进行定义。待测样本112所指的是欲进行修改的产品设计图，而调整参数113也是该产品的产品设计图。待测样本112具有至少一个以上的外观部件与该外观部件的外观尺寸信息。外观部件为产品设计图中的任一元件。以笔记型计算机的外壳为例:通用序列总线的开孔是为笔记型计算机的外观部件。本发明中的调整参数113的种类有第一参数(容许公差)、第二参数(外观标准)与第三参数(设计值)。而通用序列总线的开孔的外观尺寸信息则是该开孔的面积。第一参数的主要作用是检测所有外观部件并判断哪一个外观部件的容许公差对于待测样本112的影响程度最大。第二参数的主要作用在于调整外观标准的限制，藉以提高良率。第三参数的作用在于调整设计值，使得调整后的设计值可以符合外观标准的范围内。
[0028]外观标准是为产品中两个零件之间的间隙或高低差(段差)的尺寸标准。由于在设计过程中可能因为累积公差过大，进而造成设计出来的产品尺寸与预想的外观标准不符。如此一来，会使得制造时的良率过低。此时可通过放宽预设的外观标准，让更多实际产品能符合标准，而使良率提高。其中，良率指的是由产品设计的结果和外观标准做比较，预估实际生产时，会符合外观标准的比例。例如，原本规格上间隙为2mm，在设计时因为公差的关系，而使得产品实际的间隙为2.5mm,此时可将原外观标准由2_放宽至3_，而使实际间隙符合规格而使良率提高。[0029]当每次输入外观部件不同的外观尺寸信息时，均会产生对应的输出良率。期望值是为该笔外观尺寸信息对应的良率最低门槛。期望值的产生可以调整该项待测样本112的尺寸炼进而得到每次修改外观部件时的可以接受的对应范围。换句话说，每次修改外观部件的尺寸时，处理单元140对于修改的尺寸最大值与最小值都会计算出不同的范围。
[0030]为清楚说明本发明对待测样本112的调整处理，还请参考图2所示，其是为本发明的运作流程示意图。本发明的运作流程包括以下步骤:
[0031]步骤S201:选择待测样本，待测样本具有多个外观部件与相应的外观尺寸信息；
[0032]步骤S202:载入调整参数；
[0033]步骤S203:将调整参数套用于待测样本，计算待测样本的输出良率；
[0034]步骤S204:判断输出良率是否符合期望值；
[0035]步骤S205:若输出良率符合期望值，则将调整参数记录至汇出报告；以及
[0036]步骤S206:若输出良率不符合期望值，调整外观尺寸信息的范围并重新计算新的输出良率。
[0037]使用者可以通过输入单元130从储存单元110中选择任一待测样本112。处理单元140会根据所选的待测样本112载入相应的调整参数113。而调整参数113的处理顺序可以将第一参数、第二参数与第三参数并行处理，也可以依序对第一参数、第二参数与第三参数进行处理。在此先以整体流程作为解说。处理单元140将调整参数113套用于待测样本112上，并计算该笔待测样本112的输出良率。
[0038]接着，处理单元140判断输出良率是否符合期望值。若不符合期望值时，则代表该待测样本112的调整并未符合期望值。此时系统可以调整外观尺寸信息，之后处理单元140会重新判断输出良率是否符合期望值。若输出良率符合期望值，则将调整参数113记录至汇出报告。
[0039]所述的调整参数113又可分为第一参数、第二参数与第三参数，因此以下分别对各种参数的调整流程作更进一步的说明。请参考图3A所示，其是为本发明的第一参数的运作流程示意图。
[0040]步骤S211:选择第一参数；以及
[0041]步骤S212:重复调整第一参数并计算每一外观尺寸信息的输出良率，直至完成所有每一第一参数为止。
[0042]当选择第一参数对待测样本112进行调整，则处理单元140将会逐次的变更第一参数。并在改变第一参数后，随即产生相应的输出良率。处理单兀140将记录每一次的输出良率，并将所有结果绘制于该分析输出区，藉以提供给使用者选择。
[0043]此外，本发明的第二参数的运作方式还请参考图3B所示，其是为本发明的第二参数的运作流程示意图。其中所述的中心区间是代表期望值的区间，上限区间与下限区间可以由使用者自行决定。
[0044]步骤S221:判断输出良率是否落在调整参数的中心区间、偏向下限区间或偏向上限区间；
[0045]步骤S222:若输出良率偏向下限区间，则调整下限边界；
[0046]步骤S223:若输出良率偏向上限区间，则调整上限边界；
[0047]步骤S224:判断输出良率是否位于新的中心区间内；[0048]步骤S225:若位于新的中心区间内，则执行步骤S205 ；
[0049]步骤S226:若未位于新的中心区间内，重复执行步骤S223
[0050]步骤S227:若输出良率位于中间区间时，则拉大上限边界与下限边界的距离；以及
[0051]步骤S228:判断输出良率是否符合期望值，若输出良率不符合期望值则重新执行步骤S227，若输出良率符合期望值则执行步骤S225。
[0052]当使用者选择第二参数进行调整，则处理单元140会判断调整后的输出良率是否落在调整参数113的中心区间、下限区间或上限区间。当输出良率落在不同范围时，使用者可以对上限边界或下限边界进行调整。
[0053]本发明对于调整上限边界还包括以下步骤，请配合图3B-1所示，其包括以下步骤:
[0054]步骤S222-1:判断最初的上限边界与当前的上限边界的差值是否超过上限门槛值；
[0055]步骤S222-2:若大于上限门槛值时，则输出错误信息；以及
[0056]步骤S222-3:若小于或等于上限门槛值时，则调整上限边界。
[0057]相对上限边界，对于下限边界的调整也包括以下步骤，请配合图3B-2所示，其包括:
[0058]步骤S223-1:判断最初的下限边界与当前的下限边界的差值是否超过下限门槛值；
[0059]步骤S223-2:若小于下限门槛值时，则输出错误信息；以及
[0060]步骤S223-3:若大于或于等该下限门槛值时，则调整下限边界。
[0061 ] 若步骤S222-1与步骤S223-2均成立时，处理单元140会在分析输出区中跳现「无法调整外观标准，以达到输出良率」的信息。
[0062]请参考图3C所示，其为本发明的第三参数的运作流程示意图。
[0063]步骤S231:选择第三参数；
[0064]步骤S232:取得调整参数的上限边界与下限边界，并根据上限边界与下限边界得到中间值；
[0065]步骤S233:判断第三参数与中间值的大小；
[0066]步骤S234:若第三参数大于中间值，则调低第三参数并重新计算新的输出良率；以及
[0067]步骤S235:若第三参数小于中间值，则调高第三参数并重新计算新的输出良率。
[0068]本发明所提出的分析尺寸链的处理方法可以即时的提供外观部件被异动时，系统可以回应该外观部件的公差分析与修改建议。使得开发人员可以节省重新规划其他部件的尺寸链。
[0069]当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
【权利要求】
1.一种分析尺寸链的处理方法，其特征在于，包括: 选择一待测样本，该待测样本具有多个外观部件与相应的一外观尺寸信息； 载入一调整参数； 将该调整参数套用于该待测样本，计算该待测样本的一输出良率； 判断该输出良率是否符合一期望值； 若该输出良率符合该期望值，则将该调整参数记录至一汇出报告；以及 若该输出良率不符合该期望值，调整该外观尺寸信息的范围并重新计算新的该输出良率。
2.根据权利要求1所述的分析尺寸链的处理方法，其特征在于，该调整参数包括一第一参数、一第二参数与一第三参数。
3.根据权利要求2所述的分析尺寸链的处理方法，其特征在于，在调整该外观尺寸信息的步骤中包括: 选择该第一参数；以及 重复调整该第一参数并计算每一该外观尺寸信息的该输出良率，直至完成所有每一该第一参数为止。
4.根据权利要求2所述的分析尺寸链的处理方法，其特征在于，在调整该外观尺寸信息的步骤中包括: 判断该输出良率是否落在该调整参数的一中心区间、偏向一下限区间或偏向一上限区间； 若该输出良率位于该下限区间，则调整一下限边界； 若该输出良率位于该上限区间，则调整一上限边界；以及 判断该输出良率是否位于新的该中心区间之中。
5.根据权利要求4所述的分析尺寸链的处理方法，其特征在于，在调整该上限边界的步骤中还包括: 判断最初的该上限边界与当前的该上限边界的差值是否超过一上限门槛值；以及 若小于或等于该上限门槛值时，则调整该上限边界。
6.根据权利要求4所述的分析尺寸链的处理方法，其特征在于，在调整该下限边界的步骤中还包括: 判断最初的该下限边界与当前的该下限边界的差值是否超过一下限门槛值；以及 若大于或等于该下限门槛值时，则调整该下限边界。
7.根据权利要求4所述的分析尺寸链的处理方法，其特征在于，若该输出良率位于该中心区间，则同时拉大上限边界与下限边界的距离；以及判断输出良率是否符合期望值。
8.根据权利要求2所述的分析尺寸链的处理方法，其特征在于，在调整该外观尺寸信息的步骤中包括: 选择该第三参数； 取得该调整参数的一上限边界与一下限边界，并根据该上限边界与该下限边界得到一中间值； 判断该第三参数与该中间值的大小； 若该第三参数大于该中间值，则调低该第三参数并重新计算新的该输出良率；以及若该第三参数小于该中间值，则调高该第三参数并重新计算新的该输出良率。
9.一种应用权利要求1的处理系统，其特征在于，包括: 一显示单元，显示一视觉界面，该视觉界面包括一目标输入区、一条件输入区与一分析输出区； 一储存单元，储存该待测样本、一公差分析程序与产生该视觉界面的一界面绘制程序；以及 一处理单元，电性连接于该显示单元与该储存单元，该处理单元运行该界面绘制程序并于该显示单元上显示该视觉界面； 其中，该目标输入区接收该期望值，该条件输入区接收该调整参数，该处理单元根据该期望值与该调整参数计算该待测样本的该输出良率，该处理单元在该分析输出区中绘制该输出良率。
10.根据权利要求9所述的应用权利要求1的处理系统，其特征在于，还包括一输入单元，该输入单元用以将该调整参数输入至该条件输入区或将该期望值输入至该目标输入区中。
【文档编号】G06F17/50GK103778269SQ201210415170
【公开日】2014年5月7日 申请日期:2012年10月25日 优先权日:2012年10月25日
【发明者】陈学良, 林俊鸿, 曾协淳, 黄东豪, 黄舒慧 申请人:英业达科技有限公司, 英业达股份有限公司