触控面板采样频率的调整装置与方法
【专利摘要】本发明提供一种触控面板采样频率的调整装置与方法。所述调整方法包括：通过触控芯片检测触控面板是否发生触控事件；当发生该触控事件时，分析操作情境需求，以获得分析结果；以及依据该分析结果，动态调整该触控芯片对该触控面板的采样频率。
【专利说明】触控面板采样频率的调整装置与方法
【技术领域】
[0001]本发明是有关于一种触控电子装置，且特别是有关于一种触控面板采样频率的调整装置与方法。
【背景技术】
[0002]使用者在操作传统触控电子装置(例如智能手机或是平板电脑)时，其触控面板的采样频率(sampling rate)往往为固定的频率。然而，在不同的操作环境中，或是使用不同的应用软件(applicat1n program, AP)时,采样频率的需求也会有所不同。
[0003]若是当下的采样频率需求小于触控面板的采样频率，则过高的采样频率会使触控电子装置更耗电。例如，当使用者在操作触控电子装置以阅读文件时，则阅读文件的采样频率需求为低采样频率。低采样频率可以降低触控电子装置的功率消耗。
[0004]若是当下的采样频率需求大于触控面板的采样频率，则因采样频率过低而使得使用者的操作感受不佳。例如，当使用者在玩游戏时(如格斗类游戏)，游戏的采样频率需求为高采样频率，以便让使用者操作的响应更为流畅/即时。
【发明内容】
[0005]本发明提供一种触控面板采样频率的调整装置与方法，以在操作系统与触控芯片之间提供一反馈机制，进而使调整装置/方法可以依据操作情境需求而动态调整触控面板的采样频率。
[0006]本发明实施例提出一种触控面板采样频率的调整方法。所述调整方法包括:通过触控芯片检测触控面板是否发生触控事件；当发生该触控事件时，分析操作情境需求，以获得分析结果；以及依据该分析结果，动态调整该触控芯片对该触控面板的采样频率。
[0007]本发明实施例提出一种触控面板采样频率的调整装置，包括检测模块、分析模块以及调整模块。检测模块通过触控芯片检测触控面板是否发生触控事件。分析模块耦接至该检测模块，以接收该触控事件的触控信息。当发生该触控事件时，该分析模块分析操作情境需求，以获得分析结果。调整模块耦接至分析模块，以接收该分析结果。调整模块依据该分析结果，动态调整触控芯片对触控面板的采样频率。
[0008]基于上述，本发明实施例的触控面板采样频率的调整装置与方法，可以在操作系统与触控芯片之间提供反馈机制。因此，此调整装置/方法可以依据操作情境需求而动态调整触控面板的采样频率，以使触控面板采样频率符合使用者的操作情境的需求。
[0009]为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是本发明实施例说明一种触控电子装置的功能方块示意图；
[0011]图2是本发明实施例说明一种触控面板采样频率的调整方法的流程示意图；[0012]图3是本发明另一实施例说明一种触控电子装置的功能方块示意图；
[0013]图4是本发明另一实施例说明一种触控面板采样频率的调整方法的流程示意图；
[0014]图5是本发明再一实施例说明一种触控面板采样频率的调整方法的流程示意图。
[0015]附图标记说明:
[0016]11:触控面板；
[0017]12:触控芯片；
[0018]100,300:触控面板采样频率的调整装置；
[0019]110、310:检测模块；
[0020]120、330:分析模块；
[0021]130、340:调整模块；
[0022]320:记录模块；
[0023]S210 ?S240、S410 ?S450、S510 ?S560:步骤。
【具体实施方式】
[0024]在本案说明书全文(包括申请专利范围)中所使用的「耦接」一词可指任何直接或间接的连接手段。举例而言，若文中描述第一装置耦接于第二装置，则应该被解释成该第一装置可以直接连接于该第二装置，或者该第一装置可以通过其他装置或某种连接手段而间接地连接至该第二装置。另外，凡可能之处，在图式及实施方式中使用相同标号的元件/构件/步骤代表相同或类似部分。不同实施例中使用相同标号或使用相同用语的元件/构件/步骤可以相互参照相关说明。
[0025]图1是本发明实施例说明一种触控电子装置的功能方块示意图。此触控电子装置包括触控面板11与触控芯片12。触控芯片12耦接至触控面板11的多条电极线，以便驱动触控面板11。触控芯片12会依据预设的采样频率而定时地检测触控面板11是否发生触控事件。例如，当使用者以手指(或物品)触碰触控面板11的感应区域时，触控芯片12可以检测到触控面板11的感应区域发生触控事件。
[0026]触控芯片12可以直接或间接方式将该触控事件的触控信息传送至触控电子装置的操作系统。例如，当使用者以手指(或物品)在触控面板11上滑动时，操作系统的应用程序(例如电子书阅读器)可以依据触控芯片12所提供的触控信息而对应进行翻页操作。因此，使用者可以操作此触控电子装置而阅读文件。
[0027]请参照图1，触控面板采样频率的调整装置100包括检测模块110、分析模块120以及调整模块130。检测模块110用以耦接至触控面板11的触控芯片12。在一些实施例中，检测模块110、分析模块120及/或调整模块130可以利用硬件(hardware)方式实现。例如，将检测模块110、分析模块120及/或调整模块130各自实现为不同的集成电路。又例如，将检测模块110、分析模块120及/或调整模块130整合为同一个集成电路。以硬件方式实现的检测模块110、分析模块120及/或调整模块130可以受控于触控电子装置的操作系统。例如，分析模块120可以将触控信息或分析结果传送至操作系统。又例如，分析模块120可以从操作系统接收采样频率的调整信息/命令。
[0028]在另一些实施例中，检测模块110、分析模块120及/或调整模块130可以利用固件(firmware)方式实现。例如，将检测模块110、分析模块120及/或调整模块130各自以固件方式实现于不同的微控制器(microcontroller)。又例如,将检测模块110、分析模块120及/或调整模块130整合为同一个固件。以固件方式实现的检测模块110、分析模块120及/或调整模块130可以受控于触控电子装置的操作系统。
[0029]在其他实施例中，检测模块110、分析模块120及/或调整模块130可以利用软件(software)方式实现。例如，将检测模块110、分析模块120及/或调整模块130各自以软件方式实现于不同的应用程序(或驱动程序)。又例如，将检测模块110、分析模块120及/或调整模块130整合为同一个程序。以软件方式实现的检测模块110、分析模块120及/或调整模块130可以运行于触控电子装置的操作系统环境中。
[0030]图2是本发明实施例说明一种触控面板采样频率的调整方法的流程示意图。请参照图1与图2，触控芯片12在步骤S210中设定对触控面板11的采样频率。在一些实施例中，当触控电子装置在进行初始化时，触控芯片12在步骤S210中将所述采样频率设定为一初始值。在另一些实施例中，触控芯片12可以将目前采样频率记录于非易失性存储器(non-volatile memory)。因此，当触控电子装置在进行初始化时,触控芯片12在步骤S210中可以依据所述非易失性存储器的内容设定所述采样频率。
[0031]在完成步骤S210后，触控芯片12会依据步骤S210所设定的采样频率而定时地检测触控面板11。因此，检测模块I1在步骤S220中可以通过触控芯片12检测触控面板11是否发生触控事件。其中，该触控事件包含单指(或多指)的点击事件或移动事件。检测模块110可以依据触控芯片12所提供的触控信息来进行点击行为检测及/或移动行为检测。
[0032]分析模块120耦接至检测模块110的输出端，以接收该触控事件的触控信息。当发生触控事件时，分析模块120进行步骤S230，以分析操作情境需求，并获得分析结果。在一些实施例中，所述分析操作情境需求包括:分析模块120分析该触控事件的触控信息与使用者操作行为的对应关系，并依据触控信息通过调整模块130调整采样频率。例如，在一些实施例中，分析模块120可以取得触控面板11上的触碰点的X、y座标，然后依据触碰点的X、y座标通过调整模块130调整采样频率。例如，触控面板11具有游戏区与非游戏区。当使用者的触碰点位于非游戏区时，分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为「正常采样频率」。当使用者的触碰点位于游戏区时，分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为大于所述正常采样频率的「高采样频率」，以便让使用者操作行为的响应更为流畅/即时。
[0033]在另一些实施例中，分析模块120可以解析使用者的触控行为的时间差，然后依据此时间差通过调整模块130调整采样频率。所述触控行为的时间差包括单指(或多指)对触控面板11点击的一先前点击行为与一目前点击行为的时间差，以及/或是单指(或多指)在触控面板11上移动的一先前移动行为与一目前移动行为的时间差。例如，相对于一般操作而言，当使用者在玩格斗类游戏时，使用者在触控面板11上的点击/移动行为是非常快速且频繁的。因此，若前后点击/移动行为的时间差大于临界值(threshold，例如0.5秒)，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为「正常采样频率」。若前后点击/移动行为的时间差小于临界值，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为大于所述正常采样频率的「高采样频率」，以便让使用者操作行为的响应更为流畅/即时。[0034]在另一些实施例中，分析模块120可以分析触控点在触控面板11上的移动距离，然后依据此移动距离通过调整模块130调整采样频率。例如，若触控点的移动距离大于临界值(例如20mm)，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为「正常采样频率」。若触控点的移动距离小于临界值，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为大于所述正常采样频率的「高采样频率」，以便让使用者操作行为的响应更为流畅/即时。
[0035]在另一些实施例中，分析模块120可以分析一触控点的移动方向，然后依据此移动方向通过调整模块130调整采样频率。例如，若触控点的移动方向为向上或向下，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为「正常采样频率」。若触控点的移动方向为向左或向右，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为大于所述正常采样频率的「高采样频率」。
[0036]在另一些实施例中，步骤S230中所述分析操作情境需求包括:分析模块120分析该触控事件的触控信息与目前操作系统环境的对应关系，并依据触控信息通过调整模块130调整采样频率。例如，分析模块120可以分析操作系统的目前应用程序，以及依据该目前应用程序决定一目标采样频率。若目前应用程序为网页浏览器，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为「正常采样频率」。若目前应用程序为电子书阅读器，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为小于所述正常采样频率的「低采样频率」，以降低触控芯片12的功率消耗。若目前应用程序为格斗类游戏程序，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为大于所述正常采样频率的「高采样频率」，以便让使用者操作行为的响应更为流畅/即时。
[0037]又例如，分析模块120可以分析操作系统的目前状态，以及依据该目前状态决定目标采样频率。若目前状态为正常操作模式，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为「正常采样频率」。若目前状态为省电模式(或待机(standby)模式、或空闲(idle)模式、或睡眠模式、或休眠模式)，则分析模块120可以通过调整模块130将采样频率设定为小于所述正常采样频率的「低采样频率」，以降低触控芯片12的功率消耗。
[0038]调整模块130耦接至分析模块120的输出端，以接收该分析结果。调整模块130进行步骤S240，以依据分析模块120的分析结果而动态调整触控芯片12对触控面板11的采样频率。在一些实施例中，调整模块130依据分析模块120的分析结果而对应决定一权重值(Weighting)，以及提供所述权重值至触控芯片12，以控制触控芯片12依据该权重值调整所述采样频率。在另一些实施例中，调整模块130依据分析模块120的分析结果而对应决定一频率数值(Raw data)，以及提供所述频率数值至触控芯片12，以控制触控芯片12依据该频率数值调整所述采样频率。
[0039]因此，上述实施例中调整装置100可以在操作系统与触控芯片12之间提供反馈机制。此调整装置/方法可以依据操作情境需求而动态调整触控面板11的采样频率，以使触控面板11的采样频率符合使用者的操作情境的需求。
[0040]图3是本发明另一实施例说明一种触控电子装置的功能方块示意图。图3所示实施例可以参照图1的相关说明而类推。不同于图1所示实施例之处，在于图3所示实施例中触控面板采样频率的调整装置300包括检测模块310、记录模块320、分析模块330以及调整模块340。检测模块310、记录模块320、分析模块330及/或调整模块340可以利用硬件、固件及/或软件方式实现。其中，检测模块310、分析模块330以及调整模块340可以分别参照图1中检测模块110、分析模块120以及调整模块130的相关说明而类推。
[0041]图4是本发明另一实施例说明一种触控面板采样频率的调整方法的流程示意图。图4所示实施例中步骤S410、S420、S440与S450可以分别参照图2中步骤S210、S220、S230与S240的相关说明而类推。不同于图2所示实施例之处，在于图4所示实施例还包括了步骤 S430。
[0042]记录模块320耦接于检测模块310与分析模块330之间。当发生触控事件时，记录模块320进行步骤S430，以记录「目前功能」以及检测模块310所测到的该触控事件的触控行为。在一些实施例中，记录模块320可以记录检测模块310所测到的触控事件的触控行为，以及记录所述触控行为所对应的功能。例如，假设使用者操作电子书阅读器(应用程序)来阅读文件的内容，则使用者会在触控面板11上进行长距离的滑动(移动行为)，以对此文件进行翻页功能。因此，记录模块320可以记录触控行为(长距离的滑动)以及文件翻页功能二者的对应关系。又例如，使用者会在触控面板11上进行点击行为，以对此文件进行翻页功能。因此，记录模块320可以记录点击行为以及文件翻页功能二者的对应关系。
[0043]在每次发生触控事件后，记录模块320在步骤S430中可以记录这些触控事件的触控行为以及对应的功能。因此，分析模块330在步骤S440中可以分析记录模块320所记录的历史数据，以获得不同点击行为与不同功能的对应关系。依据这些历史数据，分析模块330在步骤S440中可以判断出目前的触控事件的触控行为所对应的功能为何，进而依照所述对应的功能而决定目标采样频率。调整模块130在步骤S450中可以依照分析模块330所决定的目标采样频率而去调整触控芯片12对触控面板11的采样频率。
[0044]然而，记录模块320在步骤S430中的记录内容不应受限于前述实施例。例如，在另一实施例中，在每一次发生触控事件后，记录模块320在步骤S430中可以记录「目前功能」，以及记录「目前触控事件」的触发时间。因此，分析模块330在步骤S440中可以分析记录模块320所记录的历史数据，以获得不同触发时间与不同功能的对应关系。依据这些历史数据，分析模块330在步骤S440中可以判断出目前的触控事件所对应的功能为何，进而依照所述对应的功能而决定目标采样频率。举例来说，分析模块330可以从这些历史数据分析出单指(或多指)对触控面板11点击的一先前点击行为与一目前点击行为的时间差，以及/或是单指(或多指)在触控面板11上移动的一先前移动行为与一目前移动行为的时间差。分析模块330从这些历史数据进一步分析出不同点击/移动行为的时间差与不同功能的对应关系。所以，分析模块330可以判断出目前的触控事件的时间差所对应的功能为何，进而依照所述对应的功能而决定目标采样频率。
[0045]在又一实施例中，在每一次发生触控事件后，记录模块320在步骤S430中可以记录「目前应用程序」，以及记录「目前触控事件」。因此，分析模块330在步骤S440中可以分析记录模块320所记录的历史数据，以获得不同触控事件与不同应用程序的对应关系。依据这些历史数据，分析模块330在步骤S440中可以判断出目前的触控事件所对应的应用程序为何，进而依照所述对应的应用程序而决定目标采样频率。举例来说，分析模块330可以从这些历史数据分析出当触控点的移动轨迹是长的且具有几何形状(例如圆形等)时，此类触控事件所对应的应用程序为绘图程序。所以，一旦分析模块330判断出目前的触控事件所对应的应用程序为绘图程序，则分析模块330可以通过调整模块340将采样频率设定为「高采样频率」，以便让使用者操作行为的响应更为流畅/即时。
[0046]在再一实施例中，在每一次发生触控事件后，记录模块320在步骤S430中可以记录「目前多媒体内容」(例如图片、文字、影片或其他类别)，以及记录「目前触控事件」。因此，分析模块330在步骤S440中可以分析记录模块320所记录的历史数据，以获得不同触控事件与不同多媒体内容的对应关系。依据这些历史数据，分析模块330在步骤S440中可以判断出目前的触控事件所对应的多媒体内容/类别为何，进而依照所述对应的多媒体内容/类别而决定目标采样频率。
[0047]以手机或是平板电脑为实施范例。当使用者在操作触控手机或是平板电脑的触控面板11时，手机或是平板电脑内部的记录模块320记录一段时间内使用者的操作行为，操作系统可以通过分析模块330依据使用者的操作行为动态的调整触控面板11的采样频率。以及/或者，手机或是平板电脑也可依据使用者所选择的应用程序来决定触控面板11的采样频率，使得该应用程序操作起来更为流畅。
[0048]然而，在其他实施例中，分析模块330 (或120)的分析/决定方法不应受限于上述出实施例。例如，表I是另一实施例说明了不同触控事件与不同采样频率调整的对应关系。
[0049]表1:不同触控事件与不同采样频率调整的对应关系
[0050]
【权利要求】
1.一种触控面板采样频率的调整方法，其特征在于，包括: 通过一触控芯片检测一触控面板是否发生一触控事件； 当发生该触控事件时，分析一操作情境需求，以获得一分析结果；以及 依据该分析结果，动态调整该触控芯片对该触控面板的采样频率。
2.根据权利要求1所述触控面板采样频率的调整方法，其特征在于，所述分析一操作情境需求包括: 分析该触控事件的触控信息与使用者操作行为的对应关系；或是 分析所述触控信息与目前操作系统环境的对应关系。
3.根据权利要求2所述触控面板采样频率的调整方法，其特征在于，所述分析该触控事件的触控信息与使用者操作行为的对应关系包括: 分析一触控行为的时间差； 分析一触控点的移动距离；或是 分析一触控点的移动方向。
4.根据权利要求2所述触控面板采样频率的调整方法，其特征在于，所述分析该触控事件的触控信息与目前操作系统环境的对应关系包括: 分析操作系统的目 前应用程序；以及 依据该目前应用程序决定一目标采样频率。
5.根据权利要求1所述触控面板采样频率的调整方法，其特征在于，所述动态调整该触控芯片对该触控面板的采样频率包括: 提供一权重值至该触控芯片，以控制该触控芯片依据该权重值调整所述采样频率；或是 提供一频率数值至该触控芯片，以控制该触控芯片依据该频率数值调整所述采样频率。
6.根据权利要求1所述触控面板采样频率的调整方法，其特征在于，还包括: 记录一目前功能以及该触控事件的触控行为。
7.根据权利要求6所述触控面板采样频率的调整方法，其特征在于，所述一目前功能以及记录该触控事件的触控行为包括: 记录一触控行为所对应的功能； 记录该触控事件的触发时间； 记录该触控事件所对应的应用程序；或是 记录该触控事件所对应的多媒体内容。
8.—种触控面板采样频率的调整装置，其特征在于，包括: 一检测模块，用以耦接至一触控面板的一触控芯片，其中该检测模块通过该触控芯片检测该触控面板是否发生一触控事件； 一分析模块，耦接至该检测模块以接收该触控事件的触控信息，其中当发生该触控事件时，该分析模块分析一操作情境需求，以获得一分析结果；以及 一调整模块，耦接至该分析模块以接收该分析结果，其中该调整模块依据该分析结果，动态调整该触控芯片对该触控面板的采样频率。
9.根据权利要求8所述触控面板采样频率的调整装置，其特征在于，该分析模块分析该触控事件的触控信息与使用者操作行为的对应关系，或是分析所述触控信息与目前操作系统环境的对应关系。
10.根据权利要求8所述触控面板采样频率的调整装置，其特征在于，该分析模块分析一触控行为的时间差，或是分析一触控点的移动距离，或是分析一触控点的移动方向。
11.根据权利要求8所述触控面板采样频率的调整装置，其特征在于，该分析模块分析操作系统的目前应用程序，以及依据该目前应用程序决定一目标采样频率。
12.根据权利要求8所述触控面板采样频率的调整装置，其特征在于，该调整模块提供一权重值至该触控芯片，以控制该触控芯片依据该权重值调整所述采样频率；或是该调整模块提供一频率数值至该触控芯片，以控制该触控芯片依据该频率数值调整所述采样频率。
13.根据权利要求8所述触控面板采样频率的调整装置，其特征在于，还包括: 一记录模块，耦接于该检测模块与该分析模块之间，其中该记录模块记录一目前功能以及该触控事件的触控行为。
14.根据权利要求13所述触控面板采样频率的调整装置，其特征在于，该记录模块记录一触控行为所对应的功能，或是记录该触控事件的触发时间，或是记录该触控事件所对应的应用程序，或是记 录该触控事件所对应的多媒体内容。
【文档编号】G06F3/041GK104035608SQ201310074779
【公开日】2014年9月10日 申请日期:2013年3月8日 优先权日:2013年3月8日
【发明者】锺兴龙, 李建纬 申请人:宏碁股份有限公司