过孔设计系统的制作方法
【专利摘要】本发明提供一种过孔设计系统。该系统包括：设计界面显示模块，用于在计算装置上显示一过孔设计界面，该界面包括参数输入区及结果显示区，参数输入区用于输入欲观察的频率范围、设计频率点、板材介电系数Dk、不包括过孔残段的过孔长度Lvia、过孔残段长度Lstub、过孔的半径r、差分过孔的间距S、避开孔的半径W以及参考阻抗Z0；计算模块，用于根据参数输入区输入的参数以及预设的公式计算出过孔的实际阻抗Zvia及理想阻抗Zc，并根据计算出的实际阻抗Zvia及理想阻抗Zc绘出阻抗比较图；以及输出模块，用于将阻抗比较图输出至结果显示区。采用本发明中的过孔设计系统，响应速度快，并且设计人员根据结果显示区显示的结果能够快速地找出过孔的最佳设计。
【专利说明】过孔设计系统
【技术领域】
[0001] 本发明涉及PCB设计领域，特别涉及一种过孔设计系统。
【背景技术】
[0002] 对于PCB来讲，保持信号完整性最重要是阻抗的匹配和一致连续性。阻抗不连续 会导致差分导线信号的反射，过孔是导致差分导线不连续的重要因素。若能将过孔的阻抗 控制得和差分导线阻抗匹配，信号反射就会降低，信号传输的质量就会提高，系统就会稳定 工作。因此，在设计PCB时，需先对过孔结构进行模拟设计，以得到最佳的过孔结构。现有 技术中通常是采用3D全波电磁软体进行过孔模拟，需要耗费相对长的时间。
【发明内容】
[0003] 有鉴于此，本发明提高一种过孔设计系统，以解决上述技术问题。
[0004] 所述过孔设计系统包括：设计界面显示模块，用于在所述计算装置上显示一过孔 设计界面，所述过孔设计界面包括参数输入区及结果显示区，所述参数输入区用于输入欲 观察的频率范围、设计频率点、板材介电系数Dk、不包括过孔残段的过孔长度Lvia、过孔残 段长度Lstub、过孔的半径r、差分过孔的间距S、避开孔的半径W以及参考阻抗Z0 ;计算模 块，用于根据所述参数输入区输入的参数以及预设的公式计算出过孔的实际阻抗Zvia及 理想阻抗Zc，并根据计算出的实际阻抗Zvia及理想阻抗Zc绘出阻抗比较图，其中，
【权利要求】
1. 一种过孔设计系统，运行于计算装置，其特征在于，所述过孔设计系统包括： 设计界面显示模块，用于在所述计算装置上显示一过孔设计界面，所述过孔设计界面 包括参数输入区及结果显示区，所述参数输入区用于输入欲观察的频率范围、设计频率点、 板材介电系数Dk、不包括过孔残段的过孔长度Lvia、过孔残段长度Lstub、过孔的半径r、差 分过孔的间距S、避开孔的半径W以及参考阻抗Z0 ; 计算模块，用于根据所述参数输入区输入的参数以及预设的公式计算出过孔的实际阻 抗Zvia及理想阻抗Zc，并根据计算出的实际阻抗Zvia及理想阻抗Zc绘出阻抗比较图，其 中， .
f Zc = Z02X (sin(0 1+0 2)/sin0 1 CO S θ 2)， 0l = 2^'/(C/4Dk)xLvia , 扔=2參/(Γ/λ/Μ>χL·'·* ,其中C为光速；以及 输出模块，用于将所述阻抗比较图输出至所述结果显示区。
2. 如权利要求1所述的过孔设计系统，其特征在于，所述计算模块还根据所 述参数输入区输入的参数及预设的公式计算出板材的等效介电系数Dkeff，其中
,所述输出模块还将计算出的 等效介电系数Dkeff输出至所述结果显示区。
3. 如权利要求1所述的过孔设计系统，其特征在于，所述计算模块还根据所述参数 输入区输入的参数及预设的公式计算出输入损耗S21及反射损耗S11，以及根据计算出 的输入损耗S21及反射损耗S21绘出散射参数图，其中S21=2A2cos Θ 1-Sin Θ lsin Θ 2/ cos Θ 2+j(Zc/Z0+Z0/Zc)sin θ 1+jZO/ZcXcos Θ lsin Θ 2/cos θ 2, Sll=l-|S2l|2,所述输出 模块还将所述散射参数图输出至所述结果显示区。
4. 如权利要求3所述的过孔设计系统，其特征在于，所述计算模块还根据所述散射参 数图得出共振频率Π ，其中共振频率Π 为所述散射参数图中反射损耗S11最低时的频率， 所述输出模块还将所述共振频率Π 输出至所述结果显示区。
5. 如权利要求3所述的过孔设计系统，其特征在于，所述计算模块还根据所述散射参 数图得出在所述设计频率点反射损耗S11的损耗值，所述输出模块将所述损耗值输出至所 述结果显示区。
【文档编号】G06F17/50GK104102757SQ201310127552
【公开日】2014年10月15日 申请日期:2013年4月15日 优先权日:2013年4月15日
【发明者】蔡昆宏 申请人:鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司